顯示面板及封框膠測量方法與流程
2023-10-23 12:48:22 2
本發明涉及液晶顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板及封框膠測量方法。
背景技術：
液晶顯示面板是由陣列基板和彩膜基板對盒，並在兩個基板之間注入液晶形成的。為了使陣列基板和彩膜基板密封以切斷液晶分子與外界的接觸、維持陣列基板和彩膜基板之間的盒厚、以及確保液晶顯示面板的顯示效果，需要使用封框膠，封框膠位於液晶顯示面板的四周。
在塗布一張玻璃基板時，會使用封框膠塗布裝置在玻璃基板表面的四周塗布一圈封閉的封框膠，然而，由於各種外界因素和技術因素，在塗布過程當中往往會有多次停頓，並且由於液態封框膠的塗布線路會受到液體回吸壓力的影響，每次停頓之後，塗布裝置的塗布頭處的殘留封框膠的頭部會較大，難免會出現封框膠塗布不均勻、截面積不一致的現象，在對盒之後容易引起漏膠、盒厚不均勻等不良效果，影響顯示品質，而且當需要測量封框膠線路上兩點之間的截面積時，液體回吸壓力引起的局部封框膠的截面積不一致也嚴重影響測量精度，無法精確改善塗布均勻性。
技術實現要素：
鑑於現有技術存在的不足，本發明提供了一種顯示面板及封框膠測量方法，其有助於提高封框膠的塗布均勻性和測量均勻性。
為了實現上述的目的，本發明採用了如下的技術方案：
一種顯示面板，包括上基板、下基板、填充於所述上基板和所述下基板之間的液晶以及一圈矩形的主封框膠，所述主封框膠形成於所述上基板和所述下基板之間並將所述液晶包圍於其中；所述主封框膠包括測量部，所述測量部包括一段測量段和分別連接所述測量段兩端的兩段折彎段，兩段所述折彎段分別相對於所述測量段彎折，並同時連接在所述主封框膠的同一條邊上。
作為其中一種實施方式，所述測量部的兩段所述折彎段相對於所述測量段朝同一側彎折。
作為其中一種實施方式，所述測量部的兩段所述折彎段相對於所述測量段朝同相反的兩側彎折。
作為其中一種實施方式，所述測量部為多個，且間隔設置。
作為其中一種實施方式，所述測量部與兩端的所述折彎段相互垂直。
作為其中一種實施方式，所述的顯示面板還包括輔助封框膠，所述輔助封框膠與所述主封框膠間隔地設於所述主封框膠內側，且形成於所述上基板和所述下基板之間並將所述液晶包圍於其中。
作為其中一種實施方式，所述輔助封框膠與所述主封框膠之間連接有複數條封框膠形成的銜接段，相鄰兩條所述銜接段與其之間的部分所述輔助封框膠構成所述主封框膠的所述測量部。
或者，所述的顯示面板還包括輔助封框膠，所述輔助封框膠與所述主封框膠間隔地設於所述主封框膠外側，且形成於所述上基板和所述下基板之間並將所述液晶包圍於其中。
作為其中一種實施方式，所述輔助封框膠與所述主封框膠之間連接有複數條封框膠形成的銜接段，相鄰兩條所述銜接段與其之間的部分所述輔助封框膠構成所述主封框膠的所述測量部。
本發明的另一目的在於提供一種所述的顯示面板的封框膠測量方法，包括：選取所述測量部的所述測量段上的兩點作為測量點，並計算兩個所述測量點的封框膠的截面積。
本發明通過將顯示面板的封框膠設計成具有折彎段和測量段的測量部，測量部位於封框膠的同一條邊上，由於測量段與封框膠的主體部分具有折彎段，可以使得測量點位避開起始塗布點，測量部的存在可以防止封框膠在塗布過程中由於主體部分產生回吸壓力造成的封框膠截面不均勻，並能防止測量部的測量段的封框膠的截面值受影響而導致的測量不準。
附圖說明
圖1為本發明實施例1的顯示面板的結構示意圖；
圖2為本發明實施例1的封框膠的塗布位置示意圖；
圖3為本發明實施例1的封框膠的一種測量部的結構示意圖；
圖4為本發明實施例1的封框膠的另一種測量部的結構示意圖；
圖5為本發明實施例1的封框膠的封框膠測量方法流程圖；
圖6為本發明實施例2的顯示面板的結構示意圖；
圖7為本發明實施例2的封框膠的塗布位置示意圖。
具體實施方式
為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，並不用於限定本發明。
本發明的顯示面板包括上基板、下基板、填充於上基板和下基板之間的液晶以及一圈矩形的主封框膠，主封框膠形成於上基板和下基板之間，並將液晶包圍於其中，可以防止外界的灰塵、水汽進入而影響顯示質量，也能防止內部的液晶漏出而導致顯示惡化。其中，主封框膠還具有至少一個測量部，該測量部主要包括一段測量段和分別連接測量段兩端的兩段折彎段，這兩段折彎段分別相對於測量段彎折，並且同時連接在主封框膠的同一條邊上。具有測量部的主封框膠的邊則可以通過測量測量段上兩個間隔的點的截面積來完成測量，測量段的封框膠的塗布均勻性不受其他部位的回吸壓力的影響，可以很好地保證測量精度，並且，設置有測量部的封框膠所在的邊也因此可以更好地保證封框膠的塗布均勻性。下面結合具體的實施例和附圖對本發明進一步說明。
實施例1
參閱圖1所示，本實施例的顯示面板具有上基板10、下基板20、填充於上基板10和下基板20之間的液晶30以及一圈矩形的主封框膠40，主封框膠40形成於上基板10和下基板20之間的外圍區域，並將液晶30包圍於其中。其中，上基板10、下基板20可以分別選自彩膜基板和陣列基板，通過電壓來改變液晶材料內部分子的排列狀況，可以實現遮光和透光的目的來顯示不同的畫面。
如圖2和圖3所示，主封框膠40具有測量部41，測量部41包括一段測量段411和分別連接測量段411兩端的兩段折彎段412，兩段折彎段412分別相對於測量段411彎折，並同時連接在主封框膠40的同一條邊上。這裡，每個折彎段412的自由端連接至主封框膠40的主體部分，即使在封框膠在基板上塗布的過程中主體部分出現停頓也不會影響測量段411的寬度和厚度。
圖3所示的測量部41中，兩段折彎段412相對於測量段411朝同一側彎折，圖4所示的測量部41中，測量部41的兩段折彎段412相對於測量段411朝同相反的兩側彎折。優選測量部41與兩端的折彎段412相互垂直，圖3所示的測量部41呈u型，圖3所示的測量部41呈z型，矩形的主封框膠40的每條邊可以設置有多個測量部41為多個，這些測量部41間隔設置。
在製作顯示面板盒時，液晶位於上基板10或下基板20的中間區域，主封框膠40塗布時，在塗布大致為矩形主體部分時，還間歇性地塗布出測量部41，測量部41的折彎段412的存在可以避免主封框膠40的矩形主體部分在塗抹停頓的部位產生回吸壓力影響測量部41或主體部分的塗布厚度和寬度，保證了封框膠整體的塗布均勻性，並保證了封框膠的截面積的測量精度。
結合圖3～圖5，在進行封框膠的測量時，首先選取測量部41的測量段411上的兩點a、b作為測量點(如圖5中的步驟s01)，然後再計算兩個測量點的封框膠的截面積(如圖5中的步驟s02)，通過對比兩個測量點的截面積差異從而得出塗布均勻性。
實施例2
如圖6和圖7所示，與實施例不同的是，本實施例的顯示面板還具有一圈輔助封框膠50，該輔助封框膠50與主封框膠40間隔，且位於主封框膠40的外側，輔助封框膠50也形成於上基板10和下基板20之間並將液晶30包圍於其中。
另外，輔助封框膠50與主封框膠40之間還塗布形成有複數條封框膠形成的銜接段t，相鄰兩條銜接段t與其之間的部分輔助封框膠50構成主封框膠40的測量部41，銜接段t相當於測量部41的折彎段412，相鄰兩條銜接段t之間的部分輔助封框膠50相當於測量部41的測量段411。
或者，輔助封框膠50與主封框膠40間隔且位於主封框膠40的內側，也形成於上基板10和下基板20之間並將液晶30包圍於其中。也在輔助封框膠50與主封框膠40之間連接有複數條封框膠形成銜接段t，相鄰兩條銜接段t與其之間的部分輔助封框膠50構成主封框膠40的測量部41。
輔助封框膠50一方面可以與主封框膠40配合形成雙重密封保障，另一方面，也可以作為測量部41的測量段411，供封框膠測量，由於二者之間具有銜接段t，可以很好地改善輔助封框膠50、主封框膠40的矩形主體部分的塗布均勻性，併兼顧測量精度。
綜上所述，本發明通過將顯示面板的封框膠設計成具有折彎段和測量段的測量部，測量部位於封框膠的同一條邊上，由於測量段與封框膠的主體部分具有折彎段，可以使得測量點位避開起始塗布點，測量部的存在可以防止封框膠在塗布過程中由於主體部分產生回吸壓力造成的封框膠截面不均勻，並能防止測量部的測量段的封框膠的截面值受影響而導致的測量不準。
以上所述僅是本申請的具體實施方式，應當指出，對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本申請原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本申請的保護範圍。