檢驗光碟缺陷管理區信息的方法及執行該方法的測試設備的製作方法

2023-09-20 17:52:25

專利名稱：：檢驗光碟缺陷管理區信息的方法及執行該方法的測試設備的製作方法
技術領域：
：本發明涉及光碟記錄和再現技術，尤其涉及一種當在不進行認證情況下執行初始化時檢驗可記錄和可再現光碟的缺陷管理區信息的方法以及用於執行該方法的測試設備。數字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)盤具有採用正常的可記錄區域來替換有缺陷區域，並將進行缺陷管理所必需的信息存儲到稱作缺陷管理區(DMA)的部分的缺陷管理功能。DMA信息被重複記錄到盤上的4個部分上其兩個部分位於導入區，而另兩個部分位於導出區。DMA信息包括盤定義結構(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。除有關缺陷的信息之外，DMA信息還包括有關備用區的信息和有關每個區域的開始邏輯扇區號的重要信息，它們是在盤被初始化時執行的認證期間和在使用盤期間檢測到的。包含在DMA中的一些信息可用立即讀取和使用。另一方面，DMA包括的信息隨盤上的缺陷位置和數目而發生變化。亦即，只能通過根據給定的基於DMA中登錄的缺陷信息的算法執行複雜的計算，來得到有些信息，例如每個區域的開始邏輯扇區號的位置信息或第一邏輯扇區號的位置信息。由於這種DMA信息與物理數據記錄位置密切相關，因此，當DMA信息有錯時，即使在另一記錄和再現設備中已產生或更新了DMA信息，可在給定的記錄和再現設備中使用的諸如光碟的記錄介質也不能與這兩種記錄和再現設備相兼容。為了克服該問題，需要一種能夠檢驗記錄和再現設備是否正確地讀取盤的DMA信息並且將DMA信息正確地記錄到盤上的設備和方法。為了解決上述問題，本發明的第一目的是提供一種用於檢驗光碟記錄和再現設備中當在不進行認證情況下執行初始化時是否正確地產生缺陷管理區(DMA)信息的方法。本發明的第二目的是提供一種對於可重複記錄和再現的DVD-RAM盤檢驗在盤記錄和再現設備中當在不進行認證情況下執行初始化時是否正確地產生缺陷管理區(DMA)信息的方法。本發明的第三目的是提供一種用於檢驗光碟記錄和再現設備中當在不進行認證情況下執行初始化時是否正確地產生缺陷管理區(DMA)信息的測試設備。本發明的其他目的和優點部分可從後面的描述中得出，部分可從描述中清楚地看出，或可從本發明實踐中學習到。為了實現本發明的上述和其他目的，提供了一種用於檢驗在具有DMA信息的光碟上記錄信息或從光碟再現信息的記錄和再現設備中是否適當地產生DMA信息的方法。該方法包括下列步驟產生缺陷管理信息作為測試信息，該信息是在對其上未寫入數據的空白測試盤在不進行認證的情況下執行初始化之後產生的；和，使用用於在不進行認證的情況下執行初始化的基準測試信息來檢驗測試信息，以提供測試結果。為了實現本發明的上述和其他目的，還提供了一種用於測試在具有DMA信息的可記錄和可再現盤上記錄信息或從這種盤再現信息的記錄和再現設備以檢查是否正確地產生DMA信息的設備。該設備包括修改的驅動器單元，用於從測試盤的DMA信息中產生測試信息，該信息是在記錄和再現設備對對其上未寫入數據的空白測試盤在不進行認證的情況下執行初始化之後得到的；和檢驗器，用於通過使用用於在不進行認證的情況下執行初始化的基準測試信息來檢驗測試信息，來檢驗測試結果。通過下面結合附圖對優選實施例的描述，本發明的上述和其他目的和優點將會變得更加清楚，其中圖1表示根據本發明的測試設備的框圖，該測試設備執行用於檢驗當在不進行認證的情況下執行初始化時光碟的缺陷管理區(DMA)信息的方法；圖2是表示用於檢驗在不進行認證的情況下執行初始化時的DMA結構的檢查項目的表；圖3是表示用於檢驗在不進行認證的情況下執行初始化時的盤定義結構(DDS)的檢查項目的表；圖4是表示用於檢驗在不進行認證的情況下執行初始化時的主缺陷列表(PDL)結構的檢查項目的表；圖5是表示用於檢驗在不進行認證的情況下執行初始化時的次缺陷列表(SDL)結構的檢查項目的表；圖6的框圖表示圖1所示的待測試驅動器。下面將通過下面結合示例性地示出示例的附圖對本發明優選實施例進行詳細描述，其中，相同部件採用相同標號。下面將參照附圖描述實施例，以解釋本發明。本發明所使用的光碟是其容量為4.7千兆(GB)字節的相位變化記錄DVD-RAM。DVD-RAM在「可重寫盤DVD規範2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)」中定義。圖1表示根據本發明的測試設備的框圖，該測試設備執行用於檢驗當在不進行認證的情況下執行初始化時光碟的缺陷管理區(DMA)信息的方法。測試型盤(後稱C-1盤)11是僅具有已知物理缺陷的盤，這些物理缺陷是在空白盤的預定位置上人為地做出的。但是，本發明中，可認為測試型盤是其上未寫入數據的空白測試盤。因此，只要在C-1盤上未記錄「信息」並且僅出現物理缺陷，則可將C-1盤認作是空白盤。待測試驅動器110對C-1盤11在不進行認證的情況下執行初始化，以產生DMA信息，並將所產生的DMA信息記錄到C-1盤11。從待測試驅動器110中抽出在不進行認證的情況下初始化的C-1盤12，並將其加載到能夠讀取DMA信息的改進的驅動器120中。改進的驅動器120是專為測試而製作的，可稱其為基準驅動器。改進的驅動器120從在不進行認證的情況下初始化的C-1盤12中僅讀出DMA信息，並在文件系統中產生所讀出的在不認證的情況下初始化的C-1盤12的所讀出DMA信息的DMA鏡像文件50。待測試驅動器110例如可以實現為DVD-RAM記錄和再現設備，並被設計成不產生DMA信息的鏡像文件。當將DVD-RAM記錄和再現設備的記錄和再現體系結構分成文件層、用於使主計算機與記錄和再現設備接口的主機接口層、用於記錄和再現物理信號的物理驅動器層、和記錄介質層時，由於由記錄介質和物理驅動器指定盤的物理扇區號，並且由主機接口和文件系統指定盤的邏輯扇區號，因此，在物理驅動器層和其下面的層執行DMA信息的寫入和讀取。通常，當將數據記錄到計算機中的記錄介質時，根據由文件系統指定的邏輯扇區號來確定記錄開始位置。由邏輯扇區號指明的文件位置是邏輯和相對位置信息。當在驅動器中進行記錄操作時，需要將邏輯扇區號變換成指明位置的物理扇區號，考慮到諸如盤的缺陷狀態的物理狀態，在盤的該位置處實際記錄數據。但是，當由文件系統實際記錄用戶數據時，僅採用邏輯扇區號將用戶數據發送到記錄和再現設備，並且記錄和再現設備採用缺陷管理信息將該邏輯扇區號變換成物理扇區號，該物理扇區號指明數據實際記錄的位置。因此，當在給定的記錄和再現設備中錯誤地讀出和寫入盤中所包含的缺陷管理信息時，在另一記錄和再現設備中不能準確地從盤讀出數據或將數據寫入該盤。另外，在DVD-RAM盤情況下，應由驅動器執行每個缺陷管理操作，以使得文件系統或主機接口能夠記錄或再現文件而不採用與所完成的物理缺陷管理處理有關的信息。因此，大多數驅動器未設置有在DMA中記錄信息或從DMA中再現信息的功能，並且也未設置用於在DMA中記錄信息或從DMA中再現信息的標準命令。但是，必須準備可由能夠分析DMA信息的計算機讀取數據的環境，以確定是否正確地形成了DMA信息，並且必須能夠在相應的DMA中記錄準確的信息以製作標準測試盤。為了有效地執行這種操作，設置用於在DMA中記錄信息或從DMA再現信息的改進的驅動器。本領域內的普通技術人員能夠容易地設計或得到這種改進的驅動器，因此略去對其的描述。檢驗器130將由改進的驅動器120從具有由待測試驅動器110產生的DMA信息的盤中產生的在不進行認證的情況下初始化的C-1盤的DMA鏡像文件13與C-1盤11的基準DMA鏡像文件相比較，並將檢查在不進行認證的情況下執行初始化後待測試驅動器110是否適當地產生了DMA信息的測試結果通知給製造商或用戶。儘管未示出，可事先存儲或從外部(用於產生DMA鏡像文件的控制器)提供基準DMA鏡像文件。可將DMA鏡像文件稱作測試信息，而基準DMA鏡像文件可被稱作預定的測試信息。另外，基準DMA鏡像文件可稱作DMA信息文件，它包括無差錯的理想數據，這在驅動器正常地執行整體操作時出現。本發明的檢驗方法包括從DMA信息中產生DMA鏡像文件作為測試信息，該DMA信息是在對其上未寫入數據的空白測試盤在不進行認證的情況下執行初始化後產生的，並且採用用於在不進行認證的情況下執行初始化的基準測試信息來檢驗測試信息，以提供測試結果。DMA鏡像文件包含用於測試目的的特定信息和所有DMA信息。改進的驅動器120可將DMA鏡像文件中的DMA信息寫入盤的DMA區域，並且可將盤的DMA信息保存到DMA鏡像文件中。下面將參照圖2至5描述當在不進行認證的情況下執行初始化時將被檢驗的DMA信息的測試項目。如圖2所示，用於檢驗DMA結構的檢查項目是DMA1至DMA4的差錯條件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計數器、SDL1至SDL4中的SDL計數器、以及DMA1至DMA4中的內容。DMA項目中的差錯條件用於檢查各DMA中是否存在差錯，其中的兩個位於導入區，另兩個位於導出區。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA這4個DMA的任意一個中不能存在不能糾正的差錯。如果在任意一個DMA中存在任何不能糾正的差錯，則確定該檢驗失敗，並且需要採用新的測試盤來重新測試。為了在不進行認作的情況下執行初始化時檢驗DDS/PDL和SDL更新計數器項目，檢查表示4個DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新計數器值的M值以及表示DDS/PDL更新計數器在測試之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器值增量的值k是否為「0」。還檢查8個DDS/PDL更新計數器的值是否相同。這裡，每個DDS/PDL更新計數器的值表示在DDS/PDL塊上執行的更新和重寫操作總次數。在初始化的開頭將每個DDS/PDL更新計數器的值設置成「0」，並且當更新或重寫DDS/PDL時遞增1。當完成初始化時，DDS/PDL和SDL塊必須具有相同的更新計數器值。類似地，檢查表示4個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新計數器值的N值以及表示SDL更新計數器在測試之前和之後的差值的SDL更新計數器值增量的值k是否為「0」。還檢查SDL更新計數器的值是否相同。但是，由於在不進行認作的情況下執行初始化時僅產生DMA信息一次，因此，不執行更新。所以，必須將更新計數器值設置成當首次寫入DMA信息時設置的「0」。為了檢驗DMA的內容，檢查4個DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的內容是否相同。如圖3所示，用於檢驗DDS的檢查項目包括DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數器、組數、區域數、主備用區位置、第一邏輯扇區號(LSN0)位置、每個區域的開始LSN等。檢查DDS標識符是否為「0A0Ah」。檢查盤認證標記的一個字節中表示是否在進程中的比特位置b7的值是否為「0b」。如果比特位置b7的值為「0b」，這表明格式化完成。如果比特位置b7的值為「1b」，這表明格式化在進行中。因此，當比特位置b7的值為「1b」時，表明格式化失敗。此外，檢查盤認證標記中保留的比特位置b6至b2是否全部為「0b」，並檢查表示用戶認證標記的比特位置b1的值是否為「0b」。還檢查表示盤製造商認證標記的比特位置b0的值是否為「0b」。為了檢驗相應的DDS/PDL更新計數器，檢查表示DDS/PDL更新計數器值的值M以及表示DDS/PDL更新計數器增量的值k是否為「0」。還檢查組數的值是否為表示組數為「1」的「0001h」，並且區域數的值是否為表示區域數為35的「0023h」。另外，檢查主備用區中第一扇區號是否為「031000h」和主備用區中最後的扇區號是否為「0341FFh」。檢查每個區域的LSN0和開始LSN、即第二區域(區域1)至第35區域(區域34)的開始LSN的位置是否為預定的邏輯扇區號，這表示在不進行認證的情況下執行初始化時沒有缺陷。檢查DDS結構中剩餘的保留區域(字節位置396至2047)是否全部為「00h」。另外，盤上用於缺陷管理的備用區被分成主備用區、次備用區和輔助備用區。為了替換缺陷而對盤初始化時首先指定的主備用區主要用於滑移替換(slippingreplacement)。剩下的備用區可用作用於線性替換的次備用區。用於線性替換使用盤時出現的缺陷的次備用區被定義為備用區，它是在初始化期間將主備用區用於滑移替換後剩餘的。另外，可單獨指定次備用區。輔助備用區被用於線性替換在使用盤時出現的缺陷。當在初始化之後使用盤時另外指定該輔助備用區。當在初始化之後使用盤期間缺少用於線性替換的備用區時，以如下方式指定用於線性替換的輔助備用區，即，在文件系統中，在從邏輯卷區域結尾開始的反方向上，將輔助備用區逐漸增大預定尺寸。該輔助備用區也在線性替換期間在從邏輯卷區域結尾開始的反方向上使用。如圖4所示，用於檢驗DMA中PDL結構的檢查項目包括PDL標識符、PDL中項目數、PDL項目的完整性(integrity)、和未使用區域。檢查PDL標識符是否為「0001h」。在不進行認證的情況下執行初始化時，PDL中的項目數應為「0」，而且PDL的完整性應不帶有信息。因此，檢查是否在用於指明PDL項目類型和PDL項目的各區域中寫入表示未使用區域的「FFh」。如圖5所示，用於檢驗DMA中的SDL結構的檢查項目包括SDL標識符、SDL更新計數器、次備用區(SSA)的開始扇區號、邏輯扇區總數、DDS/PDL更新計數器、備用區滿標記、SDL中的項目數、SDL項目的完整性、未使用區域、保留區域等。檢查SDL標識符是否為「0002h」。還檢查表示相應的SDL更新計數器值的值N以及表示SDL更新計數器增量的值k是否為「0」。檢查表示相應的DDS/PDL更新計數器值的值M以及表示DDS/PDL更新計數器增量的值k是否為「0」。在不進行認證的情況下執行初始化時，SSA的開始扇區號應具有對應於次備用區的尺寸的值，它是由用戶在初始化期間指定的，並且邏輯扇區總數應具有對應於次備用區的尺寸的值。並且，有關SDL項目的信息不應在表示備用區滿標記、SDL中的項目數和SDL項目的完整性的字節位置中存在。因此，備用區滿標記必須表示備用區為不滿。SDL中的項目數的值必須為「00h」。因為已知全部未使用區域，因此，如果檢查SDL中的項目數，則可確定SDL的未使用區域尺寸。因此，檢查C-1盤鏡像文件的未使用區域的尺寸是否等於基於SDL中的項目數得知的SDL的未使用區域尺寸，還檢查未使用區域是否被設置成「FFh」。另外，檢查所有保留區域的期望值是否為「00h」。圖6表示的待測試驅動器110具有用於發出光的光源22、用於將來自光源的光聚焦到盤D上的聚焦部件24、和用於控制光源22的控制器26。上述檢驗處理試圖檢驗控制器26的適當操作。如上所述，採用其上未寫入數據的空白測試盤，本發明容易地檢驗記錄和再現設備是否適當地翻譯和處理在不進行認證的情況下執行初始化後產生的DMA信息。儘管已圖示和描述了本發明的幾個優選實施例，但是，本領域內的普通技術人員可在不背離本發明原理和宗旨的前提下對實施例進行修改，本發明的範圍由其權利要求書和其等同物限定。權利要求1.一種用於檢驗在具有缺陷管理區域(DMA)信息的光碟上記錄信息或從該光碟再現信息的記錄和再現設備中是否正確地產生或更新DMA信息的方法，該方法包括下列步驟產生缺陷管理信息作為測試信息，該信息是在對其上未寫入數據的空白測試盤在不進行認證的情況下執行初始化之後產生的；和使用用於在不進行認證的情況下執行初始化的基準測試信息來檢驗測試信息，以提供測試結果。2.如權利要求1所述的方法，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。3.如權利要求1所述的方法，其中，所述產生步驟包括從在不進行認證的情況下初始化的測試盤上的DMA區域直接讀出測試信息。4.如權利要求1所述的方法，還包括顯示測試結果。5.如權利要求1所述的方法，其中所述檢驗步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、盤定義結構(DDS)、主缺陷列表(PDL)結構、和次缺陷列表(SDL)結構，並檢查是否不存在PDL項目和SDL項目。6.如權利要求1所述的方法，其中所述檢驗步驟包括檢驗所述測試信息的DMA的結構；檢驗所述DMA中的盤定義結構(DDS)；檢驗所述DMA中的主缺陷列表(PDL)結構；和檢驗所述DMA的次缺陷列表(SDL)結構。7.如權利要求6所述的方法，其中檢驗DMA結構的步驟包括檢查差錯條件、DDS/PDL和SDL更新計數器、及DMA的內容。8.如權利要求7所述的方法，其中，檢查差錯條件的步驟包括檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位於測試盤導入區，而另兩個位於導出區；檢查DDS/PDL更新計數器的步驟包括檢查4個DDS中和4個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值以及表示DDS/PDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的8個DDS/PDL更新計數器增量是否全部為「0」，並且檢查8個DDS/PDL更新計數器的值是否相同；檢查SDL更新計數器的步驟包括檢查4個SDL中SDL更新計數器的值以及表示SDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的4個SDL更新計數器增量是否全部為「0」，並且檢查4個SDL更新計數器的值是否相同；和DMA的內容的步驟包括檢查4個DMA的內容是否相同。9.如權利要求6所述的方法，其中所述檢驗DDS的步驟包括檢查DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數器、組數、區域數、主備用區位置、第一邏輯扇區號位置、和每個區域的開始邏輯扇區號。10.如權利要求9所述的方法，其中，檢驗DDS標識符的步驟包括檢查DDS標識符是否為預定值；檢查盤認證標記的步驟包括檢查盤認證標記中表示在進程中的比特的值、表示用戶認證的比特的值、和表示盤製造商認證的比特的值和是否為「0b」；檢查DDS/PDL更新計數器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數器的值、表示DDS/PDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「0」；檢查組數的步驟包括檢查組數是否為預定值；檢查區域數的步驟包括檢查區域數是否為預定值；檢查主備用區位置的步驟包括分別檢查主備用區的第一和最後扇區號是否為預定的扇區號；檢查第一邏輯扇區號的步驟包括檢查第一邏輯扇區號的位置是否為預定的邏輯扇區號；和檢查每個區域的開始邏輯扇區號的步驟包括檢查每個區域的開始邏輯扇區號是否為預定的邏輯扇區號。11.如權利要求6所述的方法，其中檢驗PDL結構的步驟包括檢查PDL標識符、PDL中的項目數、和PDL項目的完整性。12.如權利要求11所述的方法，其中，檢驗PDL標識符的步驟包括檢查PDL標識符是否為預定值；檢查項目數的步驟包括檢查PDL中的項目數是否被設置成「0」；和檢查PDL項目的完整性的步驟包括檢查是否不存在PDL項目。13.如權利要求6所述的方法，其中所述檢驗SDL結構的步驟包括檢查SDL標識符、SDL更新計數器、次備用區(SSA)的開始扇區號、邏輯扇區總數、DDS/PDL更新計數器、備用區滿標記、SDL中的項目數、SDL項目的完整性、未使用區域、和保留區域。14.如權利要求13所述的方法，其中，檢查SDL標識符的步驟包括檢查SDL標識符是否為預定值；檢查SDL更新計數器的步驟包括檢查SDL更新計數器的值以及表示SDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的SDL更新計數器增量是否為「0」；檢查DDS/PDL更新計數器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數器的值以及表示DDS/PDL更新計數器在不認證地執行再初始化之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「0」；檢查SSA的開始扇區號、邏輯扇區的總數、備用區滿標記、SDL的項目數和SDL項目的完整性的步驟包括分別檢查是否正確地將SSA的開始扇區號和邏輯扇區的總數設置到在初始化期間指定的值，備用區滿標記是否為不滿，SDL中的項目數是否為「00h」，以及是否不存在有關SDL項目的信息；和檢查未使用區域和保留區域的步驟包括檢查SDL的未使用區域的尺寸，並檢查未使用區域是否為預定值，以及保留區域是否為預定值。15.如權利要求1所述的方法，其中，所述記錄和再現設備是數字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)。16.如權利要求2所述的方法，其中所述基準測試信息是基準DMA鏡像文件。17.如權利要求16所述的方法，其中所述基準DMA鏡像文件包含無差錯的理想數據。18.如權利要求8所述的方法，其中檢查在4個DMA中的任意一個中是否存在差錯的步驟包括檢查4個DMA中是否存在任何不能糾正的差錯；和如果查找到有任意的不能糾正的差錯，則確定檢驗失敗。19.如權利要求10所述的方法，其中盤認證標記中表示進程中的比特為b7，表示用戶認證的比特為b1，表示盤製造商認證的比特為b0，盤認證標記的比特b6至b2為保留比特，其中檢查盤認證標記的步驟還包括檢查每個保留比特的值是否為「0b」。20.如權利要求12所述的方法，其中檢驗PDL結構的步驟還包括檢查PDL的未使用區域是否為預定值。21.如權利要求14所述的方法，其中檢驗SDL結構的步驟還包括檢查SDL的未使用區域是否為預定值。22.一種用於檢驗在具有缺陷管理區域(DMA)信息的光碟上記錄信息或從該光碟再現信息的記錄和再現設備中是否正確地產生或更新DMA信息的方法，該方法包括下列步驟從DMA信息中產生測試信息，該信息是在不進行認證的情況下執行初始化之後產生的；和使用基準測試信息來執行用於檢驗測試信息的測試。23.如權利要求22所述的方法，其中所述測試信息是DMA鏡像文件，所述基準測試信息是基準DMA鏡像文件。24.如權利要求22所述的方法，其中所述執行測試的步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。25.一種用於測試在具有缺陷管理區域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備以檢查是否正確地產生或更新DMA信息的設備，包括改進的驅動器單元，用於從測試盤的產生的DMA信息中產生測試信息，它是在記錄和再現設備對測試盤在不進行認證的情況下執行初始化後得到的；和檢驗器，用於將測試信息與在不進行認證的情況下執行初始化的預定的測試信息相比較，以檢驗測試結果。26.如權利要求25所述的設備，其中所述測試信息是DMA鏡像文件，所述預定的測試信息是基準DMA鏡像文件。27.如權利要求25所述的設備，其中所述改進的驅動單元從測試盤上的DMA區域讀取測試信息，並將該測試信息提供給檢驗器。28.如權利要求25所述的設備，其中所述測試盤是在不進行認證的情況下執行初始化之前在空白盤上形成已知的物理缺陷而形成的盤。29.如權利要求25所述的設備，其中，通過檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構，所述檢驗器將測試信息與預定的測試信息相比較。30.一種檢驗記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區(DMA)信息的方法，包括下列步驟對包含預定的已知物理缺陷信息的測試盤在不進行認證的情況下執行初始化，以產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。31.如權利要求30所述的方法，其中所述在不進行認證的情況下執行初始化的步驟包括使所述記錄和再現設備對測試盤在不進行認證的情況下執行初始化，以產生具有DMA信息的盤；和採用基準驅動器僅從盤產生DMA信息，以產生DMA鏡像文件作為測試信息，其中，所述基準測試信息是基準DMA鏡像文件。32.如權利要求30所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。33.一種檢驗記錄和再現設備是否適當地讀取和處理缺陷管理區(DMA)信息的方法，包括下列步驟採用所述記錄和再現設備對包含預定的已知物理缺陷的測試盤在不進行再初始化的情況下執行認證，以產生DMA信息；從所產生的DMA信息中產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。34.如權利要求33所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。35.一種由記錄和再現設備採用下列處理步驟適當地產生的DMA信息，該處理步驟包括採用所述記錄和再現設備對測試盤在不進行再初始化的情況下執行認證，以產生DMA信息；從所產生的DMA信息中產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。36.如權利要求35所述的DMA信息，其中所述DMA信息包括DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)結構，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。37.一種採用下列處理步驟檢驗的記錄和再現設備，該處理步驟包括對測試盤在不進行再初始化的情況下執行認證，以產生DMA信息；從所產生的DMA信息中產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。38.如權利要求37所述的記錄和再現設備，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。39.一種採用下列處理步驟檢驗的記錄和再現設備，該處理步驟包括對包含預定缺陷信息的測試盤在不進行認證的情況下執行初始化，以產生測試信息；將測試信息與預定測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。40.如權利要求39所述的記錄和再現設備，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。41.一種用於測試在具有缺陷管理區域信息的可記錄和可再現光碟上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備以檢查DMA信息是否被適當地產生的設備，包括改進的驅動器，用於根據再現裝置通過對測試盤在不進行認證的情況下執行初始化而產生的測試盤的DMA信息，來產生測試信息；和檢驗器，用於將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。42.如權利要求41所述的設備，其中改進的驅動器僅從測試盤讀取DMA信息，以產生DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。43.如權利要求41所述的設備，其中所述檢驗器從外部源接收基準測試信息，以在測試信息和基準測試信息之間作比較。44.如權利要求41所述的設備，其中，通過檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構，所述檢驗器將測試信息與預定的測試信息相比較。45.一種製造相一致的記錄和再現設備的方法，包括下列步驟製造更新和產生缺陷管理區(DMA)信息的未認證的記錄和再現設備；和檢驗所述未認證的記錄和再現設備是否與標準相一致，所述檢驗步驟包括對測試盤在不進行認證的情況下執行初始化，以產生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗，所述檢驗表明所述未認證的記錄和再現設備是否與標準相一致。46.如權利要求45所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。47.一種用於在光碟上記錄和再現信息的盤記錄和再現設備，包括光源，用於發出光；聚焦部件，用於將光聚焦到光碟上，以記錄和再現信息；和控制器，用於控制所述光源，通過如下處理來檢驗所述控制器，以更新和產生缺陷管理區(DMA)信息，即，對測試盤在不進行認證的情況下執行初始化，以產生測試信息，和，將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現設備的檢驗。48.如權利要求47所述的盤記錄和再現設備，其中所述控制器檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。49.一種用於在光碟上記錄和再現信息的盤記錄和再現設備，包括光源，用於發出光；聚焦部件，用於將光聚焦到光碟上，以記錄和再現信息；和控制器，用於控制所述光源，和在對光碟在不進行認證的情況下執行初始化之後更新和產生缺陷管理區信息，從而缺陷管理區信息與標準相一致。50.如權利要求49所述的盤記錄和再現設備，其中所述控制器檢查構成測試信息的DMA結構、DMA的盤定義結構(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結構和次缺陷列表(SDL)結構。51.一種用於測試在具有缺陷管理區域(DMA)信息的可記錄和可再現光碟上記錄信息或從該光碟再現信息的記錄和再現設備以檢查是否正確地產生DMA信息的設備，包括改進的驅動器單元，用於從記錄在測試盤上的DMA信息中產生測試信息，它是在記錄和再現設備對其上未寫入數據的空白測試盤在不進行認證的情況下執行初始化後得到的；和檢驗器，用於通過採用在不進行認證的情況下執行初始化的基準測試信息檢驗測試信息，來檢驗測試結果。52.如權利要求51所述的設備，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。53.如權利要求51所述的設備，其中所述改進的驅動單元直接從在不進行認證的情況下初始化的測試盤上的DMA區域讀取測試信息。54.如權利要求51所述的設備，其中，所述檢驗器檢查構成測試信息的DMA結構、盤定義結構(DDS)、主缺陷列表(PDL)結構、和次缺陷列表(SDL)結構，並檢查是否不存在PDL項目和SDL項目。55.如權利要求54所述的設備，其中，通過檢查DMA的差錯條件、DDS/PDL和SDL更新計數器、及DMA的內容，所述檢驗器檢查DMA結構。56.如權利要求55所述的設備，其中，所述檢驗器檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位於測試盤導入區，而另兩個位於導出區，4個DDS中的DDS/PDL更新計數器的值以及表示DDS/PDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否全部為「0」,4個SDL中DDS/PDL更新計數器的值以及表示SDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否全部為「0」,8個DDS/PDL更新計數器的值是否相同，4個SDL中SDL更新計數器的值以及4個SDL更新計數器的增量是否全部為「0」,4個SDL更新計數器的值是否相同，以及4個DMA的內容是否相同。57.如權利要求54所述的設備，其中，通過檢查DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數器、組數、區域數、主備用區位置、第一邏輯扇區號位置、和每個區域的開始邏輯扇區號，所述檢驗器檢查DDS。58.如權利要求57所述的設備，其中，所述檢驗器檢查DDS標識符是否為預定值，盤認證標記中表示在進程中的比特的值、表示用戶認證的比特的值、和表示盤製造商認證的比特的值是否為「0b」,DDS/PDL更新計數器的值以及表示DDS/PDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「0」，檢查組數和區域數，檢查主備用區的第一和最後扇區號是否為預定的扇區號，第一邏輯扇區號的位置是否為預定的邏輯扇區號，和每個區域的開始邏輯扇區號是否為預定的邏輯扇區號。59.如權利要求54所述的設備，其中，通過檢查PDL標識符、PDL中的項目數、和PDL項目的完整性，所述檢驗器檢查PDL結構。60.如權利要求59所述的設備，其中，所述檢驗器檢查PDL標識符是否為預定值，PDL中的項目數是否被設置成「0」，和是否不存在PDL項目。61.如權利要求54所述的設備，其中，通過檢查SDL標識符、SDL更新計數器、次備用區(SSA)的開始扇區號、邏輯扇區總數、DDS/PDL更新計數器、備用區滿標記、SDL中的項目數、和SDL項目的完整性和保留區域，所述檢驗器檢查SDL結構。62.如權利要求61所述的設備，其中，所述檢驗器檢查SDL標識符是否為預定值，SDL更新計數器的值以及表示SDL更新計數器在不進行認證的情況下執行再初始化之前和之後的差值的SDL更新計數器增量是否為「0」,DDS/PDL更新計數器的值以及表示DDS/PDL更新計數器在不認證地執行再初始化之前和之後的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為「0」，是否正確地將SSA的開始扇區號和邏輯扇區的總數設置到在初始化期間指定的值，備用區滿標記是否為不滿，SDL中的項目數是否為「00h」，以及是否存在有關SDL項目的信息。全文摘要一種用於檢驗在不進行認證的情況下執行初始化時光碟的缺陷管理區(DMA)信息的方法及執行該方法的測試設備。該方法包括:產生缺陷管理信息作為測試信息,該信息是在對其上未寫入數據的空白測試盤在不進行認證的情況下執行初始化之後產生的;和使用用於在不進行認證的情況下執行初始化的基準測試信息來檢驗測試信息,以提供測試結果。因此,可容易地採用空白測試盤來檢驗記錄和再現設備是否正確地翻譯和處理在不進行認證的情況下執行初始化之後產生的DMA信息。文檔編號G11B27/36GK1323034SQ01112398公開日2001年11月21日申請日期2001年4月6日優先權日2000年4月8日發明者高禎完,鄭鉉權申請人:三星電子株式會社