一種雷射調試方法
2023-10-20 07:21:17 1
專利名稱：一種雷射調試方法
技術領域：
本發明屬於雷射調試領域，尤其涉及一種雷射調試方法。
背景技術：
雷射棒受激輻射時，受激輻射的光子經過諧振腔諧振(諧振腔由全反鏡、半反鏡及泵浦腔構成)，一個變兩個、兩個變四個、四個變八個…，產生連鎖反應，光強雪崩似地放大，產生強烈的雷射，雷射經半反鏡出射。現有雷射調試出光比較麻煩、效率低。
發明內容
本發明實施例的目的在於提供一種雷射調試方法，旨在解決現有雷射調試麻煩、 效率低的問題。本發明實施例是這樣實現的，一種雷射調試方法，包括以下步驟調節準直光，使所述準直光沿雷射棒和主定位架的中心出射；調節所述雷射棒，使所述準直光垂直於所述雷射棒的端面；調節全反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述全反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述全反鏡透射的準直光重合；調節半反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述半反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合。本發明實施例利用經準直鏡反射的準直光進行調試，使經全反鏡或半反鏡兩次透射的準直光重合，提高了雷射棒、全反鏡和半反鏡三者端面的平行度，能夠快速出雷射、調試效率高。
圖1是本發明實施例提供的雷射調試方法的實現流程圖；圖2是雷射器調試過程的結構示意圖；圖3是雷射器調試過程的結構示意圖(另一視角)。
具體實施例方式為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，並不用於限定本發明。在本發明實施例中，利用經準直鏡反射的準直光進行調試，提高諧振腔中雷射棒、 全反鏡和半反鏡三者之間的平行度，達到快速出雷射的目的。本發明實施例提供一種雷射調試方法，所述方法包括以下步驟調節準直光，使所述準直光沿雷射棒和主定位架的中心出射；調節所述雷射棒，使所述準直光垂直於所述雷射棒的端面；
調節全反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述全反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述全反鏡透射的準直光重合；調節半反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述半反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合。以下結合本發明的具體實施例予以詳細描述。實施例一圖1示出了本發明實施例提供的雷射調試方法的實現流程，詳述如下在步驟SlOl中，調節準直光，使準直光沿雷射棒和主定位架的中心出射。參閱圖2和圖3，在雷射棒棒套21的前端安裝第一銅頭22，調節準直光鏡架1的近點調光旋鈕11，將準直光調至第一銅頭22的中心位置；取下第一銅頭22，在主定位架3 安裝第二銅頭31，調節準直光鏡架1的遠點調光旋鈕12，將準直光調至第二銅頭31的中心位置；重複上述兩個步驟2至3次，確保準直光同時位於第一銅頭22和第二銅頭31的中心位置上，該第一銅頭22和第二銅頭31的中心位置可以看作是雷射棒和主定位架3的中心位置。為準確調試，第一銅頭22和第二銅頭31製成圓柱狀，其中心位置設有通孔。在步驟S102中，調節雷射棒，使準直光垂直於雷射棒的端面。本發明實施例中，雷射棒內置於雷射棒棒套21，雷射棒棒套21安裝於泵浦腔2，調節泵浦腔2即可調節雷射棒。先取下第一銅頭22，調節泵浦腔2，使準直光垂直於雷射棒的端面，觀察準直光經雷射棒端面的反射光點與其出射光點重合即可。在步驟S103中，調節全反鏡，使準直光經準直鏡的出射光與經全反鏡的反射光重合，然後使兩次經全反鏡透射的準直光重合。在本發明實施例中，全反鏡安裝於全反鏡架4，調節全反鏡架4的上下和左右調節旋鈕即可調節全反鏡，全反鏡對準直光部分反射、部分透射。先將帶準直鏡的第三銅頭13安裝於準直光源的出光口，其中準直鏡的出光面鍍有對準直光反射的反射膜。調節全反鏡架4，使準直光經準直鏡的出射光與經全反鏡反射的反射光重合，觀察準直光反射至準直鏡的反射光點與其從準直鏡出射的出射光點重合即可，此為「粗調」。準直光經準直鏡反射至全反鏡，經全反鏡透射，於全反鏡左側放置一擋光板，調節全反鏡架4，使兩次經全反鏡透射的準直光重合，觀察準直光先後經準直鏡、全反鏡透射投射至擋光板的光點與其經準直鏡反射後，經全反鏡透射投射至擋光板的光點重合即可，此為「細調」。「粗調」之後的「細調」，提高了全反鏡與準直光的垂直度。在步驟S104中，調節半反鏡，使準直光經準直鏡的出射光與經半反鏡的反射光重合，然後使兩次經半反鏡透射的準直光重合。在本發明實施例中，半反鏡安裝於半反鏡架5，調節半反鏡架5的上下和左右調節旋鈕即可調節半反鏡，半反鏡對準直光部分反射、部分透射。先將帶準直鏡的第三銅頭13安裝於準直光源的出光口，其中準直鏡的出光面鍍有對準直光反射的反射膜。調節半反鏡架5，使準直光經準直鏡的出射光與經半反鏡反射的反射光重合，觀察準直光反射至準直鏡的反射光點與其從準直鏡出射的出射光點重合即可，此為「粗調」。準直光經準直鏡反射至半反鏡，經半反鏡透射，於半反鏡左側放置一擋光板，調節半反鏡架5，使兩次經半反鏡透射的準直光重合，觀察準直光先後經準直鏡、全反鏡、雷射棒和半反鏡透射投射至擋光板的光點與其經準直鏡反射後，經全反鏡、雷射棒和半反鏡透射投射至擋光板的光點重合即可，此為「細調」。「粗調」之後的「細調」，提高了半反鏡與準直光的垂直度。經過上述步驟的調試，提高了雷射棒、全反鏡和半反鏡三者端面的平行度，能夠快速出雷射、調試效率高。實施例二本發明實施例中，調節雷射棒，使準直光經準直鏡的出射光與經雷射棒的反射光重合，然後使兩次經雷射棒透射的準直光重合。其中雷射棒對準直光部分反射、部分透射。先將帶準直鏡的第三銅頭13安裝於準直光源的出光口，其中準直鏡的出光面鍍有對準直光反射的反射膜。調節泵浦腔2，使準直光經準直鏡的出射光路與經雷射棒反射的反射光路重合，觀察準直光反射至準直鏡的反射光點與其從準直鏡出射的出射光點重合即可，此為「粗調」。準直光經準直鏡反射至雷射棒，經雷射棒透射，於雷射棒左側放置一擋光板，調節泵浦腔2，使兩次經雷射棒透射的準直光重合，觀察準直光先後經準直鏡、全反鏡和雷射棒透射投射至擋光板的光點與其經準直鏡反射後，經全反鏡和雷射棒透射投射至擋光板的光點重合即可，此為「細調」。「粗調」之後的「細調」，提高了雷射棒與準直光的垂直度， 有助於進一步提升雷射棒、全反鏡和半反鏡三者端面之間的平行度。實施例三本發明實施例中，微調半反鏡，使出射雷射呈圓形。於半反鏡架5左側放置一相紙，點焊雷射光斑，微調半反鏡架5，使光斑呈圓形。實施例四本發明實施例中，準直光為紅光，該紅光由紅光筆產生，當然還可以根據具體的情況採用其它方向性較好的可見光。本發明實施例在對全反鏡和半反鏡「粗調」之後，利用經準直鏡反射的準直光增加 「細調」，提高了雷射棒、全反鏡和半反鏡三者端面的平行度，能夠快速出雷射、調試效率高。 同時，雷射棒的「粗調」之後增加「細調」，提高了雷射棒與準直光的垂直度，有助於進一步提升雷射棒、全反鏡和半反鏡三者端面之間的平行度。另外，還可以微調半反鏡，使出射雷射光斑呈圓形。以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1.一種雷射調試方法，其特徵在於，所述方法包括以下步驟 調節準直光，使所述準直光沿雷射棒和主定位架的中心出射； 調節所述雷射棒，使所述準直光垂直於所述雷射棒的端面；調節全反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述全反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述全反鏡透射的準直光重合；調節半反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述半反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合。
2.如權利要求1所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述調節所述雷射棒，使所述準直光垂直於所述雷射棒的端面的步驟具體為調節雷射棒，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述雷射棒的反射光重合，然後使兩次經所述雷射棒透射的準直光重合。
3.如權利要求1所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述調節半反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述半反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合的步驟之後還包括微調所述半反鏡，使出射的雷射呈圓形。
4.如權利要求1所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述調節準直光，使所述準直光沿雷射棒和主定位架的中心出射的步驟具體為在雷射棒棒套的前端安裝第一銅頭，調節準直光鏡架的近點調光旋鈕，將準直光調至所述第一銅頭的中心位置；取下所述第一銅頭，在所述主定位架安裝第二銅頭，調節所述準直光鏡架的遠點調光旋鈕，將準直光調至所述第二銅頭的中心位置。
5.如權利要求4所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述第一銅頭和第二銅頭均製成圓柱狀，其中心位置設有通孔。
6.如權利要求1所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述調節全反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述全反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述全反鏡透射的準直光重合的步驟具體為將帶所述準直鏡的第三銅頭安裝於準直光源的出光口，其中所述準直鏡的出光面鍍有對準直光反射的反射膜；調節全反鏡架，使準直光經所述準直鏡的出射光與經所述全反鏡反射的反射光重合； 於所述全反鏡左側放置一擋光板，調節所述全反鏡架，使兩次經所述全反鏡透射的準直光重合。
7.如權利要求1所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述調節半反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述半反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合的步驟具體為將帶所述準直鏡的第三銅頭安裝於準直光源的出光口，其中所述準直鏡的出光面鍍有對準直光反射的反射膜；調節半反鏡架，使準直光經所述準直鏡的出射光與經所述半反鏡反射的反射光重合； 於所述半反鏡左側放置一擋光板，調節所述半反鏡架，使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合。
8.如權利要求1 7任一項所述的雷射調試方法，其特徵在於，所述準直光為紅光。
全文摘要
本發明適用於雷射調試領域，提供了一種雷射調試方法，所述方法包括以下步驟調節準直光，使所述準直光沿雷射棒和主定位架的中心出射；調節所述雷射棒，使所述準直光垂直於所述雷射棒的端面；調節全反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述全反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述全反鏡透射的準直光重合；調節半反鏡，使所述準直光經準直鏡的出射光與經所述半反鏡的反射光重合，然後使兩次經所述半反鏡透射的準直光重合。本發明實施例利用經準直鏡反射的準直光進行調試，使經全反鏡或半反鏡兩次透射的準直光重合，提高了雷射棒、全反鏡和半反鏡三者端面的平行度，能夠快速出雷射、調試效率高。
文檔編號H01S3/16GK102214891SQ20101014610
公開日2011年10月12日 申請日期2010年4月7日 優先權日2010年4月7日
發明者劉飛, 穆雪顏, 高雲峰 申請人:深圳市大族雷射科技股份有限公司