一種翻蓋式電子晶片檢測治具的製作方法

2023-12-08 20:18:56

專利名稱：一種翻蓋式電子晶片檢測治具的製作方法
技術領域：
本發明涉及電子檢測設備技術領域，尤其是指一種翻蓋式電子晶片檢測治具。
背景技術：
90年代隨著集成技術的進步、設備的改進和深亞微米技術的使用，LSI、VLSI、ULSI相繼出現，電子晶片集成度不斷提高，對集成電路封裝要求更加嚴格，I/O引腳數急劇增加，功耗也隨之増大。為滿足發展的需要，在原有封裝品種基礎上，電子晶片又增添了新的品
種--球柵陣列封裝，簡稱BGA(Ball GridArray Package。目前各種電子晶片廣泛應運電
子領域的各行業電腦、手機、電腦南北橋、Mp3、MP4、DVD、DVB、印表機、通訊終端、エ控主板、顯卡、數位相機、機頂盒等。
電子晶片通常在出廠質檢、回收品檢查、使用性能檢測等情況選都需對電子晶片進行檢測，通常情況下，檢測治具包括設置檢測電路的治具底板，治具底板上固定檢測底座，治具底板上設置連接檢測電路並與電子晶片匹配設置的檢測探針；檢測時，將電子晶片放置在檢測底座，檢測探針對應接觸到相應電子晶片的檢測點，一般情況下，電子晶片的上端簡單的壓塊壓住晶片或有時候將晶片焊接在檢測底座上，讓晶片貼緊檢測探針進行檢測，然而電子晶片在檢測底座上容易錯位，在電子晶片上端的受力不足容易造成某些部分不能與檢測探針接觸，導致檢測結果不準確，另外焊接固定的方式エ藝複雜，容易導致電子晶片及檢測底座的損壞。

發明內容
本發明在於針對目前電子晶片檢測治具存在的不足，而提供一種解決以上問題的翻蓋式電子晶片檢測治具。為達到上述目的，本發明採用如下技術方案一種翻蓋式電子晶片檢測治具，包括設置檢測電路的治具底板，所述治具底板上設置檢測電子晶片的晶片容置腔，晶片容置腔內設置連接檢測電路並與電子晶片匹配設置的檢測探針，容置腔上方設置翻蓋壓板，翻蓋壓板的一邊絞接設置在治具底板上，翻蓋壓板上與鉸接邊相対的一邊設置能與治具底板扣接的扳扣，翻蓋壓板上設置旋壓裝置，旋壓裝置的底端連接壓向電子晶片的晶片壓塊。較佳的，所述治具底板上設置「回」字形的固定安裝座，固定安裝座的一邊設置與翻蓋壓板鉸接的鉸接凸位，固定安裝座上與鉸接凸位相對的ー邊設置與扳扣相配合的扣位。較佳的，所述治具底板設置固定檢測探針的針盤及護板。較佳的，所述旋壓裝置包括一設置旋鈕的螺柱，螺柱穿設過翻蓋壓板上設置的與螺柱配合的螺孔，螺柱的底端連接晶片壓塊。較佳的，所述螺柱的底端設置推力軸承連接晶片壓塊。較佳的，所述晶片壓塊上設置穿設在翻蓋壓板上的行程導柱。
本發明的有益效果在於本發明的翻蓋式電子晶片檢測治具，包括設置檢測電路的治具底板，所述治具底板上固定檢測底座，所述治具底板上設置檢測電子晶片的晶片容置腔，晶片容置腔內設置連接檢測電路並與電子晶片匹配設置的檢測探針，容置腔上方設置翻蓋壓板，翻蓋壓板的一邊絞接設置在治具底板上，翻蓋壓板上與鉸接邊相対的ー邊設置能與治具底板扣接的扳扣，翻蓋壓板上設置旋壓裝置，旋壓裝置的底端連接壓向電子晶片的晶片壓塊；檢測治具使用時，將電子晶片放置在晶片容置腔內，晶片容置腔對電子晶片起到管位的作用，不會導致錯位現象的產生；將鉸接在治具底板的翻蓋壓板蓋向電子晶片，並通過扳扣扣接在治具底板上，然後旋動旋壓裝置將晶片壓塊平整的壓向電子晶片，電子晶片上端均勻受力，電子晶片檢測部分與檢測探針充分接觸，檢測結果準確可靠，本檢測治具還具有操作簡單，使用方便，使用壽命長的優點。


圖I、本發明的結構示意2、本發明的剖面結構示意3、本發明的分解結構示意圖
具體實施例方式下面結合附圖1-3對本發明做進ー步的闡述一種翻蓋式電子晶片檢測治具，包括設置檢測電路的治具底板1，所述治具底板I上設置檢測電子晶片的晶片容置腔2，晶片容置腔2內設置連接檢測電路並與電子晶片匹配設置的檢測探針3，容置腔2上方設置翻蓋壓板4，翻蓋壓板4的一邊絞接設置在治具底板I上，翻蓋壓板4上與鉸接邊相対的一邊設置能與治具底板I扣接的扳扣41，翻蓋壓板4上設置旋壓裝置5，旋壓裝置5的底端連接壓向電子晶片的晶片壓塊6。為了更好的固定翻蓋壓板4，在治具底板I上設置「回」字形的固定安裝座7，固定安裝座7的一邊設置與翻蓋壓板4鉸接的鉸接凸位71，通過連接柱73將固定安裝座7鉸接在鉸接凸位71上，固定安裝座7上與鉸接凸位71相対的一邊設置與扳扣41相配合的凹陷扣位72，通過固定安裝座7使翻蓋壓板4與治具底板I間接的作用一起，便於安裝和加工設計。本發明的檢測治具中，治具底板I設置固定檢測探針3的針盤31及護板32，用以安裝固定檢測探針3，並便於維護、檢測或更換檢測探針3，這種情況下，將晶片容置腔2設置在護板32上，治具底板I上設置針盤容放腔11，這樣可以延長檢測治具的使用壽命，降低治具維護成本。本發明的旋壓裝置5本領域技術人員根據基本常識，可以設計成很多方案，本實施例中，旋壓裝置5包括ー設置旋鈕51的螺柱52，螺柱52穿設過翻蓋壓板4上設置的與螺柱52配合的螺孔42，螺柱52的底端連接晶片壓塊6，當翻蓋壓板4扣接後，旋轉旋鈕51，螺柱52在螺孔42內向下運動，並帶動晶片壓塊6壓向電子晶片，使電子晶片緊貼檢測探針3。為了使作用在晶片壓塊6上的作用カ更加均勻，螺柱52的底端設置推力軸承7連接晶片壓塊6。
本發明的檢測治具中，為了使晶片壓塊6平穩運動，在晶片壓塊6上設置穿設在翻蓋壓板4上的行程導柱8。當然，以上所述僅是本發明的較佳實施例，故凡依本發明專利申請範圍所述的構 造、特徵及原理所做的等效變化或修飾，均包括於本發明專利申請範圍內。
權利要求
1.一種翻蓋式電子晶片檢測治具，包括設置檢測電路的治具底板(1)，其特徵在幹所述治具底板(I)上設置檢測電子晶片的晶片容置腔(2)，晶片容置腔(2)內設置連接檢測電路並與電子晶片匹配設置的檢測探針(3)，容置腔(2)上方設置翻蓋壓板(4)，翻蓋壓板(4)的一邊絞接設置在治具底板(I)上，翻蓋壓板(4)上與鉸接邊相対的一邊設置能與治具底板(I)扣接的扳扣(41)，翻蓋壓板(4)上設置旋壓裝置(5)，旋壓裝置(5)的底端連接壓向電子晶片的晶片壓塊(6)。
2.根據權利要求I所述的ー種翻蓋式電子晶片檢測治具，其特徵在於所述治具底板(I)上設置「回」字形的固定安裝座(7)，固定安裝座(7)的一邊設置與翻蓋壓板(4)鉸接的鉸接凸位(71)，固定安裝座(7)上與鉸接凸位(71)相対的一邊設置與扳扣(41)相配合的扣位(72)。
3.根據權利要求I所述的ー種翻蓋式電子晶片檢測治具，其特徵在於所述治具底板(I)設置固定檢測探針⑶的針盤(31)及護板(32)。
4.根據權利要求I所述的ー種翻蓋式電子晶片檢測治具，其特徵在於所述旋壓裝置(5)包括ー設置旋鈕(51)的螺柱(52)，螺柱(52)穿設過翻蓋壓板(4)上設置的與螺柱(52)配合的螺孔(42)，螺柱(52)的底端連接晶片壓塊(6)。
5.根據權利要求4所述的ー種翻蓋式電子晶片檢測治具，其特徵在幹所述螺柱(52)的底端設置推力軸承(7)連接晶片壓塊(6)。
6.根據權利要求1-5任意項所述的一種翻蓋式電子晶片檢測治具，其特徵在於所述晶片壓塊(6)上設置穿設在翻蓋壓板(4)上的行程導柱(8)。
全文摘要
本發明涉及電子檢測設備技術領域，尤其是指一種翻蓋式電子晶片檢測治具；本發明的翻蓋式電子晶片檢測治具，在治具底板上設置檢測電子晶片的晶片容置腔，容置腔上方設置翻蓋壓板，翻蓋壓板上的旋壓裝置的底端連接壓向電子晶片的晶片壓塊；檢測治具使用時，將電子晶片放置在晶片容置腔內，晶片容置腔對電子晶片起到管位的作用，不會導致錯位現象的產生；將鉸接在治具底板的翻蓋壓板蓋向電子晶片，並通過扳扣扣接在治具底板上，然後旋動旋壓裝置將晶片壓塊平整的壓向電子晶片，電子晶片上端均勻受力，電子晶片檢測部分與檢測探針充分接觸，檢測結果準確可靠，本檢測治具還具有操作簡單，使用方便，使用壽命長的優點。
文檔編號G01R31/28GK102830340SQ201210277679
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月3日 優先權日2012年8月3日
發明者周傲雪, 姚彩虹 申請人:東莞光韻達光電科技有限公司