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Ccd式的間隙測量系統及方法

2023-10-10 00:58:14

專利名稱:Ccd式的間隙測量系統及方法
技術領域:
本發明涉及間隙測量系統,尤其涉及ー種CCD式的間隙測量系統及方法。
背景技術:
LCD (Liquid Crystal Display,液晶顯不器)由 BLU(Back Light Unit,背光模塊)作為發光源並以LCM(Liquid Crystal Module,液晶模塊)顯像,發光源的光學品質(例如輝度、色度,均勻度,漏光,MURA)直接影響IXD的性能,而影響這些指標的變異數主要是IXD的各零組件的材料的結構及間隙,特別是LED與導光板之間的間隙。傳統間隙測量方式為三次元測量,但此種量測方式存在
檢測時間長,且無法在線量測等缺陷,同時,該種檢測方式雖然可以進行隨機抽樣,但無法真正有效率對品質把關,並降低批量性或隨機性不良的風險。

發明內容
本發明的目的在於提供ー種CCD式的間隙測量系統及方法,其能實現對LED與導光板的間隙的快速在線檢測,從而克服了現有技術中的不足。為實現上述發明目的,本發明採用了如下技術方案
ー種CCD式的間隙測量方法,該方法為以至少ニ組數字取像子系統對待測物表面拍攝成像,並將獲得的灰度圖像數據輸入計算機,其後,藉由計算機處理灰度圖像數據,並檢測出待測物中LED和導光板的邊緣,同時,還將灰度圖像於一人機界面上顯示,且在灰度圖像上標不出LED和導光板的邊緣,並顯不出LED與導光板的間距,繼而將LED與導光板的間距與設定參數範圍比較,判定待測物的品質。優選的,該至少兩組數字取像子系統並行固定在一高度可調節的支架上部,該支架下端與一可承載待測物的基座固定連接。優選的,其特徵在幹,所述數字取像子系統包括一 CXD攝像裝置,所述CXD攝像裝置上還設有成像鏡頭和打光光源。優選的,所述計算機內設有ー核心算法模塊,該核心算法模塊對接收到的灰度圖像數據進行濾波處理後,偵測到待測物中LED測試孔的位置,再進行霍夫變換,檢測出LED的邊緣,並對導光板內部微結構的圖形進行排除,檢測出導光板的邊緣,而後,藉由與該核心算法模塊連接的一顯示模塊將灰度圖像於一人機界面上顯示,且在灰度圖像上標示出LED和導光板的邊緣,並顯不出LED與導光板的間距。尤為優選的,所述核心算法模塊和顯示模塊還與一人機接ロ管理平臺連接。優選的,該至少兩組數字取像子系統經交換機與計算機單向連接。ー種CXD式的間隙測量系統,它包括至少ニ組數字取像子系統,每組數字取像子系統均包括一 CXD攝像裝置,所述CXD攝像裝置上設有成像鏡頭和打光光源;該至少ニ組數字取像子系統並行安裝在一高度可調整的支架上,且所述支架安裝在一可承載固定被測物的基座上;該至少ニ組數字取像子系統經ー交換機與計算機連接,所述計算機內設有ー核心算法模塊,該核心算法模塊對從數字取像子系統處接收到的灰度圖像數據進行濾波處理後,偵測到待測物中LED測試孔的位置,再進行霍夫變換,檢測出LED的邊緣,並對導光板內部微結構的圖形進行排除,檢測出導光板的邊緣,而後,藉由與該核心算法模塊連接的一顯示模塊將灰度圖像於一人機界面上顯示,且在灰度圖像上標示出LED和導光板的邊緣,並顯示出LED與導光板的間距,,繼而將LED與導光板的間距與設定參數範圍比較,判定待測物的品質。優選的,所述基座上設有ー被測物固定治具。優選的,所述核心算法模塊和顯示模塊還與一人機接ロ管理平臺連接。優選的,該至少兩組數字取像子系統經交換機與計算機單向連接。本發明的人機接ロ管理平臺定性的提供定量的顯示間隙的數值,當待測物的間隙超出品質規範的設定——即為品質不良(NG),當NG數超過廠內規範則立即停線進行異常排除程序,降低廠內損失與防堵NG產品流至客戶端。 與現有技術相比,本發明的有益效果在於(I)自動尋邊量測;(2)具低成本與簡易且快速的操作優勢;(3)檢測點數可増加取像組件進行點數擴充;(4)適於品管、研發、實驗室及生在線實時檢測。


圖I是本發明一較佳實施例CCD式的間隙測量系統的結構示意 圖2是圖I實施例中的人機界面的示意圖。
具體實施例方式參閱圖1-2,該CXD式的間隙測量系統包括CXD攝像裝置1,CXD攝像裝置2,成像鏡頭3,成像鏡頭4,打光光源5,打光光源6,支架7,基座8,被測物固定治具9,固定模塊10和計算機11; C⑶camera I上設有成像鏡頭3,成像鏡頭3前設有打光光源5 ;(XD camera2上設有成像鏡頭4,成像鏡頭4前設有打光光源6 ;ニ組數字取像子系統經固定模塊10安裝在可調整高度的支架7上,支架7安裝在可承載固定被測物的基座8上,基座8上設有被測物固定治具9 ;ニ組數字取像子系統經交換機與計算機11連接;計算機11的硬碟中設有核心算法模塊,該核心算法模塊與一作為間隙測量裝置操作平臺的人機接ロ管理連接;該核心算法模塊採用自動尋邊算法尋找被測間隙的邊緣,轉換結果由人機界面立即顯示。檢測吋,首先支架7根據基座8上平面光源機構的厚度,調整成像鏡頭3和成像鏡頭4的前緣與待測物表面的相對距離;然後ニ組數字取像子系統與交換機連接形成ー單向的數據傳送路徑,將數據傳送給計算機11 ;接著計算機11內的核心算法模塊將拍到的灰度圖像進行處理,檢測出LED和導光板的邊緣,在人機界面上顯示拍到的灰度圖像,並在圖像上標示出LED和導光板的邊緣,再顯示LED與導光板的間距;最後人機接ロ管理平臺供使用者依其量測需求在此接ロ設定量測參數與品質的允收範圍,比較的結果若落在品質的允收徂圍內則認定為良品,反之為NG品。其中人機界面及人機接ロ管理平臺為ー執行文件並以窗ロ方式顯示,儲存於計算機11的硬碟,其包含有與取像系統數量一致的影像顯示組件21、與取像系統一致的間隙測量結果顯示組件22和品質判斷組件23 ;影像顯示組件21,顯示數字取像子系統鏡頭視角範圍內的影像,經由自動的選點方式定義出量測位置;當間隙測量結果顯示組件22的數值不落在使用者設定的品質允收區間,品質判斷組件23即以紅色方塊警示為NG,反之則以綠色方塊表示Pass。只要是微小間隙快速即可運用本創作之間隙測量系統以評斷品質的程度並分類Pass或是NG。本發明所提出的CXD式的間隙測量系統可通過多次取像降低隨機誤差,並以特性化係數的方式修正系統誤差,透過窗ロ化的人機接ロ,其操作參數均可經由該計算機11加以設定,使用者能夠輕易的使用並快速的了解待測物品的光學品質,表I為該種間隙測量系統的規格表。
權利要求
1.ー種CXD式的間隙測量方法,其特徵在於,該方法為以至少ニ組數字取像子系統對待測物表面拍攝成像,並將獲得的灰度圖像數據輸入計算機,其後,藉由計算機處理灰度圖像數據,並檢測出待測物中LED和導光板的邊緣,同時,還將灰度圖像於一人機界面上顯示,且在灰度圖像上標示出LED和導光板的邊緣,並顯示出LED與導光板的間距,繼而將LED與導光板的間距與設定參數範圍比較,判定待測物的品質。
2.根據權利要求I所述的CCD式的間隙測量方法,其特徵在於,該至少兩組數字取像子系統並行固定在一高度可調節的支架上部,該支架下端與一可承載待測物的基座固定連接。
3.根據權利要求I或2所述的CCD式的間隙測量方法,其特徵在於,所述數字取像子系統包括一 CXD攝像裝置,所述CXD攝像裝置上還設有成像鏡頭和打光光源。
4.根據權利要求I所述的CCD式的間隙測量方法,其特徵在於,所述計算機內設有ー核心算法模塊,該核心算法模塊對接收到的灰度圖像數據進行濾波處理後,偵測到待測物中LED測試孔的位置,再進行霍夫變換,檢測出LED的邊緣,並對導光板內部微結構的圖形進行排除,檢測出導光板的邊緣,而後,藉由與該核心算法模塊連接的ー顯示模塊將灰度圖像於一人機界面上顯示,且在灰度圖像上標示出LED和導光板的邊緣,並顯示出LED與導光板的間距。
5.根據權利要求4所述的CCD式的間隙測量方法,其特徵在於,所述核心算法模塊和顯示模塊還與一人機接ロ管理平臺連接。
6.根據權利要求I或2所述的CCD式的間隙測量方法,其特徵在幹,該至少兩組數字取像子系統經交換機與計算機單向連接。
7.一種CXD式的間隙測量系統,其特徵在幹,它包括至少ニ組數字取像子系統,每組數字取像子系統均包括一 CXD攝像裝置,所述CXD攝像裝置上設有成像鏡頭和打光光源;該至少ニ組數字取像子系統並行安裝在一高度可調整的支架上,且所述支架安裝在一可承載固定被測物的基座上;該至少ニ組數字取像子系統經ー交換機與計算機連接,所述計算機內設有ー核心算法模塊,該核心算法模塊對從數字取像子系統處接收到的灰度圖像數據進行濾波處理後,偵測到待測物中LED測試孔的位置,再進行霍夫變換,檢測出LED的邊緣,並對導光板內部微結構的圖形進行排除,檢測出導光板的邊緣,而後,藉由與該核心算法模塊連接的一顯示模塊將灰度圖像於一人機界面上顯示,且在灰度圖像上標示出LED和導光板的邊緣,並顯示出LED與導光板的間距,,繼而將LED與導光板的間距與設定參數範圍比較,判定待測物的品質。
8.根據權利要求7所述的CCD式的間隙測量系統,其特徵在於,所述基座上設有ー被測物固定治具。
9.根據權利要求7所述的CCD式的間隙測量系統,其特徵在於,所述核心算法模塊和顯示模塊還與一人機接ロ管理平臺連接。
10.根據權利要求7所述的CCD式的間隙測量系統,其特徵在於,該至少兩組數字取像子系統經交換機與計算機單向連接。
全文摘要
本發明公開了一種CCD式的間隙測量系統及方法,它包括二組數字取像子系統,每一組數字取像子系統包括一CCD攝像機,CCD攝像機上設有成像鏡頭和打光光源;二組數字取像子系統經一固定模塊安裝在一可調整高度的支架上,支架安裝在一可承載固定被測物的基座上;二組數字取像子系統經一交換機與計算機連接;計算機的硬碟中設有核心算法模塊,核心算法模塊由一人機接口管理並做為間隙測量裝置的操作平臺;核心算法模塊採用自動尋邊算法尋找被測間隙的邊緣,轉換結果由人機接口立即顯示。本發明可自動尋邊量測;成本低與操作簡易且快速;檢測點數可增加取像組件進行點數擴充;適於品管、研發、實驗室及生在線實時檢測。
文檔編號G01N21/88GK102661715SQ20121018739
公開日2012年9月12日 申請日期2012年6月8日 優先權日2012年6月8日
發明者許照林 申請人:蘇州富鑫林光電科技有限公司

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