電子物件的測試探針的製作方法
2023-10-10 19:50:54 1
專利名稱：電子物件的測試探針的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種電子物件的測試探針，特別是指一種具有較細組成外徑，能有效縮小排列中心距形成密集組合的探針。
背景技術：
如
圖1所示，一探針座43上設有複數密集排列的孔，可供容器夾持複數探針套管41，各探針套管41內有一彈簧，頂探針4由該探針套管41一端向外凸伸，該探針套管41的另一端分別經由測試訊號線42銜接測試儀，使用時該探針座43相對於待測物件3移動，可使各探針4與待測物件3上預設的各測試點接觸，該探針套管41內的彈性元件使探針4形成一伸縮彈性，使各探針4都可與待測物件3上各測試點接觸，達到完整測試。其缺點如下由於各探針4套和一探針套管41內，該探針套管內另放有一彈性元件，其整體組合後外徑大，難以滿足微型電子產品的待測試點距精密細小的要求，待測物件3難以進行小巧化設計，組裝不便，成本較高。結構強度較差，易發生彈力不足造成檢測接觸不確實。
實用新型內容本實用新型要解決的技術問題是提供一種電子物件的測試探針，該測試探針具有較細組成外徑，能有效縮小排列中心距形成密集組合。
為解決上述技術問題，本實用新型的測試探針結構包括探針座，探針等部分，所述探針座一端設有與測試位移路徑呈斜角對應延伸的剛性單柱型探針，各探針的一端朝待測物件斜向凸伸成探測端，各探針的另一端可電連接到相關測試儀器。
本實用新型的測試探針具有較細組成外徑，能有效縮小排列中心距形成密集組合，結構簡易，使用該結構的測試探針，可提高測試精密度，並降低成本。
以下結合附圖和實施例對本實用新型作進一步描述圖1是現有探針與相關裝置的組合結構示意圖；圖2是本實用新型的第一實施例的構造立體分解圖；圖3是本實用新型的第一實施例的組合操作狀態立體的示意圖；圖3A是圖3的A部放大圖；圖4是本實用新型的第一實施例的使用狀態測向示意圖；圖5是本實用新型的第二實施例的構造立體分解圖；圖5B是圖5的B部放大圖；圖6是本實用新型的第二實施例的使用狀態測向示意圖。
具體實施方式
如圖2所示，並參照圖3，圖4，可知本實用新型的第一實施例主要結構包括探針座1，探針2等部分，探針座1至少於一端生成與測試位移路徑呈一斜角方向延伸的探針2，探針2與探針座1結合，可在探針座1的一端設一容器槽11，該容器槽11可直接設在一斜面10上，探針2為剛性單柱型細條體，可放於容器槽11內，使各探針2至少以一端部凸伸出容器槽11，與測試位移路徑呈斜角關係形成一探測端21，探針2的另一端可經由測試訊號線22銜接相關測試儀器，在斜面10上蓋合一蓋板12，供夾合或加強對各探針2所形成定位作用。測試時，當各探針2隨探針座1位移，探測端21與待測電子物件3的測試點31接觸時，探針2受力會產生自體彈性彎曲，可有效適應各探針2下壓接觸測試點31時所生產的微量壓制行程幅度，使各探針2的探測端21能與測試點31間達到完全確實的接觸效果。
如圖5，圖6所示，本實用新型的第二實施例的主要結構是在探針座1的容器槽11伸突探針2的探測端21的一端設一相反與檢測行進路線的鏤空開口110，使該探針2伸入容器槽11內，容器槽11多數等深，各容器槽相互平行排列延伸。蓋板12蓋合於設置容器槽11的斜面10上，固定各探針2；當探針2隨探針座1位移，探測端21與待測電子物件3的測試點31接觸時，利用鏤空開口110的輔助，使各探針2的探測端21部位具有較大的曲變空間，而不會對探針2的彈性彎曲形成過大限制，具有緩和探測端21接觸的能力，同時，鏤空開口110亦具有扶持曲變中的探測端21，可有效防止探測端21產生橫向偏移出，使各探針2的探測端21與測試點31保持正確良好接觸。
權利要求1.一種電子物件的測試探針，其特徵在於至少包括一探針座，該探針座的一端設有一探針的探測端，所述探針相對測試位移路徑呈斜角方向延伸；探針的另一端連接測試訊號線，與相關測試儀器結合。
2.按照權利要求1所述的測試探針，其特徵在於所述探針為單柱型細條體。
3.按照權利要求1或2所述的測試探針，其特徵在於所述探針結合於探針座一端的預設斜表面上，該斜表面上有容置槽，所述探針位於該容置槽內，一端凸伸於容置槽之外，形成探測端。
4.按照權利要求1或2所述的測試探針，其特徵在於所述探針座在接近探測端突伸部位設有相反於上述探針座測定位移方向擴張的鏤空開口。
5.按照權利要求3所述的測試探針，其特徵在於所述探針座在接近探測端突伸部位設有相反於上述探針座測定位移方向擴張的鏤空開口。
6.按照權利要求1或2所述的測試探針，其特徵在於所述探針設置於一斜面表側上多數等深的容置槽，該容置槽的斜面上蓋合一蓋板。
7.按照權利要求3所述的測試探針，其特徵在於所述探針設置於一斜面表側上多數等深的容置槽，該容置槽的斜面上蓋合一蓋板。
8.按照權利要求4所述的測試探針，其特徵在於所述探針設置於一斜面表側上多數等深的容置槽，該容置槽的斜面上蓋合一蓋板。
9.按照權利要求5所述的測試探針，其特徵在於所述探針設置於一斜面表側上多數等深的容置槽，該容置槽的斜面上蓋合一蓋板。
10.按照權利要求1或2所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
11.按照權利要求3所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
12.按照權利要求4所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
13.按照權利要求5所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
14.按照權利要求6所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
15.按照權利要求7所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
16.按照權利要求8所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
17.按照權利要求9所述的測試探針，其特徵在於所述探針列於探針座一端表面上的容置槽內，各容置槽相互平行排列延伸。
專利摘要本實用新型公開了一種電子物件的測試探針，該電子物件的測試探針包括探針座，探針等部分，所述探針座一端設有與測試位移路徑呈斜角對應延伸的剛性單柱型探針，各探針的一端朝待測物件斜向凸伸成探測端，各探針的另一端可電連接到相關測試儀器，當該探針的探測端隨探針座滑移與待測物件的測試點接觸時，利用上述斜向延伸的探針受力產生的自體彈性彎曲變形，使探測端保持彈性完全接觸。本實用新型可測試間距微小的待測物件。
文檔編號G01R1/073GK2809651SQ200520104340
公開日2006年8月23日 申請日期2005年7月27日 優先權日2005年7月27日
發明者陳志嶽 申請人:晉恆股份有限公司