多面體檢驗進給器和多面體檢驗設備的製作方法
2023-12-02 06:48:46 2
專利名稱：多面體檢驗進給器和多面體檢驗設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及多面體檢驗進給器和多面體檢驗設備，具體來說，涉及適於檢驗如電子元件芯塊那樣的檢驗物體的表面精度的多面體檢驗進給器和多面體檢驗設備。
鑑於上述問題，例如，在日本實用新型申請公開文本第52-83184號中提出了下述設備。這種設備在移動檢驗物品的過程中以預定角度轉動檢驗物品，同時對其進行自動檢驗。這種設備包括第一和第二輸送器，使放在第一輸送器上的檢驗物品反轉，用攝象機檢驗每個輸送器上的檢驗物品的上側上露出的表面，從而可檢驗檢驗品的兩個側面。
但是，上述設備需要在第一和第二輸送器之間反轉檢驗物品的機構；因而產生結構複雜等問題。另外，為了反轉檢驗物品，第一和第二輸送器不能沿直線布置；因此，在垂向上需要一個預定的空間作為輸送器的布置空間，從而引起設備尺寸大等問題。
為了實現上述目的，本發明提供一種多面體檢驗進給器，包括一個向預定方向移動檢驗物品的通道構件，其特徵在於所述通道構件形成槽狀，並設有一個轉動進給部分，所述轉動進給部分包括一條槽，該槽具有沿檢驗物品移動方向變化的右傾角和左傾角，從而使檢驗物品轉動預定的角度。採用這種布置，當檢驗物品以放置在槽中的狀態在通道構件上移動時，檢驗物品被移動以便沿一螺旋形軌跡轉動，這樣就能夠以下述狀態移動檢驗物品，即，在初始運動時隱藏在槽中的檢驗表面露出。因此，藉助預定的檢查裝置無需進行目視檢驗就能夠自動、精確、有效地檢驗在檢驗物品的表面上的缺陷如劃傷和變形。另外，檢驗物品被移動，同時被轉動進給部分轉動；因而能夠沿直線設置通道構件，從而實現裝置的小型化。
更具體來說，為了實現上述目的，本發明提供一種多面體檢驗進給器，包括一個向預定方向移動檢驗物品的通道構件，其特徵在於所述通道構件形成槽狀，並且有V形、U形和V形截面槽形的布置，還設有一個轉動進給部分，該轉動進給部分包括一條槽，該槽具有沿檢驗物品的移動方向變化的右傾角和左傾角，因而使檢驗物品轉動預定角度。
另外，按照本發明，具有V形、U形和V形截面槽形布置的轉動進給部分的上遊或下遊側可以同具有U形、V形和U形截面槽形布置的轉動進給部分相結合。這樣，通過使用單一的轉動進給部分就能夠使檢驗物品的轉角加大一倍。
具有V形、U形和V形截面槽形布置的兩個轉動進給部分可以連續地彼此組合，從而同樣使檢驗物品的轉角加大一倍。
另外，具有U形、V形和U形截面槽形布置的兩個轉動進給部分可連續地彼此組合。在這種情形中，可以取得與具有V形、U形和V形截面槽形布置的兩個轉動進給部分連續地彼此組合的情形相同的效果。
另外，本發明提供一種多面體檢驗設備，包括一個通道構件，用於向一定方向移動檢驗物品；沿所述通道構件在附近位置設置的檢驗裝置，用於對檢驗物品的每個表面進行檢驗；以及布置在通道構件上遊側的供應裝置，用於向通道構件供應檢驗物品，其特徵在於通道構件形成槽狀，並設有一個轉動進給部分，該轉動進給部分具有沿檢驗物品移動方向變化的右傾角和左傾角，從而使檢驗物品轉動預定角度，轉動進給部分的上遊側還設有檢驗物品的疏遠進給部分。採用這種結構，可以檢驗多面體檢驗物品的每個表面，此外，即使檢驗物品連續地從供給裝置以彼此緊密接觸的狀態供應，檢驗物品的疏遠進給部分可在檢驗物品之間形成預定的間隔。因此，可以可靠地逐一地確定檢驗物品，藉助檢驗裝置進行檢驗；因此可避免檢驗錯誤。
多面體檢驗設備最好還包括回收裝置，所述回收裝置可將確定為無缺陷的或有缺陷的檢驗物品分類成無缺陷產品和有缺陷產品，然後對其進行回收。回收裝置最好由一個抽吸組件和一個排出組件構成，抽吸組件具有檢驗物品的抽吸孔，排出組件向槽中的檢驗物品吹送氣體，向檢驗物品施力。採用這種結構，可以從槽中擠出檢驗物品，通過抽吸組件的抽吸力可靠地回收無缺陷產品和有缺陷產品。
另外，在本發明中，通道構件由多個沿檢驗物品的移動方向劃分的構件構成，並且在每個通道構件的下遊側，振動頻率設定得高於其上遊側，另外，利用振動頻率間的差別，檢驗物品能夠以彼此疏遠的狀態移動。採用這種結構，即使芯塊以彼此緊密接觸的狀態供應，也能夠以彼此疏遠的狀態移動芯塊，因此，由檢驗裝置可靠地檢驗各芯塊。
在本說明書中，術語「V形」和「U形」並不局限於具有對稱形狀的槽，也包括非對稱形狀的概念。另外，術語「U形」包括向上敞口的U形。另外，術語「槽的右和左」的使用是以觀察從上遊側移向下遊側的檢驗物品時的狀態為基礎的。因此，在下面的描述中，應注意右和左在附圖中是逆反表示的。檢驗物品最好是矩形體或立方體的固體；但是，檢驗物品也可以是其它的固體。
圖2的頂視平面圖表示
圖1所示多面體檢驗設備的主要部分。
圖3的立體圖示意地表示一個通道構件和一個轉動進給部分。
圖4的放大平面圖表示轉動進給部分。
圖5的放大立體圖表示轉動進給部分。
圖6是沿圖4中A-A線截取的剖視圖。
圖7是沿圖4中B-B線截取的剖視圖。
圖8是槽的截面圖，表示檢驗物品在上遊側轉動進給部分上轉動的狀態。
圖9是槽的截面圖，表示檢驗物品在下遊側轉動進給部分上轉動的狀態。
圖10的立體圖示意地表示在對檢驗物品進行檢驗時攝像機和抽吸管之間的位置關係。
圖11是沿圖2中箭頭線C-C截取的放大剖視圖。
圖12(A)的頂視平面圖示意地表示噴嘴布置，其用於保持芯塊間的疏遠狀態。
圖12(B)的前視圖示意地表示圖12(A)的布置。
圖1的前視圖示意地表示採用本發明的多面體檢驗設備的總體結構，圖2的頂視平面圖表示圖1所示多面體檢驗設備的主要部分。如圖1和圖2所示，多面體檢驗設備10包括一個供給裝置11，一個多面體檢驗進給器12(見圖2)，用作檢驗裝置的第一至第四攝像機13A至13D和一個回收裝置30。更具體來說，供給裝置11設置在一個框架F的上部，多面體檢驗進給器12移動從供給裝置11供給的檢驗物品，在本實施例中檢驗物品為立方體的陶瓷塊電容器(下文中稱為芯塊W)。第一至第四攝像機13A至13D布置在多面體檢驗進給器12的上方。回收裝置30按照檢驗結果，即，有缺陷和無缺陷來分類和回收芯塊W。
供給裝置11由一個料鬥17和一個分布部分20構成，料鬥17通過一個支承件16支承在框架F上，分布部分20具有一個適當的槽形，適於將每個芯塊W從料鬥17的上端部分向外引至多面體檢驗進給器12。像公知的那樣，料鬥17的內側形成螺旋形，通過一個振動器(未畫出)使料鬥17內的許多芯塊W振動，從而使芯塊W接續地從料鬥上側排出。
多面體檢驗進給器12包括一個槽狀通道構件22，從分布部分20大致直線地延伸，如圖2和圖3所示。通道構件22以預定角度布置，從而使下遊側，即，圖1的左側比右側低。另外，通道構件22由一個供給側通道構件22A(見圖2和圖3)、一個上遊通道構件22B，一個上遊側轉動進給部分25A，一人下遊側轉動進給部分25B和一下下遊側通道構件22C構成。更具體來說，供給側通道構件22A布置在分布部分20那側。上遊通道構件22B通過一個用作疏遠進給器的射出器18與供給側通道構件22A連通，並構成上遊側檢驗區域。上遊和下遊側轉動進給部分25A和25B構成上遊側通道構件22B中的轉動進給區域。下遊側通道構件22C與上述上遊和下遊側轉動進給部分25A和25B連通，並構成下遊側檢驗區域。供給側通道構件22A、上遊通道構件22B和下遊側通道構件22C呈具有基本為V形截面的槽形。芯塊W移至下遊側，從而使芯塊W的一個角部位於基本為V形的槽23的底角C處。
如圖3所示，射出器18包括一個基本為V形截面的斜槽，向著供給側通道構件22A傾斜，使上遊側通道構件22B在高度上低於通道構件22A。另外，射出器18利用一個使芯塊W從供給側通道構件22A滑動的動作而使從上遊側通道構件22B至下遊側移動的芯塊W之間形成預定的間隔。
上遊和下遊側轉動進給部分25A和25B形成相同的形狀，並且在本實施例中是在縱向上彼此結合的。芯塊W藉助一個上述轉動進給部分25A或25B轉動一個90°的角，因而可以藉助上述轉動進給部分25A和25B的組合轉動180°的角。另外，如圖3至7所示，上遊和下遊側轉動進給部分25A和25B從上遊側至下遊側各自形成一個V形槽區25a、一個U形槽區25b和一個V形槽區25c。上述槽區25a至25c所形成的形狀使左傾和右傾表面LS和RS的每個傾角沿芯塊W的移動方向改變。更具體來說，如圖4、圖6和圖7所示，在上遊側的V形槽區25a的底角C在上遊側轉動進給部分25A的寬度方向上的大致中部沿直線伸過一個預定長度。另外，底角C稍許向上升起地延伸，同時從中途移向右傾表面RS那側。在這種情形中，右傾和左傾表面RS和LS的概念是以底角C為界的，而並不是以槽寬的中心為界。在V形槽區25a中，右傾表面RS形成得從最初45°的傾角逐漸變為大約90°的角，如圖6和圖8(a)至圖8(e)所示。另一方面，在左傾表面LS中形成兩級傾斜表面，使其上部在一個從最初45°的傾角稍許移至芯塊移動方向的位置上彎曲，另外，在下級側上的傾斜表面，其傾角逐漸變小，因而芯塊W的一個表面，即，圖8中芯塊W的表面S3逐漸變成恰好在其達到U形槽區25b前的水平狀態。
如圖8(f)所示，在U形槽區25b中，右傾表面RS具有約為90°的傾角；另一方面，左傾表面LS處於稍許傾斜狀態。另外，U形槽區25b形成得具有U形截面，使右、左傾表面RS和LS之間的下端面變為基本水平。因此，在U形槽區25b中，芯塊W的一個表面保持基本水平狀態。
如圖4、圖6和圖7所示，下遊側V形槽區25c(見圖8(j))伸至寬度方向的中部，使用U形槽區25b的左傾表面LS的下端位置P(見圖4、圖8(f))作為一個起點逐漸形成V形底角C。在這種情形中，底角C在一個使高度變得低於起點(下端位置P)的方向上延伸。另外，底角C在寬度方向的中間位置上從中間伸向下遊側。V形槽區25c的右傾表面25c形成兩級傾斜表面，向上彎曲至恰好在下遊端部之前的位置，因此，芯塊W在V形槽區25c中處於轉過90°角的狀態。
因此，轉動進給部分25A和25B彼此組合，從而使芯塊W可轉動180°角。因此，當芯塊W具有立方體形狀時，沿著芯塊W的移動方向，能夠檢驗除前、後端面以外的立方體芯塊的所有的四個表面。
在這種情形中，除了附圖中所示的結構外，這種組合的轉動進給部分25也可以從上遊側至下遊側相繼形成一個U形槽區、一個V形槽區和一個U形槽區。上述結構的不同類型的轉動進給部分同樣可使芯塊W轉動90°角，因此，兩個轉動進給部分組合就能夠使芯塊轉動180°角。另外，甚至在用這種不同類型的轉動進給部分取代兩個轉動進給部分25A和25B中的一個進給組合的情形中，也能夠實現與上述情形相同的芯塊W的轉動。另外，右傾和左傾表面RS和LS最好精加工以便沿芯塊W的移動方向光滑連續。
用作檢驗裝置的第一至第四攝像機13A至13D分別通過一個支架26(見圖1)支承。第一和第二攝像機13A和13B位於通道構件22的上遊側通道構件22B的上方，設置得使攝像機13A和13B的每個透鏡面對芯塊W的檢驗表面。更具體來說，第一攝像機13A檢驗芯塊W的表面S1(見圖11)；另一方面，第二攝像機13B檢驗芯塊W的表面S2(見圖10)。另外，第三和第四攝像機13C和13D位於下遊側通道構件22C的上方，布置得使攝像機13C和13D的每個透鏡面對芯塊W的檢驗表面。第三攝像機13C檢驗通過轉動進給部分25A和25B時露出的芯塊W的表面S3；另一方面，第四攝像機13D檢驗芯塊W的表面S4。攝像機13A至13D連接於一個圖像處理器，該圖像處理器進行預定的圖像檢驗，然後確定芯塊W是否具有缺陷。
如圖1所示，回收裝置30由第一至第四回收管30A至30D、一個剩留芯塊回收部分32、一個有缺陷產品回收箱33、一個無缺陷產品回收箱35和一個排出組件37(見圖11)構成。更具體來說，第一至第四回收管30A至30D是相應於第一至第四攝像機13A至13D設置的，剩留芯塊回收部分32設置在通道構件22的下遊側上。有缺陷產品回收箱33連接於第一至第三回收管30A至30C和剩留芯塊回收部分32，無缺陷產品回收箱35連接於第四回收管30D。排出組件37是相應於每根回收管30A至30D設置的，並將氣體，即，空氣吹在通道構件22的上遊和下遊側通道構件22B和22C中的芯塊W上，向芯塊W施加壓力。在這種情形中，第一至第四回收管30A至30D和排出組件37各自具有相同的結構；因而下面描述第一回收管30A和與其相對應的排出組件37。
如圖11所示，第一回收管30A具有一個在其遠端的敞開的抽吸孔38，抽吸孔38呈斜切口狀以便不妨礙攝像機13A的攝像。另外，第一回收管30A連接於一個減壓組件(未畫出)，總是處於抽吸狀態。
排出組件37連接於一個從通道構件22的外側穿過槽23的供氣孔40，另外還連接於一個壓縮機(未畫出)，使空氣可通過供氣孔40吹向芯塊W。在排出組件37中，向由圖像處理器確定為有缺陷產品的芯塊W施加兩種作用，即，排出組件37的壓力和第一回收管30A的抽吸力，從而使芯塊W被收集至有缺陷產品回收箱33。
第四回收管30D用於將確定為無缺陷產品的芯塊W收集至無缺陷產品回收箱35。未被第四回收管30D回收的芯塊W可確認為有缺陷的產品，然後通過剩留回收部分32收集至有缺陷產品回收管33。
無缺陷產品回收箱35通過一個託架40支承在第四回收管30D的下端位置上，並且以向上敞開的狀態接納被第四回收管30D回收的芯塊W。然後，當預定數目的芯塊回收在無缺陷產品回收管內時，通過一個轉送裝置(未畫出)送至後處理程序。在這種情形中，無缺陷產品的數目是由一個設置在回收管30D中間的光學傳感器計數的。另外，回收管30D在恰好在管前的位置上設有一個閘板43。當無缺陷產品的芯塊達到預定數目時，閘板43暫時阻止芯塊W落入無缺陷產品回收箱35。
另外，無缺陷產品回收箱35藉助一個布置在託架40下面的轉臂45設置於回收位置，一個料庫46布置在鄰近於轉臂45的位置上。料庫46接納以水平放置狀態存儲的無缺陷產品回收箱35。在鄰近於料庫46下端的位置上，框架F設有具有氣缸或類似裝置的擠出器(推頂器)47。藉助擠出器47，最下部位置上的無缺陷產品回收箱35從料庫46的下部開口46A被擠出，然後被轉送至轉臂。
如圖2和圖12所示，噴嘴50A、50B和50C分別在第二至第四攝像機13B、13C和13D附近設置在通道構件22上。空氣從這些噴嘴50A至50C噴出，以便輸送芯塊W；從而在芯塊W間保持疏遠狀態。通過採取這種措施，最好使芯塊W間的間隔不致過窄。
下面對照圖8和圖9詳述在本實施例中芯塊W的檢驗方法。在這種情形中，圖8的剖視圖表示在位於上遊側的轉動進給部分25A的槽23上移動的芯塊W改變其位置的狀態。圖9的剖視圖表示芯塊W正在位於下遊側的轉動進給部分25A的槽23上移動。
當給出檢驗開始指令時，振動器(未畫出)使料鬥17和通道構件22振動。這樣，芯塊W通過分布部分20從料鬥17的上部相繼地送向通道構件22的供給側通道構件22A。供給側通道構件22A上的芯塊W移向下遊側，這是由於通道構件22的下遊側低且芯塊W受到不斷振動的緣故。在這種情形中，即使芯塊W以每個芯塊的前、後端面緊密彼此接觸的狀態移動，芯塊W也可通過射出器18，從而在芯塊W間形成恆定不變的間隔。因此，當在上遊側通過構件22B上移動時，芯塊W一個接一個地以彼此疏遠的狀態移動。
在上遊側通道構件22B上，芯塊W的兩個表面，即，附圖中所示的表面S1和S2由第一和第二攝像機13A和13B檢驗。在這種情形中，例如，當第一攝像機13A作出檢驗結果，芯塊W的表面S1有缺陷時，排出組件37吹氣。然後，排出組件37藉助相應於第一攝像機13A的回收管30A的抽吸瞬時強力地將芯塊W吹至一個上推芯塊W的方向，從而使芯塊W可被導入回收管30A。
另一方面，同第一和第二攝像機13A和13B確定為無缺陷的芯塊W被移至轉動進給部分25A和25B。然後，如圖8所示，在上遊側轉動進給部分25A中，位於V形槽區25a中的芯塊W的表面保持在大約為45°的角度上。此時，芯塊W的最上位置的角部是由圖8中的黑方塊■表示的，該位置設定為0°的角度。當芯塊W從V形槽區25a移至U形槽區25b時(見圖8(f))，芯塊W被轉動一個45°角，然後，從U形槽區25b移至V形槽區25c(見圖8(j))，因而又轉動45°角。這種狀態與芯塊W被移至下遊側轉動進給部分25B的初始位置一致，如圖9(k)所示。在下遊側轉動進給部分25B中，象上遊側轉動進給部分25A一樣，芯塊W被轉動一個90°角；因此，通過組合兩個轉動進給部分25A和25B，芯塊W被轉動一個180°角。
當芯塊以上述方式被轉動一個180°角時，尚未在上遊側通道構件22B上暴露的芯塊W的兩個表面S3和S4被露出。然後，上述新露出的兩個表面S3和S4由在下遊側通道構件22C上的第三和第四攝像機13C和13D檢驗。
在芯塊W的表面S3和S4被第三和第四攝像機13C和13D確定為無缺陷時，抽吸管30D和相應於第四攝像機13D的排出組件37工作，以便將芯塊W吸入無缺陷產品回收箱35。
另一方面，當芯塊W的表面S4被第四攝像機13D確定為有缺陷時，相應於第四攝像機13D的排出組件37不工作，因而芯塊W照樣移向下遊側。然後，芯塊W通過設置在通道構件22的下遊側的剩留芯塊回收部分32被收集在有缺陷產品回收箱33中。
因此，按照這個實施例可以取得下述效果。更具體來說，通過芯塊W的線性運動可以自動地檢驗除了兩個端面以外的立方體或矩形體的所有四個表面S1至S4。另外，當每個攝像機13A至13D的圖像處理將芯塊W確定為有缺陷時，為了回收有缺陷的產品，綜合採用了排出組件37的壓力和回收管30A至30D的抽吸。因此，當芯塊W被確定為有缺陷時，能夠有效地防止不抽吸現象，並減小有缺陷產品混入無缺陷產品中。另外，即使芯塊W在供應側通道構件22A中以彼此緊密接觸的狀態移動，藉助射出器18也可以使每個芯塊在上遊側通道構件22B形成不變的間隔。這樣就能夠使攝像機13A至13D以芯塊疏遠地逐一被檢驗的狀態進行檢驗工作；因此，可以防止發生檢驗錯誤，並防止錯誤的抽吸。
在這個實施例中，轉動進給部分25是按下述方式布置的相繼地布置V形、U形和V形槽區。本發明並不局限於這個實施例，也可以布置為U形、V形和U形槽區。在這種情形中，上遊側通道構件22B形成得在上遊側使槽形呈V形，並向著下遊側逐漸變為U形。另一方面，下遊側通道構件22C形成得在上遊側呈U形槽狀，並且向著下遊側逐漸變至V形。簡言之，按照本發明，可以採用各種槽形，只要芯塊W能夠沿螺旋形軌跡邊移動邊轉動即可。
另外，在這個實施例中圖示的芯塊W的外觀是便於對本發明進行說明的形狀，實際作為檢驗物品的芯塊的形狀並非特定的。例如，檢驗表面並不限於四個，而可以是三個或五個表面，或者更多表面。按照檢驗表面的數目，轉動進給部分25的數目增加或減少，同時改變攝像機13A至13D的數目。
另外，本發明的多面體檢驗設備10並不限於附圖中所示的整個結構，可以進行各種結構變化，只要能夠取得基本相同的效果和操作即可。例如，在實施例中，當第四攝像機13D確定芯塊W是無缺陷的時候，芯塊W已根據檢驗結果而被吸入無缺陷產品回收箱。在這種情形中，無缺陷產品被回收至剩留芯塊回收部分32，然後，當第四攝像機13D確定芯塊W有缺陷時，有缺陷產品可被相應的抽吸管30D回收至有缺陷產品回收箱33。
另外，在本實施例中，在移動芯塊W的情形中，振動器已向芯塊W施加振動。本發明並不限於這種實施例，而是可以採用壓縮空氣及其它強制輸送方法。另外，檢驗裝置並不限於攝像機，而是可用其它裝置替代，只要可以檢驗芯塊W的表面精度即可。
另外，在實施例中，芯塊W已藉助設置在供給裝置11的振動器(未畫出)的振動而被連續供應，然後，採用射出器18以逐一疏遠的狀態在多面體檢驗進給器12上被移動。在這種情形中，也可以採用其它使芯塊疏散開來的裝置。例如，供給側通道構件22A和上遊側通道構件22B受到支承，使振動彼此獨立地施加在它們上，上遊側通道構件22B受到相對較高頻率的振動，因而可以分開芯塊W。另外，上遊側通道構件22B和下遊側通道構件22C受到支承，使振動彼此獨立地施加在它們上，下遊側通道構件22C受到相對較高頻率的振動，因而可以保持芯塊W的疏遠狀態。通過這樣做，例如，即使芯塊W以彼此緊密接觸的狀態供應，在芯塊W間也可形成間隔；因而可以通過作為檢驗裝置的攝像機13A至13D可靠地檢驗各個芯塊。
從以上說明可以看出，按照本發明，多面體檢驗進給器具有形成槽形的通道構件。另外，多面體檢驗進給器設有轉動進給部分，其具有沿檢驗物品移動方向改變的右和左傾角，從而使芯塊轉動預定角度。因此，當在通道構件上移動檢驗物品時，能夠沿螺旋形軌跡轉動和移動檢驗物品。因此，檢驗物品，即，芯塊能夠以露出在初始運動中隱藏在槽中的檢驗表面。因此，能夠在多個表面上檢驗缺陷，如在檢驗物品表面上的劃傷和變形而不必進行目視檢驗，因此，可有效地進行高精度檢驗。另外，檢驗物品在轉動時移動，從而能夠線性地形成通道構件，因此實現設備的小型化。
具體來說，轉動進給部分以橫截面相繼為V形、U形和V形的槽布置。因此，能夠移動檢驗物品，同時稍許改變槽形設計而轉動檢驗物品，不會引起製造成本變高的問題。另外，轉動進給部分作為零件供應，因而能夠取得通用性，使轉動進給部分可適用於已經存在的設備。
另外，按照本發明，具有V形、U形和V形截面槽形布置的轉動進給部分的上遊或下遊側與具有U形、V形和U形截面槽形的轉動進給部分組合。具有V形、U形和V形截面槽形布置的兩個轉動進給部分連續地彼此組合，另外，兩個具有U形、V形和U形截面槽形布置的轉動進給部分連續地彼此組合。這樣可以使檢驗物品的轉角增加一倍。另外，通過與不同類型的轉動進給部分組合可以改善設計的自由度。
另外，在本發明的多面體檢驗設備中，能夠自動地對檢驗物品的每個表面進行檢驗；此外，即使檢驗物品以彼此緊密接觸的狀態從供應裝置供應，檢驗物品的疏遠進給部分也可在檢驗物品之間形成預定間隔。因此，能夠可靠地逐一確定檢驗物品，並藉助檢驗裝置進行檢驗；因此能夠防止檢驗錯誤。
另外，多面體檢驗設備設有回收裝置，回收裝置將確定為無缺陷或有缺陷的檢驗物品區分為無缺陷產品和有缺陷產品，其後將其回收。回收裝置由抽吸組件和排出組件構成。這樣就能夠可靠地將檢驗物品從槽中擠出，並配合使用抽吸組件的抽吸力可靠回收無缺陷產品和有缺陷產品。因此，本發明提供的多面體檢驗設備能夠提供傳統技術不曾取得的效果。
另外，通道構件是由多個沿檢驗物品移動方向劃分的構件構成的，在每個通道構件的下遊側中的振動頻率設定得高於其上遊側，檢驗物品可利用振動頻率差以彼此間的疏遠狀態移動，因而即使芯塊是以彼此緊密接觸的狀態供應的，也能夠可靠地以芯塊彼此疏遠的狀態移動芯塊，因此，能夠可靠地藉助檢驗裝置檢驗各個芯塊。
工業實用性本發明適於用作能夠檢驗電子元件如陶瓷芯塊電容器等的加工表面精度的設備。
權利要求
1.一種多面體檢驗進給器，包括一個向預定方向移動檢驗物品的通道構件，其特徵在於所述通道構件形成槽狀，並設有一個轉動進給部分，所述轉動進給部分包括一條槽，該槽具有沿檢驗物品移動方向變化的右傾角和左傾角，從而使檢驗物品轉動預定的角度。
2.一種多面體檢驗進給器，包括一個向預定方向移動檢驗物品的通道構件，其特徵在於所述通道構件形成槽狀，並且有V形、U形和V形截面槽形的布置，還設有一個轉動進給部分，該轉動進給部分包括一條槽，該槽具有沿檢驗物品的移動方向變化的右傾角和左傾角，因而使檢驗物品轉動預定角度。
3.一種多面體檢驗進給器，包括一個向預定方向移動多面體檢驗物品的通道構件，其特徵在於所述通道形成槽狀，具有U形、V形和U形截面槽形的布置，還設有一個轉動進給部分，該轉動進給部分包括沿檢驗物品移動方向變化的右傾角和左傾角，因而使檢驗物品轉動預定角度。
4.一種多面體檢驗進給器，其特徵在於如權利要求2所述的轉動進給部分的上遊側或下遊側與如權利要求3所述的轉動進給部分相組合。
5.一種多面體檢驗進給器，其特徵在於如權利要求2所述的兩個轉動進給部分彼此連續地組合。
6.一種多面體檢驗進給器，其特徵在於如權利要求3所述的兩個轉動進給部分彼此連續地組合。
7.如權利要求1至6中任一項所述的多面體檢驗進給器，其特徵在於通道構件由沿檢驗物品的移動方向劃分的多個構件構成，每個通道構件的下遊側中振動頻率設定得高於其上遊側，檢驗物品可藉助振動頻率差以彼此疏遠的狀態移動。
8.一種多面體檢驗設備，包括一個通道構件，用於向一定方向移動檢驗物品；沿所述通道構件在附近位置設置的檢驗裝置，用於對檢驗物品的每個表面進行檢驗；以及布置在通道構件上遊側的供應裝置，用於向通道構件供應檢驗物品，其特徵在於通道構件形成槽狀，並設有一個轉動進給部分，該轉動進給部分具有沿檢驗物品移動方向變化的右傾角和左傾角，從而使檢驗物品轉動預定角度，轉動進給部分的上遊側還設有檢驗物品的疏遠進給部分。
9.如權利要求8所述的多面體檢驗設備，其特徵在於所述設備還包括回收裝置，該回收裝置將確定為無缺陷或有缺陷的檢驗物品區分成無缺陷產品和有缺陷產品，然後將其回收，所述回收裝置由一個具有檢驗物品抽吸孔的抽吸組件和一個排出組件構成，排出組件用於向槽中的檢驗物品吹送氣體，從而向檢驗物品施加壓力。
10.如權利要求8或9所述的多面體檢驗設備，其特徵在於所述通道構件由沿檢驗物品移動方向劃分的多個構件構成，在每個通道構件的上遊側振動頻率設定得高於其下遊側，檢驗物品可藉助振動頻率差以彼此疏遠的狀態移動。
全文摘要
一種多面體檢驗設備(10)按照包括多面體檢驗進給器(12)的方式構制，所述多面體進給器具有通道構件，用於檢驗立方體芯塊(W)的表面。多面體進給器(12)形成有V形槽，並包括兩個設置在通道構件(22)中間的轉動進給部分25A和25B。轉動進給部分25A和25B分別具有相繼的V形、U形和V形截面形狀的槽。通道構件(22)設有一個射出器(18)，用於以彼此疏遠的狀態逐一移動芯塊(W)，還設有用於檢驗芯塊W表面的攝像機(13A至13D)，以及用於按照檢驗結果回收芯塊的回收裝置(30)。
文檔編號B07C5/342GK1429171SQ01803626
公開日2003年7月9日 申請日期2001年12月27日 優先權日2000年12月28日
發明者木村孝, 木川一洋 申請人:株式會社東洋, 琳得科株式會社