衰減角度檢測電路與方法及含該檢測電路的電源設備的製作方法
2023-10-21 00:39:57 2
衰減角度檢測電路與方法及含該檢測電路的電源設備的製作方法
【專利摘要】本申請涉及衰減角度檢測電路與方法及含該檢測電路的電源設備。根據本發明的示例性的實施例的衰減角度檢測電路針對根據衰減角度產生輸入的周期產生源電流，所述源電流取決於在電源開關的導通周期期間根據輸入電壓的附加電壓。所述衰減角度檢測電路通過對源電流進行鏡像來產生衰減檢測電壓，並且通過對電源開關的每一個導通周期對衰減檢測電壓進行採樣來產生採樣電壓。所述衰減角度檢測電路根據所述採樣電壓與參考電壓之間的比較結果通過向衰減電阻器和衰減電容器提供衰減電流來產生衰減信號。
【專利說明】衰減角度檢測電路與方法及含該檢測電路的電源設備
【技術領域】
[0001]本發明涉及衰減角度檢測電路、衰減角度檢測方法以及包括衰減角度檢測電路的電源。
【背景技術】
[0002]雙向晶閘管衰減器使交流(AC)輸入的正弦波的每個周期以一衰減角度經過。為了利用經過雙向晶閘管衰減器的電流來對提供給負載(比如說，燈)的輸出電流進行控制，應當對衰減角度進行檢測。
[0003]更加詳細地，當衰減器是用於控制燈的亮度的控制器時，提供給燈的輸出電流應當根據衰減角度來控制。也就是說，當衰減角度增大時控制燈的亮度增大並且當衰減角度減小時控制燈的亮度減小。
[0004]為了使電源根據衰減角度向燈提供輸出電流，則需要關於衰減角度的信息。另外，電源產生(與衰減角度無關的)恆定的輸出電流並且電源的開關負載可以不必要在這樣的過程中持續。
[0005]例如，儘管衰減角度被控制為90度以為了將燈的亮度減少為一半，當衰減角度為180度時電源可以增大開關負載以提供相同的輸出電流。
[0006]在此【背景技術】部分所公開的上述信息僅僅是為了增進對本發明的【背景技術】的理解，並因此可能包含並不構成對於本領域普通技術人員來說為在這個國家已知的現有技術的信息。
【發明內容】
[0007]本發明試圖提供一種能夠檢測衰減角度的衰減角度檢測電路、一種衰減角度檢測方法以及一種包括衰減角度檢測電路的電源。
[0008]根據本發明的示例性的實施例的衰減角度檢測電路包括:比較電路和衰減信號發生器，所述比較電路利用附加電壓來檢測衰減角度從而產生衰減檢測信號，所述附加電壓是以第一匝數比與初級側線圈連接的附加線圈的兩端電壓，所述初級側線圈連接到輸入電壓上，衰減信號發生器，所述衰減信號發生器利用所述衰減檢測信號產生對應於所述衰減角度的衰減信號。
[0009]所述比較電路包括箝位電路，所述箝位電路產生將檢測電壓箝位到預定箝位電壓上的源電流，所述檢測電壓是第一電阻器的第二端的電壓，所述第一電阻器包括連接到所述附加電壓上的第一端。
[0010]所述箝位電路包括雙極結型電晶體(BJT)、二極體以及第二電阻器，所述BJT包括連接到所述第一電阻器的所述第二端處的第一電極以及連接到第一電流源上的第二電極，所述二極體與連接到所述BJT的基極處的正極與地相連，所述第二電阻器包括連接到所述BJT的基極處的第一端以及連接到第一電壓上的第二端。
[0011 ] 所述比較電路通過對源電流進行鏡像來產生鏡像電流，並且通過將採樣電壓與預定參考電壓進行比較來產生衰減檢測信號，所述採樣電壓通過對衰減檢測電壓進行採樣來產生，所述衰減檢測電壓通過針對每個採樣循環周期流向檢測電阻器的鏡像電流來產生。
[0012]所述衰減信號被用於控制電源開關的開關操作，並且預定採樣循環周期是電源開關的開關循環周期。
[0013]所述比較電路進一步包括採樣/保持單元，所述採樣/保持單元通過以開關循環周期對衰減檢測電壓進行採樣和保持來產生採樣電壓。
[0014]所述衰減角度檢測電路進一步包括比較器，所述比較器根據所述衰減檢測電壓與所述參考電壓之間的比較結果來產生衰減檢測信號。
[0015]所述衰減信號發生器包括恆定電流源，所述恆定電流源產生所述衰減電流；電晶體，所述電晶體包括被輸入所述衰減檢測信號的柵極和被輸入所述衰減電流的第一電極；衰減電阻器，所述衰減電阻器連接到所述電晶體的第二電極處；以及衰減電容器，所述衰減電容器連接到所述電晶體的第二電極處並且與所述衰減電阻器並聯。
[0016]所述衰減信號發生器對所述衰減檢測信號的循環周期以及第一電平周期進行測量，並且通過用所述衰減檢測信號的循環周期來除所述衰減檢測信號的所述第一電平周期來產生所述衰減信號。
[0017]根據本發明的示例性的實施例的衰減角度檢測方法包括:在以第一匝數比與初級側線圈連接的附加線圈的第一端產生附加電壓，所述初級側線圈連接到輸入電壓上；提供電流以保持第一電阻器的第二端處的檢測電壓，所述第一電阻器包括連接到所述附加線圈的第一端上且具有預定箝位電壓的第一端；根據由所述源電流鏡像得到的鏡像電流產生衰減檢測電壓；通過以預定採樣循環周期單位對所述衰減檢測電壓進行採樣和保持來產生採樣電壓；以及根據所述採樣電壓與預定參考電壓之間的比較結果來產生衰減檢測信號。
[0018]所述衰減角度檢測方法進一步包括利用所述衰減檢測信號來產生對應於衰減角度的衰減信號。
[0019]產生衰減信號可包括根據所述衰減檢測信號使所述衰減電流在電晶體的導通周期期間流向相互並聯的衰減電阻器和衰減電容器，其中所述電晶體執行開關操作。
[0020]產生衰減信號包括:對所述衰減檢測信號的循環周期和第一電平周期進行測量；以及用所述衰減檢測信號的所述循環周期來除所述衰減檢測信號的所述第一電平周期。[0021 ] 產生衰減檢測電壓包括向檢測電阻器提供所述鏡像電流。
[0022]提供源電流包括當所述附加電壓具有負的電平時提供所述源電流以將所述檢測電壓保持為零電壓。
[0023]根據本發明的另一示例性的實施例的電源包括:初級側線圈、電源、附加線圈、第一電阻器、衰減角度檢測電路以及開關控制電路，所述初級側線圈包括被提供有輸入電壓的第一端，所述輸入電壓由經過衰減器的交流輸入整流得到，所述附加線圈以第一匝數比與所述初級側線圈連接，所述第一電阻器包括連接到所述附加線圈的第一端處的第一端，所述衰減角度檢測電路產生源電流以將所述第一電阻器的第二端處的檢測電壓保持為預定箝位電壓並且利用所述源電流根據所述衰減器的衰減角度產生衰減信號，所述開關控制電路根據所述衰減信號控制所述電源開關的開關操作。
[0024]所述衰減角度檢測電路利用由所述源電流鏡像得到的鏡像電流來產生衰減檢測電壓，根據採樣電壓與預定參考電壓之間的比較結果來產生衰減檢測信號，並且利用所述衰減檢測信號來產生所述衰減信號，其中所述採樣電壓通過以預定採樣循環周期單位對所述衰減檢測電壓進行採樣來產生。
[0025]所述衰減角度檢測電路包括:根據所述衰減檢測信號執行開關操作的電晶體、向所述電晶體的第一電極提供衰減電流的恆定電流源、包括連接到所述電晶體的第二電極處的第一端的衰減電阻器以及包括連接到所述電晶體的第二電極處的第一端的衰減電容器。所述衰減電阻器和衰減電容器相互並聯並且所述衰減信號是所述衰減電阻器和所述衰減電容器的每一個的第一端處的信號。
[0026]所述衰減角度檢測電路對所述衰減檢測信號的循環周期和第一電平周期進行測量並且通過用所述衰減檢測信號的所述循環周期來除所述衰減檢測信號的所述第一電平周期來產生所述衰減信號。
[0027]所述衰減角度檢測電路包括第一電極，所述第一電極連接到所述第一電阻器的第二端處並連接到第一電流源；二極體，所述二極體與連接到所述BJT的基極處的正極相連並接地；第二電阻器，所述第二電阻器包括連接到所述BJT的基極處的第一端以及連接到
第一電壓上的第二端。
[0028]所述預定採樣循環周期單位是所述電源開關的開關循環周期單位。
[0029]所述衰減角度檢測電路包括檢測電阻器，所述鏡像電流流向所述檢測電阻器，並且所述衰減檢測電壓是所述檢測電阻器上的電壓。
[0030]根據本發明的示例性的實施例，提供了能夠檢測衰減角度的衰減角度檢測電路和方法以及包括衰減角度檢測電路的電源。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0031]圖1示出了根據本發明的一個示例性的實施例的應用衰減角度檢測電路的電源；
[0032]圖2示出了根據本發明的一個示例性的實施例的輸入電壓、衰減檢測電壓、衰減檢測信號、採樣電壓以及衰減電壓。
【具體實施方式】
[0033]在以下詳細說明中，僅僅通過實例說明的方式對本發明的特定典型實施例進行了解釋和說明。正如本領域的技術人員所知道的，可以利用不同的方法對所說明的實施例進行修改，這些方式都在本發明的精神或範圍內。因此，附圖和說明事實上是說明性的而非限制性的。相似的符號在說明書中自始至終表示相似的元件。
[0034]在說明書及後附的權利要求書中自始至終，當描述元件「連接」到另一元件上的時候，該元件可能「直接連接」到該另一元件上，也可能通過第三元件「電連接」到該另一元件上。另外，除非有對相反情況的明確說明，詞語「包括」及其變體應理解為指出包含所述元件在內但並不排除任何其他元件。
[0035]圖1示出了根據本發明的一個示例性的實施例的衰減角度檢測電路以及包括該衰減角度檢測電路的電源。
[0036]電源I利用交流(AC)輸入AC向負載提供電源。根據本發明的一個示例性的實施例的電源以反激變換器來實現，但是本發明並不限制於此。
[0037]經過衰減器2的交流輸入被整流電路3全波整流並之後產生作為輸入電壓Vin。衰減器2的衰減角度決定了經過衰減器2的交流輸入AC。例如，當衰減角度增大時經過衰減器2的交流輸入AC也增大，並且當衰減角度為180度時全部交流輸入AC都經過衰減器2。
[0038]輸入電壓Vin被提供給初級側線圈COl的第一端並且初級側線圈COl的第二端連接到電源開關Ml的漏極處。在電源開關Ml的導通周期期間，流向初級側線圈COl的電流以取決於輸入電壓Vin的斜率增大。在電源開關Ml的導通周期期間，能量被存儲在初級側線圈COl中。當電源開關Ml關斷時，整流二極體Dl被導通以使得電流流向次級側線圈C02。
[0039]經過整流二極體Dl的電流對輸出電容器COUT進行充電以使得產生輸出電壓VOUTo
[0040]開關電路4產生對電源開關Ml的開關操作進行控制的柵極電壓VG。在此情況下，開關控制電路4接收衰減電壓VDIM，並且可以根據衰減電壓VDIM來產生柵極電壓VG以控制輸出電流。
[0041]例如，當衰減電壓VDIM與衰減角度成比例時，開關控制電路4可以減小電源開關Ml的開關頻率以當衰減電壓VDIM減小時減少輸出電流。
[0042]在初級側的第一線圈COl連接到輸入電壓Vin上。電源開關Ml連接到第一線圈COl與地之間。附加線圈C03的匝數Na與第一線圈COl的匝數Np之間的匝數比(Na/Np)被稱為wnl。附加線圈C03和第一線圈COl以阻數比wnl相連接。
[0043]放置在次級側的第二線圈C02通過整流二極體Dl連接到輸出電容器COUT上，並且第二線圈C02的匝數Ns與附加線圈C03的匝數Na之間的匝數比(Na/Ns)被稱為wn2。附加線圈C03和第二線圈C02以匝數比wn2相連接。
[0044]當電源開關Ml導通時，第一線圈COl的電壓變為負的輸入電壓Vin，並且通過將匝數比wnl與輸入電壓Vin相乘來得到的負的電壓(-wnlXVin)被產生作為附加線圈C03的電壓VA(在下文中，被稱為附加電壓)。取決於節點NI處的電壓(在下文中，稱為檢測電壓)與附加電壓VA之間的差的源電流ISl流過電阻器RVS1。
[0045]衰減角度檢測電路5包括比較電路10和衰減信號發生器20。比較電路10利用對應於輸入電壓Vin的附加電壓VS來檢測衰減角度，並且衰減信號發生器20將檢測的衰減角度轉換為衰減信號VDIM。
[0046]在圖1中示出了開關控制電路4和衰減角度檢測電路5是分開的兩個塊，但是開關控制電路4和衰減角度檢測電路5可以作為單個集成電路晶片來形成。
[0047]比較器電路10包括箝位電路100、電流鏡電路200、採樣/保持單元300、檢測電阻器RS以及比較器400。衰減信號發生器20包括恆定電流源500、電晶體M2、衰減電阻器RDIM以及衰減電容器CDM。
[0048]在電源開關Ml的導通周期期間箝位電路100將檢測電壓VS箝位在零電壓。更加詳細地，附加電壓VA在電源開關Ml的導通周期期間是負的電壓，並且源電流ISl通過箝位電路100流向附加線圈C03。在此情況下，連接到箝位電路100上的節點NI與二極體D2的負極具有相同的電勢。相應地，檢測電壓VS被箝位到零電壓。
[0049]在交流輸入AC中，用於被衰減器2切斷部分(也就是，沒有包括在衰減角度中的部分)的輸入電壓Vin是零電壓。在這部分中，即使電源開關Ml處於導通狀態，附加電壓VA也是零電壓，並因此不產生從箝位電路100流向附加線圈C03的電流。[0050]當電源開關Ml關斷時，第二線圈C02的電壓變成通過將整流二極體Dl的正向電壓與輸出電壓VOUT相加來得到的電壓。附加電壓VA變成通過將匝數比wn2與第二線圈C02的電壓相乘來得到的正的電壓。因此，不產生從第二節點N2流向附加線圈C03的電流。也就是說，源電流ISl不流動。
[0051]正如所描述的，當附加電壓VA為零電壓或者正的電壓時，箝位電路100沒有被操作並且源電流ISl不流動。產生源電流ISl的周期僅僅是當衰減角度周期中電源開關Ml為導通狀態的時候。
[0052]箝位電路100包括電阻器R1、二極體D2以及雙極結型電晶體(BJT)Q，並且在電源開關Ml的導通周期期間將檢測電壓VS箝位到預定箝位電壓上。例如，預定箝位電壓可以是零電壓。在箝位電路100的箝位操作期間產生的源電流ISl根據附加電壓VA來決定，並且由於在電源開關Ml的導通周期期間附加電壓VA取決於輸入電壓Vin，所以源電流ISl取決於輸入電流Vin。
[0053]電阻器Rl包括以電壓VCCl作為輸入的第一端和連接到BJTQ上的第二端。二極體D2的陽極連接到BJTQ的基極處，電晶體D2的陰極接地。BJTQ的集電極連接到電流鏡電路200上，BJTQ的發射極連接到節點NI處。
[0054]二極體D2的閾值電壓(例如，0.7V)與BJTQ的基極電壓保持一致，並且BJTQ的閾值電壓被設定為與二極體D2的電壓相等。在電源開關Ml的導通周期期間，產生流過BJTQ的源電流IS1，並且在此情況下，BJTQ的發射極電壓對應於通過將閾值電壓從BJTQ的基極電壓中減去所得到的電壓，並因此將檢測電壓VS保持在零電壓。
[0055]電流鏡電路200通過對流向箝位電路100的源電流ISl進行鏡像來產生鏡像電流IS2。電流鏡相電路200包括第一電流源210和第二電流源220。
[0056]第一電流源210連接到電壓VCC2與BJTQ之間，並且利用VCC2向箝位電路100提供源電流ISl。第二電流源220連接到VCC2上，並且通過利用電壓VCC2對源電流ISl進行鏡像來產生鏡像電流IS2。在本發明的示例性的實施例中，源電流ISl與鏡像電流IS2被設置為彼此相等。
[0057]鏡像電流IS2流向檢測電阻器RS以使得產生衰減檢測電壓VDM。
[0058]採樣/保持單元300針對電源開關Ml的每一個開關循環周期來對衰減檢測電壓VDM進行採樣以產生採樣電壓VSA，並且保持採樣電壓VSA。例如，採樣/保持單元300在電源開關Ml的導通周期期間產生採樣電壓VSA，並且保持採樣電壓VSA直到電源開關Ml的下一個導通周期為止。
[0059]比較器400根據採樣電壓VSA與參考電壓VREF之間的比較結果來產生衰減檢測信號DIS。例如，比較器400包括以米樣電壓VSA作為輸入的非反相端(+)和以參考電壓VREF作為輸入的反相端(_)，並且當非反相端(+)的輸入高於反相端(_)的輸入時產生高電平衰減檢測信號DIS且當非反相端(+)的輸入低於反相端(_)的輸入時產生低電平衰減檢測信號DIS。
[0060]在本發明的示例性的實施例中，衰減檢測信號DIS的高電平寬度取決於衰減角度。當衰減角度增大時，衰減檢測信號DIS的高電平寬度增大。
[0061]衰減信號發生器20根據衰減檢測信號DIS產生衰減信號VDIM。衰減信號發生器20利用濾波電路來產生衰減信號VDIM，或者可以通過對衰減檢測信號DIS的循環周期和衰減檢測信號DIS的高電平時間進行測量並隨後用循環周期除衰減檢測信號DIS的高電平時間，來產生衰減信號VDM，。
[0062]圖1中說明了衰減信號發生器20使用濾波電路，並且如之前所述的，本發明並不限制於此。
[0063]衰減信號發生器20通過根據衰減檢測信號DIS對衰減電流IDM的供電進行控制來產生衰減信號VDIM。衰減信號發生器20包括恆定電流源500、電晶體M2、衰減電阻器RDIM以及衰減電容器CDM。
[0064]恆定電流源500利用電壓VCC3產生衰減電流IDM。衰減檢測信號DIS被輸入到電晶體M2的柵極電極上，電晶體M2的漏極電極連接到恆定電流源500上，並且電晶體M2的源極電極連接到衰減電阻器RDIM的第一端和衰減電容器CDIM的第一端處。衰減電阻器RDIM和衰減電容器CDIM相互並聯，衰減電阻器RDIM的第一端和衰減電容器CDIM的第一端連接到電晶體M2的源極電極處，並且衰減電阻器RDIM的第二端和衰減電容器CDIM的第二端連接到初級側地電平。
[0065]當通過高電平衰減檢測信號DIS使得電晶體M2處於導通狀態時，衰減電流IDM流向衰減電阻器RDIM和衰減電容器CDIM以便於產生一電壓且該電壓是衰減信號VDIM。
[0066]當衰減檢測信號DIS的高電平脈衝寬度增大時，電晶體M2的導通周期也增大並且產生衰減信號VDIM的周期增大，以使得衰減信號VDIM增大。
[0067]圖2示出了根據本發明的示例性的實施例的輸入電壓、衰減檢測電壓、衰減檢測信號、採樣電壓和衰減電壓。
[0068]如圖2中所示，輸入電壓Vin具有取決於衰減器2的衰減角度的波形。更詳細地，交流輸入AC的一部分(不包括在衰減角度中)被切斷並且被全波整流以便於產生輸入電壓 Vin。
[0069]對於產生輸入電壓Vin的衰減角度周期T0、Tl和T2，在電源開關Ml導通周期期間產生衰減檢測電壓VDM。由於在電源開關Ml導通周期期間附加電壓VA是取決於輸入電壓Vin的負的電壓，當輸入電壓Vin增大時附加電壓VA減小(絕對值增大)。相反地，當輸入電壓Vin減小時附加電壓增大(絕對值減小)。
[0070]當輸入電壓Vin增大時檢測電壓VS與附加電壓VA之間的電壓差增大以使得源電流ISl增大。相反地，當輸入電壓Vin減小時檢測電壓VS與附加電壓VA之間的電壓差減小以使得源電流ISl減小。
[0071]由通過對源電流ISl進行鏡像來產生的鏡像電流IS2產生衰減檢測電壓VDM，並因此衰減檢測電壓VDM取決於輸入電壓Vin。也就是說，當輸入電壓增大(或減小)的時候衰減檢測電壓VDM增大(或減小)。
[0072]對於衰減檢測電壓電源開關Ml的每一個導通周期，對衰減檢測電壓VDM進行採樣並由此產生採樣電壓VSA。在導通周期Tll中對衰減檢測電壓VDM進行採樣並由此採樣電壓VSA被產生且隨後被保持直到下一導通周期T12為止。在導通周期T12中對衰減檢測電壓VDM進行採樣並由此採樣電壓VSA被產生且隨後被保持直到下一導通周期為止。這樣的操作被交替地執行。
[0073]對於採樣電壓VSA高於參考電壓VREF的周期T20、T21以及T22，衰減檢測信號DIS為高電平信號。在這些周期期間，衰減電阻器RDIM和衰減電容器CDIM被供以衰減電流IDIM以產生衰減電壓VDM。相應地，衰減電壓VD頂具有取決於衰減角度的電平。
[0074]例如，圖2中所示的衰減電壓VDM的電平VLl是通過將(衰減角度)/180與衰減電流IDIM和衰減電阻RDIM的乘積相乘得到的值。因此，當衰減角度為180度時，衰減電壓VD頂為IDM X RD頂並且表示為VL0。當衰減角度為O度時，衰減電壓VD頂具有是電平VLO的一半的電平VL2。
[0075]正如所描述的，根據本發明的示例性的實施例，可以提供用於檢測衰減角度的方法以及包括衰減角度檢測電路的電源。
[0076]已結合當前被認為是實際的典型實施例對本發明進行說明，應當理解本發明並不限制於所公開的各個實施例，而相反地，本發明意在包括在所附權利要求書的精神和範圍內的各種修改和等價組合。
[0077]符號說明:
[0078]電源I
[0079]衰減器2
[0080]整流電路3
[0081]開關控制電路4
[0082]衰減角度檢測電路5
[0083]比較電路10
[0084]衰減信號發生器20
[0085]箝位電路100、
[0086]電流鏡電路200
[0087]採樣/保持單元300
[0088]比較器400
[0089]恆定電流源500
[0090]電晶體M2
[0091]檢測電阻器RS
[0092]衰減電阻器RDM
[0093]衰減電容器CDM
[0094]電阻器Rl
[0095]整流二極體Dl
[0096]二極體 D2
[0097]雙極結型電晶體BJTQ
【權利要求】
1.一種衰減角度檢測電路，包括: 比較電路，所述比較電路利用附加電壓來檢測衰減角度從而產生衰減檢測信號，所述附加電壓是以第一匝數比與初級側線圈連接的附加線圈的兩端電壓，所述初級側線圈連接到輸入電壓上；以及 衰減信號發生器，所述衰減信號發生器利用所述衰減檢測信號產生對應於所述衰減角度的衰減信號。
2.根據權利要求1的所述衰減角度檢測電路，其中，所述比較電路包括箝位電路，所述箝位電路產生將檢測電壓箝位到預定箝位電壓上的源電流，所述檢測電壓是第一電阻器的第二端的電壓，所述第一電阻器包括連接到所述附加電壓上的第一端。
3.根據權利要求2的所述衰減角度檢測電路，其中，所述箝位電路包括: 雙極結型電晶體BJT，所述BJT包括連接到所述第一電阻器的所述第二端處的第一電極以及連接到第一電流源上的第二電極； 二極體，所述二極體與連接到所述BJT的基極處的正極相連並接地；以及 第二電阻器，所述第二電阻器包括連接到所述BJT的基極處的第一端以及連接到第一電壓上的第二端。
4.根據權利要求2的所述衰減角度檢測電路，其中，所述比較電路通過對所述源電流進行鏡像來產生鏡像電流，並且通過將採樣電壓與預定參考電壓進行比較來產生所述衰減檢測信號，所述採樣電壓通過針對每個預定採樣循環周期對衰減檢測電壓進行採樣來產生，所述衰減檢測電壓由流向檢測電阻器的所述鏡像電流來產生。
5.根據權利要求4的所述衰減角度檢測電路，其中，所述衰減信號被用於控制電源開關的開關操作，並且所述預定採樣循環周期是電源開關的開關循環周期。
6.根據權利要求5的所述衰減角度檢測電路，其中，所述比較電路進一步包括採樣/保持單元，所述採樣/保持單元通過以開關循環周期對衰減檢測電壓進行採樣和保持來產生所述採樣電壓。
7.根據權利要求4的所述衰減角度檢測電路，進一步包括比較器，所述比較器根據所述衰減檢測電壓與所述參考電壓之間的比較結果來產生衰減檢測信號。
8.根據權利要求1的所述衰減角度檢測電路，其中，所述衰減信號發生器包括: 恆定電流源，所述恆定電流源產生所述衰減電流； 電晶體，所述電晶體包括被輸入所述衰減檢測信號的柵極和被輸入所述衰減電流的第一電極; 衰減電阻器，所述衰減電阻器連接到所述電晶體的第二電極處；以及 衰減電容器，所述衰減電容器連接到所述電晶體的第二電極處並且與所述衰減電阻器並聯。
9.根據權利要求1的所述衰減角度檢測電路，其中，所述衰減信號發生器對所述衰減檢測信號的循環周期以及第一電平周期進行測量，並且通過用所述衰減檢測信號的循環周期來除所述衰減檢測信號的所述第一電平周期來產生所述衰減信號。
10.一種衰減角度檢測方法，包括: 在以第一匝數比與初級側線圈連接的附加線圈的第一端產生附加電壓，所述初級側線圈連接到輸入電壓上；提供電流以保持第一電阻器的第二端處的檢測電壓，所述第一電阻器包括連接到所述附加線圈的第一端上且具有預定箝位電壓的第一端； 根據由所述源電流鏡像得到的鏡像電流產生衰減檢測電壓； 通過以預定採樣循環周期單位對所述衰減檢測電壓進行採樣和保持來產生採樣電壓；以及 根據所述採樣電壓與預定參考電壓之間的比較結果來產生衰減檢測信號。
11.根據權利要求10的所述衰減角度檢測方法，進一步包括利用所述衰減檢測信號來產生對應於衰減角度的衰減信號。
12.根據權利要求11的所述衰減角度檢測方法，其中，產生衰減信號包括根據所述衰減檢測信號使所述衰減電流在電晶體的導通周期期間流向相互並聯的衰減電阻器和衰減電容器，其中所述電晶體執行開關操作。
13.根據權利要求11的所述衰減角度檢測方法，其中，產生衰減信號包括: 對所述衰減檢測信號的循環周期和第一電平周期進行測量；以及 用所述衰減檢測信號的所述循環周期來除所述衰減檢測信號的所述第一電平周期。
14.根據權利要求10的所述衰減角度檢測方法，其中，產生所述衰減檢測電壓包括向檢測電阻器提供所述鏡像電流。
15.根據權利要求10的所述衰減角度檢測方法，其中，提供源電流包括當所述附加電壓具有負的電平時提供所述源電流以將所`述檢測電壓保持為零電壓。
16.—種電源,包括: 初級側線圈，所述初級側線圈包括被提供有輸入電壓的第一端，所述輸入電壓由經過衰減器的交流輸入整流得到； 電源，所述電源連接到所述初級側線圈的第二端處； 附加線圈，所述附加線圈以第一匝數比與所述初級側線圈連接； 第一電阻器，所述第一電阻器包括連接到所述附加線圈的第一端處的第一端； 衰減角度檢測電路，所述衰減角度檢測電路產生源電流以將所述第一電阻器的第二端處的檢測電壓保持為預定箝位電壓並且利用所述源電流產生對應於所述衰減器的衰減角度的衰減信號；以及 開關控制電路，所述開關控制電路根據所述衰減信號控制所述電源開關的開關操作。
17.根據權利要求16的所述電源，其中，所述衰減角度檢測電路利用由所述源電流鏡像得到的鏡像電流來產生衰減檢測電壓，根據採樣電壓與預定參考電壓之間的比較結果來產生衰減檢測信號，並且利用所述衰減檢測信號來產生所述衰減信號，其中所述採樣電壓通過以預定採樣循環周期單位對所述衰減檢測電壓進行採樣來產生。
18.根據權利要求17的所述電源，其中，所述衰減角度檢測電路包括: 電晶體，所述電晶體根據所述衰減檢測信號執行開關操作； 恆定電流源，所述恆定電流源向所述電晶體的第一電極提供衰減電流； 衰減電阻器，所述衰減電阻器包括連接到所述電晶體的第二電極處的第一端；以及 衰減電容器，所述衰減電容器包括連接到所述電晶體的所述第二電極處的第一端，並且 所述衰減電阻器和衰減電容器相互並聯並且所述衰減信號是所述衰減電阻器和所述衰減電容器的每一個的第一端處的電壓。
19.根據權利要求17的所述電源，其中，所述衰減角度檢測電路對所述衰減檢測信號的循環周期和第一電平周期進行測量並且通過用所述衰減檢測信號的所述循環周期來除所述衰減檢測信號的所述第一電平周期來產生所述衰減信號。
20.根據權利要求17的所述電源，其中，所述衰減角度檢測電路包括: 第一電極，所述第一電極連接到所述第一電阻器的第二端處並連接到第一電流源； 二極體，所述二極體與連接到所述BJT的基極處的正極相連並接地； 第二電阻器，所述第二電阻器包括連接到所述BJT的基極處的第一端以及連接到第一電壓上的第二端。
21.根據權利要求17的所述電源，其中，所述預定採樣循環周期單位是所述電源開關的開關循環周期單位。
22.根據權利要求16的所述電源，其中，所述衰減角度檢測電路包括檢測電阻器，所述鏡像電流流向所述檢測電阻器`，並且所述衰減檢測電壓是所述檢測電阻器上的電壓。
【文檔編號】G01R25/00GK103513104SQ201310244195
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年6月19日 優先權日:2012年6月20日
【發明者】嚴炫喆, 慎容祥 申請人:快捷韓國半導體有限公司