一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺、方法和裝置與流程
2023-12-09 14:59:46
本發明涉及數據處理技術領域，特別是涉及一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺、方法和裝置。
背景技術：
目前，許多電子設備可以通過內置的地磁晶片來獲得地磁數據，從而實現導航等功能。為了使得電子設備能夠獲得較為準確的地磁數據，通常需要對電子設備進行地磁校準，以避免電子設備中的地磁晶片本身帶來的誤差。在現有技術中，電子設備的地磁校準通常採用空中繞8字的方式實現。具體地，校準人員手持電子設備，在空中移動、旋轉電子設備，以使得電子設備呈現8字形的軌跡。在該過程中電子設備通過地磁晶片獲得了地磁數據。通過對該地磁數據進行校準計算，就可以得到校準數據。但是，在現有的校準方式中，一方面，校準人員每次校準時只能操作一臺電子設備在空中繞8字，可見，校準的效率非常低；另一方面，由於電子設備的空中軌跡受到校準人員的手持操作的影響，每個電子設備的空中軌跡難以保持一致，這就使得不同的電子設備的校準結果難以一致。
技術實現要素：
本申請所要解決的技術問題是，提供一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺、方法和裝置，一方面使得多臺電子設備能夠同時進行校準，從而提高校準的效率，另一方面使得不同的電子設備的空中軌跡保持一致，從而使得不同電子設備的校準結果保持一致。
第一方面，提供了一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺，包括臺體、水平臺面及多個固定部件；
所述臺體通過旋轉軸支撐所述水平臺面，以使得所述水平臺面可在水平面內進行旋轉；
所述多個固定部件均設置在所述水平檯面上，每一個所述固定部件可用於將一個電子設備固定在所述水平臺面，以使得所述電子設備可隨所述水平臺面進行旋轉；
其中，在所述電子設備隨所述水平臺面旋轉的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據，可用於對所述電子設備進行地磁校準。
可選的，所述固定部件可調整所述電子設備與所述水平臺面之間的固定角度，以使得所述電子設備可沿水平方向固定在所述水平臺面或沿垂直方向固定在所述水平檯面上。
第二方面，提供了一種用於對電子設備進行地磁校準的方法，應用第一方面提供的轉臺對所述電子設備進行旋轉；
所述方法包括：
獲取在所述電子設備固定於所述水平臺面進行旋轉的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據；
基於所述地磁數據計算三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數，所述校準係數用於對所述地磁晶片進行校準。
可選的，所述地磁數據包括水平地磁數據和垂直地磁數據，所述水平地磁數據為在所述電子設備沿水平方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據，所述垂直地磁數據為在所述電子設備沿垂直方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據；
所述基於所述地磁數據計算三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數，包括：
基於所述水平地磁數據計算水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數，基於所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數；
基於所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數和所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數，確定三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數。
可選的，所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向具體為X軸方向和Y軸方向，所述垂直坐標系下兩個坐標軸方向具體為所述X軸方向和Z軸方向，所述三維坐標軸下三個坐標軸方向具體為所述X軸方向、所述Y軸方向和所述Z軸方向；
所述三維坐標軸下所述X軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述X軸方向的校準係數和/或所述垂直面坐標系下所述X軸方向的校準係數確定；
所述三維坐標軸下所述Y軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定；
所述三維坐標軸下所述Z軸方向的校準係數由所述垂直面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定。
可選的，所述校準係數包括度量係數和偏移係數。
可選的，還包括：
將所述校準係數保存到所述電子設備中。
第三方面，提供了一種用於對電子設備進行地磁校準的裝置，應用第一方面提供的轉臺對所述電子設備進行旋轉；
所述裝置包括：
獲取單元，用於獲取在所述電子設備固定於所述水平臺面進行旋轉的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據；
計算單元，用於基於所述地磁數據計算三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數，所述校準係數用於對所述地磁晶片進行校準。
可選的，所述地磁數據包括水平地磁數據和垂直地磁數據，所述水平地磁數據為在所述電子設備沿水平方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據，所述垂直地磁數據為在所述電子設備沿垂直方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據；
所述計算單元包括：
第一計算子單元，用於基於所述水平地磁數據計算水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數；
第二計算子單元，用於基於所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數；
確定子單元，用於基於所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數和所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數，確定三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數。
可選的，所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向具體為X軸方向和Y軸方向，所述垂直坐標系下兩個坐標軸方向具體為所述X軸方向和Z軸方向，所述三維坐標軸下三個坐標軸方向具體為所述X軸方向、所述Y軸方向和所述Z軸方向；
所述三維坐標軸下所述X軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述X軸方向的校準係數和/或所述垂直面坐標系下所述X軸方向的校準係數確定；
所述三維坐標軸下所述Y軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定；
所述三維坐標軸下所述Z軸方向的校準係數由所述垂直面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定。
可選的，所述校準係數包括度量係數和偏移係數。
可選的，還包括：
保存單元，用於將所述校準係數保存到所述電子設備中。
在本申請實施例中，在用於對電子設備進行地磁校準的轉臺中，臺體通過旋轉軸支撐水平臺面，多臺需要地磁校準的電子設備可以通過水平檯面上提供的多個固定部件同時固定在水平檯面上進行旋轉，可見，一方面，由於校準人員一次校準操作可以同時使得多臺電子設備旋轉並獲得用於校準的地磁數據，校準效率得以提高，另一方面，由於不同的電子設備均是固定在水平檯面上進行旋轉，故不同的電子設備的空中軌跡是相同的，這樣就能夠使得不同電子設備的校準結果保持一致。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請中記載的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明實施例提供的一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺的結構的正視圖；
圖2為本發明實施例提供的一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺的結構的側視圖；
圖3為本發明實施例提供的一種用於對電子設備進行地磁校準的方法的流程示意圖；
圖4為地球磁場的空間矢量示意圖；
圖5為一種電子設備的示例性硬體結構；
圖6-a為對地磁晶片進行校準前獲取到的地磁數據；
圖6-b為對地磁晶片進行校準後產生的地磁數據；
圖7為本發明實施例提供的一種用於對電子設備進行地磁校準的裝置的結構示意圖。
具體實施方式
發明人經過研究發現，現有技術中對內置有地磁晶片的電子設備進行地磁校準時，通常採用的是空中繞8字的方法，具體地，校準人員手持電子設備在空中移動、旋轉電子設備，以使得電子設備呈現8字形的軌跡。在該過程中可以採集到電子設備中地磁晶片產生的地磁數據。通過對該地磁數據進行校準計算，能夠得到校準數據。但是在該方法中，一方面每次校準時校準人員只能操作一臺電子設備在空中繞8字，校準的效率非常低；另一方面，操作人員手持電子設備在空中繞8字，因而電子設備在空中的軌跡難以保持一致，這就使得不同的電子設備的校準結果難以一致。
基於此，在本發明實施例中，將內置有地磁晶片的電子設備固定在用於對電子設備進行地磁校準的轉臺上，所述轉臺的臺體通過旋轉軸支撐水平臺面，多臺需要地磁校準的電子設備可以通過水平檯面上提供的多個固定部件同時固定在水平檯面上進行旋轉。可見，一方面，由於校準人員一次校準操作可以同時使得多臺電子設備旋轉並獲得用於校準的地磁數據，校準效率提高；另一方面，由於不同的電子設備均是固定在水平檯面上進行旋轉，故不同的電子設備的控制軌跡是相同的，這樣就能夠使得不同電子設備的校準結果保持一致。
舉例來說，安裝有地磁晶片的電子設備可以是：手機、平板電腦、導航儀、車位檢測器、VR(英文全稱：Virtual Reality，中文全稱：虛擬實境)設備、AR(英文全稱：Augmented Reality，中文全稱：增強現實)設備等。
下面結合附圖，通過實施例來詳細說明本發明實施例中一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺、方法和裝置的具體實現方式。
參考圖1～圖2，分別示出了本發明實施例提供的一種用於對電子設備進行地磁校準的轉臺的正視圖和側視圖，所述轉臺例如可以包括：
臺體101、水平臺面102及多個固定部件；
所述臺體101通過旋轉軸支撐所述水平臺面102，以使得所述水平臺面102可以在水平面內進行旋轉；
所述多個固定部件均設置在所述水平臺面102上，每一個所述固定部件可用於將一個電子設備固定在所述水平臺面102，以使得所述電子設備可隨所述水平臺面進行旋轉；
其中，在所述電子設備隨所述水平臺面102旋轉的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據，可用於對所述電子設備進行地磁校準。
本實施例中，所述轉臺的臺體101可以是如圖1所示的圓柱形，也可以是其它有利於旋轉的形狀；所述轉臺的水平臺面102可以是如圖1所示的圓形，也可以是方形等便於放置電子設備的形狀。
本實施例中，所述多個固定部件，可以是同一個固定裝置上的多個固定接口，其中，每個固定接口可用於將一個電子設備固定在所述水平臺面102上；或者也可以是多個不同的固定裝置，每個固定裝置是獨立的，每個獨立的固定裝置可用於將一個電子設備固定在所述水平臺面102上。此外，所述固定部件可以是固定在水平臺面102上且與所述水平臺面102是不可分離的，也可以是與所述水平臺面102是可分離的，具體的可以是水平臺面102上設置有可用於固定所述固定部件的固定接口，可以通過該固定接口可以將所述固定部件固定在水平臺面102上。
本實施例中，為了獲取電子設備在三維空間中產生的地磁數據，需要使得電子設備可以進行多角度的旋轉，因此，為了使得固定在轉臺上的電子設備可以多角度的進行旋轉，所述固定部件可調整所述電子設備與所述水平臺面102之間的固定角度，以使得所述電子設備可沿水平方向固定在所述水平臺面102或沿垂直方向固定在所述水平臺面102上。
除此之外，所述固定部件上用於固定電子設備的固定接口還可以進行大小調節，以使得所述固定部件可以將不同尺寸的電子設備固定在轉臺的水平檯面上。
本實施例中，技術人員可以將電子設備通過固定部件固定在所述水平臺面102上，然後可以旋轉水平臺面102，使得所述電子設備隨著水平臺面102的轉動而轉動，並且，固定部件可調整電子設備在水平臺面102的固定角度，例如可以沿水平方向固定電子設備，也可以沿垂直方向固定電子設備；從而使得電子設備可以在水平方向和垂直方向上進行旋轉，進而可以獲得在旋轉電子設備的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據。
本實施例中，將內置有地磁晶片的電子設備固定在用於對電子設備進行地磁校準的轉臺中，所述轉臺的臺體101通過旋轉軸支撐水平臺面102，多臺需要地磁校準的電子設備可以通過水平臺面102上提供的多個固定部件同時固定在水平臺面102上進行旋轉。可見，一方面，由於校準人員一次校準操作可以同時固定使得多臺電子設備旋轉並獲得用於校準的地磁數據，校準效率提高；另一方面，由於不同的電子設備均是固定在水平臺面102上進行旋轉，故不同的電子設備的控制軌跡是相同的，這樣就能夠使得不同電子設備的校準結果保持一致。
參考圖3，示出了本發明實施例一種用於對電子設備進行地磁校準的方法。在本實施例中，可以應用圖1所示的實施例中的轉臺對所述電子設備進行旋轉。具體地，所述方法例如可以包括：
S301：獲取在所述電子設備固定於所述水平臺面進行旋轉的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據。
S302：基於所述地磁數據計算三維坐標下三個坐標軸方向的校準係數，所述校準係數用於對所述地磁晶片進行校準。
需要說明的是，S301和S302的執行主體可以是所述電子設備本身也可以是所述電子設備外接的其它設備。若是所述電子設備本身，所述電子設備根據其自身的地磁晶片產生的地磁數據確定校準係數並保存，以便後續依據所述校準係數對所述地磁晶片進行校準；若是所述電子設備外接的其它設備，該其它設備從電子設備接收電子設備中地磁晶片產生的地磁數據、根據地磁數據確定校準係數並保存到電子設備，以便後續所述電子設備依據所述校準數據對地磁晶片進行校準；其中，所述其它設備可以是計算機、平板電腦、手機等。
本實施例中，可以將所述電子設備固定在所述轉臺上進行旋轉，具體地，可以分別沿水平方向和垂直方向對電子設備進行固定並旋轉，因此，獲取到的地磁數據可以包括水平地磁數據和垂直地磁數據，其中，所述水平地磁數據為在所述電子設備沿水平方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據，所述垂直地磁數據為在所述電子設備沿垂直方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據。
進一步而言，校準係數可以是基於水平地磁數據和垂直地磁數據計算出來的。具體地，S302具體可以包括：基於所述水平地磁數據計算水平坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數，基於所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數；基於所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數和所述垂直地磁數據計算垂直面坐標下兩個坐標軸方向的校準係數，確定三維坐標系下坐標軸方向的校準係數。
更具體地，參考圖4，示出的是地球磁場的空間矢量示意圖，其中以X軸和Y軸表示水平面的兩個坐標分量，以Z軸表示垂直方向上的一個坐標分量。本實施例中，所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向具體為X軸方向和Y軸方向，所述垂直坐標系下兩個坐標軸方向具體為所述X軸方向和Z軸方向，所述三維坐標軸下三個坐標軸方向具體為所述X軸方向、所述Y軸方向和所述Z軸方向。
基於圖4的坐標系，所述三維坐標軸下所述X軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述X軸方向的校準係數和/或所述垂直面坐標下所述X軸方向的校準係數確定；所述三維坐標軸下所述Y軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定；所述三維坐標軸下所述Z軸方向的校準係數由所述垂直面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定。
本實施例中，以上提到的校準係數可以包括度量係數和偏移係數，通過度量係數和偏移係數對地磁晶片進行校準。
舉例說明：獲取水平方向上的地磁數據時，假設採集的X軸的地磁數據記為{X1,X2,X3,X4......Xn}，其中Xmax＝Max{X1,X2,X3,X4......Xn}，Xmin＝Min{X1,X2,X3,X4......Xn}；假設採集的Y軸的地磁數據為{Y1,Y2,Y3,Y4......Yn}，其中Ymax＝Max{Y1,Y2,Y3,Y4......Yn}，Ymin＝Min{Y1,Y2,Y3,Y4......Yn}。
依據採集到X-Y軸的地磁數據，確定水平面坐標系下X、Y軸的校準係數，分別為：
Xsf-XY＝Max{1,(Ymax-Ymin)/(Xmax-Xmin)}；
Ysf-XY＝Max{1,(Xmax-Xmin)/(Ymax-Ymin)}；
Xoff-XY＝[(Xmax-Xmin)/2-Xmax]*Xsf-XY；
Yoff-XY＝[(Ymax-Ymin)/2-Ymax]*Ysf-XY。
獲取垂直方向上的電磁數據時，設採集的X軸的地磁數據記為{X』1,X』2,X』3,X』4......X』n}，其中，X’max＝Max{X』1,X』2,X』3,X』4......X』n}，X’min＝Min{X』1,X』2,X』3,X』4......X』n}；設採集的Z軸的地磁數據為{Z1,Z,Z3,Z4......Zn}；其中，Zmax＝Max{Z1,Z2,Z3,Z4......Zn}；Zmin＝Min{Z1,Z2,Z3,Z4......Zn}。
依據採集到X-Z軸的地磁數據，確定垂直面坐標系下X、Z軸的校準係數：
X’sf-XZ＝Max{1,(Zmax-Zmin)/(X’max-X’min)}；
Zsf-XZ＝Max{1,(X’max-X’min)/(Zmax-Zmin)}；
X』off-XZ＝[(X’max-X’min)/2-X’max]*X’sf-XZ；
Zoff-XZ＝[(Zmax-Zmin)/2-Zmax]*Zsf-XZ。
其中，以上獲得的校準係數中，Xsf-XY、和X’sf-XZ分別表示水平面坐標系下和垂直面坐標系下X軸的度量係數；Ysf-XY表示水平面坐標系下Y軸的度量係數；Zsf-XZ表示垂直面坐標系下Z軸的度量係數；Xoff-XY和X』off-XZ分別表示水平面坐標系下和垂直面坐標系下X軸的偏移係數；Yoff-XY表示水平面坐標系下Y軸的偏移係數；Zoff-XZ表示垂直面坐標系下Z軸的偏移係數。並且，可以依據以上獲取到的度量係數，確定三維坐標軸下X軸、Y軸和Z軸的度量係數，分別記為Xsf-XYZ、Ysf-XYZ、Zsf-XYZ。在X軸、Y軸和Z軸的偏移係數保持不變的情況下，三維坐標系下X軸、Y軸、Z軸的偏移係數可以按照以下方式確定：Xoff-XYZ＝Xoff-XY或者Xoff-XYZ＝X』off-XZ，Yoff-XYZ＝Yoff-XY，Zoff-XYZ＝Zoff-XZ。
本實施例中，參考圖5，示出的是電子設備的硬體結構。從圖中可以看出電子設備的結構可以包括：電子羅盤501、加速計502、陀螺儀503、處理器504；本實施例中在內置有地磁晶片的電子設備旋轉的過程中，通過電子羅盤501、加速計502及陀螺儀504檢測地磁晶片運行的狀態和運行的方位，進而得到地磁晶片在旋轉的過程中產生的地磁數據。外界的其它設備或者電子設備本身通過獲取的地磁數據產生校準係數，並依據所述校準係數對電磁晶片進行校正。電磁晶片在使用時，處理器504接收電子羅盤501、加速計502和陀螺儀503獲取產生的地磁數據，並將獲取的地磁數據發送給處理器504，處理器504通過對地磁數據進行分析產生較為準確的3D姿態信息。
參考圖6，為採用本實施例中提供的方法對電磁晶片進行校準的前後產生的地磁數據的對比。從圖6中可以看出，在圖6-a示出的未校準的地磁數據中，代表地磁數據的圓的圓心偏離坐標軸的圓心，而在圖6-b示出的校準過的地磁數據中，代表地磁數據的圓的圓心非常接近坐標軸的圓心。可見，通過本實施例提供的轉臺和方法對地磁晶片進行校正，可以保證校正的準確性。
本實施例中，可以將內置有地磁晶片的電子設備固定在用於對電子設備進行地磁校準的轉臺中，地磁在旋轉的過程中，獲取電子設備中地磁晶片產生的地磁數據，並基於所述地磁數據計算三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數，並利用所述校準係數對所述地磁晶片進行校準。因此，通過使用轉臺帶動內置有地磁晶片的電子設備進行校準。因此，一方面，由於校準人員一次校準操作可以同時使得多臺電子設備旋轉並獲得用於校準的地磁數據，校準效率提高；另一方面，由於不同的電子設備均是固定在水平檯面上進行旋轉，故不同的電子設備的控制軌跡是相同的，這樣就能夠使得不同電子設備的校準結果保持一致。
參考圖7，示出了本發明實施例提供的一種用於電子設備進行地磁校準的裝置。再本實施例中，所述裝置可以包括：
獲取單元701，用於獲取在所述電子設備固定於所述水平臺面進行旋轉的情況下所述電子設備中的地磁晶片產生的地磁數據；
計算單元702，用於基於所述地磁數據計算三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數，所述校準係數用於對所述地磁晶片進行校準。
可選的，所述地磁數據包括水平地磁數據和垂直地磁數據，所述水平地磁數據為在所述電子設備沿水平方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據，所述垂直地磁數據為在所述電子設備沿垂直方向固定在所述水平檯面上旋轉的情況下所述地磁晶片產生的地磁數據；
所述計算單元包括：
第一計算子單元，用於基於所述水平地磁數據計算水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數；
第二計算子單元，用於基於所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數；
確定子單元，用於基於所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數和所述垂直地磁數據計算垂直面坐標系下兩個坐標軸方向的校準係數，確定三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數。
可選的，所述水平面坐標系下兩個坐標軸方向具體為X軸方向和Y軸方向，所述垂直坐標系下兩個坐標軸方向具體為所述X軸方向和Z軸方向，所述三維坐標軸下三個坐標軸方向具體為所述X軸方向、所述Y軸方向和所述Z軸方向；
所述三維坐標軸下所述X軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述X軸方向的校準係數和/或所述垂直面坐標系下所述X軸方向的校準係數確定；
所述三維坐標軸下所述Y軸方向的校準係數由所述水平面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定；
所述三維坐標軸下所述Z軸方向的校準係數由所述垂直面坐標系下所述Y軸方向的校準係數確定。
可選的，所述校準係數包括度量係數和偏移係數。
可選的，還包括：保存單元，用於將所述校準係數保存到所述電子設備中。
通過本實施例提供的裝置，可以將內置有地磁晶片的電子設備固定在用於對電子設備進行地磁校準的轉臺中，地磁在旋轉的過程中，獲取電子設備中地磁晶片產生的地磁數據，並基於所述地磁數據計算三維坐標系下三個坐標軸方向的校準係數，並利用所述校準係數對所述地磁晶片進行校準。因此，通過使用轉臺帶動內置有地磁晶片的電子設備進行校準。因此，一方面，由於校準人員一次校準操作可以同時使得多臺電子設備旋轉並獲得用於校準的地磁數據，校準效率提高；另一方面，由於不同的電子設備均是固定在水平檯面上進行旋轉，故不同的電子設備的控制軌跡是相同的，這樣就能夠使得不同電子設備的校準結果保持一致。
本發明實施例中提到的「第一計算子單元」等名稱中的「第一」只是用來做名字標識，並不代表順序上的第一。該規則同樣適用於「第二」等。
通過以上的實施方式的描述可知，本領域的技術人員可以清楚地了解到上述實施例方法中的全部或部分步驟可藉助軟體加通用硬體平臺的方式來實現。基於這樣的理解，本發明的技術方案可以以軟體產品的形式體現出來，該計算機軟體產品可以存儲在存儲介質中，如只讀存儲器(英文：read-only memory，ROM)/RAM、磁碟、光碟等，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，伺服器，或者諸如路由器等網絡通信設備)執行本發明各個實施例或者實施例的某些部分所述的方法。
本說明書中的各個實施例均採用遞進的方式描述，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處。尤其，對於方法實施例和設備實施例而言，由於其基本相似於系統實施例，所以描述得比較簡單，相關之處參見系統實施例的部分說明即可。以上所描述的設備及系統實施例僅僅是示意性的，其中作為分離部件說明的模塊可以是或者也可以不是物理上分開的，作為模塊顯示的部件可以是或者也可以不是物理模塊，即可以位於一個地方，或者也可以分布到多個網絡單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實現本實施例方案的目的。本領域普通技術人員在不付出創造性勞動的情況下，即可以理解並實施。
以上所述僅是本發明的優選實施方式，並非用於限定本發明的保護範圍。應當指出，對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明的前提下，還可以作出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護範圍。