光拾取裝置和光分割體的製作方法

2023-09-18 10:01:10 6

專利名稱：光拾取裝置和光分割體的製作方法
技術領域：
本發明涉及用於向光碟記錄信息或從光碟再生信息的光拾取裝置和光 分割體。
背景技術：
光拾取裝置用於向光碟記錄信息或從光碟再生信息。作為光碟能舉出 小型盤(Compact Disc、簡稱CD )、數字多功能盤(Digital Versatile Disc、 簡稱DVD )和藍光碟(Blu-ray Disc、登錄商標)等。CD的記錄再生使用 7S0nm附近的紅外波長區域的雷射。用於DVD的記錄再生的雷射，比用於 記錄再生CD的雷射的波長短，具體說就是使用650 nm附近的紅色波長區 域的雷射。用於藍光碟的記錄再生的雷射，具有比DVD記錄再生所使用的 雷射更短的波長，具體說就是使用405nm附近的藍紫色波長區域的雷射。光碟上形成有記錄層。相對於這種光碟進行信息的記錄/再生時，把 雷射向光碟的記錄層進行聚光而照射，並由受光部接受來自光碟的反射光。 這樣來進行信息的記錄/再生，同時檢測包含有對焦誤差信號和跟蹤誤差 信號的隨動信號以進行隨動控制。圖14是把現有光拾取裝置1的結構簡略化表示的圖。現有的光拾取裝 置1中，來自光源2的射出光被衍射光柵3分離成主光束和一對副光束， 透射光分割體4並被準直透鏡5變換成平行光，由物鏡6向光碟7的記錄 層8聚光。來自光碟7記錄層8的反射光透射物鏡6和準直透鏡5,並被光 分割體4分割，以被聚光的狀態由受光部9受光。這種現有的光拾取裝置l 被日本特開2004-288227號和日本特開2004-303296號所公開。圖15是表示光分割體4一例的圖。該例在光分割體4的符號末尾付與 "a"。圖15表示光分割體4a與受光部9的關係。受光部9具有用於生成 對焦誤差信號的對焦用受光部11,和用於生成跟蹤誤差信號的一對跟蹤用 受光部12a、 12b。光分割體4a由全息元件實現。光分割體4a具有把來自光碟7記錄層8的反射光向對焦用受光部11反射的對焦用分割區域13，和把來自光碟7記錄層8的反射光向各跟蹤用受光部12a、 12b分別反射的一對跟蹤用分 割區域14a、 14b。對焦用分割區域13與一對跟蹤用分割區域14a、 14b的邊界線15大致 沿與光學系統的基準光軸L正交且向跟蹤方向Tl延伸的假想線16形成。 所述邊界線15中，相對於光學系統基準光軸L的半徑方向靠近外側的部分 17沿所述假想線16形成。所述邊界線15中，相對於所述基準光軸L的半 徑方向靠近內側的部分18從所述^iE線16偏離，與該部分18沿所述^iS、 線16的情況相比，以增加對焦用分割區域13。圖16是表示光分割體4其他例的圖。該例在光分割體4的符號末尾付 與"b"。圖16表示光分割體4b與受光部9的關係。由於該例的光分割體 4b與所述圖15所示例的光分割體4a類似，所以僅說明不同點。該例的光 分割體4b在所述邊界線15中相對於所述基準光軸L的半徑方向靠近外側 的部分17,從所述々支想線16偏離，與該部分17沿所述^^想線16的情況相 比，以增加所述一對跟蹤用分割區域14a、 14b。光碟7中，為了增大記錄容量而在其厚度方向上層積有多層記錄層8。 相對於這種光碟7的信息記錄/再生，從光源2的射出光被聚光就不僅有 來自聚光記錄層8a的反射光由受光部9受光，而且有來自與聚光記錄層8a 不同的非聚光記錄層8b的反射光由受光部9受光。圖17是用於說明形成有雙層記錄層8的光碟7中光的透射和反射的概 要情況的圖。圖17設定為從光源2側看光碟7時，非聚光記錄層8b位於 聚光記錄層8a內側的情況。來自光源2的射出光21向聚光記錄層8a聚光 並被聚光記錄層8a反射。這時，來自光源2的射出光的一部分透射聚光記 錄層8a。透射聚光記錄層8a的透射光22以欲於相對於非聚光記錄層8b與 光源2側相反的內側、聚焦於假想焦點23的方式被非聚光記錄層8b反射。圖18是用於說明在使用圖15所示的光分割體4a時，來自非聚光記錄 層8b的反射光受光狀態的圖。圖19是用於說明在使用圖16所示的光分割 體4b時，來自非聚光記錄層8b的反射光受光狀態的圖。圖18和圖19設 定為從光源2側看光碟7時，非聚光記錄層8b位於聚光記錄層8a內側的情 況。這時，來自非聚光記錄層8b的反射光25以比來自聚光記錄層8a的反 射光被擴展的狀態到達對焦用受光部11和各跟蹤用受光部12a、 12b，並被這些受光部ll、 12a、 12b受光。由此存在對隨動信號產生惡劣影響的問題。發明內容本發明的目的在於提供一種光拾取裝置和光分割體，能抑制由來自與 聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光而引起的惡劣影響。本發明的光拾取裝置向形成有多層記錄層的光碟照射光，用於向光碟的記錄層記錄信息或從光碟的記錄層再生信息，包括 光源，其射出光；光學系統，其把來自光源的射出光向光碟的記錄層聚光，且把來自光 盤記錄層的反射光進行聚光；受光部，把來自光碟記錄層的反射光經由光學系統受光，其具有第一 受光部和第二受光部，該第一受光部配置在把來自匯聚光源射出光的聚光 記錄層的反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的反射光，該第二 受光部配置成從聚光記錄層的反射光聚光位置離開而與第一受光部鄰接， 接受來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光；校正部，其根據第二受光部的受光結果來校正第一受光部的受光結果。根據本發明，在向光碟的記錄層記錄信息或從光碟的記錄層再生信息 時，相對於光碟從光碟的一側照射光。來自光源的射出光利用光學系統向 光碟的記錄層聚光。來自光碟記錄層的反射光利用光學系統被聚光並由受 光部受光。受光部具有第一受光部和第二受光部。第一受光部配置在把來自匯聚 光源射出光的聚光記錄層的反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層 的反射光。第二受光部配置成從聚光記錄層的反射光聚光的位置離開而與 第 一受光部鄰接，接受來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光。來自非聚光記錄層的反射光以比來自聚光記錄層的反射光擴展的狀態 到達受光部。因此，來自非聚光記錄層的反射光被第一受光部受光。考慮 到這點，校正部根據第二受光部的受光結果校正第一受光部的受光結果。 這樣能抑制由非聚光記錄層的反射光而引起的惡劣影響。本發明的所述光學系統優選為把光源的射出光分離成主光束和一對副 光束，並向光碟的記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其配置在把來自聚光記錄層的主光束反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射光； 一對副光束受光元件，其分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束反射光 進行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部具有用於將各副光束受光元件中、來自非聚光記錄層 的主光束反射光所到達的副光束受光元件的受光結果進行補正的副光束校 正用受光部分，該副光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的主 光束反射光進行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進行 聚光的位置這兩者離開，與所述副光束受光元件鄰接，接受來自非聚光記 錄層的主光束反射光，所述校正部根據副光束校正用受光部分的受光結果來校正所述副光束 受光元件的受光結果。根據本發明，光源的射出光被光學系統分離成主光束和一對副光束並 向光碟的記錄層聚光。來自聚光記錄層的主光束反射光被光學系統聚光並 由主光束受光元件受光。來自聚光記錄層的各副光束反射光被光學系統聚 光並分別由各副光束受光元件受光。來自非聚光記錄層的主光束反射光以比來自聚光記錄層的各光束反射 光擴展的狀態到達受光部。考慮到這點，以與各副光束受光元件中、來自 非聚光記錄層的主光束反射光到達的副光束受光元件鄰接的方式配置副光 束校正用受光部分。校正部根據副光束校正用受光部分的受光結果校正所 述副光束受光元件的受光結果。這樣能抑制由非聚光記錄層的主光束反射 光而引起的惡劣影響。本發明的所述副光束校正用受光部分優選具有介於所述副光束受光元件與主光束受光元件之間的中介受光元件，和相對所述副光束受光元件 而配置在與中介受光元件相反側的相反側受光元件。根據本發明，副光束校正用受光部分具有中介受光元件和相反側受光 元件。中介受光元件介於各副光束受光元件中、來自非聚光記錄層的主光 束反射光到達的副光束受光元件與主光束受光元件之間。相反側受光元件 相對所述副光束受光元件配置在中介受光元件的相反側。在校正所述副光 束受光元件的受光結果時，使用如前所述的副光束校正用受光部分的受光 結果。因此，能高精度地校正所述副光束受光元件的受光結果。這樣能盡 量抑制由非聚光記錄層的主光束反射光？ 1起的惡劣影響。本發明中優選把所述中介受光元件和所述相反側受光元件形成為一體。根據本發明，由於把中介受光元件和相反側受光元件形成為一體，所 以不需要用於把中介受光元件的受光結果與相反側受光元件的受光結果相 加的加法電路。這樣，能把校正部的電路結構簡單化。本發明的所述光學系統把光源的射出光分離成主光束和一對副光束並 向光碟的記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其被配置在把來自聚光記錄層的主光束反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射光； 一對副光束受光元件，其被分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束 反射光進行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部具有用於校正主光束受光元件的受光結果的主光束校 正用受光部分，該主光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的主 光束反射光進行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進行 聚光的位置這兩者離開，與主光束受光元件鄰接，接受來自非聚光記錄層 的主光束反射光，所述校正部根據主光束校正用受光部分的受光結果校正主光束受光元 件的受光結果。根據本發明，光源的射出光被光學系統分離成主光束和一對副光束並 向光碟的記錄層聚光。來自聚光記錄層的主光束反射光被光學系統聚光並 由主光束受光元件受光。來自聚光記錄層的各副光束反射光被光學系統聚 光並分別由各副光束受光元件受光。來自非聚光記錄層的主光束反射光以比來自聚光記錄層的各光束反射 光擴展的狀態到達受光部。考慮到這點，與主光束受光元件鄰接地來配置 主光束校正用受光部分。校正部根據主光束校正用受光部分的受光結果來 校正主光束受光元件的受光結果。這樣能抑制由非聚光記錄層的主光束反 射光而引起的惡劣影響。本發明的所述主光束校正用受光部分優選具有介於一側副光束受光 元件與主光束受光元件之間的一側受光元件，和介於另一側副光束受光元 件與主光束受光元件之間的另 一側受光元件。根據本發明，主光束校正用受光部分具有一側受光元件和另 一側受光元件。 一側受光元件介於一側副光束受光元件與主光束受光元件之間。另 一側受光元件介於另一側副光束受光元件與主光束受光元件之間。在校正 主光束受光元件的受光結果時，使用如前所述的主光束校正用受光部分的 受光結果。因此，能高精度地校正主光束受光元件的受光結果。這樣能盡 量抑制由非聚光記錄層的主光束反射光引起的惡劣影響。本發明中優選把所述一側受光元件和所述另一側受光元件形成為一體。根據本發明，由於把一側受光元件和另一側受光元件形成為一體，所 以不需要用於把一側受光元件的受光結果與另 一側受光元件的受光結果相 加的加法電路。這樣，能把校正部的電路結構簡單化。本發明的所述校正部根據來自非聚光記錄層反射光向第 一 受光部的入 射光量與向第二受光部的入射光量的比，預先設定第二受光部受光結果相 對於第一受光部受光結果的放大度，在校正第 一受光部的受光結果時，把第二受光部的受光結果按所述放 大度放大，並把該放大結果從第 一 受光部的受光結果中減去。根據本發明，基於來自非聚光記錄層反射光向第一受光部的入射光量 與向第二受光部的入射光量的比，把第二受光部受光結果相對於第一受光 部受光結果的放大度預先設定。在校正第一受光部的受光結果時，把第二 受光部的受光結果按所述放大度放大，並把該放大結果從第 一受光部的受 光結果中減去。因此，能高精度地校正第一受光部的受光結果。這樣能盡 量地抑制由非聚光記錄層的主光束反射光引起的惡劣影響。本發明優選為所述受光部具有用於生成跟蹤誤差信號的、包括所述第 一受光部和所述第二受光部的 一對跟蹤用受光部，為了生成跟蹤誤差信號，所述光學系統把來自聚光記錄層的反射光分 割，並分別向各跟蹤用受光部反射。根據本發明，受光部具有用於生成跟蹤誤差信號的一對跟蹤用受光部。 來自聚光記錄層的反射光被光學系統分割並分別向各跟蹤用受光部反射。 各跟蹤用受光部包括第一受光部和第二受光部。根據第二受光部的受光結 果校正第一受光部的受光結果。因此，能降低跟蹤誤差信號中由來自非聚 光記錄層反射光引起的幹擾成分和偏離成分。這樣能防止跟蹤隨動特性的 惡化。本發明的光分割體是在所述光拾取裝置中，被所述光學系統所包含， 將來自光碟記錄層的反射光分割的光分割體，所述光拾取裝置的所述受光 部具有用於生成對焦誤差信號的對焦用受光部，和用於生成跟蹤誤差信 號、且包括所述第一受光部和所述第二受光部的一對跟蹤用受光部，該光分割體的特徵在於，具有把來自聚光記錄層的反射光向對焦用受光部反射的對焦用分割區域， 和把來自聚光記錄層的反射光分別向各跟蹤用受光部反射的一對跟蹤 用分割區域。根據本發明，來自聚光記錄層的反射光被對焦用分割區域和各跟蹤用 受光部衍射並反射。來自對焦用分割區域的反射光以被聚光的狀態到達對 焦用受光部並被對焦用受光部受光。來自各跟蹤用分割區域的反射光以被 聚光的狀態分別到達各跟蹤用受光部並分別被各跟蹤用受光部受光。根據 對焦用受光部和各跟蹤用受光部的各受光結果能生成對焦誤差信號和跟蹤誤差信號。各跟蹤用受光部包括第一受光部和第二受光部。根據第二受光部的受 光結果校正第一受光部的受光結果。因此，能降低跟蹤誤差信號中由來自 非聚光記錄層反射光引起的幹擾成分和偏離成分。這樣能防止跟蹤隨動特 性的惡化。本發明優選所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線 中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近外側的部分，沿著與所 述基準光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線。根據本發明，對焦用分割區域與一對跟蹤用分割區域的邊界線中、相 對於光學系統基準光軸的半徑方向靠近外側的部分，沿著與所述基準光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線。因此，在利用刀刃法(亍一:7工:y"^法) 生成對焦誤差信號時，相對於對焦誤差信號能增大振幅，且能良好地平衡 正成分和負成分。本發明優選所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線 中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近外側的部分，從所述假 想線偏離，與該部分沿著與所述基準光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線 的情況相比、以增加所述一對跟蹤用分割區域。根據本發明，對焦用分割區域與一對跟蹤用分割區域的邊界線中、相對於光學系統基準光軸的半徑方向靠近外側的部分從所述假想線偏離，與 該部分沿與所述基準光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線的情況相比，能 增加一對跟蹤用分割區域。這樣，相對於來自聚光記錄層的反射光能增加 到達各跟蹤用受光部的光量。因此，相對於跟蹤誤差信號能提高S/N比。 本發明優選所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線 中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近內側的部分，從所述假 想線偏離，以使來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光向所述對焦用分 割區域入射。根據本發明，對焦用分割區域與一對跟蹤用分割區域的邊界線中、相 對於光學系統基準光軸的半徑方向靠近內側的部分從所述假想線偏離，以 使來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光向對焦用分割區域入射。這樣， 來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光不向跟蹤用分割區域入射。因此，來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光不到達各跟蹤用受光部。其結果 能抑制來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光引起的對於跟蹤誤差信號的惡劣影響。本發明的目的、特色和優點從下面的詳細說明和附圖能更加明確。


圖1是把本發明第一實施例光拾取裝置的結構簡略化表示的圖；圖2是表示受光部結構的正面圖；圖3是表示光分割體結構的正面圖；圖4是表示光分割體與受光部關係的圖；圖5是用於說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態的圖；圖6是表示具備本發明第二實施例光拾取裝置的受光部結構的正面圖；圖7是表示光分割體結構的正面圖；圖8是表示光分割體與受光部關係的圖；圖9是用於說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態的圖；圖10是表示具備本發明第三實施例光拾取裝置的受光部結構的正面圖11是用於說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態的圖；圖12是表示具備本發明第四實施例光拾取裝置的受光部結構的正面圖；圖13是用於說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態的圖； 圖14是把現有光拾取裝置的結構簡略化表示的圖； 圖15是表示光分割體一例的圖； 圖16是表示光分割體其他例的圖；圖17是用於說明形成有雙層記錄層的光碟中光的透射和反射概要情況的圖；圖18是用於說明在使用了圖15所示的光分割體時，來自非聚光記錄 層的反射光受光狀態的圖；圖19是用於說明在使用了圖16所示的光分割體時，來自非聚光記錄 層的反射光受光狀態的圖。
具體實施方式
以下參照附圖詳細說明本發明的實施例。圖1是把本發明第一實施例的光拾取裝置40的結構筒略化表示的圖。 本實施例的光拾取裝置40相對於形成有多層記錄層41的光碟42，從光碟 42的一側照射光，為了向光碟42的記錄層41記錄信息或從光碟42的記錄 層41再生信息而使用。光碟42的各記錄層41在光碟42的厚度方向上層積。再生專用光碟42 的記錄層41中，4巴坑歹'J (匕°、;/卜歹IJ)形成螺旋狀，利用坑列形成石茲道。這 種再生專用的光碟42利用坑列表現信息。記錄用光碟42的記錄層41把凸 區(，y K)和凹槽(夕W—:7、)形成螺旋狀，利用凸區和凹槽來形成磁 道。這種記錄用的光碟42利用在凸區或凹槽形成的記錄標記來表現信息。作為光碟42的 一例能舉出數字多用盤(Digital Versatile Disc、簡稱 DVD )。本實施例中作為光碟42設定被稱為單面雙層盤的DVD來進行說明。 以下把光碟42的各記錄層41中，後述的光源43的射出光聚光的記錄層41 被稱為聚光記錄層41a，光碟42的各記錄層41中與聚光記錄層41a不同的 記錄層41被稱為非聚光記錄層41b。光拾取裝置40包括射出光的光源43、把光源43的射出光向光碟42 的記錄層41聚光並把來自光碟42記錄層41的反射光進行聚光的光學系統 44、經由光學系統44接受來自光碟42記錄層41反射光的受光部45、 4艮據受光部45的受光結果來調整光學系統44的光聚光位置的調整部46。這種 光拾取裝置40配置為使光學系統44的基準光軸L與利用主軸電動機而旋 轉的光碟42正交。所述光源43由雷射二極體實現。從光源43射出適合於光碟42記錄再 生的波長區域的光。本實施例中由於光碟42是DVD，所以作為光源43使 用射出適合於DVD記錄再生的650nm附近波長區域的光的雷射二極體。 650nm附近的波長區域是紅色的波長區域。所述光學系統44包括使光源43的射出光衍射並分離成主光束47和 一對副光束48、 49的衍射光4冊50、把來自衍射光柵50的各光束47 49分 別變換成平行光的準直透鏡51 、把來自準直透鏡51的各光束47 49向光碟 42的記錄層41聚光的物鏡52、把來自光碟42記錄層41的各光束47 49 的反射光進行分割的光分割體53。所述衍射光柵50周期性地形成有凹凸。主光束47是衍射光柵50的0 級衍射光。各副光束48、 49是衍射光柵50的± 1級衍射光。各副光束48、 49在光碟42的記錄層41上相對主光束47向跟蹤方向Tl的兩側偏離，且 向切線方向T2的兩側偏離。5艮蹤方向Tl和切線方向T2與所述基準光軸L 正交且相互正交。跟蹤方向Tl相當於光碟42的半徑方向。切線方向T2相 當於光碟42的切線方向。所述物鏡52在包含中立位置的可動範圍內被驅動向對焦方向F和跟蹤 方向T1位移。在中立位置物鏡52的光軸與所述基準光軸L是同軸。對焦 方向F是沿所述基準光軸L的方向，是相對光碟42接近和離開的方向。所述光分割體53夾在衍射光柵50與準直透鏡51之間。光分割體53 不衍射而是透射光源43的射出光，且相對於來自光碟42記錄層41的反射 光是透射且衍射。所述調整部46具有驅動物鏡52向對焦方向F和跟蹤方向Tl位移的 驅動部54和根據受光部45的受光結果來控制驅動部54的控制部55。控制 部55根據受光部45的受光結果來生成跟蹤誤差信號和對焦誤差信號，並 根據這些信號來進行跟蹤隨動控制和對焦隨動控制。這樣，就能以使物鏡 52的聚光位置追隨聚光記錄層41a的磁軌的方式，利用驅動部54來驅動物 鏡52向對焦方向F和跟蹤方向Tl位移。本實施例中控制部55具有校正受 光部45受光結果的校正部56。圖2是表示受光部45結構的正面圖。受光部45具有為了生成對焦 誤差信號而使用的對焦用受光部71和為了生成跟蹤誤差信號而使用的一對 跟蹤用受光部72a、 72b。對焦用受光部71和各跟蹤用受光部72a、 72b與 切線方向T2並列。對焦用受光部(以下稱為"FES受光部")71相對於切 線方向T2而被配置在與所述基準光軸L為同一位置處。 一個跟蹤用受光部 (以下稱為"第一 TES受光部")72a相對於FES受光部71 -故配置在切線 方向T2的一側並與FES受光部71空開間隔。另一個跟蹤用受光部(以下 稱為"第二 TES受光部")72b相對於FES受光部71被配置在切線方向T2 的另一側並與FES受光部71空開間隔。FES受光部71被配置在把來自聚光記錄層41a的主光束反射光進行聚 光的位置，具有接受來自聚光記錄層41a的主光束反射光的一對主光束受光 元件73、 74。各主光束受光元件73、 74在切線方向T2無間隙地鄰接。各 主光束受光元件73、 74的邊界線75包含在第一假想平面P1中。第一假想 平面Pl包含所述基準光軸L並與切線方向T2正交。以下把相對第一假想 平面Pl在一側的主光束受光元件稱為第一主光束受光元件73。把相對第一 假想平面Pl在另一側的主光束受光元件稱為第二主光束受光元件74。第一TES受光部72a具有配置在把來自聚光記錄層41a的反射光進 行聚光的位置而接受來自聚光記錄層41a反射光的第一受光部76a，和從把 來自聚光記錄層41a的反射光進行聚光的位置離開而配置為與第一受光部 76a鄰接並接受來自非聚光記錄層41b反射光的第二受光部77a。第一受光部76a具有配置在把來自聚光記錄層41a的主光束反射光 進行聚光的位置而接受來自聚光記錄層41a主光束反射光的主光束受光元 件80a,和被分別配置在把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進行聚光 的位置而分別接受來自聚光記錄層41a各副光束反射光的一對副光束受光 元件81a、 82a。主光束受光元件80a和各副光束受光元件81a、 82a在切線 方向T2並列。 一個副光束受光元件(以下稱為"第一副光束受光元件") 81a相對於主光束受光元件80a配置在切線方向T2的一側並與主光束受光 元件80a空開間隔。另一個副光束受光元件(以下稱為"第二副光束受光元 件")82a相對於主光束受光元件80a配置在切線方向T2的另一側並與主光 束受光元件80a空開間隔。第二受光部77a具有副光束校正用受光部分83a，用於校正一對副光束受光元件81a、 82a中、來自非聚光記錄層41b的主光束反射光到達的副光 束受光元件即第一副光束受光元件81a的受光結果。副光束校正用受光部分 83a從把來自聚光記錄層41a的主光束反射光進行聚光的位置和把來自聚光 記錄層41a的各副光束反射光進行聚光的位置這兩者離開，而配置為與第一 副光束受光元件81a鄰接，接受來自非聚光記錄層41b的主光束反射光。本 實施例中副光束校正用受光部分83a具有夾在第一副光束受光元件81a與主 光束受光元件80a之間的中介受光元件84a。由於第二 TES受光部72b與第一 TES受光部72a相同，所以為了避免 重複而省略說明。在對應部分的符號上使用同一數字，而符號的末尾替代 "a，，而使用"b"。受光部45的各受光元件73、 74、 80a 82a、 84a、 80b ~82b、 84b形成 有大致長方形的受光面。各受光元件73、 74、 80a 82a、 84a、 80b 82b、 84b 的受光面在跟蹤方向T1延伸。這種各受光元件73、 74、 80a 82a、 84a、 80b 82b、 84b由光電二極體實現。.圖3是表示光分割體53結構的正面圖。光分割體53由全息元件實現。 光分割體53沿與所述基準光軸L垂直的第二假想平面設置。在沿所述基準 光軸L的方向看時，光分割體53形成為包含有來自聚光記錄層41a反射光 通過的通過區域。本實施例的光分割體53從沿所述基準光軸L的方向所看 到的外形是以所述基準光軸L為中心的圓形。光分割體53具有把來自聚光記錄層41a的反射光向FES受光部71 反射的對焦用分割區域91，和把來自聚光記錄層41a的反射光分別向一對 TES受光部72a、 72b反射的一對跟蹤用分割區域92a、 92b。對焦用分割區 域91和各跟蹤用分割區域92a、 92b沿與所述基準光軸L垂直的第二^f艮想 平面設置。對焦用分割區域91和各跟蹤用分割區域92a、 92b形成有多個槽。 根據衍射效率和受光部45的配置等來設定這些槽的深度和間隔。利用這種 槽來形成全息圖形。在此為了說明方便而設定有第一假想線86和第二假想線87。第一假想 線86在所述第二假想平面內與所述基準光軸L正交且向跟蹤方向T1延伸。 第二假想線87在所述第二假想平面內與所述基準光軸L正交且向切線方向 T2延伸。大致敘述就是，對焦用分割區域(以下稱為"FES分割區域")91其大部分相對第一假想線86被配置在一側。 一個跟蹤用分割區域(以下稱為"第一 TES分割區域")92a配置為相對第一假想線86在另 一側且相對第二假想 線87在一側，另一個跟蹤用分割區域(以下稱為"第二TES分割區域") 92b配置為相對第一假想線86在另一側且相對第二假想線87在另一側。光分割體53形成有FES分割區域91與各TES分割區域92a、 92b的 邊界線即第 一邊界線93 ，和第一 TES分割區域92a與第二 TES分割區域92b 的邊界線即第二邊界線94。第一邊界線93大致沿第一假想線86形成，兩 端部與光分割體53的邊緣95連接。第一邊界線93中相對於所述基準光軸 L的半徑方向靠近外側的部分96沿第一假想線86形成。第一邊界線93中 相對於所述基準光軸L的半徑方向靠近內側的部分97從第一假想線86偏 離而相對於第 一假想線86向另 一側形成，在本實施例中被形成為以所述基 準光軸L為中心的半圓弧狀。第二邊界線94沿第二假想線87形成， 一端 部與第一邊界線93兩端部之間的中間部連接，另一端部與光分割體53的 邊緣95連接。換言之，FES分割區域91具有在光分割體53整體中、相對第一假 想線86由一側部分構成的本體部分98，和與本體部分98相連且從本體部 分98相對第一假想線86向另一側突出的突出部分99。本實施例中，突出 部分99被形成為以所述基準光軸L為中心的半圓形狀。第一 TES分割區域 92a由這樣的部分構成從在光分割體53整體中相對第一假想線86在另一 側、且相對第二假想線87在一側的部分中，把與所述突出部分99重疊的 部分除去的殘餘部分。第二TES分割區域92b由這樣的部分構成從在光 分割體53整體中相對第一假想線86在另一側、且相對第二假想線87在另 一側的部分中，把與所述突出部分99重疊的部分除去的殘餘部分。圖4是表示光分割體53與受光部45關係的圖。為了容易理解，圖4 中省略了來自非聚光記錄層41b的反射光而僅表示來自聚光記錄層41a的 反射光。來自聚光記錄層41a的主光束反射光和來自聚光記錄層41a的各副 光束反射光向光分割體53入射。來自聚光記錄層41a的主光束反射光一皮FES分割區域91和各TES分 割區域92a、 92b衍射並反射。來自FES分割區域91的反射光以被聚光的 狀態到達FES受光部71的各主光束受光元件73、 74的邊界線75附近，並 在這些各主光束受光元件73、 74上形成光斑101。來自第一TES分割區域92a的反射光以被聚光的狀態到達第一 TES受光部72a的主光束受光元件 80a並在該主光束受光元件80a上形成光斑102。來自第二TES分割區域92b 的反射光以被聚光的狀態到達第二TES受光部72b的主光束受光元件80b， 並在該主光束受光元件80b上形成光斑103。來自聚光記錄層41a的各副光束反射光被FES分割區域91和各TES 分割區域92a、 92b衍射並反射。來自FES分害'J區域91的各反射光以被聚 光的狀態分別到達第一 TES受光部72a與FES受光部71之間的部分、以及 第二 TES受光部72b與FES受光部71之間的部分，並分別在第一 TES受 光部72a與FES受光部71之間的部分、以及第二 TES受光部72b與FES 受光部71之間的部分形成光斑104、 105。來自第一 TES分割區域92a的各 反射光以被聚光的狀態分別到達第一 TES受光部72a的各副光束受光元件 81a、 82a，並分別在這些各副光束受光元件81a、 82a上形成光斑106、 107。 來自第二 TES分割區域92b的各反射光以被聚光的狀態分別到達第二 TES 受光部72b的各副光束受光元件81b、 82b,並分別在這些各副光束受光元 件81b、 82b上形成光斑108、 109。來自聚光記錄層41a的反射光不到達第一 TES受光部72a的中介受光 元件84a和第二TES受光部72b的中介受光元件84b。詳細說就是，來自聚 光記錄層41a的主光束反射光和來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到 達各中介受光元件84a、 84b。圖5是用於說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態的圖。為了 容易理解，圖5中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。為了更加容易理解，圖5中省略了來自非聚光記錄 層41b的各副光束的反射光而僅表示來自非聚光記錄層41b的主光束的反 射光。圖5設定為在從光源43側看光碟42時，非聚光記錄層41b位於聚 光記錄層41a內側的情況。來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光和來 自非聚光記錄層41b的主光束土 1級衍射光向光分割體53入射。來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光在光分割體53上的所述基 準光軸L附近形成光斑111。該光斑111在光分割體53的各分割區域91 、 92a、 92b中僅形成在FES分割區域91。反過來說就是，為了使該光斑lll 在光分割體53的各分割區域91 、 92a、 92b中僅形成在FES分割區域91 ， 設定光分割體53，特別是FES分割區域91的突出部分99的形狀和尺寸。優選設定FES分割區域91的突出部分99形狀和尺寸，以即使在所述光斑111最大時也把所述光斑111整體包含。所述光斑111最大是指聚光記錄層41a與非聚光記錄層41b之間層的折射率最大，且聚光記錄層41a與非聚光 記錄層41 b之間的層間隔最小時的情況。來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光被FES分割區域91衍射並 反射。來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光的、來自FES分割區域 91的反射光到達FES受光部71,並在該FES受光部71上形成光斑113。 該光斑113比來自聚光記錄層41a主光束反射光的光斑101擴展。本實施例 中，來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光的、來自FES分割區域91 的反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、 74受光。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光在光分割體53上相對於 所述基準光軸L分別在跟蹤方向Tl的兩側形成光斑112a、 112b。 +1級衍 射光的光斑112a跨越第一TES分割區域92a和FES分割區域91形成。- 1 級衍射光的光斑112b跨越第二 TES分割區域92b和FES分割區域91形成。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光被FES分割區域91衍射 並反射。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光的、來自FES分割區 域91的反射光到達FES受光部71，並在該FES受光部71上形成大致共通 的光斑114。該光斑114比來自聚光記錄層41a主光束反射光的光斑101擴 展。本實施例中來自非聚光記錄層41b的主光束土l級衍射光的、來自FES 分割區域91的反射光由FES受光部71的第二主光束受光元件74受光。來自非聚光記錄層41b的主光束+1級衍射光被第一 TES分割區域92a 衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的主光束+1級衍射光的、來自第一 TES 分割區域92a的反射光到達第一 TES受光部72a，並在該第一 TES受光部 72a上形成光斑115a。該光斑115a比來自聚光記錄層41a各光束反射光的 各光斑102、 106、 107擴展。本實施例中，來自非聚光記錄層41b的主光 束+1級衍射光的、來自第一 TES分割區域92a的反射光由第一 TES受光部 72a的主光束受光元件80a、第一副光束受光元件81a和中介受光元件84a 受光。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級衍射光被第二 TES分割區域92b 衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級衍射光的、來自第一 TES分割區域92a的反射光到達第二 TES受光部72b,並在該第二 TES受光部72b形成光斑115b。該光斑115b比來自聚光i己錄層41a各光束反射光 的各光斑103、 108、 109擴展。本實施例中，來自非聚光記錄層41b的主 光束-1級衍射光的、來自第二 TES分割區域92b反射光由第二 TES受光 部72b的主光束受光元件80b、第一副光束受光元件81b和中介受光元件 84b受光。對焦誤差信號通過刀刃法生成。本實施例中把光分割體53的第一邊界 線93作為刀刃。刀刃法通過取FES受光部71中各主光束受光元件73、 74 的受光結果S73、 S74的差來得到對焦誤差信號。具體說就是對焦誤差信號 FES能由以下的式(1 )的運算來得到。FES = S73 - S74 ( 1 )光源43的射出光相對聚光記錄層41a在光源43側(近側)聚結焦點 時，來自聚光記錄層41a的反射光相對FES受光部71在跟前側聚結焦點。 這時，第二主光束受光元件74的受光結果S74比第一主光束受光元件73 的受光結果S73大，對焦誤差信號FES是負的。相反，光源43的射出光相對聚光記錄層41a在光源43側相反的內側 (遠側)聚結假想焦點時，來自聚光記錄層41a的反射光相對FES受光部 71在內側聚結假想焦點。這時，第一主光束受光元件73的受光結果S73比 第二主光束受光元件74的受光結果S74大，對焦誤差信號FES是正的。跟蹤誤差信號通過差動推挽法(Differential Push Pull,簡稱DPP) 生成。DPP法根據第一 TES受光部72a的受光結果和第二 TES受光部72b 的受光結果生成跟蹤誤差信號。在生成跟蹤誤差信號時，各TES受光部72a、 72b^4居第二受光部77a、 77b的受光結果來校正第一受光部76a、 76b的受光結果。本實施例中第一 TES受光部72a中，根據副光束校正用受光部分83a即中介受光元件84a 的受光結果S84a來校正第一副光束受光元件81a的受光結果S81a。第二 TES受光部72b中，根據副光束校正用受光部分83b即中介受光元件84b 的受光結果S84b來校正第一副光束受光元件81b的受光結果S81b。具體說 就是通過以下的式(2)和式(3)的運算來進行校正。S81aR = S81a-kll x S84a (2)S81bR=S81b-kl2xS84b (3)上述式(2)和式(3 )中，S81aR和S81b R是衝交正第 一副光束受光元件81a、 81b受光結果S81a、 S81b的校正結果。kll和kl2是係數，是相對 第一副光束受光元件81a、 81b受光結果S81a、 S81b的中介受光元件84a、 84b受光結果S84a、 S84b的放大度。放大度根據來自非聚光記錄層41b的 主光束土l級衍射光中、向第一副光束受光元件81a、 81b的入射光量與向 中介受光元件84a、 84b的入射光量的比而預先設定。跟蹤誤差信號TES能通過以下的式(4)的運算得到。TES = ( S80a - S80b ) - k13 x { ( S81a R - S81b R) + ( S82a - S82b ) }(4)式(4)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信號。(S81a R - S81b R ) 和(S82a-S82b)是各副光束的推挽信號。在使用DPP法時，使各副光束 推挽信號的相位相對主光束推挽信號的相位錯開180度，以此設定衍射光 柵50的凹凸間距。這樣，能消除跟蹤誤差信號中表現出的由物鏡52的漂 移而引起的偏離。kl3是係數，用於校正主光束與各副光束光強度的不同。 強度比若為主光束 一個副光束另一個副光束二a: b: b時，則kl3二a/ (2b )。 k13能根據衍射光柵50的槽的深度來決定。信息再生信號能通過取FES受光部71中各主光束受光元件73、 74的 受光結果S73、 S74、第一TES受光部72a中主光束受光元件80a的受光結 果S80a和第二 TES受光部72b中主光束受光元件80b的受光結果S80b的 和來得到。具體說就是信息再生信號RF能通過以下的式(5)的運算得到。RF = S73+ S74 + S80a+S80b (5)根據以上的本實施例，來自非聚光記錄層41b的主光束士l級衍射光 的、來自各TES分割區域92a、 92b的反射光由各TES受光部72a、 72b的 第一副光束受光元件81a、 81b受光。考慮到這點，如前所述，校正部56 根據中介受光元件84a、 84b的受光結果S84a、 S84b來校正第一副光束受 光元件81a、 81b的受光結果S81a、 S81b。因此，相對於跟蹤誤差信號能抑 制由來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光所引起的惡劣影響。由於各副光束的光強度相對主光束的光強度低到1/10左右，所以在 生成3艮蹤誤差信號時，4巴各副光束受光元件81a、 81b、 82a、 82b的受光結 果S81a、 S81b、 S82a、 S82b的放大度設定為大於各主光束受光元件80a、 80b的受光結果S80a、 S80b的放大度。因此來自非聚光記錄層41b的主光 束± 1級衍射光被各副光束受光元件81a、 81b、 82a、 82b受光時就產生大的惡劣影響。於是如前所述校正第一副光束受光元件81a、 81b的受光結果 S81a、 S81b。這樣，能有效地抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束土l級 衍射光所引起的惡劣影響。在校正第一副光束受光元件81a、 81b的受光結果S81a、 S81b時，把 中介受光元件84a、 84b的受光結果S84a、 S84b》文大，並4巴該放大結果從 第一副光束受光元件81a、 81b的受光結果S81a、 S81b中減去(參照上述 式(2)和式(3))。根據來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光中向 第一副光束受光元件81a、 81b的入射光量與向中介受光元件84a、 84b的入 射光量的比，預先設定相對第一副光束受光元件81a、 81b受光結果S81a、 S81b的中介受光元件84a、 84b受光結果S84a、 S84b的放大度。因此能高 精度地校正第一副光束受光元件81a、 81b的受光結果S81a、 S81b。這樣， 能儘量地抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光所引起的惡劣 影響。以使來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光在光分割體53的各分 割區域91、 92a、 92b中僅向FES分割區域91入射的方式，設定光分割體 53，特別是FES分割區域91的突出部分99的形狀和尺寸。這樣，來自非 聚光記錄層41b的主光束0級衍射光不向TES分割區域92a、 92b入射。因 此，來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光不到達各TES受光部72a、 72b。其結果是相對於跟蹤誤差信號能抑制由來自非聚光記錄層41b的主光 束O級衍射光的惡劣影響。這樣，相對於跟蹤誤差信號能抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束0 級衍射光的惡劣影響，而且能抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級 衍射光的惡劣影響。這樣，相對於跟蹤誤差信號能減少由來自非聚光記錄 層41b的主光束反射光所引起的幹擾成分和偏離成分。這樣能防止跟蹤隨 動特性的惡化。來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光中來自FES分割區域91的 反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、 74受光。但來自FES分 割區域91的反射光與來自聚光記錄層41a的主光束反射光相比，被形成非 常才莫糊的光斑113。因此，在FES受光部71的各主光束受光元件73、 74 中來自非聚光記錄層41b的主光束0級衍射光的入射光量與來自聚光記錄 層41a的主光束反射光的入射光量相比，足夠小。而且在生成對焦誤差信號時，取FES受光部71的各主光束受光元件73、 74的受光結果S73、 S74的 差(參照上述式(l))。因此，包含在各主光束受光元件73、 74受光結果 S73、 S74中的幹擾相互抵消。其結果是相對於對焦誤差信號能把來自非聚 光記錄層41b的主光束0級衍射光所引起的幹擾成分和偏離成分變得非常 小。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光中，來自FES分割區域 91的反射光由FES受光部71的第二主光束受光元件74受光。但來自FES 分割區域91的反射光與來自聚光記錄層41a的主光束反射光相比形成非常 模糊的光斑114。且來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級衍射光的光強度 與來自聚光記錄層41a的主光束反射光的光強度相比，非常小。因此，相對 於對焦誤差信號能把來自非聚光記錄層41b的主光束土 l級衍射光所引起的 幹擾成分和偏離成分變得非常小。光分割體53的第一邊界線93中相對於所述基準光軸L的半徑方向而 靠近外側的部分96，沿第一假想線86形成。因此在利用刀刃法生成對焦誤 差信號時相對於對焦誤差信號能增大振幅，且能良好平衡正成分和負成分。圖6是表示具備本發明第二實施例光拾取裝置的受光部120結構的正 面圖。由於本實施例的光拾取裝置與上述第 一實施例的光拾取裝置40類似， 所以在同 一部分上付與同 一符號而省略說明，僅對不同點進行說明。第一 TES受光部72a的第二受光部77a具有用於校正第一副光束受 光元件81a的受光結果的第一副光束校正用受光部分121a,和用於校正第 二副光束受光元件82a的受光結果的第二副光束校正用受光部分122a。第一副光束校正用受光部分12la從把來自聚光記錄層41a的主光束反 射光進行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進行聚光 的位置這兩者離開，而配置為與第一副光束受光元件81a鄰接。第一副光束 校正用受光部分121a具有夾在第一副光束受光元件81a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件123a。第二副光束校正用受光部分122a從把來自聚光記錄層41 a的主光束反 射光進行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進行聚光 的位置這兩者離開，而配置為與第二副光束受光元件82a鄰接。第二副光束 校正用受光部分122a具有夾在第二副光束受光元件82a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件124a。第一 TES受光部72a中第二受光部77a的各中介受光元件123a、 124a 形成有大致長方形的受光面。各中介受光元件123a、 124a的受光面向跟蹤 方向T1延伸。這種各中介受光元件123a、 124a由光電二極體實現。由於第二 TES受光部72b的第二受光部77b與第一 TES受光部72a的 第二受光部77a相同，所以為了避免重複而省略說明。在對應部分的符號上 使用同一數字，而符號的末尾替代"a"而使用"b"。圖7是表示光分割體130結構的正面圖。FES分割區域131其大部分 相對第一假想線86被配置在一側。第一 TES分割區域132a配置為其大部 分相對第一假想線86在另一側且相對第二假想線87在一側。第二 TES分 割區域132b配置為其大部分相對第一假想線86在另一側且相對第二假想 線87在另一側。第一邊界線93中相對於所述基準光軸L的半徑方向靠近外側的部分 96 A^第一々支想線86偏離，以與該部分96沿第一々i想線86形成的情況相比 增加一對TES分割區域132a、 132b。本實施例第一邊界線93中相對於所述 基準光軸L的半徑方向靠近外側的部分96相對第一假想線86傾斜，以隨 著相對於所述基準光軸L向外側而從第一假想線86離開。圖8是表示光分割體130與受光部120關係的圖。為了容易理解圖8 中省略了來自非聚光記錄層41b的反射光而僅表示來自聚光記錄層41a的 反射光。來自聚光記錄層41a的反射光不到達第一 TES受光部72a的各中介受 光元件123a、 124a。詳細說就是，來自聚光記錄層41a的主光束反射光和 來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到達各中介受光元件123a、 124a。來自聚光記錄層41a的反射光不到達第二 TES受光部72b的各中介受 光元件123b、 124b。詳細說就是，來自聚光記錄層41a的主光束反射光和 來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到達各中介受光元件123b、 124b。圖9是用於說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態的圖。為了 容易理解圖9中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。為了更加容易理解圖9中省略了來自非聚光記錄層 41b的各副光束的反射光而僅表示來自非聚光記錄層41b的主光束的反射 光。圖9設定為在從光源43側看光碟42時，非聚光記錄層41b位於聚光 記錄層41a內側的情況。來自非聚光記錄層41b的主光束士 1級衍射光在光分割體130上相對於 所述基準光軸L分別在跟蹤方向Tl的兩側形成光斑112a、 112b。 +1級書亍 射光的光斑112a形成在第一TES分割區域132a。 - 1級衍射光的光斑112b 形成在第二 TES分割區域132b 。來自非聚光記錄層41 b的主光束+1級衍射光被第一 TES分割區域132a 衍射並反射。對於來自非聚光記錄層41b的主光束+1級衍射光，來自第一 TES分割區域132a的反射光到達第一 TES受光部72a，並在該第一 TES受 光部72a上形成光斑135a。該光斑135a比來自聚光記錄層41a各光束反射 光的各光斑102、 106、 107擴展。本實施例中，來自非聚光記錄層41b的 主光束+1級衍射光的來自第一 TES分割區域132a的反射光由第一 TES受 光部72a的主光束受光元件80a、各副光束受光元件81a、 82a和各中介受 光元件123a、 124a受光。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級衍射光被第二 TES分割區域 132b衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級衍射光的來自第 二 TES分割區域132b的反射光到達第二 TES受光部72b，並在該第二 TES 受光部72b上形成光斑135b。該光斑135b比來自聚光記錄層41a各光束反 射光的各光斑103、 108、 109擴展。本實施例中，來自第二TES分割區域 132b的反射光由第二 TES受光部72b的主光束受光元件80b、各副光束受 光元件81b、 82b和各中介受光元件123b、 124b受光。在生成跟蹤誤差信號時，各TES受光部72a、 72b根據第二受光部77a、 77b的受光結果校正第一受光部76a、 76b的受光結果。本實施例中，第一 TES受光部72a根據各中介受光元件123a、 124a的受光結果S123a、 S124a 校正各副光束受光元件81a、 82a的受光結果S81a、 S82a。第二TES受光部 72b根據各中介受光元件123b、 124b的受光結果S123b、 S124b校正各副光 束受光元件81b、 82b的受光結果S81b、 S82b。具體說就是，通過以下的式 (6) ~式(9)的運算來進行校正。S81aR= S81a-k21 x S123a (6)S82aR= S82a-k22 x S124a (7)S81bR = S81b_k23 x S123b (8)S82bR=S82b-k24x S124b (9)上述式(6)和式(7)中，S81a R和S82a R是校正第一TES受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a受光結果S81a、 S82a的4交正結果。k21 和k22是係數，是相對第一 TES受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a 受光結果S81a、 S82a的、各中介受光元件123a、 124a受光結果S123a、 S124a 的放大度。放大度根據來自非聚光記錄層41b的主光束+1級衍射光中向各 副光束受光元件81a、 82a的入射光量與向各中介受光元件123a、 124a的入 射光量的比而預先設定。上述式(8)和式(9)中，S81b R和S82b R是校正第二TES受光部 72b中各副光束受光元件81b、 82b受光結果S81b、 S82b的校正結果。k23 和k24是係數，是相對第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、 82b 受光結果S81b、S82b的、各中介受光元件123b、124b受光結果S123b、S124b 的放大度。放大度根據來自非聚光記錄層41b的主光束-1級衍射光中向各 副光束受光元件81b、 82b的入射光量與向各中介受光元件123b、 124b的 入射光量的比而預先設定。跟蹤誤差信號TES能通過以下的式(10)的運算得到。 TES=( S80a-S80b) - k25 x {( S81a R - S81b R) + ( S82a R _ S82b R)} (10)式(IO)中，(S80a-S80b)是主光束的推4免信號。(S81a R - S81b R ) 和(S82aR-S82bR)是各副光束的推挽信號。k25是係數，用於校正主光 束與各副光束光強度的不同。以上的本實施例也能達到與上述第一實施例同樣的效果。根據本實施 例，光分割體130的第一邊界線93中、相對於所述基準光軸L的半徑方向 靠近外側的部分96從第一假想線86偏離，以與該部分96沿第一假想線86 形成的情況相比增加一對TES分割區域132a、 132b。這樣，能使來自聚光 記錄層41a的反射光增加到達各TES受光部72a、 72b的光量。因此相對於 跟蹤誤差信號能提高S/N比。圖IO是表示具備本發明第三實施例光拾取裝置的受光部140結構的正 面圖。由於本實施例的光拾取裝置與上述第二實施例的光拾取裝置類似， 所以在同 一部分上付與同 一符號而省略說明，僅對不同點進行說明。第一 TES受光部72a的第二受光部77a具有用於校正第一副光束受 光元件81a的受光結果的第一副光束校正用受光部分141a、用於校正第二 副光束受光元件82a的受光結果的第二副光束校正用受光部分142a、用於校正主光束受光元件80a的受光結果的主光束校正用受光部分143a。第一副光束^f交正用受光部分141a/人4巴來自聚光記錄層41a的主光束反 射光進行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進行聚光 的位置這兩者離開，配置為與第一副光束受光元件81a鄰接。第一副光束校 正用受光部分141a具有夾在第一副光束受光元件81a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件144a，相對第一副光束受光元件81a而被配置在中 介受光元件144a相反側的相反側受光元件145a。第二副光束校正用受光部分142a從把來自聚光記錄層41a的主光束反 射光進行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進行聚光 的位置這兩者離開，配置為與第二副光束受光元件82a鄰接。第二副光束校 正用受光部分142a具有夾在第二副光束受光元件82a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件146a，相對第二副光束受光元件82a而被配置在中 介受光元件146a相反側的相反側受光元件147a。主光束校正用受光部分143a從把來自聚光記錄層41a的主光束反射光 進行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進行聚光的位 置這兩者離開，配置為與主光束受光元件80a鄰接。主光束校正用受光部分 143a具有夾在第一副光束受光元件81a與主光束受光元件80a之間的一 側受光元件148a，夾在第二副光束受光元件82a與主光束受光元件80a之 間的另 一側受光元件149a。第一 TES受光部72a中第二受光部77a的各受光元件144a 149a形成 有大致長方形的受光面。各受光元件144a 149a的受光面在蹤方向Tl延伸。 這種各受光元件144a 149a由光電二極體實現。來自聚光記錄層41a的反射 光不到達各受光元件144a 149a。詳細i兌就是，來自聚光記錄層41a的主光 束反射光和來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到達各受光元件 144a 149a。由於第二 TES受光部72b的第二受光部77b與第一 TES受光部72a的 第二受光部77a相同，所以為了避免重複而省略說明。在對應部分的符號上 使用同一數字，而符號的末尾替代"a"而使用"b"。圖11是用於說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態的圖。為了 容易理解圖11中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。圖11設定為在從光源43側看光碟42時，非聚光記錄層41b位於聚光記錄層41a內側的情況。來自非聚光記錄層41b的各光束 0級衍射光和來自非聚光記錄層41b的各光束± 1級衍射光向光分割體130 入射。來自非聚光記錄層41b的各光束0級衍射光在光分割體130上的所述 基準光軸L附近分別形成光斑151、 152、 153。這些各光斑151 153在光分 割體130的各分割區域131、 132a、 132b中僅形成在FES分割區域131。反 過來說就是，為了使這些各光斑151 153在光分割體130的各分割區域131、 132a、 132b中僅形成在FES分割區域131,設定光分割體130，特別是FES 分割區域131的突出部分99的形狀和尺寸。優選將FES分割區域131的突 出部分99形狀和尺寸設定為即使在所述各光斑151 153最大時也把所述各 光斑151 153整體包含。所述各光斑151-153最大是指聚光記錄層41a與 非聚光記錄層41b之間層的折射率最大，且聚光記錄層41a與非聚光記錄層 41 b之間的層間隔最小時的情況。來自非聚光記錄層41b的各光束0級衍射光被FES分割區域131衍射 並反射。來自非聚光記錄層41b的各光束0級衍射光的、來自FES分割區 域131的各反射光到達FES受光部71，並在該FES受光部71上分別形成 光斑161、 162、 163。這些各光斑161 163比來自聚光記錄層41a主光束反 射光的光斑101擴展。本實施例中來自非聚光記錄層41b的各光束0級衍 射光的、來自FES分割區域131的各反射光由FES受光部71的各主光束受 光元件73、 74受光。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級衍射光在光分割體130上相對所 述基準光軸L在跟蹤方向Tl的一側分別形成光斑154a、 155a、 156a。這些 各光斑154a 156a在光分割體130中僅形成在第一 TES分割區域132a。反 過來說就是，為了使這些各光斑154a 156a在光分割體130的各分割區域 131、 132a、 132b中僅形成在第一 TES分割區域132a，以此設定光分割體 130,特別是第一TES分割區域132a的形狀和尺寸。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級衍射光被第一 TES分割區域132a 衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級衍射光的、來自第一 TES 分割區域132a的反射光到達第一 TES受光部72a，並在該第一 TES受光部 72a上分別形成光斑164a、 165a、 166a。這些各光斑164a 166a比來自聚光 記錄層41a各光束反射光的各光斑102、 106、 107擴展。本實施例中來自非聚光記錄層41b的各光束+1級衍射光的、來自第一 TES分割區域132a的 各反射光由第一 TES受光部72a的各受光元件80a 82a、 144a 149a受光。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級衍射光在光分割體130上相對所 述基準光軸L在跟蹤方向Tl的另一側分別形成光斑154b、 155b、 156b。這 些各光斑154b 156b在光分割體130中僅形成在第二TES分割區域132b。 反過來說就是，為了使這些各光斑154b 156b在光分割體130的各分割區 域131、 132a、 132b中僅形成在第二 TES分割區域132b地這樣來設定光分 割體130，特別是第二 TES分割區域132b的形狀和尺寸。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級衍射光被第二 TES分割區域 132b衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級衍射光的、來自 第二TES分割區域132b的各反射光到達第二TES受光部72b，並在該第二 TES受光部72b上分別形成光斑164b、 165b、 166b。這些各光斑164b 166b 比來自聚光記錄層41a各光束反射光的各光斑103、 108、 109擴展。本實施 例中來自非聚光記錄層41b各光束-1級衍射光的、來自第二 TES分割區 域132b的各反射光由第二 TES受光部72b的各受光元件80b 82b、 144b 149b受光。在生成跟蹤誤差信號時，各TES受光部72a、 72b根據第二受光部77a、 77b的受光結果來校正第一受光部76a、 76b的受光結果。第一 TES受光部72a根據第 一副光束校正用受光部分141 a的中介受光 元件144a和相反側受光元件145a的受光結果S144a、 S145a,校正第一副 光束受光元件81a的受光結果S81a。且根據第二副光束校正用受光部分142a 的中介受光元件146a和相反側受光元件146a的受光結果S146a、 S147a, 校正第二副光束受光元件82a的受光結果S82a。根據主光束校正用受光部 分143a的一側受光元件148a和另一側受光元件149a的受光結果S148a、 S149a，校正主光束受光元件80a的受光結果S80a。第二 TES受光部72b 也是同樣。具體說就是通過以下的式(11) 式(16)的運算來進行校正。S81aR = S81a-k31 x ( S144a + S145a ) (11)S82a R = S82a - k32 x ( S146a + S147a ) (12)S80aR=S80a_k33 x ( S148a + S149a ) (13)S81bR = S81b-k34x ( S144b + S145b ) (14)S82bR = S82b-k35 x ( S146b + S147b ) (15)S80bR = S80b-k36 x ( S148b + S149b ) (16) 上述式(11 ) 式(13 )中，S81aR、 S82aR和S80a R是校正第一 TES 受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a和主光束受光元件80a受光結果 S81a、 S82a、 S80a的校正結果。上述式(14) 式(16)中，S81bR、 S82b R和S80b R是校正第二 TES受光部72b中各副光束受光元件81b、 82b和 主光束受光元件80b受光結果S81b、 S82b、 S80b的校正結果。K31 k36是 表示放大度的係數。放大度根據入射光量的比而預先設定。跟蹤誤差信號TES通過以下的式(17)的運算得到。 TES = ( S80a R - S80b R) - k37 x {( S81a R - S81b R) + ( S82a R - S82b R)} (17)式(17)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信號。(S81a R - S81b R ) 和(S82aR-S82bR)是各副光束的推挽信號。K37是係數，用於校正主光 束與各副光束光強度的不同。以上的本實施例也能達到與上述第二實施例同樣的效果。根據本實施 例，來自非聚光記錄層41b的各光束± 1級衍射光的、來自各TES分割區 域132a、 132b的反射光由各TES受光部72a、 72b的主光束受光元件80a、 80b受光。考慮到這點，如前所述，校正部56校正各光束受光元件80a、 80b 的受光結果。因此，相對於跟蹤誤差信號能更加抑制由來自非聚光記錄層 41b的主光束土 1級衍射光所引起的惡劣影響。在校正各TES受光部72a、 72b的主光束受光元件80a、 80b的受光結 果時，使用了一側受光元件148a、 148b和另一側受光元件149a、 149b的各 受光結果。這樣，能高精度校正各TES受光部72a、 72b的主光束受光元件 80a、 80b的受光結果。在校正第一TES受光部72a的第一副光束受光元件 81a的受光結果時，使用了中介受光元件144a和相反側受光元件145a的各 受光結果。這樣，能高精度校正第一 TES受光部72a的第一副光束受光元 件81a的受光結果。相對於其他的副光束受光元件82a、 81b、 82b也是同樣。 因此能儘量地抑制由來自非聚光記錄層41b的各光束± 1級衍射光所引起的 惡劣影響。圖12是表示的本發明第四實施例光拾取裝置所具有的受光部170結構 的正面圖。由於本實施例的光拾取裝置與上述第三實施例的光拾取裝置類 似，所以在同一部分上付與同一符號而省略說明，僅對不同點進行說明。第一 TES受光部72a的第二受光部77a中，第一副光束校正用受光部 分171a構成為中介受光元件144a和相反側受光元件145a形成為一體。本 實施例把第一副光束校正用受光部分171a形成為包圍在第一副光束受光元 件81a周圍。第二副光束校正用受光部分172a構成為中介受光元件146a 和相反側受光元件147a形成為一體。本實施例把第二副光束校正用受光部 分172a形成為包圍在第二副光束受光元件82a周圍。主光束校正用受光部 分173a構成為一側受光元件148a和另一側受光元件149a形成為一體。本 實施例把主光束校正用受光部分173a形成為包圍在主光束受光元件80a周 圍。由於第二 TES受光部72b的第二受光部77b與第一 TES受光部72a的 第二受光部77a相同，所以為了避免重複而省略說明。在對應部分的符號上 使用同一數字，而符號的末尾替代"a"而使用"b"。圖13是用於說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態的圖。為了 容易理解圖13中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。圖13設定為在從光源43側看光碟42時，非聚光記 錄層41b位於聚光記錄層41a內側的情況。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級衍射光被第一 TES分割區域132a 衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級衍射光的、來自第一 TES 分割區域132a的各反射光到達第一 TES受光部72a,並在該第一 TES受光 部72a上分別形成光斑164a 166a。這些各光斑164a 166a比來自聚光記錄 層41a各光束反射光的各光斑102、 106、 107擴展。本實施例中來自非聚光 記錄層41b的各光束+l級衍射光的、來自第一TES分割區域132a的各反 射光由第一 TES受光部72a的各受光元件80a 82a和各校正用受光部分 171a 173a受光。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級衍射光被第二 TES分割區域 132b衍射並反射。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級衍射光的、來自 第二 TES分割區域132b的各反射光到達第二 TES受光部72b，並在該第二 TES受光部72b上分別形成光斑164b 166b。這些各光斑164b 166b比來自 聚光記錄層41a各光束反射光的各光斑103、 108、 109擴展。本實施例中來 自非聚光記錄層41b的各光束_ 1級衍射光的、來自第二 TES分割區域132b 的各反射光由第二 TES受光部72b的各受光元件80b 82b和各校正用受光部分171b 173b受光。在生成跟蹤誤差信號時，各TES受光部72a、 721)#>據第二受光部77a、 77b的受光結果來校正第一受光部76a、 76b的受光結果。第一TES受光部72a根據第一副光束校正用受光部分171a的受光結果 S171a來校正第一副光束受光元件81a的受光結果S81a。且根據第二副光束 校正用受光部分172a的受光結果S172a來校正第二副光束受光元件82a的 受光結果S82a。根據主光束校正用受光部分173a的受光結果S173a來校正 主光束受光元件80a的受光結果S80a。第二 TES受光部72b也是同樣。具 體說就是通過以下的式(18) 式(23)的運算來進行校正。S81aR-S81a-k41 x (S171a) (18)S82aR = S82a-k42 x (S172a) (19)S80aR = S80a-k43 x (S173a) (20)S81bR = S81b-k44x (S171b) (21)S82bR=S82b-k45 x (S172b) (22)S80bR=S80b-k46x (S173b) (23)上述式(18) ~式(20)中，S81aR、 S82a R和S80a R是校正第一 TES 受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a和主光束受光元件80a受光結果 S81a、 S82a、 S80a的校正結果。上述式(21) 式(23)中，S81bR、 S82b R和S80b R是校正第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、 82b和 主光束受光元件80b受光結果S81b、 S82b、 S80b的4交正結果。k41 k46是 表示放大度的係數。放大度根據入射光量的比而預先設定。跟蹤誤差信號TES能通過以下的式(24)的運算得到。 TES = ( S80a R - S80b R) - k47 x {( S8la R - S8lb R) + ( S82a R - S82b R)} (24)式(24)中，(S80a-S80b)是主光束的推4免信號。(S81a R - S81b R) 和(S82aR-S82bR)是各副光束的推挽信號。k47是係數，用於校正主光 束與各副光束光強度的不同。根據以上的本實施例能達到與上述第三實施例同樣的效果。根據本實 施例，第一 TES受光部72a的第 一 副光束才交正用受光部分171a構成為中介 受光元件144a和相反側受光元件145a形成為一體，所以不需要用於4巴中介 受光元件144a的受光結果和相反側受光元件145a的受光結果相加的加法電路。這樣能把校正部56的電路結構簡單化。其他的副光束校正用受光部分172a、 171b、 172b也同樣。且第一 TES受光部72a的主光束校正用受光部 分173a構成為一側受光元件148a和另一側受光元件149a形成為一體，所 以不需要用於把一側受光元件148a的受光結果和另一側受光元件149a的受 光結果相加的加法電路。這樣能把校正部56的電路結構簡單化。其他的主 光束校正用部分173b也同樣。上述各實施例不過是本發明的例示，在本發明的範圍內可以變更結構。 上述各實施例雖然例示了把用於生成對焦誤差信號的結構和用於生成跟蹤 誤差信號的結構一體化的結構，但並不限定於此。例如也可以把用於生成 對焦誤差信號的光分割體和受光部與用於生成跟蹤誤差信號的光分割體和 受光部分離。在這種情況下也能達到與上述各實施例同樣的效果。上述各實施例說明了作為光碟而設定單面雙層盤的情況，但並不限定 於此。例如光碟也可以形成三層以上的記錄層。本發明能不脫離其精神或主要特點地以其他各種形態實施。因此，上 述實施例從各方面看不過是單單進行例示，本發明的範圍由權利要求的範 圍表示而不受說明書本文的任何約束。且屬於權利要求範圍的變形和變更 都在本發明的範圍內。
權利要求
1、一種光拾取裝置，用於向形成有多層記錄層的光碟照射光而向光碟的記錄層記錄信息或從光碟的記錄層再生信息，其特徵在於，包括光源，其射出光；光學系統，其把來自光源的射出光向光碟的記錄層聚光，且把來自光碟記錄層的反射光進行聚光；受光部，其把來自光碟記錄層的反射光經由光學系統受光，具有第一受光部和第二受光部，該第一受光部配置在把來自匯聚光源射出光的聚光記錄層的反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的反射光；該第二受光部配置成從聚光記錄層的反射光聚光的位置離開，與第一受光部鄰接，接受來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光；校正部，其根據第二受光部的受光結果來校正第一受光部的受光結果。
2、 如權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述光學系統把光源的射出光分離成主光束和一對副光束並向光碟的記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其被配置在把來自聚光記錄 層的主光束反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射 光； 一對副光束受光元件，其被分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束 反射光進行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部，具有用於將各副光束受光元件中、來自非聚光記錄 層的主光束反射光所到達的副光束受光元件的受光結果進行補正的副光束 校正用受光部分，該副光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的 主光束反射光進行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進 行聚光的位置這兩者離開，與所述副光束受光元件鄰接，接受來自非聚光 記錄層的主光束反射光，所述校正部根據副光束校正用受光部分的受光結果來校正所述副光束 受光元件的受光結果。
3、 如權利要求2所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述副光束校正用受光部分具有介於所述副光束受光元件與主光束受光元件之間的中介受光元件，和相對所述副光束受光元件而配置在與中介受光元件相反側的相,l側受光元件。
4、 如權利要求3所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述中介受光元件和所述相反側受光元件形成為一體。
5、 如權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於，所述光學系統把光源的射出光分離成主光束和一對副光束並向光碟的 記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其被配置在把來自聚光記錄 層的主光束反射光進行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射 光； 一對副光束受光元件，其被分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束 反射光進行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部，具有用於校正主光束受光元件的受光結果的主光束 校正用受光部分，該主光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的 主光束反射光進行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進 行聚光的位置這兩者離開，與主光束受光元件鄰接，接受來自非聚光記錄 層的主光束反射光，所述校正部根據主光束校正用受光部分的受光結果來校正主光束受光 元件的受光結果。
6、 如權利要求5所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述主光束校正用受光部分具有介於一側副光束受光元件與主光束受光元件之間的一側受光元件，和介於另一側副光束受光元件與主光束受 光元件之間的另 一側受光元件。
7、 如權利要求6所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述一側受光元件和所述另一側受光元件形成為一體。
8、 如權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述校正部根據來自非聚光記錄層反射光向第一受光部的入射光量與向第二受光部的入射光量的比，預先設定第二受光部受光結果相對於第一 受光部受光結果的放大度，在校正第 一受光部的受光結果時，把第二受光部的受光結果按所述放 大度放大，並把該放大結果從第 一受光部的受光結果中減去。
9、 如權利要求1所述的光拾取裝置，其特徵在於， 所述受光部具有用於生成跟蹤誤差信號的、包括所述第一受光部和所述第二受光部的 一對跟蹤用受光部，為了生成跟蹤誤差信號，所述光學系統把來自聚光記錄層的反射光分 割，並分別向各跟蹤用受光部反射。
10、 一種光分割體，是在權利要求1所述的光拾取裝置中，被所述光 學系統所包含，將來自光碟記錄層的反射光分割的光分割體，所述光拾取裝置的所述受光部具有用於生成對焦誤差信號的對焦用受光部，和用於生成跟蹤誤差信號、且包括所述第一受光部和所述第二受光部的一對跟蹤 用受光部，該光分割體的特徵在於，具有把來自聚光記錄層的反射光向對焦用受光部反射的對焦用分割區域， 和把來自聚光記錄層的反射光分別向各跟蹤用受光部反射的一對跟蹤 用分割區域。
11、 如權利要求IO所述的光分割體，其特徵在於， 所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近外側的部分，沿著與所述基準光軸 正交且向跟蹤方向延伸的假想線。
12、 如權利要求IO所述的光分割體，其特徵在於， 所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近外側的部分，從所述假想線偏離， 與該部分沿著與所述基準光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線的情況相 比、以增加所述一對跟蹤用分割區域。
13、 如權利要求11所述的光分割體，其特徵在於， 所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近內側的部分，從所述假想線偏離， 以使來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光向所述對焦用分割區域入射。
14、 如權利要求12所述的光分割體，其特徵在於， 所述對焦用分割區域與所述一對跟蹤用分割區域的邊界線中，相對於所述光學系統基準光軸的半徑方向靠近內側的部分，從所述假想線偏離， 以使來自非聚光記錄層的反射光中0級衍射光向所述對焦用分割區域入射。
全文摘要
本發明提供一種光拾取裝置和光分割體，能抑制由來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光而引起的惡劣影響。在各TES受光部(72a、72b)，把中介受光元件(84a、84b)與第一副光束受光元件(81a、81b)鄰接配置。中介受光元件(84a、84b)從把來自聚光記錄層(41a)的主光束的反射光聚光的位置、和把來自聚光記錄層41a的各副光束的反射光聚光的位置這兩者離開，配置為與第一副光束受光元件(81a、81b)，接受來自非聚光記錄層(41b)的主光束的反射光。校正部(56)根據中介受光元件(84a、84b)的受光結果(S84a、S84b)校正第一副光束受光元件(81a、81b)的受光結果(S81a、S81b)。
文檔編號G11B7/135GK101271700SQ20081008720
公開日2008年9月24日 申請日期2008年3月19日 優先權日2007年3月19日
發明者村上晉三 申請人:夏普株式會社