能正確生成時標的光碟裝置的製作方法
2023-09-23 04:12:05 3
專利名稱：能正確生成時標的光碟裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及能夠基於光碟上形成的相位信息，正確生成記錄和/或再現信號時的時標的光碟裝置。
最近，在標準化的AS-MO(Advanced Storaged Magneto OpticalDisk)規格中，作為生成用於數據的記錄或再現的時標的基準的精密時標痕以預定的周期形成。該精密時標痕，具體地說，通過在凸區上以預定的周期設置具有大約3～4數據通道位(data channel bit)長度的凹槽，在凹槽上以預定的周期設置具有大約3～4數據通道位長度的凸區形成。此時，凹槽的精密時標痕，在光-磁記錄介質基片的一側表面上通過雙光束使凹槽成形時，使雙光束移動到在凹槽的兩個鄰側形成的凸區來形成。凸區的精密時標痕，也和凹槽的精密時標痕一樣，通過使雙光束移動到兩個相鄰凹槽的位置來形成。
在AS-M0規格的光-磁碟中，從光-磁碟檢出精密時標痕來生成精密時標痕檢出信號。然後，與根據精密時標痕檢出信號生成的時標同步地進行信號的記錄和再現。
但是，存在這樣的問題由於在光-磁碟成形等場合精密時標痕之間形成傷痕，從光-磁碟檢出的精密時標痕檢出信號中包含傷痕的信號成分，從而不能正確生成時標。
也就是，如果在精密時標痕之間形成傷痕，精密時標痕檢出信號就變成如
圖19所示的信號波形。信號成分S1，S3，S4是精密時標痕的信號成分，信號成分S2是傷痕的信號成分。由於雷射掃描凹槽時和掃描凸區時信號成分S1，S3，S4的波形是相反的，因此，為了正確生成時標必須認知雷射正在掃描的是凹槽還是凸區。由此，將信號成分S1，S3，S4用兩個電平L1，L2進行比較，通過由哪個電平進行比較的信號先被檢出來確定雷射正在掃描的是凹槽還是凸區。而且，電平L1定為由保持電路保持的信號成分S1的上峰值(peakvalue)PA的大約二分之一。另外，電平L2定為由保持電路保持的信號成分S1的下峰值(bottom value)PB的大約二分之一。即使從保持信號成分S1的上峰值PA和下峰值PB的定時開始經過很長時間，保持電路也大致跟蹤著上峰值PA和下峰值PB。
如此，當信號成分S1和信號成分S3之間的傷痕的信號成分S2輸入到保持電路時，由於信號成分S2的上峰值和下峰值分別比精密時標痕的信號成分S1，S3，S4的上峰值和下峰值大，因此，由上峰值確定的電平L1轉換成L3，由下峰值確定的電平L2轉換成L4。由於保持電路跟蹤上峰值或下峰值，電平L3保持比信號成分S3，S4的上峰值還大的電平，電平L4保持比信號成分S3，S4的下峰值還小的電平。其結果，如果存在根據傷痕的信號成分S2，就不能比較其以後的根據精密時標痕的信號成分，不能正確地生成時標。
本發明的光碟裝置，是一種在包含作為時標生成基準的精密時標痕的光碟上與時標同步地進行記錄和/或再現信號的光碟裝置，其中設有將雷射照射於光碟，並檢出其反射光的光學頭；用預定的電平比較由光學頭從精密時標痕檢出的精密時標痕信號來生成精密時標痕檢出信號的精密時標痕檢出電路；以及與精密時標痕檢出信號同步，且將精密時標痕檢出信號分頻成預定份數中的一份，從而生成時標的時標生成電路；精密時標痕檢出電路，在精密時標痕信號的n(n為自然數)個信號成分中，將想要比較的信號成分設定為FCMk(l≤k≤n)、將在信號成分FCMk前被比較的信號成分設定為FCMk-1、將信號成分FCMk-1的比較電平設定為Lk-1、將信號成分FCMk的振幅設定為Pk時，通過用對Lk-1的加權值比對Pk的加權值大的Lk- 1和Pk的加權平均來確定的比較電平Lk對信號成分FCMk進行比較，並得出比較過的比較信號，由此生成精密時標痕檢出信號。
本發明的光碟裝置中，用將精密時標痕信號的已比較過的信號成分的加權增大的加權平均算出的比較電平對各信號成分進行比較，並通過輸入該比較信號檢出精密時標痕信號的信號成分。然後，如果檢出信號成分，根據精密時標痕信號生成精密時標痕檢出信號，進行與該生成的時標同步的信息的記錄和/或再現。
因此，根據本發明，即使是在光碟上形成傷痕，也能夠正確地生成精密時標痕檢出信號。
最好，光碟裝置的精密時標痕檢出電路生成用設定在信號成分FCMk的上峰值側的第一電平比較信號成分的第一比較信號和用設定在信號成分FCMk的下峰值側的第二電平比較信號成分的第二比較信號；根據得出的第一或第二比較信號生成精密時標痕檢出信號；第一電平，是用在信號成分FCMk-1的上峰值側設定的比較電平LPk-1和信號成分FCMk的上峰值PPk的加權平均來確定的電平；第二電平，是用在信號成分FCMk-1的下峰值側設定的比較電平LBk-1和信號成分FCMk的下峰值PBk的加權平均來確定的電平。
精密時標痕信號的各信號成分，用在精密時標痕信號的上峰值側設定的電平和在下峰值側的設定電平進行比較。而且，在兩個比較信號中，只要任一方被檢出，就生成精密時標痕檢出信號。
因此，根據本發明，即使在精密時標痕信號中出現基準線的上側或下側信號的丟失，也能夠正確地生成精密時標痕檢出信號。
最好，光碟裝置的精密時標痕檢出電路包括用第一電平對信號成分FCMk進行比較生成第一比較信號的第一比較器；用第二電平對信號成分FCMk進行比較生成第二比較信號的第二比較器；根據信號成分FCMK保持上峰值PPk的第一保持電路；基於信號成分FCMk保持下峰值PBk第二保持電路；用預定的電平對信號成分FCMk進行比較生成第三比較信號的第三比較器；以及信號處理電路，該電路通過用比較電平LPk-1和上峰值PPk的加權平均來計算第一電平，通過用比較電平LBk-1和下峰值PBk的加權平均來計算第二電平，當第一或第二的比較信號輸入後即基於上峰值PPk和下峰值PBk計算預定的電平，並基於第三比較信號生成精密時標痕檢出信號。
在精密時標痕檢出電路中，用在精密時標痕信號的上峰值側設定的電平和在下峰值側設定的電平對精密時標痕信號的各信號成分進行比較。而且，兩個比較信號中有一方被檢出，就用預定的電平對精密時標痕信號進行比較，生成與精密時標痕信號和基準線交叉的位置同步的精密時標痕檢出信號。
因此，根據本發明，即使精密時標痕信號中出現基準線上側或下側信號的丟失，也能夠正確地生成與精密時標痕的中心位置同步的精密時標痕檢出信號。
光碟裝置的光學頭，最好用切向推挽法來檢出精密時標痕信號。
精密時標痕信號，作為光碟切向上的兩個雷射強度差而被檢出。
因此，根據本發明，在構成時標生成基準的相位信息被以凹凸形狀寫入光碟基片表面的光碟中能夠正確地生成時標。
圖2是表示記錄數據列的格式的略圖。
圖3是實施例1的光碟裝置的框圖。
圖4是再現來自預格式化區、用戶數據區的數據的說明圖。
圖5是圖3所示光碟裝置的FCM檢出電路的框圖。
圖6是圖5所示的FCM檢出電路信號的時序圖。
圖7是精密時標痕信號的波形圖。
圖8是生成精密時標痕檢出信號和時標的說明圖。
圖9是包含傷痕的信號成分的精密時標痕信號的波形圖。
圖10是表示圖5所示的DSP的處理例程的流程圖。
圖11是圖10所示的流程圖的限制電平計算的流程圖。
圖12是PLL電路的框圖。
圖13是說明地址信息檢出和地址檢出信號生成的示圖。
圖14是定時信號生成的說明圖。
圖15是說明由光碟裝置在光-磁記錄介質上記錄的記錄數據列的示圖。
圖16是本發明實施例中格式化電路的概略框圖。
圖17是說明圖16所示的定時信號發生電路中的532上計計數器和39上計計數器動作的信號時序圖。
圖18是圖16所示的定時信號發生電路生成的定時信號的時序圖。
圖19是說明傳統技術的問題點的精密時標痕信號的波形圖。
參照圖1，對作為本發明的光碟裝置記錄和/或再現數據對象的光-磁記錄介質進行說明。在光-磁記錄介質100上，等間隔地布置作為記錄單位的幀，各幀由39個段S0，S1，S2，…，S38構成。
光-磁記錄介質100，具有在徑向上交替形成凹槽1和凸區2的平面結構，凹槽1和凸區2以螺旋狀或同心圓狀布置。而且，各段的長度為532DCB(Data Channel Bit數據通道位)，在各段的前端，形成表示記錄和再現數據的時標的相位信息的精密時標痕(FCMFineClock Mark)3。該精密時標痕3，在凹槽1上每一定間隔設置一定長度的凸區，在凸區2上每一定間隔設置一定長度的凹槽而形成。而且，幀的前端即段S0上，接續著精密時標痕3，在製造光-磁記錄介質100時由偏擺痕4～9預先設計表示光-磁記錄介質100上的地址的地址信息。而且，光-磁記錄介質100上有磁性層形成，以覆蓋預格式化的凹槽1、凸區2、精密時標痕3以及偏擺痕4～9。然後，通過在磁性層上照射雷射，施加經記錄信號調製的磁場將信號記錄在光-磁記錄介質100上。另外，通過在磁性層上照射預定強度的雷射，檢出其反射光使信號從光-磁記錄介質100再現。
偏擺痕4和偏擺痕5、偏擺痕6和偏擺痕7、以及偏擺痕8和偏擺痕9，形成在凹槽1的互為對側的側壁上，記錄相同的地址信息。這樣的地址信息的記錄方式稱為單側交錯方式，通過採用單側交錯方式，即使在光-磁記錄介質100發生傾斜等使雷射從凹槽1或凸區2的中心偏離情況下，也能夠正確地檢出地址信息。
記錄地址信息的區域和形成有精密時標痕3的區域不作為記錄用戶數據的區域而使用。另外，段Sn由精密時標痕3和用戶數據n-1構成。
參照圖2，對段的詳細結構進行說明。構成幀的各段S0、S1、S2、…、S38中，段S0是在光-磁記錄介質100上被預先格式化的地址段，從段S1到段S38是作為用戶數據的記錄區域而確保的數據段。段S0，由12DCB的精密時標痕區域FCM和520DCB的地址構成，段S1由12DCB的精密時標痕區域FCM、4DCB的寫前符(pre-write)、512DCB的數據、以及4DCB的寫後符(post-write)構成。
寫前符表示數據寫入的開始，例如由預定的碼型(pattern)「0011」構成，寫後符表示數據的結束，例如由預定的碼型「1100」構成。
並且，段S1的用戶數據區域中，設置再現時為了對數據的位置進行確認、對再現時標的位置進行修正、對雷射功率進行調整等固定碼型即標頭。記錄在標頭中的固定碼型是直流成分被抑制的結構(也稱為「無DC結構」，下同。)，例如，以2T的間隔形成預定個數為2T的域，以8T的間隔形成預定個數為8T的域。
而且，通過調整進行相位補償，使再現2T的域而得出的模擬信號的採樣定時與用於記錄和再現數據的時標相位一致；並適當調整雷射功率，使再現2T的域和8T的域，使2T的域的再現信號強度相對8T的域的再現信號強度的比為50％以上。並且，通過再現8T的域確認再現信號二值化後的數位訊號的位置是否與預想的8T的域的數位訊號的位置一致，來對再現時的數據的位置進行確認。另外，寫前符、寫後符以及標頭的各碼型，在用戶數據記錄時與用戶數據連續地被記錄。
段S2～S38，由12DCB的精密時標痕區域FCM、4DCB的寫前符、512DCB的數據、4DCB的寫後符構成。
再有，如精密時標痕FCM和地址等被預先格式化的區域稱為「預格式化區」。
參照圖3，對本發明的光碟裝置進行說明。光碟裝置200包括主軸馬達101、光學頭102，精密時標痕檢出電路(FCM檢出電路)103、PLL電路104、地址檢出電路105、BPF106、AD轉換器107、波形均衡電路108、維特比解碼電路109、無格式化電路110、數據解調電路111、BCH解碼器112、標頭檢出電路113、控制器114、定時信號發生電路115、BCH編碼器116、數據調製電路117、格式化電路126、磁頭驅動電路123、雷射驅動電路124、磁頭125。格式化電路126包括碼型發生電路119和選擇器電路120。
主軸馬達101，使光-磁記錄介質100以預定的旋轉數旋轉。光學頭102，將雷射照射在光-磁記錄介質100上，檢出其反射光。FCM檢出電路103，通過後述的方法使光學頭102檢出表示光-磁記錄介質100的精密時標痕3的位置的精密時標痕檢出信號FCMT，並使該檢出的精密時標痕檢出信號FCMT輸出到PLL電路104和定時信號發生電路115。
PLL電路104，根據從FCM檢出電路103輸出的精密時標痕檢出信號FCMT生成時標CK，並將該生成的時標CK輸出到地址檢出電路105、AD轉換器107、波形均衡電路108、維特比解碼電路109、無格式化電路110、數據解調電路111、控制器114、定時信號發生電路115、數據調製電路117、以及格式化電路126的碼型發生電路119。
地址檢出電路105，由光學頭102輸入從光-磁記錄介質100的段S0用徑向推挽法檢出的地址信號ADA，與從PLL電路104輸入的時標CK同步地檢出地址信息AD，同時在地址信息的最終位置生成表示檢出地址信息AD的地址檢出信號ADF。然後，將所檢出的地址信息AD輸出到控制器114，並將生成的地址檢出信號ADF輸出到標頭檢出電路113和定時信號發生電路115。
BPF106，將從光-磁記錄介質100再現的再現信號RF的高頻區和低頻區濾除。AD轉換器107，與來自PLL電路104的時標CK同步地將再現信號RF從模擬信號轉換到數位訊號。
波形均衡電路108，與來自PLL電路104的時標CK同步地在轉換成數位訊號的再現信號RF上進行PR(1，1)波形均衡。即，進行適當的均衡以使檢出信號前後的數據1對1地進行波形幹涉。
維特比解碼電路109，與來自PLL電路104的時標CK同步地將再現信號RF從多值轉換到二值，將該轉換的再現信號RF輸出到無格式化電路110和標頭檢出電路113。
無格式化電路110，與從標頭檢出電路113輸入的定時信號同步地除去記錄在光-磁記錄介質100的用戶數據區域的寫前符、寫後符及標頭。
數據解調電路111，與來自PLL電路104的時標CK同步地輸入無格式化的再現信號RF，對記錄時實施的數字調製進行解調。
BCH解碼器112，對解調的再現信號進行錯誤改正，作為再現數據輸出。標頭檢出電路113，根據從控制器114輸入的地址信息AD和從地址檢出電路105輸入的地址檢出信號ADF檢出再現信號中包含的標頭的位置，與來自PLL電路104的時標CK同步地從再現信號生成寫前符和標頭的定時信號。然後，將生成的標頭定時信號TW輸出到無格式化電路110和數據解調電路111。
控制器114，接收由地址檢出電路105檢出的地址信息AD，根據其地址信息AD控制伺服機構(未圖示)使光學頭102讀寫所要的位置。並且，控制器114，與來自PLL電路104的時標CK同步地將地址信息AD輸出到標頭檢出電路113，同時控制定時信號發生電路115。
定時信號發生電路115，根據來自控制器114的控制，基於從FCM檢出電路103輸入的精密時標痕檢出信號FCMT以及從地址檢出電路105輸入的地址檢出信號ADF，與來自PLL電路104的時標CK同步地生成定時信號SS，並將該生成的定時信號SS輸出到格式化電路126的碼型發生電路119和選擇電路120、磁頭驅動電路123以及雷射驅動電路124。
BCH編碼器116，在記錄數據上附加錯誤改正符號。數據調製電路117，將記錄數據調製成預定的方式。格式化電路126，與來自PLL電路104的時標CK同步並基於來自定時信號發生電路115的定時信號SS進行格式化，以給來自數據調製電路117的記錄數據追加寫前符、標頭以及寫後符，從而使記錄數據與用戶數據區域匹配。然後，格式化電路126將該格式化的記錄數據和應記錄在預格式化區域的碼型數據，基於來自定時信號發生電路115的定時信號SS選擇性地輸出到磁頭驅動電路123。
碼型發生電路119，與來自PLL電路104的時標CK同步地生成作為應記錄在預格式化區域的碼型數據、寫前符、標頭及寫後符的碼型數據，並將該生成的數據碼型輸出到選擇電路120。
選擇電路120，基於來自定時信號發生電路115的定時信號SS，選擇來自數據調製電路117的記錄數據和來自碼型發生電路119的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。
磁頭驅動電路123，與來自定時信號發生電路115的定時信號SS的各定時同步，並且，根據來自格式化電路126的輸出驅動磁頭125。
雷射驅動電路124，基於來自定時信號發生電路115的定時信號SS，驅動光學頭102中的半導體雷射器(未作圖示)。
磁頭125，由磁頭驅動電路123驅動，將通過記錄數據或數據碼型磁場調製過的磁場加到光-磁記錄介質100上。
參照圖4，對來自光-磁記錄介質100的地址信息AD、精密時標痕信號FCM以及光-磁信號RF的檢出進行說明。區域10和區域30構成在製造光-磁記錄介質100時被預格式化的預格式化區域。區域10由偏擺痕4～7和精密時標痕3形成。另外，區域30由精密時標痕3形成。區域20構成用戶數據區域，用來記錄用戶數據。
將雷射照射在光-磁記錄介質100上，檢出該反射光的光學頭102中的光檢出器1020中有6個檢出區域1020A、1020B、1020C、1020D、1020E與1020F。區域A1020A和區域B1020B，區域C1020C和區域D1020D，以及區域E1020E和區域F1020F在光-磁記錄介質1 00的切線方向DR上布置；區域A1020A和區域D1020D，以及區域B1020B和區域C1020C在光-磁記錄介質100的徑向方向DR1上布置。
區域A1020A、區域B1020B、區域C1020C以及區域D1020D，分別檢出在照射於光-磁記錄介質100上的雷射LB的A區域、B區域、C區域以及D區域的反射光。另外，區域E1020E和和區域F1020F，將雷射LB在全部A區域、B區域、C區域以及D區域上反射的、並經由光學頭102中的渥拉斯頓稜鏡(未作圖示)在偏振面不同的兩個方向上衍射的雷射檢出。
記錄在用戶數據區域即區域20的光-磁信號的再現信號RF，通過計算由光檢出器1020的區域E1020E檢出的雷射強度[E]與由區域F1020F檢出的雷射強度[F]之間的差進行檢出。即，電路40的差分器400計算由區域E1020E檢出的雷射強度[E]與由區域F1020F檢出的雷射強度[F]之間的差分，並輸出再現信號RF＝[E]-[F]。
通過構成預格式化區域的區域10的偏擺痕4～7記錄的地址信息AD的再現信號，由徑向推挽法檢出，並被作為從由區域A1020A檢出的雷射強度[A]與由區域B1020B檢出的雷射強度[B]之和減去由區域C1020C檢出的雷射強度[C]與由區域D1020D檢出的雷射強度[D]之和進行檢出。即，地址信息AD，通過構成電路50的加法器500、501和減法器502被檢出。加法器500輸出由區域A1020A檢出的雷射強度[A]與由區域B1020B檢出的雷射強度[B]之和[A+B]。加法器501輸出由區域C1020C檢出的雷射強度[C]與由區域D1020D檢出的雷射強度[D]之和[C+D]。而減法器502從加法器500的輸出[A+B]減去加法器501的輸出[C+D]，輸出地址信息的再現信號AD＝[A+B]-[C+D]。
另外，構成預格式化區域的區域30的精密時標痕FCM，由切向推挽法檢出，並被作為從由區域A1020A檢出的雷射強度[A]與由區域D1020D檢出的雷射強度[D]之和減去由區域B1020B檢出的雷射強度[B]與由區域C1020C檢出的雷射強度[C]之和進行檢出。即，精密時標痕FCM，通過構成電路50的加法器503、504和減法器505被檢出。加法器503輸出由區域A1020A檢出的雷射強度[A]與由區域D1020D檢出的雷射強度[D]之和[A+D]。加法器504輸出由區域B1020B檢出的雷射強度[B]與由區域C1020C檢出的雷射強度[C]之和[B+C]。而減法器505從加法器503的輸出[A+D]減去加法器504的輸出[B+C]，輸出精密時標痕的再現信號FCM＝[A+D]-[B+C]。
參照圖5，圖3中所示的FCM檢出電路103中包括放大器(AMP(Amplifier))1031，VCA(Voltage Controlled Amplifier電壓控制放大器)1032，比較器1033、1034、1047，FCM上峰值限制電平設定電路1035，FCM下峰值限制電平設定電路1036，FCM上峰值保持電路1037，FCM下峰值保持電路1038，DA轉換器1039、1040、1041A、1044A，AD轉換器1042A、1043A，DSP(Digital SignalProcesser數位訊號處理器)1045，以及基準限制電平設定電路1046。
放大器1031，將光學頭102檢出的精密時標痕信號FCM放大到預定的電平。另外，VCA1032按照從DSP1045輸出並由DA轉換器1041A轉換成模擬信號的電壓值，將由放大器1031放大的精密時標痕信號FCM進一步放大。
參照圖6，比較器1033用通過FCM上峰值限制電平設定電路1035設定的電平LP，對精密時標痕信號FCM進行比較，並將比較後的比較信號CP1輸出到DSP1045。另外，比較器1034用通FCM下峰值限制電平設定電路1036設定的電平LB對精密時標痕信號FCM進行比較，並將比較後的比較信號CP2輸出到DSP1045。
再參照圖5，FCM上峰值限制電平設定電路1035，根據由DSP1045計算的電平設定比較精密時標痕信號FCM的比較電平。另外，FCM下峰值限制電平設定電路1036，根據由DSP1045計算的電平設定比較精密時標痕信號FCM的另一比較電平。
FCM上峰值保持電路1037，保持精密時標痕信號FCM的上峰值。FCM下峰值保持電路1038，保持精密時標痕信號FCM的下峰值。DA轉換器1039、1040將用以設定從DSP1045輸出的比較電平的數位訊號轉換成模擬信號。DA轉換器1041A將用以設定從DSP1045輸出的放大率的數位訊號轉換成模擬信號。AD轉換器1042A、1043A，分別將由FCM上峰值保持電路1037、FCM下峰值保持電路1038保持的保持值從模擬信號轉換到數位訊號。
基準限制電平設定電路1046，設定比較器1047的比較電平。比較器1047根據由基準限制電平設定電路1046設定的電平，對精密時標痕信號FCM進行比較。
參照圖5和圖7，DSP1045將要進行比較的精密時標痕信號FCM的信號成分22的上峰值PK，由FCM上峰值保持電路1037和AD轉換器1042A轉換成數位訊號進行輸入，將信號成分22的下峰值BTM，由FCM下峰值保持電路1038和AD轉換器1043A轉換成數位訊號進行輸入。而且，DSP1045利用緊接在信號成分22之前的信號成分21被比較後的比較電平LP1和信號成分22的上峰值PK，通過加權平均計算信號成分22的比較電平LP2。並且，DSP1045利用緊接比較信號成分22之前的信號成分21被比較後的比較電平LB1和信號成分22的下峰值BTM，通過加權平均計算信號成分22的比較電平LB2。此時，比較電平LP2通過LP2＝0.5×((3×LP1+PK)/4) …(1)進行計算，比較電平LB2通過LB2＝0.5×((3×LB1+BTM)/4)…(2)進行計算。也就是，以對要進行比較的緊接於信號成分22前的信號成分21的比較電平LP1、LB1的加權比對要進行比較的信號成分22的上峰值PK或下峰值BTM的加權大的方式來計算加權平均，並在該計上計果乘上0.5來計算比較電平LP2、LB2。
比較電平LP1、LB1是分別通過上述式(1)、(2)計算後的結果。因此，本發明的特徵在於以增大對緊接前面的信號成分進行比較後的比較電平的加權的方式，確定要進行比較的信號成分的比較電平。當在構成精密時標痕信號FCM的n(n為自然數)個信號成分FCMn中，假設要進行比較的信號成分為FCMk(k為滿足1≤k≤n的自然數)，緊接信號成分FCMk前的信號成分為FCMk-1、信號成分FCMk的上峰值為PKk、信號成分FCMk-1的比較電平為LPk-1、對應於比較電平LPk-1的加權為a、對應於上峰值PKk的加權為b(a》b)時，在信號成分FCMk的上峰值側設定的比較電平LPk通過LPk＝0.5×((a×LPk-1+b×PKk)/(a+b)) …(3)進行計算。另外，在信號成分FCMk的下峰值側設定的比較電平LBk也可以通過式(3)進行計算。
再有，本發明中，加權a、b在a+b為4～8的範圍內。而且，最好設定成b＝1。
由此，即使在精密時標痕信號FCM中包含由傷痕引起的信號成分，通過在基準線與上峰值PK之間、或基準線與下峰值BTM之間設定的電平LP或LB，比較器1033或1034也可對傷痕引起的信號成分被連續輸入的信號成分進行比較。
DSP1045分別將計算過的電平LP2、LB2輸出到DA轉換器1039、1040。
另外，DSP1045，若從比較器1033和比較器1034中任一方輸入比較信號CP1或比較信號CP2，則停止另一方的比較信號CP2或CP1的輸入，並基於用來生成先輸入的比較信號CP1或CP2的精密時標痕信號FCM，生成精密時標痕檢出信號。也就是，當雷射掃描光-磁記錄介質100的凹槽1時，精密時標痕信號FCM變成如圖6所示的波形，因此，比較信號CP1被先輸入到DSP1045。另一方面，雷射掃描凸區2時，精密時標痕信號FCM變成與圖6中所示極性相反的波形，因此，比較信號CP2被先輸入到DSP1045。
比較信號CP1被先輸入時，DSP1045根據比較電平LP，計算用以求出精密時標痕信號FCM與基準線交叉的點P的基準限制電平。即，計算基準線的電平。而且，DSP1045將計算的基準限制電平輸出到DA轉換器1044。DA轉換器1044，將基準限制電平從數位訊號轉換到模擬信號，並輸出到基準限制電平設定電路1046。基準限制電平設定電路1046，將輸入的基準限制電平在比較器1047上設定。比較器1047用基準限制電平對輸入的精密時標痕信號FCM進行比較，並將圖8中所示的比較信號FCMC輸出到DSP1045。比較信號FCMC在點P位置上進行極性切換。
這樣，DSP1045，使比較信號FCMC反相，生成檢出窗信號(detection window signal)DEWIN。檢出窗信號DEWIN是振幅為6DCB的信號。DSP1045，通過計算反相信號/FCMC和檢出窗信號DEWIN之間的邏輯積生成信號FCMP。而且，DSP1045與信號FCMP的上升沿同步，並且，生成振幅為1DCB的精密時標痕檢出信號FCMT。
當從比較器1034比較信號CP2被先輸入到DSP1045時，DSP1045也以跟上述的方法相同的方法，生成精密時標痕檢出信號FCMT。再有，比較信號CP2被先輸入到DSP1045時，輸入波形與圖6所示波形反相的精密時標痕信號，因此，從比較器1047輸入到DSP1045的比較信號與信號/FCMC波形相同。因此，DSP1045不經反相地計算從比較器1047輸入的比較信號與檢出窗信號DEWIN之間的邏輯積。
參照圖9，DSP1045通過上述的加權平均來計算比較器1033的比較電平，由此，即使在精密時標痕信號的信號成分S1與信號成分S3之間包含傷痕引起的信號成分S2，比較器1033的比較電平也設定在信號成分S3～S5的基準線與上峰值之間。即，即使由保持電路保持的上峰值從L1變大到L3，比較器1033的比較電平只是從L2轉換到L5、L6，不會比信號成分S3～S6的上峰值更大。因此，即使在光-磁記錄介質100中有傷痕，也能正確地檢出精密時標痕信號FCM。
參照圖10，對DSP1045的處理例程進行說明。DSP1045，對從光學頭102發射的雷射的焦距伺服進行計算(步驟S10)，雷射的焦距伺服啟動後，對雷射的跟蹤伺服進行計算(步驟S20)。而且，根據計上計果，進行了雷射的跟蹤伺服後，以每16次中1次的比例進行FCM限制電平(上峰值)的計算(步驟S30)、FCM限制電平(下峰值)的計算(步驟S40)以及線(thread)伺服的計算(步驟S50)。DSP1045，具有每10μsec進行計算的處理能力，每160μsec檢出精密時標痕信號FCM的各信號成分，因此，從檢出某一信號成分到檢出其次的信號成分本來可進行16次的計算，但是，由於要進行如步驟S30、S40、S50那樣的各種計算，因此以每16次中1次的比例進行限制電平的計算。並且，經過FCM限制電平(上峰值)的計算(步驟S30)、FCM限制電平(下峰值)的計算(步驟S40)、以及線伺服的計算(步驟S50)後，處理例程結束(步驟S60)。
參照圖11，對FCM限制電平(上峰值)的計算的流程圖進行說明。計算開始時(步驟S31)，經由FCM上峰值保持電路1037和AD轉換器1042取得上峰值PK(步驟S32)，計算FCM(k)＝(3×LPk-1+PK)/4(步驟S33)。然後，計算LPk＝0.5×FCM(k)(步驟S34)，FCM限制電平LPk從數位訊號轉換到模擬信號(步驟S35)。然後，結束計算(步驟S36)。
在計算FCM限制電平(下峰值)的場合，同樣按照圖11中所示的流程圖計算。
參照圖12，就圖3所示的構成光碟裝置200的PLL電路104結構進行說明。PLL電路104中包括相位比較電路1041、LPF1042、電壓控制振蕩器(VCO)1043和1/532分頻器1044。1/532分頻器1044將從電壓控制振蕩器(VCO)1043輸出的時標CK分頻成1/532。相位比較器1041將通過1/532分頻器1044分頻的時標CK1的相位，與精密時標痕檢出信號FCMT的相位進行比較，產生與該相位差對應的誤差電壓。因此，該PLL電路104，與精密時標痕檢出信號FCMT同步，並生成具有精密時標痕檢出信號FCMT1/532的周期的時標CK。
FCM檢出電路103將通過上述方法檢出的精密時標痕檢出信號FCMT輸出到PLL電路104。PLL電路104，如上述參照圖12進行說明的那樣與精密時標痕檢出信號FCMT同步，並生成將精密時標痕檢出信號FCMT分頻成1/532的時標CK(參照圖8)。
參照圖13，對地址檢出電路105中的地址信息的檢出和地址檢出信號的生成進行說明。光學頭102，如上述參照圖4進行說明的那樣通過徑向推挽法檢出用偏擺痕記錄的地址信號ADA，地址信號ADA被輸入到地址檢出電路105。地址檢出電路105將地址信號ADA二值化而生成二值信號ADD，並基於二值信號ADD檢出地址信息AD。與此同時，地址檢出電路105，基於二值信號ADD和地址信息AD，與來自PLL電路104的時標CK同步地生成表示地址信號的最終位置F的地址檢出信號ADF。該地址檢出信號ADF通過確定包含地址信息的最終位置F的固定長度T來生成。也就是，對從與二值信號ADD的最初位置同步的時標CK的成分到與地址信號的最終位置F同步的時標CK的成分進行計數。而且，將最終位置F的計數值設為K，生成地址檢出信號ADF，以便在以計數值K為中心，前後偏離m個計數的計數值K-m與計數值K+m之間，生成具有固定長度T的脈衝成分。
參照圖14，對定時信號發生電路115的定時信號SS的生成進行說明。從地址檢出電路105輸入地址檢出信號ADF、從FCM檢出電路103輸入精密時標痕檢出信號FCMT、從PLL電路104輸入時標CK，定時信號發生電路115時，用精密時標痕檢出信號FCMT的定時判別地址檢出信號ADF是否存在，與時標CK同步地生成由成分SS1和成分SS2、SS3形成的定時信號SS，成分SS1包含存在地址檢出信號ADF的精密時標痕檢出信號FCMT的成分FCMT1和存在於成分FCMT1之前的成分FCMT2，而成分SS2、SS3隻包含精密時標痕檢出信號FCMT成分FCMT3、FCMT4。此時，精密時標痕檢出信號FCMT的各成分FCMT1、FCMT2、FCMT3、FCMT4，與精密時標痕3的中心位置同步，精密時標痕3的長度預先確定為12DCB，因此，定時信號發生電路115生成其中包含形成偏擺痕4、5的區域和存在於該區域兩側的精密時標痕3、3的區域的成分SS1，生成其中包含對應於精密時標痕檢出信號FCMT的成分FCMT3、FCMT4的精密時標痕3、3的區域的成分SS2、SS3，並生成對應於記錄用戶數據的區域20、20、20的成分SS4、SS5、SS6。
參照圖15，就圖3所示的構成格式化電路126的選擇電路120的動作進行說明。從定時信號發生電路115定時信號SS輸入到選擇電路120時，選擇電路120基於定時信號SS選擇來自數據調製電路117的記錄數據(WD)和來自碼型發生電路119的碼型數據(KD)。選擇電路120在定時信號(SS)為H電平時選擇來自碼型發生電路119的碼型數據(KD)，定時信號(SS)為L電平時選擇來自數據調製電路117的記錄數據(WD)。
在光-磁記錄介質100上的數據結構(DF)為FCM/ADD/FCM/PEW/HED/DA/POW/FCM/PEW/DA/POW的場合，從數據調製電路117輸出記錄數據(WD)，從碼型發生電路119輸出碼型數據(KD)時，選擇電路120基於定時信號SS的成分SS1選擇來自碼型發生電路119的碼型數據「1111000011110000」，輸出到磁頭驅動電路123。接著，選擇電路120基於成分SS4選擇來自數據調製電路117的記錄數據中的4位的寫前符PEW、320立的標頭HED、192位的數據DA、4位的寫後符POW，輸出到磁頭驅動電路123。進而，選擇電路120基於成分SS2選擇來自碼型發生電路119的數據碼型「1100」，輸出到磁頭驅動電路123。再進一步，選擇電路120基於成分SS5選擇來自數據調製電路117的記錄數據(WD)中的4位的寫前符PEW、512位的數據DA、4位的寫後符POW，輸出到磁頭驅動電路123。由此，記錄數據列(KWD)被輸出到磁頭驅動電路123。
從圖15很容易看出，通過將記錄數據列(KWD)輸出到磁頭驅動電路123，光-磁信號「1111000011110000」被記錄在光-磁記錄介質100上FCM/ADD/FCM形成的區域10上，光-磁信號「1100」記錄在FCM形成的區域30上。這樣在光-磁記錄介質100上的數據結構(DF)的全部區域上記錄光-磁信號，是為了在從用戶數據區域即區域20再現數據時抑制再現信號的直流成分。
參照圖16，就圖3所示的構成光碟裝置200的格式化電路126的碼型發生電路119和選擇器120以及定時信號發生電路115進行詳細的說明。
定時信號發生電路115，由532上計計數器1150、符合電路1151、39上計計數器1152、計數值比較電路組1153構成。532上計計數器1150在來自FCM檢出電路103的精密時標痕檢出信號FCMT輸入時復位，然後對從PLL電路104輸入的時標CK進行計數，並將該計數值輸出到符合電路1151和計數值比較電路組1153。符合電路1151判別從532上計計數器1150輸入的計數值的最大計數值是否與531符合，若符合時將符合信號MTC輸出到39上計計數器1152。39上計計數器1152由從地址檢出電路105輸入的地址檢出信號ADF復位，然後對符合信號MTC進行計數，並將該計數值輸出到計數值比較電路組1153。
計數值比較電路組1153，基於從39上計計數器1152輸入的計數值特別指定光-磁記錄介質100的段S0～S38，基於從532上計計數器1150輸入的計數值特別指定各段S0～S38中的精密時標痕、地址、寫前符、寫後符、標頭以及數據等的位置。而且，計數值比較電路組1153基於特別指定的精密時標痕的位置，將精密時標痕定時信號TSFCM1～3輸出到碼型發生電路119的FCM碼型發生電路1190和選擇電路120。另外，計數值比較電路組1153基於特別指定的標頭的位置，將標頭定時信號TSHED輸出到碼型發生電路119的標頭碼型發生電路1191和選擇電路120。另外，計數值比較電路組1153基於特別指定的地址的位置，將地址定時信號TSAD輸出到碼型發生電路119的地址碼型發生電路1192和選擇電路120。再者，計數值比較電路組1153，根據特別指定的寫前符的位置，將寫前符定時信號TSPRW1、2輸出到碼型發生電路119的寫前符碼型發生電路1193和選擇電路120。再者，計數值比較電路組1153基於特別指定的寫後符的位置，將寫後符定時信號TSPOW1、2輸出到碼型發生電路119的寫後符碼型發生電路1194和選擇電路120。還有，計數值比較電路組1153基於特別指定的數據的位置，將數據定時信號TSDA1、2輸出到格式化電路118和選擇電路120。還有，從地址檢出電路105輸入故障幀檢出信號時，計數值比較電路組1153將固定定時信號TSHLD輸出到固定碼型發生電路119的固定碼型發生電路1195和選擇電路120。
碼型發生電路119，由FCM碼型發生電路1190、標頭碼型發生電路1191、地址碼型發生電路1192、寫前符碼型發生電路1193、寫後符碼型發生電路1194、固定碼型發生電路1195構成。FCM碼型發生電路1190與精密時標痕定時信號TSFCM1～3同步地，生成在形成精密時標痕的區域需要記錄的碼型數據，並輸出到選擇電路120。標頭碼型發生電路1191，與標頭定時信號TSHED同步地生成在標頭區域需要記錄的碼型數據，並輸出到選擇電路120。
地址碼型發生電路1192，與地址定時信號TSAD同步地生成在地址區域需要記錄的碼型數據，並輸出到選擇電路120。寫前符碼型發生電路1193，與寫前符定時信號TSPRW1、2同步地生成在寫前符區域需要記錄的碼型數據，並輸出到選擇電路120。
寫後符碼型發生電路1194，與寫後符定時信號TSPOW1、2同步地生成在寫後符區域需要記錄的碼型數據，並輸出到選擇器120。固定碼型發生電路1195，與固定定時信號TSHLD同步地生成在存在傷痕的幀需要記錄的碼型數據，並輸出到選擇器120。
選擇器120與從計數值比較電路組1153輸入的精密時標痕定時信號TSFCM1～3同步地，將從FCM碼型發生電路1190輸入的應在精密時標痕區域記錄的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。另外，選擇器120與從計數值比較電路組1153輸入的標頭定時信號TSHED同步地，在從FCM碼型發生電路1190輸入的應在標頭區域記錄的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。另外，選擇器120與從計數值比較電路組1153輸入的地址定時信號TSAD同步地，在從地址碼型發生電路1192輸入的應在地址區域記錄的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。再者，選擇器120與從計數值比較電路組1153輸入的寫前符定時信號TSPRW1、2同步地，在從寫前符碼型發生電路1193輸入的應在寫前符區域記錄的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。再者，選擇器120與從計數值比較電路組1153輸入的寫後符定時信號TSPOW1、2同步地，在從寫後符碼型發生電路1194輸入的應在寫後符區域記錄的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。還有，選擇器120，與從計數值比較電路組1153輸入的固定定時信號TSHLD同步地，在從固定碼型發生電路1195輸入的應在存在缺損的整個幀上記錄的碼型數據輸出到磁頭驅動電路123。
參照圖16～18，就定時信號發生電路115、碼型發生電路119以及選擇電路120的動作進行說明。定時信號發生電路115的532上計計數器1150，當來自FCM檢出電路103的精密時標痕檢出信號FCMT輸入時復位計數值，然後對從PLL電路104輸入的時標CK進行計數。即，532上計計數器1150，在圖17中的精密時標痕檢出信號FCMT的成分S1、S2、…輸入時復位，對鄰接成分S1、S2之間的時標CK進行計數。在精密時標痕檢出信號FCMT的鄰接成分S1、S2之間，通常存在532個時標成分，因此，532上計計數器1150，將計數值0～531輸出到符合電路1151和計數值比較電路組1153。
這樣，符合電路1151，在輸入的計數值中，判別最大的計數值是否為531，若與531符合時就將符合信號MTC輸出到39上計計數器1152。這樣，39上計計數器1152在從地址檢出電路105輸入地址檢出信號ADF時復位，然後對符合信號MTC進行計數，並將其計數值0～38輸出到計數值比較電路組1153。再有，地址檢出信號ADF，以每一幀即每39段輸入，因此，39上計計數器1152，將0～38的計數值輸出到計數值比較電路組1153。
從39上計計數器1152輸入的計數值為「0」時，計數值比較電路組1153認知段S0即地址信息AD是已被預格式化的區域。其次，在來自532上計計數器1150的計數值為0～11、12～53時，計數值比較電路組1153分別認知段S0中的精密時標痕區域、地址區域。而且，計數值比較電路組1153，生成精密時標痕定時信號TSFCM1和地址定時信號TSAD，分別輸出到FCM碼型發生電路1190與地址碼型發生電路1192。
另外，從39上計計數器1152輸入的計數值為「1」時，計數值比較電路組1153認知段S1。接著，在來自532上計計數器1150計數值為0～11、12～15、16～335、336～525、526～529時，計數值比較電路組1153分別認知精密時標痕區域、寫前符區域、標頭區域、數據區域、寫後符區域。而且，計數值比較電路組1153生成精密時標痕定時信號TSFCM2、寫前符定時信號TSPRW1、標頭定時信號TSHED、數據定時信號TSDA1以及寫後符定時信號TSPOW1，並分別將它們輸出到FCM碼型發生電路1190、寫前符碼型發生電路1193、標頭碼型發生電路1191、數據調製電路117以及寫後符碼型發生電路1194。
另外，從39上計計數器1152輸入的計數值為「2」～「38」時，計數值比較電路組1153認知段S2～S38。接著，來自532上計計數器1150的計數值為0～11、12～15、16～527、528～531時，計數值比較電路組1153分別認知精密時標痕區域、寫前符區域、數據區域、寫後符區域。然後，計數值比較電路組1153生成精密時標痕定時信號TSFCM3、寫前符定時信號TSPRW2、數據定時信號TSDA2以及寫後符定時信號TSPOW2，並將它們分別輸出到FCM碼型發生電路1190、寫前符碼型發生電路1193、數據調製電路117和寫後符碼型發生電路1194。
FCM碼型發生電路1190，分別與各精密時標痕定時信號TSFCM1～3同步，生成12DCB的碼型數據「111100001111」，輸出到選擇電路120。標頭碼型發生電路1191與標頭定時信號TSHED同步地生成320DCB的碼型數據「11001100…110011111111000000001111111100000000…1111111100000000」，並將它輸出到選擇電路120。320DCB的碼型數據是如上述以2T的間隔進行2T信號的預定數記錄、以8T的間隔進行8T信號的預定數記錄的碼型數據，用於確定雷射的最佳強度、採樣再現信號的時標的最佳相位等。
地址碼型發生電路1192與地址定時信號TSAD同步地生成520DCB的碼型數據「1111000011110000…11110000」，並將它輸出到選擇電路120。寫前符碼型發生電路1193與寫前符定時信號TSPRW1、2同步地生成4DCB的碼型數據「0011」，並將它輸出到選擇電路120。寫後符碼型發生電路1194與寫後符定時信號TSPOW1、2同步地生成4DCB的碼型數據「1100」，並將它輸出到選擇電路120。固定碼型發生電路1195與固定碼型定時信號TSHLD同步地生成532×39＝20748DCB的碼型數據「1111000011110000…11110000」，並將它輸出到選擇電路120。
選擇電路120，與精密時標痕定時信號TSFCM1同步將12DCB的碼型數據「111100001111」輸出到磁頭驅動電路123，與地址定時信號TSAD同步地將520DCB的碼型數據「1111000011110000…11110000」輸出到磁頭驅動電路123。
另外，選擇電路120，與精密時標痕定時信號TSFCM2同步地將12DCB的碼型數據「111100001111」輸出到磁頭驅動電路123，與寫前符定時信號TSPRW同步地將4DCB的碼型數據「0011」輸出到磁頭驅動電路123。
另外，選擇電路120與標頭定時信號TSHED同步地將320DCB的碼型數據「1100110011001100…111111110000000011111111」輸出到磁頭驅動電路123，與數據定時信號TSDA1同步地將192DCB的記錄數據輸出到磁頭驅動電路123。
再者，選擇電路120與寫後符定時信號TSPOW同步地將4DCB的碼型數據「1100」輸出到磁頭驅動電路123，與精密時標痕定時信號TSFCM3同步地將12DCB的碼型數據「111100001111」輸出到磁頭驅動電路123。
再者，選擇電路120與寫前符定時信號TSPRW同步地將4DCB的碼型數據「0011」輸出到磁頭驅動電路123，與數據定時信號TSDA2同步地將512DCB的記錄數據輸出到磁頭驅動電路123，並與寫後符定時信號TSPOW同步地將4DCB的碼型數據「1100」輸出到磁頭驅動電路123。另外，選擇電路120與定碼型定時信號TSHLD同步地將20748DCB的「11110000…11110000」輸出到磁頭驅動電路123。
由此，圖15所示的記錄數據列(KWD)被輸出到磁頭驅動電路123，並被記錄在光-磁記錄介質100。
再者，參照圖3，就光碟裝置200中的光-磁記錄介質100記錄數據的動作進行說明。光-磁記錄介質100安裝到光碟裝置200時，控制器114控制伺服機構(未作圖示)以使主軸馬達101以預定的旋轉數旋轉，同時通過定時信號發生電路115控制雷射驅動電路124，以使預定強度的雷射從光學頭102發射。
這樣，伺服機構(未作圖示)使主軸馬達101以預定的轉速旋轉，主軸馬達101使光-磁記錄介質100以預定的轉速旋轉。另外，光學頭102使預定強度的雷射通過物鏡(未作圖示)聚光照射在光-磁記錄介質100上，並檢出其反射光。而且，光學頭102將焦點誤差信號和跟蹤誤差信號輸出到伺服機構(未作圖示)，伺服機構根據焦點誤差信號和跟蹤誤差信號，啟動光學頭102的物鏡的焦點伺服和跟蹤伺服。
其後，光學頭102通過切向推挽法從光-磁記錄介質100檢出精密時標痕信號FCM，並將其檢出的精密時標痕信號FCM輸出到FCM檢出電路103。FCM檢出電路103通過上述方法，從精密時標痕信號FCM正確地生成精密時標痕檢出信號FCMT，並將該生成的精密時標痕檢出信號FCMT輸出到PLL電路104和定時信號發生電路115。PLL電路104基於精密時標痕檢出信號FCMT生成時標CK，並將該生成的時標CK輸出到地址檢出電路105、控制器114、定時信號發生電路115、數據調製電路117以及格式化電路126。
另外，地址檢出電路105，將光學頭102通過徑向推挽法從光-磁記錄介質100的段S0檢出的地址信號輸入，並與從PLL電路104輸入的時標CK同步地檢出地址信息AD，同時在地址信息的最終位置生成表示檢出了地址信息AD的地址檢出信號ADF。而且，將檢出的地址信息AD輸出到控制器114，並將生成的地址檢出信號ADF輸出到標頭檢出電路113和定時信號發生電路115。
另一方面，BCH編碼器116在記錄數據上附加錯誤改正符號，數據調製電路117與來自PLL電路104的時標CK同步地，將來自BCH編碼器116的記錄數據調製成預定的格式。然後，數據調製電路117將調製的記錄數據輸出到格式化電路126。
定時信號發生電路115基於從地址檢出電路105輸入的地址信息，生成用以生成在光-磁記錄介質100的數據區域上記錄的記錄信號的定時信號。然後，定時信號發生電路115將生成的定時信號輸出到選擇電路120、磁頭驅動電路123以及雷射驅動電路124。
選擇電路120基於定時信號，選擇從數據調製電路117輸入的記錄信號並將它輸出到磁頭驅動電路123。然後，磁頭驅動電路123驅動磁頭125，以與定時信號同步地生成根據記錄信號調製的磁場。另一方面，雷射驅動電路124與定時信號同步地驅動光學頭102中的半導體雷射器(未作圖示)，光學頭102通過物鏡(未作圖示)將雷射會聚到光-磁記錄介質100上。然後，磁頭125將根據記錄信號調製的磁場加到光-磁記錄介質100上。由此，記錄數據被記錄在光-磁記錄介質100上。
接著，對用光碟裝置200從光-磁記錄介質100的信號的再現動作進行說明。光-磁記錄介質100安裝在光碟裝置200上，進行物鏡的焦點伺服和跟蹤伺服並生成時標CK，並且，到檢出地址信息為止的動作跟信號的記錄動作相同。檢出的地址信息，被輸入到控制器114。
基於從控制器114輸入的地址信息AD和從地址檢出電路105輸入的地址檢出信息ADF，標頭檢出電路113檢出再現信號中包含的標頭位置，與來自PLL電路104的時標CK同步地從再現信號生成寫前符和標頭的定時信號。然後，將生成的標頭的定時信號輸出到無格式化電路110和數據解調電路111。
另一方面，光學頭102，將檢出的再現信號輸出到BPF106，而該BPF106將再現信號的高頻區和低頻區切除。AD轉換器107與來自PLL電路104的時標CK同步地，將從BPF106輸出的再現信號從模擬信號轉換成數位訊號。
然後，波形均衡電路108與來自PLL電路104的時標CK同步地，對轉換成數位訊號的再現信號進行PR(1、1)波形均衡。即，均衡得使檢出信號前後的數據一對一地進行波形幹涉。
其後，維特比解碼電路109與來自PLL電路104的時標CK同步地，將進行波形均衡後的再現信號從多值轉換成二值，並將該轉換的再現信號輸出到無格式化電路110和標頭檢出電路113。
這樣，標頭檢出電路113基於從控制器114輸入的地址信息AD和從地址檢出電路105輸入的地址檢出信息ADF，檢出再現信號中包含的標頭位置，與來自PLL電路104的時標同步地從再現信號生成寫前符和標頭的定時信號。然後，將生成的標頭的定時信號輸出到無格式化電路110和數據解調電路111。
另外，無格式化電路110基於從標頭檢出電路113輸入的定時信號，除去記錄在光-磁記錄介質100的用戶數據區域的寫前符、寫後符及標頭。數據解調電路111與來自PLL電路104的時標CK同步地輸入無格式化的再現信號，並進行解調記錄時實施的數字調製。然後，BCH解碼器112，改正被解調的再現信號的錯誤，並作為再現數據輸出。由此，結束對來自光-磁記錄介質100的信號的再現動作。
根據本發明的實施例，對精密時標痕信號的信號成分進行比較的比較電平，通過將已比較過的信號成分的比較電平的加權增大的加權平均進行計算，因此，即使是在光-磁記錄介質上形成傷痕，也能夠正確地檢出精密時標痕信號，並正確地生成時標。
這次公開的實施例只是所有發明點中的示例，不應由此限制本發明。本發明的範圍，不是由上述的實施例的說明表示，而是由權利請求範圍表示，並且，具有與權利請求範圍均等含義和在該範圍內的所有變更均包含在其內。
工業上的應用可能性根據本發明，比較精密時標痕信號的信號成分的比較電平，通過將對已比較過的信號成分的比較電平的加權增大的加權平均來計算，因此，即使是檢出了根據光-磁記錄介質上形成的傷痕的信號成分，也能夠根據精密時標痕信號正確地生成時標。因此，本發明可適用於以預定的電平對精密時標痕信號進行比較生成時標的光碟裝置。
權利要求
1.一種在包含構成生成時標的基準的精密時標痕的光碟(100)上，與所述時標同步地記錄和/或再現信號的光碟裝置(200)，其中設有將雷射照射在所述光碟(100)上，並檢出其反射光的光學頭(102)；以預定的電平對由所述光學頭(102)因所述精密時標痕而檢出的精密時標痕信號進行比較，生成精密時標痕檢出信號的精密時標痕檢出電路(103)；以及與所述精密時標痕檢出信號同步，並將所述精密時標痕檢出信號分頻成預定份數中的一份，從而生成所述時標的時標生成電路(104)；所述精密時標痕檢出電路(103)，在所述精密時標痕信號的n(n為自然數)個信號成分中，將要比較的信號成分設定為FCMk(1≤k≤n)、將緊接所述信號成分FCMk之前的被比較的信號成分設定為FCMk-1、將所述信號成分FCMk-1的比較電平設定為Lk-1、將所述信號成分FCMk的振幅設定為Pk時，用通過對所述Lk-1的加權值比對所述Pk的加權值大的、所述Lk-1和所述Pk之間的加權平均所確定的比較電平Lk對所述信號成分FCMk進行比較，並因該經比較過的比較信號的獲得而生成所述精密時標痕檢出信號。
2.如權利要求1所述的光碟裝置，其特徵在於所述精密時標痕檢出電路(103)生成用設定在所述信號成分FCMk的上峰值側的第一電平比較所述信號成分後的第一比較信號，以及用設定在所述信號成分FCMk的下峰值側的第二電平比較所述信號成分FCMk後的第二比較信號，並因所述第一或第二比較信號的獲得而生成所述精密時標痕檢出信號；所述第一電平，是通過在所述信號成分FCMk-1的上峰值側設定的比較電平LPk-1和所述信號成分FCMk的上峰值PPk之間的所述加權平均加以確定的電平；所述第二電平，是通過在所述信號成分FCMk-1的下峰值側設定的比較電平LBk-1和所述信號成分FCMk的下峰值PBk之間的所述加權平均加以確定的電平。
3.如權利要求2所述的光碟裝置，其特徵在於所述精密時標痕檢出電路(103)包括用所述第一電平對所述信號成分FCMk進行比較而生成所述第一比較信號的第一比較器(1033)；用所述第二電平對所述信號成分FCMk進行比較而生成所述第二比較信號的第二比較器(1034)；基於所述信號成分FCMk保持所述上峰值PPk的第一保持電路(1037)；基於所述信號成分FCMk保持所述下峰值PBk的第二保持電路(1038)；用所述預定的電平對所述信號成分FCMk進行比較而生成第三比較信號的第三比較器(1047)；以及信號處理電路(1045)，該電路通過所述比較電平LPk-1和所述上峰值PPk之間的加權平均計算所述第一電平，通過所述比較電平LBk-1和所述下峰值PBk之間的加權平均計算所述第二電平，所述第一或第二的比較信號輸入時基於所述上峰值PPk和所述下峰值PBk計算所述預定的電平，並基於所述第三比較信號而生成所述精密時標痕檢出信號。
4.如權利要求1至權利要求3中任一項所述的光碟裝置，其特徵在於所述光學頭(102)，通過切向推挽法檢出所述精密時標痕信號。
全文摘要
比較器(1033、1034)用比較電平對精密時標痕信號進行比較，DSP(1045)通過增大已比較信號成分的比較電平的加權權重來計算對各信號成分進行比較的比較電平。而且，用在上峰值側設定的電平和在下峰值側設定的電平，通過比較器(1033、1034)對精密時標痕信號進行比較。從比較器(1033、1034)中任一方先輸入比較信號時，DSP(1045)就基於來自比較器(1047)的比較信號生成精密時標痕檢出信號FCMT。其結果，即使在檢出振幅比精密時標痕信號還大的信號成分時，也能基於精密時標痕信號正確地生成時標。
文檔編號G11B27/19GK1471705SQ01817713
公開日2004年1月28日 申請日期2001年10月18日 優先權日2000年10月23日
發明者多田浩一, 隈俊毅, 渡部浩志, 志 申請人:三洋電機株式會社