計算機斷層攝影（ct）數據採集的製作方法

2023-09-22 20:19:45

計算機斷層攝影（ct）數據採集的製作方法
【專利摘要】一種成像系統（100），包括固定機架（102）、旋轉機架（104）、輻射源（110）、以及探測器陣列（112）。所述探測器陣列在所述旋轉機架公轉期間，針對多個積分周期探測輻射，所述多個積分周期對應於不同的角位置範圍，並且所述探測器陣列生成指示分別針對所述多個積分周期所探測的輻射的信號。所述系統還包括積分周期控制器（118），所述積分周期控制器（118）生成積分周期計時信號，所述積分周期計時信號包括至少基於所述旋轉機架繞所述檢查區域的之前公轉的持續時間的、針對所述旋轉機架的公轉的每個所述積分周期的起點的計時，其中，所述積分計時信號被用於觸發所述多個積分周期。
【專利說明】計算機斷層攝影(CT)數據採集
【技術領域】
[0001]以下總體涉及成像系統數據採集，並且具體應用於計算機斷層攝影(CO。
【背景技術】
[0002]計算機斷層攝影(CT)掃描器包括能夠由固定部分旋轉地支撐的旋轉部分。所述旋轉部分支撐X射線管和探測器陣列，所述X射線管發射穿過檢查區域以及位於其中的對象或受試者的部分的輻射，所述探測器陣列探測穿過所述檢查區域的輻射並且生成指示所探測的輻射的投影數據。重建器重建所述投影數據並且生成指示所述檢查區域中所述對象或受試者的所述部分的體積圖像數據。可以基於所述圖像數據生成一個或多個圖像。
[0003]所述探測器陣列包括將探測到的X射線光子轉換成指示其的電信號的探測器像素。針對所述旋轉機架的每次公轉，所述探測器像素針對多個積分周期探測並轉換X射線光子，每個積分周期對應於不同的角位置範圍。積分周期的持續時間取決於所述旋轉機架的旋轉速度以及所述掃描的每次公轉的積分周期數目。利用積分探測器陣列，在每個積分周期開始時，重置針對所述探測器像素的積分器，並且然後所述積分器所述在積分周期接收所述電信號並對其進行積分。經積分的信號形成針對該積分周期的投影數據。
[0004]所述重建器針對對應於特定角位置範圍的給定積分周期，處理投影數據。然而，如果關於所述角位置範圍的所述積分周期計時不準確，則實際上，所述投影數據對應於不同的角位置範圍，並且這可能導致所重建的圖像數據的圖像質量降低。遺憾的是，存在天然的旋轉機架位置誤差，其中所述旋轉機架速度的主要擾動是不平衡，所述不平衡依賴於旋轉機架的角度，並且因所述不平衡造成的角誤差的量依賴於所述旋轉速度的立方的倒數。
[0005]高度準確的大直徑旋 轉機架位置確定裝置已被用於確定所述旋轉機架的實際位置，其已被用於同步所述積分周期計時和旋轉機架角位置範圍。這種裝置包括高分辨編碼器和解碼器、支持電子設備、電源、以及滑環，以在所述掃描器的旋轉部分和固定部分之間傳輸數據。遺憾的是，這種裝置通常是複雜並且昂貴的，並增加了所述掃描器的總體成本。

【發明內容】

[0006]本申請的各方面解決上文涉及的問題以及其他問題。
[0007]根據一個方面，一種成像系統，包括固定機架和旋轉機架，所述旋轉機架能夠由所述固定機架旋轉地支撐並且被配置為繞檢查區域旋轉。所述系統還包括:由所述旋轉機架承載的輻射源，所述輻射源被配置為發射穿過所述檢查區域的輻射；以及探測器陣列，其由所述旋轉機架承載並且被定位為跨過所述檢查區域在所述輻射源的對面，所述探測器陣列探測穿過所述檢查區域的輻射。所述探測器陣列在旋轉機架公轉期間針對多個積分周期探測輻射，所述多個積分周期對應於不同的角位置範圍，並且所述探測器陣列生成指示分別針對所述多個記分周期的所探測的輻射的信號。所述系統還包括積分周期控制器，所述積分周期控制器生成積分周期計時信號，所述積分周期計時信號包括至少基於所述旋轉機架繞所述檢查區域的之前公轉的持續時間的、針對所述旋轉機架的公轉的每個所述積分周期的起點的時間，其中，所述積分計時信號被用於觸發所述多個積分周期。[0008]根據另一方面，一種方法包括生成積分周期計時信號，所述積分周期計時信號包括針對成像系統的旋轉機架的公轉的、多個數據採集積分周期的時間，其中，所述積分周期計時信號至少基於所述旋轉機架的之前公轉的持續時間而生成。
[0009]根據另一方面，一種方法包括針對旋轉機架不平衡，結合成像系統的旋轉機架，校正預測的積分周期數據採集時間。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]本發明可以採取各種部件和部件的布置，以及各種步驟和步驟的安排的形式。附圖僅出於圖示優選的實施例的目的，並且不應被解讀為限制本發明。
[0011]圖1示意性圖示了結合積分周期控制器的成像系統。
[0012]圖2示意性圖示了示範性積分周期控制器。
[0013]圖3示出了依賴於旋轉機架旋轉速度的IP計時和IP誤差的示範性繪圖。
[0014]圖4示意性地圖示了使用傳感器和標籤以便於確定IP計時信號的示範性成像系統。
[0015]圖5示出了圖4的傳感器的示範性時間圖。
[0016]圖6示意性圖示了利用多個傳感器和多個標籤以便於確定IP計時信號以及對其的校正的示範性成像系統。
[0017]圖7示出了圖6的傳感器的示範性時間圖。
[0018]圖8示出了表示依賴於角位置的IP誤差的示範性IP誤差曲線。
[0019]圖9圖示了用於確定IP計時信號的示範性方法。
[0020]圖10圖示了用於確定機架不平衡校正的IP計時信號的示範性方法。
【具體實施方式】
[0021]圖1示意性地圖示了諸如計算機斷層攝影(CT)掃描器100的成像系統。所述掃描器100包括固定機架102和旋轉機架104，所述旋轉機架104能夠由所述固定機架102旋轉地支撐。所述旋轉機架104針對一個或多個數據採集周期，關於縱軸或z軸108繞檢查區域106旋轉一次或多次。患者支撐體114，例如躺椅，支撐所述檢查區域106中的患者。
[0022]輻射源110，例如X射線管，由所述旋轉機架104支撐並且與所述旋轉機架104 —起繞所述檢查區域106旋轉。所述輻射源110發射輻射，所述輻射由源準直器準直，以產生穿過所述檢查區域106的大體為扇形、楔形或錐形的輻射束。輻射敏感探測器陣列112包括探測器像素的一維或二維陣列，所述探測器像素分別探測穿過所述檢查區域106的輻射，並生成指示所探測的輻射的電信號(例如，電流或電壓)。
[0023]積分器116—其包括一個或多個子積分器，例如針對所述探測器陣列的每個探測器像素的子積分器——針對多個積分周期對來自所述探測器像素的所述電信號進行積分(視圖、投影等)，每個積分周期對應於所述旋轉機架104的旋轉時不同的角位置範圍，針對數據採集期間所述旋轉機架104的一個或多個公轉，產生投影數據。[0024]積分周期(IP)控制器118控制所述積分器116。例如，圖示的IP控制器118在每個積分周期的開始，隨同針對之前積分周期的任何所積分的信號的傳輸，觸發所述積分器116的重置。
[0025]如下文更加詳細地描述地，所述IP控制器118確定何時重置所述積分器116，並且基於在掃描之前(例如，預掃描)和/或期間獲得的關於所述旋轉機架104的之前公轉的信息，產生重置所述積分器116的信號。在圖不的實施例中，機架旋轉信息確定器120確定這樣的信息。在一個實例中，所確定的機架旋轉信息允許，在針對旋轉機架不平衡校正和/或不校正所述IP計時信號的情況下，將積分周期(IP)計時(即，積分器重置)與所述旋轉機架104的所述角位置範圍同步。
[0026]應該理解，可以無需使用額外的旋轉機架位置確定裝置而實現這種同步。這樣，相對於省略了所述IP控制器118的配置，所述IP控制器118可以便於維持或降低總體掃描器成本，例如，通過減少對高度準確旋轉機架位置確定裝置到所述成像系統100中的併入，同時達到預定的圖像質量(例如，給定的空間解析度和/或減少由計時不準確造成的偽影的引入)。當然，也可以使用旋轉機架位置確定裝置。
[0027]重建器122重建所述投影數據，並重建指示所述檢查區域106的體積圖像。通用計算系統充當操作者控制臺124，並且包括諸如顯示器的輸出設備和諸如鍵盤、滑鼠等等的輸入設備。駐留在所述控制臺124上的軟體允許操作者控制所述系統100的運行，例如，允許所述操作者發起掃描，等等。[0028]儘管所述積分器116和IP控制器118被示為獨立於所述探測器陣列112的方框，但是應該認識，所述積分器116或所述IP控制器118中的一個或多個可以是所述探測器陣列112的部分。而且，所述機架公轉信息確定器120可以是所述旋轉和/或固定機架104和102的部分。
[0029]此外，應該理解，可以經由執行編碼在計算機可讀存儲介質上的一個或多個計算機可讀指令的一個或多個處理器，實現所述IP控制器118至少子部分。額外地或可選地，所述一個或多個計算機可讀指令可以由信號、載波等承載。
[0030]圖2圖示了結合機架公轉信息確定器120、控制臺124和積分器116的IP控制器118的範例。
[0031]機架公轉信息確定器120確定有關所述旋轉機架104的公轉的計時信息。一般而言，合適的機架公轉信息確定器120可以包括附接到所述旋轉機架104 (或所述固定機架102)的一個或多個傳感器，以及附接到所述固定機架102 (或旋轉機架104)的一個或多個標籤，其中，所述(一個或多個)傳感器和所述(一個或多個)標籤被布置為使得當所述旋轉機架104旋轉時在它們之間存在相對移動，並且傳感器檢測旋轉通過所述傳感器的標籤並生成指示所檢測的標籤的信號。針對一個或多個所述傳感器，可以使用計時器等來確定探測所述標籤之間的時間的量。以下更加詳細地描述了非限制性範例實現方式。
[0032]IP計時預測器202預測針對特定掃描的IP計時信號。在圖示的實施例中，所述IP計時預測器202基於針對之前公轉的機架公轉信息，以及指示所述旋轉機架104的所述旋轉速度和針對感興趣的掃描協議的積分周期(IP)的數目，預測針對公轉的所述IP計時信號。例如，在一個實例中，所述IP計時預測器202用之前公轉的時間的量除以所述旋轉速度和所述IP的數目，來計算指示多個等角地間隔開的IP的IP計時信號。合適的IP持續時間或寬度包括，但不限於約五十微秒(50 μ s)到約五百微秒(500 μ s)範圍內的時間寬度。當然，本文中也預期其他IP計時寬度。[0033]在圖示的實施例中，所述IP計時預測器202可以從所述控制臺124接收所述機架旋轉速度和IP的數目的信息。在掃描器100包括具有相同的機架旋轉速度和IP的數目的協議時，所述機架旋轉速度和IP的數目可以額外地或可選地被存儲在存儲器中，所述存儲器在所述IP控制器118中和/或可由所述IP控制器118訪問。在另一實施例中，所述IP控制器118，額外地或可選地，存儲和/或可以訪問存儲了針對每個掃描協議的具體掃描協議與所述機架旋轉角度和IP的數目之間的映射(例如，查找表(LUT))的存儲器，並且使用所述映射以確定針對(例如，在來自所述控制臺124和/或其他部件的信息中)所識別的協議的所述機架旋轉和所述IP的數目。
[0034]IP計時誤差確定器204生成指示旋轉機架104旋轉速度的波動的IP誤差信號，所述波動例如，是因旋轉機架104不平衡和/或以其他方式造成的，其可能導致在所預測的IP計時信號與所述旋轉機架104的實際角位置範圍之間的計時不準確。在圖示的實施例中，所述IP計時誤差確定器204基於來自所述機架公轉信息確定器120和/或所述IP計時預測器202的信息，生成所述誤差信號。在一個實例中，所述IP計時誤差確定器204針對角位置的子集，確定所預測的IP計時與所測量的實際IP之間的差異，基於所述差異確定誤差，並且使用所述誤差值以生成對所預測的IP信號的校正。下文中更加詳細地描述所述IP計時誤差確定器204的示範性實現方式。
[0035]IP計時校正器206基於來自所述IP計時誤差確定器204的所述IP計時誤差信號，校正來自所述IP計時預測器202的所預測的IP計時信號。在一個非限制性實施例中，所述IP計時校正器206可以簡單地將所述IP計時信號和所述IP計時誤差信號相加或者以其他方式對其進行組合。
[0036]IP脈衝生成器208基於所校正的IP計時信號，生成積分器重置脈衝，所述積分器重置脈衝針對掃描期間所述旋轉機架104的每次旋轉的每個積分周期，重置所述積分器116。在圖示的實施例中，所述IP脈衝生成器208生成一串脈衝流，其觸發從所述積分器116的數據傳輸和對所述積分器116的重置。所述積分器116的輸出產生如上文所討論的被所述重建器122重建的投影數據。
[0037]預期各種變型。
[0038]在所述IP誤差在預定範圍內(例如，五十(50)弧秒或更小)時，可以省略或不使用所述IP計時誤差確定器204和所述IP計時校正器206。在該實例中，來自所預測的IP計時預測器202的所述計時信號被提供到所述IP脈衝生成器208，並被所述IP脈衝生成器208使用以產生所述積分器重置脈衝。
[0039]圖3示出了依賴於旋轉機架104旋轉速度的IP計時曲線300和IP誤差曲線302的範例，其中I軸304表示IP計時寬度，並且X軸306表示旋轉機架旋轉速度。如圖3中所示，所述IP計時和所述IP誤差隨著旋轉機架旋轉速度增加而減小。這樣，在較高旋轉速度可以使用、省略或不使用，並且在較低旋轉速度時使用，所述IP計時誤差確定器204和所述IP計時校正器206，以校正IP誤差。
[0040]在另一種變型中，提前——例如在校準或其他程序期間——確定針對掃描器的所述IP誤差值，並將其連同所述掃描器一起存儲在諸如查找表(LUT)的表中。在該情況下，LUT可以被所述IP計時校正器206用於校正來自所述IP計時預測器202的所述IP計時信號。[0041]在另一種變型中，可以針對不平穩誤差使用適應性誤差計算算法。在(例如)所述系統中發生未預見到的波動(例如採集期間變化的不平衡或電機轉矩校正)的情況下，這會是有用的。
[0042]在另一種變型中，可以使用標準電機編碼器，來以恆定速度驅動所述旋轉機架，其可以抵消或減小不平衡轉矩，這可以減小所述IP計時誤差。
[0043]在另一種變型中，可以使用每公轉一次循環的量級和相位的所述電機電流，以測量所述IP準確度並改善IP計時，類似於或者結合如上文描述的額外的位置傳感器。可以在採集已進行之後使用所述轉矩，以改善所述計時。
[0044]圖4和圖5圖示了省略或未使用所述IP計時誤差確定器204和所述IP計時校正器206的非限制性範例。
[0045]首先參考圖4，傳感器402被附接到所述旋轉機架104並且標籤404被附接到所述固定機架102。相對於彼此布置所述傳感器402和所述標籤404，使得所述旋轉機架104每次公轉，所述傳感器402都旋轉通過所述標籤404。所述傳感器402被配置為隨著所述傳感器402旋轉通過所述標籤404探測所述標籤404，並且生成指示其的輸出信號。
[0046]圖5示出了所述傳感器402的示範性輸出。在圖5中，X軸502表示時間，並且y軸504表不傳感器402的輸出。輸出信號506表不傳感器402的輸出。關於所述輸出信號506，第一輸出脈衝508對應於在一次公轉中所述傳感器402通過所述標籤404，並且第二輸出脈衝510對應於在下一次公轉中所述傳感器402通過所述標籤404。
[0047]繼續參考圖4和圖5，所述機架公轉信息確定器120包括計時器406。在該範例中，所述計時器406重置並在所述脈衝508的上升邊緣上開始對公轉計時。在隨後的脈衝510的上升邊緣上，計時器406 將計時信號516——其指示所述公轉的所述時間一一提供到所述IP計時預測器202，並且所述計時器406被重置並且開始對下一次公轉計時。
[0048]IP計時預測器202如上文所述地確定針對所述下一次公轉的所述IP計時信號，例如，通過用所述計時信號516除以(可以從所述控制臺124或以其他方式獲得的)針對所述下一次公轉的所述IP的數目和所述旋轉機架104旋轉速度。所述IP計時信號被提供到所述IP脈衝生成器208，其使用所述IP計時信號，以生成積分器116重置針對所述公轉的脈衝。
[0049]非限制性實現方式可以包括計數器、鎖存器和計時器，所述計數器由所述傳感器402的所述輸出觸發並且其確定公轉的持續時間，所述鎖存器也由所述傳感器402的所述輸出觸發並且其保持所述IP計時信號(其通過用所述持續時間除以所述IP的數目與所述旋轉速度的乘積來計算)，所述計時器基於所述IP計時信號產生一串觸發脈衝流。可以在所述計時器之前併入加法器，以將IP誤差校正信號與所述IP計時信號相加。
[0050]圖6和圖7圖示了所述IP計時誤差確定器204和所述IP計時校正器206被用於校正所預測的IP計時信號的非限制性範例。記住，在較低的旋轉速度，可能需要針對角位置的變化校正所預測的IP計時信號，例如，因機架不平衡和/或以其他方式造成的。
[0051]首先參考圖6，至少第一傳感器602和第二傳感器604被附接到所述旋轉機架104，並且至少第一標籤606和第二標籤608被附接到所述固定機架102(或旋轉機架104)。至少兩個標籤606和608在角度上彼此偏離一個角距離(α ) 610。在圖示的實施例中，α為約九十度。所述至少兩個傳感器602和604在角度上彼此偏離一個角距離(β)612。在圖示的實施例中，β為約一百八十度。
[0052]應該理解，圖示的實施例是非限制性的。在其他實施例中，可以存在更多或更少個傳感器和/或標籤，並且所述傳感器和/或標籤相對於彼此以及所述旋轉和/或固定機架的位置可以是不同的。
[0053]圖7示出了所述傳感器602和604的示範性輸出。在圖7中，χ軸702表示時間，並且Y軸704表不至少傳感器602和604的輸出。第一輸出信號706表不所述傳感器602(或傳感器604)的輸出，並且第二輸出信號708表不所述傳感器604 (或傳感器602)的輸出。
[0054]關於所述輸出信號706,第一輸出脈衝710對應於所述第一傳感器602通過所述第一標籤606,並且第二輸出脈衝712對應於所述第一傳感器602通過所述第二標籤608。關於所述輸出信號708，第一輸出脈衝714對應於所述第二傳感器604通過所述第一標籤606，並且第二輸出脈衝716對應於所述第二傳感器604通過所述第二標籤608。脈衝711對應於在隨後的公轉中所述第一傳感器602通過所述第一標籤606。
[0055]在該範例中，並且類似於圖4至圖6的範例，所述計時器406被用於基於所述脈衝710與所述脈衝711之間的時間差，確定公轉的持續時間718。所述計時器406還能被用於基於所述脈衝710與脈衝712之間的時間差確定所述標籤606與608之間的時間距離720，以及基於所述脈衝714與脈衝716之間的所述差，確定所述傳感器602與604之間的時間距離722。
[0056]在圖示的實施例中，所述標籤606被指定為零(O)參考角位置。所述標籤606與所述標籤608之間的角距離(α )可以被確定為所述標籤606和608之間的所述時間距離720與一次公轉的所述時間距離718的商數。所述傳感器602與604之間的角距離(β )可以被確定為通過所述標籤608的所述傳感器602與604之間的所述時間距離與一次公轉的所述時間距離718的商數。通過所述標籤606的所述傳感器602與通過所述標籤608的所述傳感器604之間的所述角距離可以通過對所述角距離α和β求和(α+β)來確定。α和β的時間可以被稱作校準的測量時間，並且可以通過在最小幹擾條件期間——其通常是在電機最大速度期間-對標籤之間的時間的測量來確定。
[0057]IP計時誤差確定器204 (圖2)可以如方程I中所示，基於針對所述角位置O、α、β和α+β所預測的IP計時和所述測量的IP計時718-722，確定針對所預測的IP計時信號的IP誤差:
[0058]方程1:
[0059]
【權利要求】
1.一種成像系統(100)，包括: 固定機架(102)； 旋轉機架(104)，其能夠由所述固定機架旋轉地支撐，並且被配置為繞檢查區域旋轉； 輻射源(110)，其由所述旋轉機架承載，所述輻射源(110)被配置為發射穿過所述檢查區域的輻射； 探測器陣列(112)，其由所述旋轉機架承載並且被定位為跨過所述檢查區域在所述輻射源的對面，所述探測器陣列(112)探測穿過所述檢查區域的輻射， 其中，所述探測器陣列在旋轉機架公轉期間，針對多個積分周期探測輻射，其中，所述多個積分周期對應於不同的角位置範圍，並且其中，所述探測器陣列生成指示分別針對所述多個積分周期所探測的輻射的信號；以及 積分周期控制器(118)，其生成積分周期計時信號，所述積分周期計時信號包括至少基於所述旋轉機架繞所述檢查區域的之前公轉的持續時間的、針對所述旋轉機架的公轉的每個所述積分周期的起點的計時，其中，所述積分計時信號被用於觸發所述多個積分周期。
2.如權利要求1所述的成像系統，其中，所述積分周期控制器通過將所述之前公轉的所述持續時間除以針對隨後的公轉的積分周期的數目與旋轉機架旋轉速度的乘積，來確定所述積分周期計時信號。
3.如權利要求2所述的成像系統，還包括: 附接到所述固定機架的至少一個標籤(404)； 附接到所述旋轉機架的至少一個`傳感器(402)，其中，所述傳感器響應於旋轉通過所述標籤而檢測所述標籤，並且生成指示所述傳感器旋轉通過所述標籤的輸出信號；以及 計時器，其確定所述傳感器的輸出的第一信號與所述傳感器的輸出的第二信號之間的持續時間，所述第一信號表示所述傳感器旋轉通過所述標籤的第一時間，所述第二信號表示所述傳感器旋轉通過所述標籤的下一時間，其中，所述持續時間表示所述之前旋轉的持續時間。
4.如權利要求1所述的成像系統，其中，所述積分周期控制器生成積分周期誤差信號並且基於所述積分誤差信號校正所述積分周期計時信號。
5.如權利要求4所述的成像系統，其中，所述積分周期控制器通過對所述積分周期計時信號與所述積分誤差信號求和，來校正所述積分周期計時信號。
6.如權利要求4至5中任一項所述的成像系統，其中，所述積分周期誤差信號指示所述公轉期間旋轉機架速度的波動。
7.如權利要求4至6中任一項所述的成像系統，其中，所述積分周期誤差信號指示旋轉機架不平衡。
8.如權利要求4至5中任一項所述的成像系統，還包括: 積分周期計時誤差確定器(204)，其基於所述旋轉機架的兩個或更多個角位置的預測的積分周期計時與所述旋轉機架的所述兩個或更多個角位置的測量的積分周期計時之間的差，確定所述旋轉機架的所述兩個或更多個角位置的計時誤差。
9.如權利要求6所述的成像系統，還包括: 兩個或更多個標籤(606、608)，其被附接到所述固定機架並且在角度上彼此偏移第一角度；兩個或更多個傳感器(602、604)，其被附接到所述旋轉機架並且在角度上彼此偏移第一角度，其中，所述兩個或更多個傳感器分別響應於旋轉通過標籤而檢測所述標籤，並且生成指示所述兩個或更多個傳感器分別旋轉通過所述標籤的輸出信號；以及 計時器，其確定兩個標籤和/或兩個傳感器之間的持續時間，其中，通過用相應的持續時間除以所述公轉的持續時間，來確定所述兩個或更多個角位置。
10.如權利要求8至9中任一項所述的成像系統，其中，所述積分周期計時誤差確定器通過將針對所述旋轉機架的所述兩個或更多個角位置的所述計時誤差擬合到跨越所述公轉的預定角範圍的曲線，來確定所述積分周期誤差信號。
11.一種方法，包括: 生成積分周期計時信號，所述積分周期計時信號包括針對成像系統(100)的旋轉機架的公轉的多個數據採集積分周期的計時，其中，基於至少所述旋轉機架的之前公轉的持續時間，生成所述積分周期計時信號。
12.如權利要求11所述的方法，還包括: 通過將所述持續時間除以所述積分周期的數目和旋轉機架旋轉速度，生成所述積分周期計時信號。
13.如權利要求11至12中任一項所述的方法，還包括: 利用積分位置誤差信號，校正所述積分周期計時信號。
14.如權利要求13所述的方法，還包括: 通過對所述積分周期計時信號和所述積分位置誤差信號求和，來校正所述積分周期計時信號。
15.如權利要求13至14中任一項所述的方法，還包括: 預測針對多個角位置的積分周期計時； 測量針對所述多個角位置的積分周期計時；並且 確定針對所述多個角位置的積分周期定位誤差。
16.如權利要求15所述的方法,還包括: 基於所確定的針對所述多個角位置的積分周期定位誤差，生成所述積分位置誤差信號。
17.如權利要求13至16中任一項所述的方法，其中，所述積分周期誤差信號指示所述公轉期間旋轉機架速度的波動。
18.如權利要求13至17中任一項所述的方法，其中，所述積分周期誤差信號指示旋轉機架不平衡。
19.一種方法,包括: 針對旋轉機架不平衡，校正與成像系統的旋轉機架有聯繫的預測的積分周期數據採集時間。
20.如權利要求19所述的方法，其中，所述預測的積分周期計時是基於所述旋轉機架的之前公轉的。
21.如權利要求13至14中任一項所述的方法，還包括: 通過用所述旋轉機架的一個公轉的持續時間除以所述積分周期的數目和旋轉機架旋轉速度，預測針對所述旋轉機架的所述多個角位置的積分周期計時；測量針對所述多個角位置的積分周期計時；以及 基於所預測的和所確定的積分周期計時，確定針對所述多個角位置的積分周期定位誤差；以及 通過對所預測的積分周期計時和所述積分周期位置誤差求和，生成校正的預測積分周期計時。
【文檔編號】A61B6/03GK103501700SQ201280004916
【公開日】2014年1月8日 申請日期:2012年1月6日 優先權日:2011年1月10日
【發明者】R·B·夏普萊斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司