雙柵極線顯示裝置的測試結構及線缺陷測試方法
2023-10-17 08:49:54 2
專利名稱：雙柵極線顯示裝置的測試結構及線缺陷測試方法
技術領域：
本發明涉及顯示器領域，尤其涉及一種具有雙柵極線的液晶顯示裝置的測試結 構，以及利用該測試結構測試顯示裝置的線缺陷的方法。
背景技術：
近年來，隨著信息通訊領域的迅速發展，對各種類型的顯示設備的需求越來越大。 目前主流的顯示裝置主要有陰極射線管顯示器(CRT)，液晶顯示器(LCD)，等離子體顯示 器(PDP)，電致發光顯示器(ELD)和真空螢光顯示器(VFD)等。由於液晶顯示裝置具有輕、薄、佔地小、耗電小、輻射小等優點，被廣泛應用於各 種數據處理設備中，例如電視、筆記本電腦、行動電話、個人數字助理等。因為源極驅動器成本比柵極驅動器的成本高，所以減少數據線的數量會降低驅動 器的成本，具有雙柵極線(dual gate)的液晶顯示器通過減少一半數量的數據線，增加1倍 數量的柵極線來降低成本。圖1為現有技術的一種具有雙柵極線的液晶顯示裝置的電路結 構示意圖，雙柵極線的液晶顯示裝置具有多條數據線Si、S2、S3……S3n-2、S3n_l、S3n，與 數據線垂直的多條柵極線Gl、G2、G3……&1，同一行相鄰的像素不共用柵極線，不共用柵極 線的相鄰列像素共用一條數據線。圖2為現有技術的測試液晶顯示裝置驅動線線缺陷的測試電路示意圖，現有技術 測試液晶顯示裝置線缺陷的測試結構包括通過薄膜電晶體與柵極線G1、G2、G3……連接 的柵極線電壓輸入線G，通過薄膜電晶體與數據線Si、S2、S3……S3n-2、S3n_l、S3n連接的 數據線電壓輸入線S，與薄膜電晶體連接的開關控制線SW，該開關控制線SW控制所有與柵 極線電壓輸入線G和數據線電壓輸入線S連接的薄膜電晶體的開關。該現有的測試結構把 所有的數據線短路在一起，所有的柵極線短路在一起，所以相鄰的線之間的短路便不能測 出，此測試結構只能測試斷路。而且此種測試結構不能分別實現R畫面、G畫面和B畫面， 不能區分斷路時是同一像素單元內R數據線、G數據線和B數據線哪條斷路。
發明內容
本發明解決的問題是現有技術的具有雙柵極線的顯示裝置的測試結構不能測試 數據線和柵極線的短路，並且不能分別實現R畫面、G畫面和B畫面，因此數據線斷路時不 能區分是同一像素單元內R數據線、G數據線和B數據線哪條斷路。為解決上述問題，本發明提供一種雙柵極線顯示裝置的測試結構，包括第一數據 線測試線，通過薄膜電晶體與第一組數據線S1、S4、……S3n-2連接；第二數據線測試線，通 過薄膜電晶體與第二組數據線S2、S5、……S3n-1連接；第三數據線測試線，通過薄膜晶體 管與第三組數據線S3、S6、……S3n連接；柵極線測試線，通過薄膜電晶體與柵極線連接。可選的，第一數據線測試線、第二數據線測試線和第三數據線測試線包括共用的 數據線電壓輸入線，所述第一數據線測試線還包括第一數據線開關控制線，通過多個薄膜 電晶體的柵極與第一組數據線中對應的數據線連接、源極與所述共用的電壓輸入線連接；所述第二數據線測試線包括第二數據線開關控制線，通過多個薄膜電晶體的柵極與第二 組數據線中對應的數據線連接、源極與所述共用的電壓輸入線連接；所述第三數據線測試 線包括第三數據線開關控制線，通過多個薄膜電晶體與第三組數據線中對應的數據線連 接、源極與所述共用的電壓輸入線連接。本發明還提供一種利用以上所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方 法，包括在前半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵 極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓，使奇數柵極線控制的數據線 相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓即高電壓使偶數 柵極線控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓 控制薄膜電晶體導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控 制薄膜電晶體截止第二組數據線處於非導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控 制薄膜電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯 示屏顯示紅色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵 極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓即高電壓，使奇數柵極線控制 的數據線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵 極線控制的數據線相應的像素電極處於非導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓 控制薄膜電晶體截止第一組數據線處於非導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓 控制薄膜電晶體導通第二組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控 制薄膜電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯 示屏顯示紅色畫面。本發明提供另一種利用以上所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方 法，包括在前半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵 極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓，使奇數柵極線控制的數據線 相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線控 制的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜 電晶體截止第一組數據線處於非導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜 電晶體導通第二組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶 體管導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏顯示 綠色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵 極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使奇數數柵極線控制的數據線 相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線控制 的數據線相應的像素電極處於非導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜 電晶體導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶 體管導通第三組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶體 管截止第二組數據線處於非導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏顯示 綠色畫面。本發明還提供一種利用以上所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，包括在前半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵 極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使奇數柵極線控制的數據線相 應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線控制 的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶 體管導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶體 管導通第二組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體 截止第三組數據線處於非導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏顯示藍 色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵 極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓即高電壓使奇數柵極線控制的 數據線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極 線控制的數據線相應的像素電極處於非導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控 制薄膜電晶體導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制 薄膜電晶體截止第一組數據線處於非導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制 薄膜電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示 屏顯示藍色畫面。與現有技術相比，本發明具有以下優點根據雙柵極顯示裝置的電路連接結構，將數據線分成三組，每一組數據線分別通 過薄膜電晶體與不同的數據線測試線連接，通過控制相應的數據線測試線來控制數據線的 導通，可以分別實現R畫面、G畫面和B畫面，在判斷數據線斷路時可以準確知道同一像素 單元內的哪條數據線斷路以及短路。
圖1是現有技術的一種具有雙柵極線的液晶顯示裝置的電路結構示意圖。圖2是現有技術的測試液晶顯示裝置驅動線線缺陷的測試電路示意圖。圖3是本發明實施例的雙柵極線顯示裝置的測試結構電路示意圖。圖4是本發明實施例的利用測試電路測試數據線柵極線線缺陷的時序圖。
具體實施例方式本發明具體實施方式
的雙柵極顯示裝置的電路連接結構，每一組數據線分別通過 薄膜電晶體與第一數據線測試線、第二數據線測試線和第三數據線測試線連接，通過控制 相應的數據線測試線對不同組的的數據線進行測試，可以測試數據線之間的短路，而且可 以分別實現R畫面、G畫面和B畫面，在判斷數據線斷路時可以準確知道同一像素單元內的 哪條數據線斷路。為了使本領域技術人員可以更清楚的理解本發明的精神，下面結合附圖對本發明 做詳細介紹。圖3是本發明實施例的雙柵極線顯示裝置的測試結構電路示意圖，本發明的雙柵 極線顯示裝置的測試結構，包括第一數據線測試線，通過薄膜電晶體與第一組數據線Si、 S4、……S3n-2連接；第二數據線測試線，通過薄膜電晶體與第二組數據線S2、S5、……S3n-1連接；第三數據線測試線，通過薄膜電晶體與第三組數據線S3、S6、……S3n連接；柵 極線測試線，通過薄膜電晶體與柵極線連接。在該具體實施例中，第一數據線測試線、第二數據線測試線和第三數據線測試線 包括共用的數據線電壓輸入線D ；所述第一數據線測試線還包括第一數據線開關控制線 SW1，通過多個薄膜電晶體中相應的源極與第一組數據線Si、S4、……S3n-2中對應的數 據線連接、通過相應的柵極與共用的數據線電壓輸入線D連接；所述第二數據線測試線還 包括第二數據線開關控制線SW2，通過多個薄膜電晶體中相應的源極與第二組數據線S2、 S5、……S3n-1中對應的數據線連接、通過相應的柵極與共用的數據線電壓輸入線D連接； 所述第三數據線測試線還包括第三數據線開關控制線SW3，通過多個薄膜電晶體中相應 的源極與第三組數據線S3、S6、……S3n中對應的數據線連接、通過相應的柵極與共用的數 據線電壓輸入線D連接。所述柵極線測試線包括柵極線開關控制線SW，通過多個薄膜晶 體管的柵極與每一條柵極線連接；奇數柵極線電壓輸入線G0，通過所述多個薄膜電晶體中 對應的源極與奇數柵極線G1、G3……G2n-1連接；偶數柵極線電壓輸入線GE，通過所述多個 薄膜電晶體中對應的源極與偶數柵極線G2、G4……G2n連接。以上所述圖3所示的本發明的具體實施例僅是本發明中的一個實施例，根據本發 明的教導，本發明可以有許多不同的實施例，例如，所述第一數據線測試線可以包括第一 數據線開關控制線和數據線電壓輸入線，通過薄膜電晶體與第一組數據線連接，由該第一 數據線開關控制線和數據線電壓輸入線共同測試第一組數據線的線缺陷；所述第二數據線 測試線包括第二數據線開關控制線和數據線電壓輸入線，通過薄膜電晶體與第二組數據 線連接；所述第三數據線測試線包括第三數據線開關控制線和數據線電壓輸入線，通過 薄膜電晶體與第三組數據線連接；其中，數據線電壓輸入線可以分別為第一數據線電壓輸 入線、第二數據線電壓輸入線和第三數據線電壓輸入線，由該三條數據線電壓輸入線分別 對第一組數據線、第二組數據線和第三組數據線提供電壓，如果第一數據線測試線、第二數 據線測試線和第三數據線測試線共用一數據線電壓輸入線，即為圖3所示的本發明的具體 實施例。在其他的實施例中，可以為三組數據線共用一數據線開關控制線，三組數據線分 別由三條不同的數據線電壓輸入線，則該具體實施例中所述第一數據線測試線包括第一 數據線電壓輸入線和數據線開關控制線，通過薄膜電晶體與第一組數據線連接；所述第二 數據線測試線包括第二數據線電壓輸入線和數據線開關控制線，通過薄膜電晶體與第二 組數據線連接；所述第三數據線測試線包括第三數據線電壓輸入線和數據線開關控制 線，通過薄膜電晶體與第三組數據線連接；並且第一數據線測試線、第二數據線測試線和第 三數據線測試線還包括共用的一數據線開關控制線。以上所述並沒有涵蓋所有本發明的具體實施例，只要可以使三組數據線分別導 通，使顯示裝置可以分別呈現R畫面、G畫面和B畫面均為本發明的教導。本發明還提供一種利用所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，控 制第一數據線測試線、第二數據線測試線、第三數據線測試線以及柵極線測試線，使第一組 數據線、第二組數據線和第三組數據線中其中一組數據線處於導通狀態並在顯示裝置的屏 幕上呈現其對應的像素的畫面。下面結合具體實施例，對本發明的測試方法做詳細介紹。
圖4為本發明具體實施例的實現R畫面測試數據線柵極線線缺陷的時序圖，同時 參考圖3、圖1，該測試方法包括在前半時序中，給柵極線開關控制線SW—控制電壓控制薄 膜電晶體導通使所有的柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線GO輸入測試電壓 即低電壓，使奇數柵極線G1、G3……G2n-1控制的數據線相應的像素電極處於非導通狀態， 給偶數柵極線電壓輸入線GE輸入測試電壓即高電壓使偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數 據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線SWl —控制電壓即高電壓控 制薄膜電晶體導通第一組數據線S1、S4、……S3n-2處於導通狀態，給第二數據線開關控制 線SW2 —控制電壓控制薄膜電晶體截止第二組數據線S2、S5、……S3n-1處於非導通狀態， 給第三數據線開關控制線SW3 —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第三組數據線S3、 S6、……S3n處於導通狀態，在以上所述狀態下，給數據線電壓輸入線D輸入測試電壓即高 電壓，此時偶數柵極線G2、G4……G2n對應的藍色像素和綠色像素不透過，顯示屏上顯示紅 色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線SW—控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有 的柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線GO輸入測試電壓即高電壓，使奇數柵極 線Gl、G3……G2n-1控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線 GE輸入測試電壓即低電壓使偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線相應的像素電極處於 非導通狀態；給第一數據線開關控制線SWl —控制電壓即低電壓控制薄膜電晶體截止第一 組數據線S1、S4、……S3n-2處於非導通狀態，給第二數據線開關控制線SW2 —控制電壓即 高電壓控制薄膜電晶體導通第二組數據S2、S5、……S3n-1線處於導通狀態，給第三數據線 開關控制線SW3 —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第三組數據線S3、S6、……S3n 處於導通狀態；給數據線電壓輸入線D輸入測試電壓，此時奇數柵極線G1、G3……G2n-1對 應的藍色像素和綠色像素不透過，顯示屏上顯示紅色畫面。在完成以上所述的前半時序和後半時序中的步驟後，整個顯示屏上呈現紅色畫 面，在出現綠色的亮線的位置相應的數據線斷路，在出現暗線的位置相應的數據線與鄰近 的數據線短路，在出現白色亮線行相應位置的柵極線斷路，在此只列舉有限的線缺陷顯示 效果，本領域的技術人員可以推知其他線缺陷顯示效果。以數據線Si為例說明，如果Sl斷 路，在顯示灰階畫面時，數據線S 1對應位置顯示一條黃色的亮線；在顯示紅畫面時，數據 線Sl對應位置顯示一條綠色亮線。需要說明的是，此顯示結果是在常白模式下的顯示結 果，在常黑模式下，其顯示結果做相應的變化，在此不做贅述，本領域的技術人員可以推知。以上所述方法為在紅色畫面下，檢測數據線線缺陷，如果在綠色畫面下檢測數據 線線缺陷，包括步驟在前半時序中，給柵極線開關控制線SW —控制電壓控制薄膜電晶體 導通使所有的柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線GO輸入測試電壓即低電壓， 使奇數柵極線Gl、G3……G2n-1控制的數據線相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵 極線電壓輸入線GE輸入測試電壓即高電壓使偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線相應 的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線SWl —控制電壓即低電壓控制薄膜晶 體管截止第一組數據線S1、S4、……S3n-2處於非導通狀態，給第二數據線開關控制線SW2 一控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第二組數據線S2、S5、……S3n-1處於導通狀態， 給第三數據線開關控制線SW3 —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第三組數據線S3、 S6、……S3n處於導通狀態，給數據線電壓輸入線D輸入測試電壓即高電壓，此時由偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線對應的紅色像素和藍色像素不透光，顯示屏顯示綠色畫在後半時序中，給柵極線開關控制線SW—控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有 的柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線GO輸入測試電壓即高電壓使奇數數柵 極線G1、G3……G2n-1控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入 線GE輸入測試電壓即低電壓使偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線相應的像素電極處 於非導通狀態；給第一數據線開關控制線SWl —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第 一組數據線S1、S4、……S3n-2處於導通狀態，給第二數據線開關控制線SW2 —控制電壓即 高電壓控制薄膜電晶體導通第二組數據線S2、S5、……S3n-1處於導通狀態，給第三數據線 開關控制線SW3 —控制電壓即低電壓控制薄膜電晶體截止第三組數據線S3、S6、……S3n 處於非導通狀態；給數據線電壓輸入線D輸入測試電壓即高電壓，此時由奇數柵極線G1、 G3……G2n-1控制的數據線對應的紅色像素和藍色像素不透光，顯示屏顯示綠色畫面。在完成以上所述的前半時序和後半時序中的步驟後，整個顯示屏上呈現G像素對 應的綠色畫面，此時可以根據畫面上的顯示缺陷，判斷所有的G像素對應的數據線哪條數 據線出現缺陷。舉例說明，如果數據線Sl斷路，對應位置顯示一條紅色的亮線；如果柵極線 G2斷路時，在顯示顏色(RGB)畫面時是一條白色的亮線，如果顯示灰階畫面時對應位置顯 示一條比該灰階亮的亮線。接下來說明在藍色畫面下檢測數據線線缺陷該方法還包括在前半時序中，給柵 極線開關控制線SW—控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵極線處於導通狀態，給奇 數柵極線電壓輸入線GO輸入測試電壓即低電壓使奇數柵極線Gl、G3……G2n-1控制的數據 線相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線GE輸入測試電壓即高電壓 使偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線 開關控制線SWl —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第一組數據線S1、S4、……S3n-2 處於導通狀態，給第二數據線開關控制線SW2 —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第 二組數據線S2、S5、……S3n-1處於導通狀態，給第三數據線開關控制線SW3 —控制電壓即 低電壓控制薄膜電晶體截止第三組數據線S3、S6、……S3n處於非導通狀態；給數據線電 壓輸入線D輸入測試電壓即高電壓，此時由偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線對應的 紅色像素和綠色像素不透過，顯示屏顯示藍色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線SW—控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有 的柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線GO輸入測試電壓即高電壓使奇數柵極 線G1、G3……G2n-1控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線 GE輸入測試電壓即低電壓使偶數柵極線G2、G4……G2n控制的數據線相應的像素電極處於 非導通狀態；給第一數據線開關控制線SWl —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第一 組數據線S1、S4、……S3n-2處於導通狀態，給第二數據線開關控制線SW2 —控制電壓即低 電壓控制薄膜電晶體截止第二組數據線S2、S5、……S3n-1處於非導通狀態，給第三數據線 開關控制線SW3 —控制電壓即高電壓控制薄膜電晶體導通第三組數據線S3、S6、……S3n 處於導通狀態；給數據線電壓輸入線D輸入測試電壓，此時奇數柵極線G1、G3……G2n-1對 應的紅色像素和綠色像素不透過，顯示屏顯示藍色畫面。在完成以上所述的前半時序和後半時序中的步驟後，整個顯示屏上呈現B像素對應的藍色畫面，此時可以根據畫面上的顯示缺陷，判斷所有的B像素對應的數據線哪條數 據線出現缺陷。舉例說明，如果數據線Sl斷路，對應位置顯示一條黃色的亮線；如果柵極線 G2斷路時，在顯示顏色(RGB)畫面時是一條白色的亮線，如果顯示灰階畫面時對應位置顯 示一條比該灰階亮的亮線。需要說的是，還包括在進行測試之前，首先給第一數據線開關控制線SW1、第二 數據線開關控制線SW2、第三數據線開關控制線SW3、柵極線開關控制線SW控制電壓，使所 有的數據線和柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線GO和偶數柵極線GE電壓輸 入高電壓，給數據線電壓輸入線D—低電壓，對所有的數據線電壓進行清零。以顯示紅色畫 面為例，在顯示完紅色畫面後，G和B像素已經為高電壓，為暗，如不進行清除電壓的動作， 則需求顯示G像素對應的綠色畫面時，G像素仍為暗，無法顯示綠色，故需要電位清零。以上所述僅為本發明的具體實施例，為了使本領域技術人員更好的理解本發明的 精神，然而本發明的保護範圍並不以該具體實施例的具體描述為限定範圍，任何本領域的 技術人員在不脫離本發明精神的範圍內，可以對本發明的具體實施例做修改，而不脫離本 發明的保護範圍。
權利要求
1.一種雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，包括第一數據線測試線，通過薄 膜電晶體與第一組數據線(S1、S4、……S3n-2)連接；第二數據線測試線，通過薄膜電晶體 與第二組數據線(S2、S5、……S3n-1)連接；第三數據線測試線，通過薄膜電晶體與第三組 數據線(S3、S6、……S3n)連接；柵極線測試線，通過薄膜電晶體與柵極線連接。
2.如權利要求1所述的雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，所述第一數據線 測試線包括第一數據線開關控制線和數據線電壓輸入線，通過多個薄膜電晶體的柵極與 所述第一數據線開關控制線連接、源極與數據線電壓輸入線連接、漏極分別與第一組數據 線中對應的數據線連接。
3.如權利要求1所述的雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，所述第二數據線 測試線包括第二數據線開關控制線和數據線電壓輸入線，通過多個薄膜電晶體的柵極與 所述第二數據線開關控制線連接、源極與數據線電壓輸入線連接、漏極分別與第二組數據 線中對應的數據線連接。
4.如權利要求1所述的雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，所述第三數據線 測試線包括第三數據線開關控制線和數據線電壓輸入線，通過多個薄膜電晶體的柵極與 所述第二數據線開關控制線連接、源極與數據線電壓輸入線連接、漏極分別與第三組數據 線中對應的數據線連接。
5.如權利要求1所述的雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，第一數據線測試 線、第二數據線測試線和第三數據線測試線包括共用的數據線電壓輸入線，所述第一數據 線測試線還包括第一數據線開關控制線，通過多個薄膜電晶體的柵極與第一組數據線中 對應的數據線連接、源極與所述共用的電壓輸入線連接；所述第二數據線測試線包括第 二數據線開關控制線，通過多個薄膜電晶體的柵極與第二組數據線中對應的數據線連接、 源極與所述共用的電壓輸入線連接；所述第三數據線測試線包括第三數據線開關控制 線，通過多個薄膜電晶體與第三組數據線中對應的數據線連接、源極與所述共用的電壓輸 入線連接。
6.如權利要求1所述的雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，所述柵極線測試 線包括柵極線開關控制線，通過多個薄膜電晶體的柵極與每一條柵極線連接；奇數柵極 線電壓輸入線，通過所述多個薄膜電晶體中對應的源極與奇數柵極線連接；偶數柵極線電 壓輸入線，通過所述多個薄膜電晶體中對應的源極與偶數柵極線連接。
7.如權利要求5所述的雙柵極線顯示裝置的測試結構，其特徵在於，所述柵極線測試 線包括柵極線開關控制線，通過多個薄膜電晶體的柵極與每一條柵極線連接；奇數柵極 線電壓輸入線，通過所述多個薄膜電晶體中對應的源極與奇數柵極線連接；偶數柵極線電 壓輸入線，通過所述多個薄膜電晶體中對應的源極與偶數柵極線連接。
8.一種利用權利要求1所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，其特徵 在於，包括控制第一數據線測試線、第二數據線測試線、第三數據線測試線以及柵極線測 試線，通過控制測試電壓，使顯示屏上顯示紅色畫面或綠色畫面或者藍色畫面。
9.一種利用權利要求7所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，其特徵 在於，包括在前半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的 柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓，使奇數柵極線控制的數據 線相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓即高電壓使偶數柵極線控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電 壓控制薄膜電晶體導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓 控制薄膜電晶體截止第二組數據線處於非導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓 控制薄膜電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使 顯示屏顯示紅色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵極線 處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓即高電壓，使奇數柵極線控制的數 據線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線 控制的數據線相應的像素電極處於非導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制 薄膜電晶體截止第一組數據線處於非導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制 薄膜電晶體導通第二組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄 膜電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏 顯示紅色畫面。
10.一種利用權利要求7所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，其特 徵在於，包括在前半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有 的柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓，使奇數柵極線控制的數 據線相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極 線控制的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制 薄膜電晶體截止第一組數據線處於非導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制 薄膜電晶體導通第二組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄 膜電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏 顯示綠色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵極線 處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使奇數數柵極線控制的數據線相應 的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線控制的數 據線相應的像素電極處於非導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶體 管導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體 導通第三組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體截 止第二組數據線處於非導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏顯示綠色 畫面。
11.一種利用權利要求7所述的測試結構測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，其特 徵在於，包括在前半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的 柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使奇數柵極線控制的數據線 相應的像素電極處於非導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線控 制的數據線相應的像素電極處於導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜 電晶體導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶 體管導通第二組數據線處於導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜晶體 管截止第三組數據線處於非導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏顯示藍色畫面；在後半時序中，給柵極線開關控制線一控制電壓控制薄膜電晶體導通使所有的柵極線 處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓即高電壓使奇數柵極線控制的數據 線相應的像素電極處於導通狀態，給偶數柵極線電壓輸入線輸入測試電壓使偶數柵極線控 制的數據線相應的像素電極處於非導通狀態；給第一數據線開關控制線一控制電壓控制薄 膜電晶體導通第一組數據線處於導通狀態，給第二數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜 電晶體截止第一組數據線處於非導通狀態，給第三數據線開關控制線一控制電壓控制薄膜 電晶體導通第三組數據線處於導通狀態；給數據線電壓輸入線輸入測試電壓，使顯示屏顯 示藍色畫面。
12.如權利要求9 11任一項所述的測試雙柵極線顯示裝置線缺陷的方法，其特徵在 於，還包括給第一數據線開關控制線、第二數據線開關控制線、第三數據線開關控制線、柵 極線開關控制線控制電壓，使所有的數據線和柵極線處於導通狀態，給奇數柵極線電壓輸 入線和偶數柵極線電壓輸入高電壓，給數據線電壓輸入線一低電壓，對所有的數據線電壓進行清零。
全文摘要
一種雙柵極線顯示裝置的測試結構及線缺陷測試方法，測試結構包括第一數據線測試線，通過薄膜電晶體與第一組數據線連接；第二數據線測試線，通過薄膜電晶體與第二組數據線連接；第三數據線測試線，通過薄膜電晶體與第三組數據線連接；柵極線測試線，通過薄膜電晶體與柵極線連接。根據雙柵極顯示裝置的電路連接結構，將數據線分成三組，每一組數據線分別通過薄膜電晶體與不同的數據線測試線連接，通過控制相應的數據線測試線來控制數據線的導通，可以分別實現R畫面、G畫面和B畫面，在判斷數據線斷路時可以準確知道同一像素單元內的哪條數據線斷路以及短路。
文檔編號G09G3/00GK102110400SQ20091024805
公開日2011年6月29日 申請日期2009年12月29日 優先權日2009年12月29日
發明者李元 申請人:上海天馬微電子有限公司