一種精密電阻測量裝置和方法
2023-09-13 10:29:25 3
專利名稱：一種精密電阻測量裝置和方法
技術領域：
本發明涉及一種測量精密電阻阻值的裝置和方法。
背景技術：
目前，常規的精密電阻測量是採用精密電流源向待測電阻施加電流，測量 電阻兩端電壓，然後通過待測電阻上電流、電壓和待測電阻之間的關係計算 出電阻阻值。這中方法需要高穩定精密電流源和高精度電壓表，成本比較高。
發明內容
本發明的目的是提供一種高精度、高穩定性且成本低廉的精密電阻測量 裝置，本發明的另一目的是提供一種控制該測量裝置進行自動測量的精密電 阻測量方法。
一種精密電阻測量裝置，其中待測電阻(Rs)—端通過基準電阻(Rbase)、 限流電阻(Rlim)接入電源正極(V+)，待測電阻(Rs)另一端通過偏置電阻
(Rbias)接地， 一四選二交叉開關(MUX)的四個輸入端分別連接在基準電 阻(Rbase)、待測電阻(Rs)的兩端，其第一、第二兩個輸出端分別連接在 一信號放大電路的同、反相輸入端，該信號放大電路的輸出端連接A/D轉換 器的輸入端，A/D轉換器的輸出端連接中央處理器(CPU)的數據信號輸入 端，中央處理器(CPU)的數據信號輸出端連接一存儲器，中央處理器(CPU) 的控制信號輸出端連接交叉開關(MUX)的控制信號輸入端，用於控制交叉 開關—(MUX)的兩輸出端依次輸出基準電阻(Rbase)兩端的正反向電壓、待 測電阻(Rs)兩端的正反向電壓。
所述的精密電阻測量裝置，其中所述信號放大電路包括一緩衝放大器
(BUF)和一放大器(AMP)，緩衝放大器(BUF)的同、反相輸入端與交叉
5丌關(MUX)的兩輸出端分別對應連接，緩衝放大器(BUF)的輸出端連接 放大器(AMP)的輸入端，放大器(AMP)的輸出端連接A/D轉換器的輸入
一山乂而。
所述的精密電阻測量裝置，其中所述交叉開關(MUX)由兩個四選一
模擬開關構成，每個模擬開關的四個輸入端均分別對應連接在基準電阻
(Rbase)、待測電阻(Rs)的兩端，兩模擬開關的輸出端分別與信號放大電
路的伺、反相輸入端對應連接。
所述的精密電阻測量裝置，其中所述中央處理器(CPU)採用單片機。 所述的精密電阻測量裝置，其中所述基準電阻(Rbase)選用溫漂係數
〈5ppm/。C的電阻。
所述的精密電阻測量裝置，其中所述基準電阻(Rbase)的阻值等於待 測電阻(Rs)阻值範圍的中間值。
一種精密電阻測量方法，其中包括如下步驟
a) 、系統初始化；
b) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制 信號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接基準電 阻(Rbase)的輸入端、第二輸出端連通基準電阻(Rbase)的輸出端，即緩衝 放大器(BUF)的同相輸入端(in+)接收基準電阻(Rbase)的輸入端電壓(bp)、 反相輸入端(in-)接收基準電阻(Rbase)的輸出端電壓(bn)，緩衝放大器
(BUF)輸出端輸出的信號(BUF1)為基準電阻(Rbase)的輸入端電壓(bp)、 輸出端電壓(bn)之差(BUFbbp-bn),該信號(BUF1)經放大器(AMP)放 大後送入A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號(Bp)經中央處理器
(CPU)送入存儲器存儲；
c) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制 信號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接基準電
6阻(Rbase)的輸出端、第二輸出端連通基準電阻(Rbase)的輸入端，即緩衝 放大器(BUF)的同相輸入端(in+)接收基準電阻(Rbase)的輸出端電壓(bn)、 反相輸入端(in-)接收基準電阻(Rbase)的輸入端電壓(bp)，緩衝放大器
(BUF)輸出端輸出的信號(BUF2)為基準電阻(Rbase)的輸出端電壓(bn)、 輸入端電壓(bp)之差(BUF2鬥n-bp),該信號(BUF2)經放大器(AMP)放 大後送入A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號(Bn)經中央處理器
(CPU)送入存儲器存儲；
d) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制 信號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接待測電 阻(Rs)的輸入端、第二輸出端連通待測電阻(Rs)的輸出端，即緩衝放大 器(BUF)的同相輸入端(in+)接收待測電阻(Rs)的輸入端電壓(sp)、反 相輸入端(in-)接收待測電阻(Rs)的輸出端電壓(sn)，緩衝放大器(BUF) 輸出端輸出的信號(BUF3)為待測電阻(Rs)的輸入端電壓(sp)、輸出端電 壓(sn)之差(BUF3-sp-sn),該信號(BUF3)經放大器(AMP)放大後送入 A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號(Sp)經中央處理器(CPU) 送入存儲器存儲；
e) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制 信號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接待測電 阻(Rs)的輸出端、第二輸出端連通待測電阻(Rs)的輸入端，即緩衝放大 器(BUF)的同相輸入端(in+)接收待測電阻(Rs)的輸出端電壓(sn)、反 相輸入端(in-)接收待測電阻(Rs)的輸入端電壓(sp)，緩衝放大器(BUF) 輸出端輸出的信號(BUF4)為待測電阻(Rs)的輸出端電壓(sn)、輸入端電 壓(sp)之差(BUF4二sn-sp),該信號(BUF4)經放大器(AMP)放大後送入 A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號(Sn)經中央處理器(CPU) 送入存儲器存儲；f) 、中央處理器(CPU)從存儲器中調取Bp、 Bn、 Sp、 Sn，計算中間數 據Rbl:Bp匿Bn， RshSp-Sn,根據得到的Rbl、 Rsl，計算待測電阻(Rs)的阻 值R^K，(Rsl/Rbl)，其中，K為校準係數；
g) 、結束本次測量。
所述的精密電阻測量方法，其中該方法的步驟a)中還包括調整校準系 數K的步驟調整校準係數K，使K值接近基準電阻(Rbase)的阻值Rb。
所述的精密電阻測量方法，其中所述基準電阻(Rbase)選用溫漂係數 〈5ppm〃C的電阻。
所述的精密電阻測量方法，其中所述基準電阻(Rbase)的阻值等於待 測電阻(Rs)阻值範圍的中間值。
本發明採用上述技術方案將達到如下的技術效果
本發明的精密電阻測量裝置中，待測電阻Rs與基準電阻Rbase串聯，保 證電流一致，這兩個電阻的測量採用四線連接方法，避免導線電阻影響(一 般導線都有電阻，這裡的導線指的是跟關鍵元件有關的連接 線，包括連接待測電阻的接線和電路板上的印刷匯流條)。本發明的精密電阻 測量方法，是由中央處理器CPU控制交叉開關MUX的連通，分別測量待測 電阻Rs與基準電阻Rbase的正向電壓(Bp， Sp)、負向電壓(Bn， Sn)，並 將二者作減法運算(即Rbl=Bp-Bn， Rsl = Sp-Sn)，減法運算後得到中間數 據Rbl和Rsl，將它們作除法運算(即Rsl/Rbl)，並乘以校準係數K得到待 測電阻的阻值Rs。本技術方案涉及到的中央處理器是單片機，相比DSP來說 價格低廉且具有更好的通用性。
這裡，減法運算的目的是消除A/D轉換器的零偏誤差，同時也避免了該 偏置誤差漂移的影響。以基準電阻(Rbase)測量說明消除零偏誤差的原理， 如下所述假設A/D轉換器零偏電壓為Vbi，該零偏在短時間內變化很小， 因此可忽略不計，測得的基準電阻Rbase正向電壓Bp可分解為Bpl和Vbi，即
Bp=Bp 1+Vbi=i xRb+Vbi
其中i.........流經電阻的電流
Rb......基準電阻Rbase阻值
同樣，負向電壓Bn可分解如下
Bn=Bnl+Vbi= —ixRb+Vbi 減法運算Rbl=Bp-Bn可表示為
Rbl=Bp-Bn= (ixRb+Vbi) — (—ixRb+Vbi) =2xixRb
同理
Rsl=2xixRs
可見，減法運算後消除了 A/D轉換器的零偏電壓Vbi。
待測電阻Rs與基準電阻Rbase串聯，因此流經它們的電流是一致的，根據 歐姆定律，這兩個電阻上的電壓與電阻阻值成正比，因此，在單片機CPU中 將兩個電阻上的電壓數據(分別正負相減後)相除，然後乘以校準係數K即 可得到待測電阻的阻值，這一過程用公式表述如下
(Rsl/Rbl) xK=[(2xixRs)/(2xixRb)]xK= (Rs/Rb) xK
當校準後K-Rb，上式的結果(Rs/Rb) xK即是待測電阻阻值Rs，可見， 最後得到的待測電阻阻值與待測電阻上的電流無關，所以不需要精密電流源。 (其中，這裡所述的校準是採用本技術領域通用的校準方法用標準測量電 阻的設備測試被測電阻得到Rs'，若用本技術方案的裝置和方法測試得到的被 測電阻Rs與Rs'的差值大於要求的誤差，則調整校準係數K使得差值小於 要求的誤差；校準係數K存儲在數字處理器(單片機)內，通過一套命令和 程序實現該係數的調整，這裡不再贅述。)
中間數據Rbl和Rsl都與放大器AMP的增益係數ka成正比，在一次測量 過程中ka保持不變，最終計算結果中將Rsl和Rbl相除，所以最後的計算結果即待測電阻的阻值Rs與ka無關，避免了放大器AMP的增益係數ka的漂 移影響。同理，A/D轉換器增益(主要由A/D轉換器的的基準電壓決定)與最後 計算結果即待測電阻的阻值Rs無關，避免了 A/D轉換器增益漂移的影響。
另外，選用小溫漂係數(溫漂係數.<5 111/°0電阻作為基準電阻Rbase， 可使溫度影響降低，在測量過程中可忽略不計。選擇基準電阻Rbase的大小， 使其阻值等於待測電阻Rs阻值範圍的中間值，以便充分利用A/D轉換器的動 態範圍。
由上可見，本發明裝置和方法在測量過程中消除和避免了多種因素引起的 測量誤差，從而具有較高的測量精度和良好的穩定性，另外，其不需要精密 電流源，成本低廉。
圖1為本發明精密電阻測量裝置的結構示意圖； 圖2為本發明精密電阻測量方法的流程圖； 圖3為一種精密電阻測量裝置實例的結構示意圖。
具體實施方式
實施例
一種精密電阻測量裝置，其中待測電阻Rs—端通過基準電阻Rbase、 限流電阻Rlim接入電源正極V+，待測電阻Rs另一端通過偏置電阻Rbias接 地(GND)， 一四選二交叉開關MUX的.四個輸入端分別連接在基準電阻Rbase、 待測電阻Rs的兩端，分別用於接收基準電阻Rbase的輸入端電壓bp、輸出端 電壓bn、待測電阻Rs的輸入端電壓sp、輸出端電壓sn，交叉開關MUX的 第一、第二兩個輸出端分別連接在一緩衝放大器BUF的同、反相輸入端(in+、 in-)，緩衝放大器BUF的輸出端連接放大器AMP的輸入端，放大器AMP的 輸出端連接A/D轉換器的輸入端，A/D轉換器的輸出端連接中央處理器CPU 的數據信號輸入端，中央處理器CPU的數據信號輸出端連接一存儲器，中央處理器CPU的控制信號輸出端連接交叉開關MUX的控制信號輸入端，用於 控制交叉開關MUX的兩輸出端依次輸出基準電阻Rbase兩端的正反向電壓、 待測.電阻Rs兩端的正反向電壓。
本實施例中的中央處理器CPU採用單片機，相比DSP晶片來說價格低廉 且具有更好的通用性，所述中央處理器CPU的數據信號輸入端、輸出端及控 制信號輸出端是分別用單片機上的相應接口實現。
利用緩衝放大器高輸入阻抗(大於109Q)、低輸出阻抗(小於5Q)的特 性能夠大大降低交叉開關和導線的電阻造成的測量誤差。
所述交叉開關MUX由兩個四選一模擬開關構成，每個模擬開關的四個輸 入端均分別對應連接在基準電阻Rbase、待測電阻Rs的兩端，兩模擬開關的 輸出端分別與緩衝放大器的同、反相輸入端(in+、 in-)對應連接。
所述基準電阻(Rbase)選用溫漂係數〈5ppm/。C的電阻，其阻值Rb為待測電 阻Rs阻值範圍的中間值。
利用本發明精密電阻測量裝置進行精密電阻測量的流程如圖2所示，其 具體測量步驟如下
a) 、先進行系統初始化，並將校準係數K調整為接近基準電阻Rbase的 阻值Rb;
b) 、單片機CPU的控制信號輸出端對交叉開關MUX的控制信號輸入端 輸送第一個控制信號，控制交叉開關MUX的第一輸出端連接基準電阻Rbase 的輸入端、第二輸出端連通基準電阻Rbase的輸出端，即緩衝放大器BUF的 同相輸入端in+接收基準電阻Rbase的輸入端電壓bp、反相輸入端in-接收基 準電阻Rbase的輸出端電壓bn，緩衝放大器BUF輸出端輸出的信號BUFl為 基準電阻Rbase的輸入端電壓bp、輸出端電壓bn之差，即BUFl=bp-bn，該 信號BUFl經放大器AMP放大後送入A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換 後的信號Bp經單片機CPU的數據信號輸入端進入單片機中處理後再經單片機的數據信號輸出端送入存儲器存儲；
c) 、單片機CPU的控制信號輸出端對交叉開關MUX的控制信號輸入端 輸送第二個控制信號，控制交叉開關MUX的第一輸出端連接基準電阻Rbase 的輸出端、第二輸出端連通基準電阻Rbase的輸入端，即緩衝放大器BUF的 同相輸入端in+接收基準電阻Rbase的輸出端電壓bn、反相輸入端in-接收基 準電阻Rbase的輸入端電壓bp，緩衝放大器BUF輸出端輸出的信號BUF2為 基準電阻Rbase的輸出端電壓bn、輸入端電壓bp之差，即BUF2=bn-bp，該 信號BUF2經放大器AMP放大後送入A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換 後的信號Bn經單片機CPU送入存儲器存儲；
d) 、單片機CPU的控制信號輸出端對交叉開關MUX的控制信號輸入端 輸送第三個控制信號，控制交叉開關MUX的第一輸出端連接待測電阻Rs的 輸入'端、第二輸出端連通待測電阻Rs的輸出端，即緩衝放大器BUF的同相 輸入端in+接收待測電阻Rs的輸入端電壓sp、反相輸入端in-接收待測電阻 Rs的輸出端電壓sn，緩衝放大器BUF輸出端輸出的信號BUF3為待測電阻 Rs的輸入端電壓sp、輸出端電壓sn之差，即BUF3二sp-sn，該信號BUF3經 放大器AMP放大後送入A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號Sp經 單片機CPU送入存儲器存儲；
e) 、單片機CPU的控制信號輸出端對交叉開關MUX的控制信號輸入端 輸送.第四個控制信號，控制交叉開關MUX的第一輸出端連接待測電阻Rs的 輸出端、第二輸出端連通待測電阻Rs的輸入端，即緩衝放大器BUF的同相 輸入端in+接收待測電阻Rs的輸出端電壓sn、反相輸入端in-接收待測電阻 Rs的輸入端電壓sp，緩衝放大器BUF輸出端輸出的信號BUF4為待測電阻 Rs的輸出端電壓sn、輸入端電壓sp之差，即BUF4二sn-sp，該信號BUF4經 放大器AMP放大後送入A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號Sn經 單片機CPU送入存儲器存儲f) 、單片機CPU從存儲器中調取Bp、 Bn、 Sp、 Sn，計算中間數據 Rbl=Bp-Bn， Rs^Sp-Sn,根據得到的Rbl、 Rsl，計算待測電阻Rs的阻值 Rs=K*(Rsl/Rbl)，其中，K為校準係數；
g) 、結束本次測量。
本發明的裝置應用在一型號為ZQX-1的氣象採集器中鉑電阻溫度傳感器上 精密鉑電阻的測量，圖3為測量鉑電阻的測量裝置結構連接圖，待測鉑電阻 Rs —端通過基準電阻Rbase、限流電阻Rlim串接入電源正極V+，另一端通過 偏置電阻Rbias接地GND，測量裝置中採用了晶片ADS1241 (24位2 - △器件)， 該晶片集成了交叉開關MUX、緩衝放大器BUF、放大器AMP和A/D轉換器的功 能，單片機CPU選取C8051F020，晶片ADS1241通過其SPI接口與單片機 C8051F020的SPI接口連接，單片機C8051F020的RS232接口與上位機PC的 RS232接口連接，由上位機提供存儲功能，上位機還能將測量結果進行顯示、 列印等操作，另外，單片機C8051F020的一 I/O埠連接在ADS1241上的交 叉開關功能模塊的控制接腳上，用於控制交叉開關的連通；另外，待測量的 鉑電阻Rs阻值在50 150Q範圍內，選取IOOQ的基準電阻，本實施例中採 用基準電阻的型號為RS201-9848;按照圖2所示的流程測量待測電阻Rs，經 試驗，測試精度達到0.02Q，在近半年的實際測量工作中，測試結果幾乎無 變化，具有很好的穩定性。
權利要求
1、一種精密電阻測量裝置，其特徵在於待測電阻(Rs)一端通過基準電阻(Rbase)、限流電阻(Rlim)接入電源正極(V+)，待測電阻(Rs)另一端通過偏置電阻(Rbias)接地，一四選二交叉開關(MUX)的四個輸入端分別連接在基準電阻(Rbase)、待測電阻(Rs)的兩端，其第一、第二兩個輸出端分別連接在一信號放大電路的同、反相輸入端，該信號放大電路的輸出端連接A/D轉換器的輸入端，A/D轉換器的輸出端連接中央處理器(CPU)的數據信號輸入端，中央處理器(CPU)的數據信號輸出端連接一存儲器，中央處理器(CPU)的控制信號輸出端連接交叉開關(MUX)的控制信號輸入端，用於控制交叉開關(MUX)的兩輸出端依次輸出基準電阻(Rbase)兩端的正反向電壓、待測電阻(Rs)兩端的正反向電壓。
2、 如權利要求1所述的精密電阻測量裝置，其特徵在於所述信號放大電 路包括一緩衝放大器(BUF)和一放大器(AMP)，緩衝放大器(BUF)的同、 反相輸入端與交叉開關(MUX)的兩輸出端分別對應連接，緩衝放大器(BUF) 的輸出端連接放大器(AMP)的輸入端，放大器(AMP)的輸出端連接A/D轉 換器的輸入端。
3、 如權利要求1或2所述的精密電阻測量裝置，其特徵在於所述交叉開 關(MUX)由兩個四選一模擬開關構成，每個模擬開關的四個輸入端均分別對 應連接在基準電阻(Rbase)、待測電阻(Rs)的兩端，兩模擬開關的輸出端分 別與信號放大電路的同、反相輸入端對應連接。
4、 如權利要求1或2所述的精密電阻測量裝置，其特徵在於所述中央處 理器(CPU)為單片機。 .
5、 如權利要求1或2所述的精密電阻測量裝置，其特徵在於所述基準電 阻(Rbase)選用溫漂係數〈5ppm〃C的電阻。
6、 如權利要求5所述的精密電阻測量裝置，其特徵在於所述基準電阻(Rbase)的阻值等於待測電阻(Rs)阻值範圍的中間值。
7、 一種精密電阻測量方法，其特徵在於包括如下步驟a) 、系統初始化； .b) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制信 號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接基準電阻(Rbase)的輸入端、第二輸出端連通基準電阻(Rbase)的輸出端，即緩衝放大 器(BUF)的同相輸入端(in+)接收基準電阻(Rbase)的輸入端電壓(bp)、 反相輸入端(in-)接收基準電阻(Rbase)的輸出端電壓(bn)，緩衝放大器(BUF) 輸出端輸出的信號(BUF1)為基準電阻(Rbase)的輸入端電壓(bp)、輸出端 電壓(bn)之差(BUFl-bp-bn),該信號(BUF1)經放大器(AMP)放大後送入 A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號(Bp)經中央處理器(CPU)送 入存儲器存儲；c) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制信 號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接基準電阻(Rbase)的輸出端、第二輸出端連通基準電阻(Rbase)的輸入端，即緩衝放大 器(BUF)的同相輸入端(in+)接收基準電阻(Rbase)的輸出端電壓(bn)、 反相輸入端(in-)接收基準電阻(Rbase)的輸入端電壓(bp)，緩衝放大器(BUF) 輸出端輸出的信號(BUF2)為基準電阻(Rbase)的輸出端電壓(bn)、輸入端 電壓(bp)之差(BUF2^n-bp)，該信號(BUF2)經放大器(AMP)放大後送入 A/D轉換器進行A/D轉換，A/D轉換後的信號(Bn)經中央處理器(CPU)送 入存儲器存儲；d) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制信 號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接待測電阻(Rs) 的輸:入端、第二輸出端連通待測電阻(Rs)的輸出端，即緩衝放大器(BUF) 的同相輸入端(in+)接收待測電阻(Rs)的輸入端電壓(sp)、反相輸入端(in-)接收待測電阻(Rs)的輸出端電壓(sn)，緩衝放大器(BUF)輸出端輸出的信 號(BUF3)為待測電阻(Rs)的輸入端電壓(sp)、輸出端電壓(sn)之差 (BUF3=sp-sn)，該信號(BUF3)經放大器(AMP)放大後送入A/D轉換器進行 A/D轉換，A/D轉換後的信號(Sp)經中央處理器(CPU)送入存儲器存儲；e) 、中央處理器(CPU)的控制信號輸出端對交叉開關(MUX)的控制信 號輸入端輸送控制信號，控制交叉開關(MUX)的第一輸出端連接待測電阻(Rs) 的輸出端、第二輸出端連通待測電阻(Rs)的輸入端，即緩衝放大器(BUF) 的同相輸入端(in+)接收待測電阻(Rs)的輸出端電壓(sn)、反相輸入端(in-) 接收待測電阻(Rs)的輸入端電壓(sp)，緩衝放大器(BUF)輸出端輸出的信 號(BUF4)為待測電阻(Rs)的輸出端電壓(sn)、輸入端電壓(sp)之差 (BUF4=sn-sp),該信號(BUF4)經放大器(AMP)放大後送入A/D轉換器進行 A/D轉換，A/D轉換後的信號(Sn)經中央處理器(CPU)送入存儲器存儲；f) 、中央處理器(CPU)從存儲器中調取Bp、 Bn、 Sp、 Sn，計算中間數據 Rbl=Bp-Bn， Rsl= Sp-Sn，根據得到的Rbl、 Rsl，計算待測電阻(Rs)的阻值 Rs=K，(Rsl/Rbl)，其中，K為校準係數；g) 、結束本次測量。
8、 如權利要求7所述的精密電阻測量方法，其特徵在於該方法的步驟a) 中還包括調整校準係數K的步驟:調整校準係數K，使K值接近基準電阻(Rbase) 的阻值Rb。
9、 如權利要求7或8所述的精密電阻測量方法，其特徵在於所述基準電 阻(Rbase)選用溫漂係數〈5ppmTC的電阻。
10、 如權利要求9所述的精密電阻測量方法，其特徵在於所述基準電阻 (Rbase)的阻值等於待測電阻(Rs)阻值範圍的中間值。
全文摘要
一種精密電阻測量裝置，其中，待測電阻一端通過基準電阻、限流電阻接入電源正極，另一端通過偏置電阻接地；一交叉開關的四個輸入端分別連接在基準電阻、待測電阻的兩端，其兩個輸出端分別連接在一信號放大電路的同、反相輸入端，該信號放大電路通過A/D轉換器接中央處理器的數據信號輸入端，中央處理器的數據信號輸出端連接存儲器，中央處理器的控制信號輸出端連接交叉開關的控制信號輸入端，控制交叉開關的兩輸出端依次輸出基準電阻兩端的正反向電壓、待測電阻兩端的正反向電壓，經信號放大電路處理及A/D轉換後由中央處理器存入存儲器；中央處理器調取存儲器中基準電阻上正反向電壓差、待測電阻上正反向電壓差進行運算得到待測電阻的阻值。
文檔編號G01R27/02GK101498749SQ20081004921
公開日2009年8月5日 申請日期2008年2月1日 優先權日2008年2月1日
發明者張德林, 軍 滕 申請人:凱邁(洛陽)測控有限公司