一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法

2023-10-09 01:17:59 1

專利名稱：一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法
技術領域：
本發明涉及大氣光學領域，具體為一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法。
背景技術：
大氣氣溶膠的譜分布是雷射雷達數據反演定標，光傳輸理論及實驗研究中廣泛使用的物理參量，此外，在氣溶膠物理化學特性的研究中也是一個重要參量，因此對於大氣氣溶膠譜分布的測量顯得非常重要。決定和影響氣溶膠散射、吸收等光學特性的粒子譜分布範圍主要為0.01 - ΙΟμ ,目前氣溶膠0.01 - 10 μ m譜分布的測量有多種方法。主要包括利用掃描遷移粒度儀來測量0.01 -1 μ m的較細粒子的電遷移粒徑譜分布，利用空氣動力學粒度儀來測量0.5 - 20 μ m的較粗粒子的空氣動力學粒徑譜分布。要得到0.01 - 10 μ m譜分布需要掃描遷移粒度儀和空氣動力學粒度儀的聯合同步觀測，而它們所測量的譜分布均非光學粒徑，需要進行轉化，且這些儀器結構均較複雜，維護成本高，使用易受外場測量環境的影響且易產生故障，因此採用這些儀器長時間的進行外場測量實驗以獲取較寬尺度範圍的氣溶膠粒子譜分布就顯得較為困難。

發明內容
針對現有技術存在的問題，本發明提供了一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法。為了達到上述目的，本發明所採用的技術方案為:一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法，其特徵在於:包括以下步驟:(I)、利用積分濁 度計實時測量大氣氣溶膠，並根據理論計算得到7° -170°的總散射係數 O sea, meaured 和90° -170°的後向散射係數 O bksca, meaured
;計算方法描述如下:a)、假定氣溶膠粒子譜分布為兩個對數正態分布的疊加，如下所示:
權利要求
1.一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法，其特徵在於:包括以下步驟: (1)、利用積分濁度計實時測量大氣氣溶膠，並根據理論計算得到7°-170°的總散射係數 O sea, measured 和90° -170°的後向散射係數 O bksca, measured ;計算方法描述如下: a)、假定氣溶膠粒子譜分布為兩個對數正態分布的疊加，如下所示:
2.根據權利要求1所述的一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法，其特徵在於:利用積分濁度計實時測量到的氣溶膠粒子的總散射係數和後向散射係數，以及根據計算得到總散射係數和後向散射係數的理論計算值，當實測值和計算值得總相對偏差最小時，理論計算所選取的譜分布即為實際大氣氣溶膠粒子的譜分布。
全文摘要
本發明公開了一種基於積分濁度計獲取氣溶膠粒子譜分布的方法，通過積分濁度計測量氣溶膠的7°–170°總散射係數和90°–170°後向散射係數，基於氣溶膠粒子譜分布為兩個對數正態分布疊加的假設和米散射理論得到對應角度範圍的總散射係數和後向散射係數的計算值，分析測量值與計算值相對偏差，相對偏差最小時的譜分布，即為氣溶膠粒子的譜分布。
文檔編號G01N21/47GK103196872SQ201310066200
公開日2013年7月10日 申請日期2013年3月2日 優先權日2013年3月2日
發明者張小林, 黃印博, 黃宏華, 朱文越, 饒瑞中 申請人:中國科學院安徽光學精密機械研究所