薄膜檢測方法及檢測裝置的製作方法
2023-10-06 22:09:54 1
專利名稱：薄膜檢測方法及檢測裝置的製作方法
技術領域：
本發明有關於一種檢測方法及檢測裝置，特別是指一種薄膜檢測方法及檢測裝置。
背景技術：
參閱圖1，為現有貼附於顯示面板(圖未示)的相位延遲膜900，主要功能為產生3D影像。該相位延遲膜900包含複數個第一相位顯示區域910及複數個第二相位顯示區域920，該複數個第一相位顯示區域910及該複數個第二相位顯示區域920相互平行且間隔排列。在實際應用中，由於相位延遲膜900會受其高分子膜本身脹縮的特性，導致第一相位顯示區域910及第二相位顯示區域920的寬度Dpixel產生改變，而無法準確對應面板上的像素，進而影響影像的3D效果。 然而，現今常見的檢測方法是測量相位延遲膜900的總長度Dtotal，接著計算相位延遲膜900所具有第一相位顯示區域910及第二相位顯示區域920的數量，最後將相位延遲膜的總長度Dtotal除以總相位顯示區域的數量，即可得到各相位顯示區域的平均寬度Dpixel (average)。並以Dpixel (average)是否介於預定範圍內，進而預估相位延遲膜900於面板的表現，但此檢測方法並無法得知該相位延遲膜900中各個相位顯示區域的寬度Dpixel數據，因此無法準確預估該相位延遲膜900上各相位顯示區域於顯示面板上的3D效果。
發明內容
因此，鑑於現有技術的不足，本發明提供一種可更精確檢測待測薄膜的均勻度的薄膜檢測方法及檢測裝置。根據本發明的目的之一提出一種薄膜檢測方法，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，該薄膜檢測方法包含以下步驟(A)讀取待測薄膜的參考位置；(B)於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像；(C)計算該多張檢測影像中對應該參考位置的校準位置與該參考位置的距離差，並對應產生多個偏移值；及
(D)輸出該多個偏移值。作為可選的技術方案，該步驟(D)是將處理單元所產生的所有偏移值以圖形化的方式輸出。作為可選的技術方案，該待測薄膜包括複數個相互平行且間隔排列的第一相位顯示區域及第二相位顯示區域，該參考位置的起始點位於其中一第一相位顯示區域及其鄰近的第二相位顯示區域的交界位置。作為可選的技術方案，該參考位置位於各該檢測影像的中心位置。作為可選的技術方案，該校準位置為位於各該檢測影像中間區域的第一相位顯示區域與第二相位顯示區域的交界位置。根據本發明的另一目的提出一種薄膜檢測方法，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，該薄膜檢測方法包含以下步驟(A)讀取該待測薄膜的參考影像；(B)於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像；(C)將該多張檢測影像分別與該參考影像相減，以產生多個差值影像；(D)根據該多個差值影像，產生對應該待測薄膜的均勻度的偏移量 '及(E)輸出該偏移量。作為可選的技術方案，該步驟(A)是於該待測薄膜上擷取該參考影像。作為可選的技術方案，若該差值影像的灰階值高於該預設值，則視該差值影像為全白畫面，若該差值影像的灰階值低於該預設值，則視該差值影像為全黑畫面。作為可選的技術方案，該步驟(D)包括以下子步驟(D-I)計算該多個差值影像的灰階值高於預設值的數量；(D-2)將所計算的灰階值高於預設值的差值影像的數量與該多個檢測影像的解析度相除，以求得該多個檢測影像中灰階值高於該預設值的比例；及(D-3)根據該多個檢測影像中灰階值高於該預設值的比例，產生對應該比例的偏移量。 根據本發明的另一目的提出一種檢測裝置，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，該檢測裝置包含儲存單元，儲存該待測薄膜的參考位置；攝像單元，用以於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像；處理單元，耦接於該儲存單元及該攝像單元，該處理單元從該儲存單元中讀取該參考位置，並計算該多個檢測影像中對應該參考位置的校準位置與該參考位置的距離差而對應產生多個偏移值；及輸出單元，耦接於該處理單元，用以輸出該多個偏移值。作為可選的技術方案，該輸出單元將該處理單元所產生的所有偏移值以圖形化的方式輸出。作為可選的技術方案，該輸出單元輸出該多個偏移值至檢測電路，該檢測電路將該多個偏移值分別與標準差值進行比較，以檢測該待測薄膜。作為可選的技術方案，該待測薄膜包括複數個相互平行且間隔排列的第一相位顯示區域及第二相位顯示區域，該參考位置的起始點位於其中一第一相位顯示區域及其鄰近的第二相位顯示區域的交界位置。作為可選的技術方案，該參考位置位於各該檢測影像的中心位置。作為可選的技術方案，該校準位置為位於各該檢測影像中間區域的第一相位顯示區域與第二相位顯示區域的交界位置。根據本發明的在一目的提出一種檢測裝置，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，該檢測裝置包含攝像單元，用以於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像；儲存單元，儲存該攝像單元所擷取的參考影像；處理單元，耦接於該儲存單元及該攝像單元，該處理單元讀取該待測薄膜的參考影像，且將該多個檢測影像分別與該參考影像相減，以產生多個差值影像，並根據該多個差值影像，產生對應該待測薄膜均勻度的偏移量；及輸出單元，耦接於該處理單元，用以輸出該偏移量。作為可選的技術方案，還包含耦接於該處理單元的計數單元，當該處理單元判斷該多個差值影像的灰階值高於預設值時，控制該計數單元計數，該處理單元並將該計數單元所計數的差值影像中全白畫面的數量與該多個檢測影像的解析度相除，以求得該多個檢測影像中灰階值高於該預設值的比例，再將根據該比例產生該偏移量。作為可選的技術方案，該參考影像由該攝像單元於該待測薄膜上擷取，並儲存於該儲存單元，該處理單元再從該儲存單元中讀取該參考影像；或者，該參考影像預先儲存於該儲存單元，該處理單元於該儲存單元中讀取該參考影像。本發明的好處在於，可圖形化待測薄膜貼於顯示面板上的表現，更精準地檢測待測薄膜，並可應用於自動化檢測待測薄膜，減少檢測的人力耗費，提高檢測效率。
圖I是說明現有技術的相位延遲膜的示意圖；圖2是說明第一實施例的薄膜檢測方法的流程圖；圖3是說明第一實施例的檢測裝置的示意圖；圖4是說明本發明待測薄膜的示意圖；圖5是說明攝像單元於待測薄膜對應顯示面板的像素排列方向上擷取多張檢測 影像的示意圖；圖6是說明攝像單元所擷取的其中四張檢測影像的示意圖；圖7是說明待測薄膜均勻度的一種特性曲線圖；圖8是說明待測薄膜均勻度的另一種特性曲線圖；圖9是說明本發明檢測裝置配合測試機臺使用的示意圖；圖10是說明檢測通過的待測薄膜所對應的特性曲線圖；圖11是說明檢測未通過的待測薄膜所對應的特性曲線圖；圖12是說明第二實施例的薄膜檢測方法的流程圖；圖13是說明第二實施例的檢測裝置的示意圖；圖14是說明攝像單元於待測薄膜對應顯示面板的像素排列方向上擷取多張檢測影像的示意圖；圖15是說明檢測影像與參考影像完全重疊的示意圖；圖16是說明檢測影像與參考影像出現偏差的示意圖；圖17是說明檢測影像與參考影像偏差達一個像素距離的示意圖；圖18是說明第二實施例的處理單元根據該多個差值影像而產生偏移量的流程圖；圖19是說明全白畫面比例與偏移量的對照表。
具體實施例方式為使對本發明的目的、構造、特徵、及其功能有進一步的了解，茲配合實施例詳細說明如下。參閱圖2至圖4，為本發明薄膜檢測方法的第一實施例，此檢測方法應用於檢測裝置100，針對用以貼附於顯示面板(圖未示)的待測薄膜200進行檢測，在本實施例中，檢測裝置100為自動光學檢測設備(Automated Optical Inspection, AOI),待測薄膜200為相位延遲膜，其中包含複數個相互平行且間隔排列的第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220。檢測裝置100包含儲存單元10、攝像單元20、處理單元30及輸出單元40。儲存單元10為記憶體,用以儲存與待測薄膜200有關的參考位置Pref。攝像單元20可為電荷率禹合元件(Charge Coupled Device,CO))或互補式金屬氧化物半導體感測器(CMOS sensor)等攝像元件，用以擷取待測薄膜200的影像。處理單元30耦接於儲存單元10及攝像單元20，用以處理攝像單元20所擷取的影像，並產生對應的偏移值。輸出單元40耦接於處理單元30，用以輸出偏移值。參閱圖2、圖3及圖5，本第一實施例的薄膜檢測方法的具體流程如下步驟SI I，處理單元30從儲存單元10中讀取待測薄膜200的參考位置Pref，先定位於其中一第一相位顯示區域210及其鄰近的第二相位顯示區域220的交界位置，以作為參考位置Pref的起始點，在本實施例中，再於待測薄膜200對應顯示面板的像素排列方向上從起始點開始每隔40個像素距離讀取一位置信息作為參考位置Pref,且參考位置Pref位於步驟S12中攝像單元20所擷取的檢測影像的中心位置，但並不以此為限，於其他實施例中，參考位置Pref為步驟S12中攝像單元20所擷取的檢測影像的最右側或最左側的邊界位置。步驟S12，攝像單元20於待測薄膜200對應顯示面板的像素排列方向上以固定的 間隔距離擷取多張檢測影像50。配合參閱圖6，本實施例的攝像單元20是每隔40個像素距離(pixel distance)擷取一張檢測影像50 (檢測影像的中心位置至與其相鄰的檢測影像的中心位置距離為40個像素)，每張檢測影像50皆包括至少兩個第一相位顯示區域210，及至少兩個第二相位顯示區域220，第二相位顯示區域220分別與第一相位顯示區域210間隔排列，且每張檢測影像50的大小皆相同。為了便於說明，圖6中只繪示四張檢測影像50，且分別標號為51 54，但間隔距離、擷取的影像張數及每張檢測影像中所包含的第一相位顯示區域210與第二相位顯示區域220的數量皆不以本實施例為限。步驟S13，處理單元30計算多個檢測影像51 54中對應參考位置Pref的校準位置(即位於檢測影像51 54中間區域的第一相位顯示區域210與第二相位顯示區域220的交界位置)與參考位置Pref的距離差，並對應產生多個偏移值。以圖6為例，四張檢測影像51 54的校準位置分別與參考位置Pref的距離差為Dl D4。特別說明的是，由於本實施例的參考位置Pref是被設定在每張影像的正中間，且理論上，每個第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220的寬度皆為顯示面板中一個像素的寬度，因此，在攝像單元20的定位精確度足夠的情況下，每張檢測影像51 54中與參考位置Pref對應的校準位置理應與參考位置Pref完全重疊，若兩者之間出現偏差，即表示第一相位顯示區域210或第二相位顯示區域220可能因製程誤差或本身膨脹特性而導致其寬度不為一個像素的寬度，因此透過各個偏移值即可檢測得知第一相位顯示區域210或第二相位顯示區域220的實際偏移寬度。當然，用於判斷第一相位顯示區域210或第二相位顯示區域220的寬度的校準位置也可以設定在與本實施例的不同的其他位置，例如檢測影像51 54中位於最右邊的第一相位顯示區域210與第二相位顯示區域220交界位置，或是位於最左邊的第一相位顯示區域210與第二相位顯示區域220交界位置，並不以中間位置為限。步驟S14，輸出單元40輸出多個偏移值。在本實施例中，輸出單元40是將處理單元30所產生的所有偏移值繪製成一個特性曲線圖輸出，如圖7所示。圖7的橫軸為相位顯示區域的間距數，縱軸為對應相位顯示區域的實際偏移值(μ m)，圖7可顯示整張待測薄膜200的偏移值特性分布，透過曲線的變化得以判斷待測薄膜200的均勻度。參閱圖5至圖7，在本實施例中，攝像單元20是從待測薄膜200的其中一側(如待測薄膜200的左側)往其中另一側(如待測薄膜200的右側)的方向以固定的間隔距離擷取檢測影像50，然而每次擷取的檢測影像50，其對應產生的偏移值會為間距距離(例如40個像素距離)中每個第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220的寬度誤差和，因此，鄰近待測薄膜200左側的檢測影像50所對應產生的偏差值會低於鄰近待測薄膜200右側的檢測影像50所對應產生的偏差值。當然，也可以定位於待測薄膜200最中間的第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220的交界位置，攝像單元20可以交界位置為中心，一左一右的分別往待測薄膜200的兩相反側擷取檢測影像50，如此，鄰近待測薄膜200中間的檢測影像50所對應產生的偏差值則會低於鄰近待測薄膜200兩相反側的檢測影像50所對應產生的偏差值，其輸出單元40所輸出的特性曲線圖會如圖8所示，本發明不以本實施例為限。在實際應用上，本實施例的檢測裝置100可與測試機臺(圖未示)配合使用，如圖9所示，整卷的薄膜透過測試機臺的輸送及裁切而形成適合不同規格的顯示面板的待測薄膜200，檢測裝置100再利用上述的檢測方法，分別針對各待測薄膜200的兩相反側(例如兩T點位置)分別對應顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多檢測影像，並分別將所產生的多個偏移值繪製成兩特性曲線圖，以供測試人員得以藉由兩特性曲線圖檢測待測薄膜200的均勻度。若多個偏移值皆小於對應顯示面板的規格的標準曲線LI，如圖10所示，則視為檢測通過，測試機臺將待測薄膜200輸送至良品區；反之，若多個偏移值有部分大於標準曲線LI，如圖11中虛線框部分所示，則視為檢測不通過，測試機臺將待測薄膜200輸送至修補或報廢區。如此將能達到更精確且更快速地檢測各待測薄膜200的目的。特別說明的是，為了達到全自動化檢測，輸出單元40也可將所有偏移值輸出至檢測電路(圖未示，其可內建或外置於處理單元30)，檢測電路用以將多個偏移值分別與對應的標準曲線LI的標準差值(如圖10及圖11所示，其值為150)進行比較，若全部偏移值皆小於標準差值，即表示檢測通過；若有至少一偏移值大於標準差值，即表示檢測不通過，之後測試機臺再配合檢測電路的比較結果將待測薄膜200輸送至對應區域，如此將可更節省測試的人力，降低測試成本。此外，檢測裝置100擷取影像的位置也不限於待測薄膜200的兩相反側，可以是待測薄膜200的兩相反側及中間位置，或是任意多個位置，以更精確地檢測各待測薄膜200。參閱圖12及圖13，為本發明薄膜檢測方法的第二實施例，在本實施例中，檢測方法應用於檢測裝置100』，檢測裝置100』包含儲存單元10』、攝像單元20』、處理單元30』、輸出單元40』及計數單元60』。儲存單元10』為記憶體，用以儲存攝像單元20』所擷取的影像。攝像單元20』可為電荷稱合元件((XD)或互補式金屬氧化物半導體感測器(CMOS sensor)等攝像元件，用以擷取待測薄膜200的影像。處理單元30』耦接於儲存單元10』及攝像單元20』，用以處理攝像單元20』所擷取的影像，並產生對應的偏移值。輸出單元40』耦接於處理單元30』，用以輸出偏移量。計數單元60』耦接於處理單元30』，其功能於後續說明。參閱圖12至圖14，本第二實施例的薄膜檢測方法的具體流程如下步驟S21，攝像單元20』於待測薄膜200上擷取一張參考影像Image (ref)，並將其儲存於儲存單元10』中，以供處理單元30』讀取。步驟S22，攝像單元20』於待測薄膜200對應顯示面板的像素排列方向上以固定的 間隔距離擷取多張檢測影像Image(N)，其中N為正整數。本實施例的攝像單元20』也是每隔40個像素距離擷取一張檢測影像，且每張檢測影像的影像範圍大小皆相同。步驟S23，處理單元30』將多張檢測影像Image (N)分別與儲存於儲存單元10』中的參考影像Image (ref)相減，以產生多個差值影像Image_delta,如圖15至圖17所示。參閱圖15至圖17,若檢測影像Image(N)中每個第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220的寬度與參考影像Image (ref)中每個第一相位顯示區域210及第二相位 顯不區域220的寬度相同，則兩者相減後，差值影像Image_delta會成全黑畫面，如圖15所示，若兩者之間出現偏差，即表示第一相位顯示區域210或第二相位顯示區域220可能因製程誤差而導致其寬度不為一個像素的寬度，則差值影像Image_delta中會出現白色條紋畫面，如圖16所示，若檢測影像Image(N)中第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220與參考影像Image (ref)中第一相位顯示區域210及第二相位顯示區域220位置完全交錯，即偏差達一個像素距離，則差值影像Image_delta會成全白畫面，如圖17所示。由圖15至圖17可知，透過差值影像Image_delta中白色畫面的比例即可判斷檢測影像Image(N)中第一相位顯示區域210或第二相位顯示區域220的實際寬度。因此參閱圖12及圖13，步驟S24，處理單元30』根據多個差值影像Image_delta，產生對應待測薄膜200的均勻度的偏移量。詳細地來說，配合參閱圖18，步驟S24還包括以下子步驟步驟S241，處理單元30』分別判斷多個差值影像Image_delta的灰階是否高於預設值，若是，則執行步驟S242，處理單元30』視差值影像Image_delta為全白畫面，且控制計數單元60』計數，之後執行步驟S244 ;若否，則執行步驟S243，處理單元30』視差值影像Image_delta為全黑畫面,之後執行步驟S244。步驟S244，處理單元30』將計數單元60』所計數的差值影像中全白畫面的數量與檢測影像Image(N)的解析度(如640X480)相除，以求得多個檢測影像Image(N)中為全白畫面的比例。步驟S245，處理單元30』根據多個檢測影像Image(N)為全白畫面的比例，產生對應比例的偏移量。在本實施例中，處理單元30』是根據如圖19的全白畫面比例與偏移量的對照表而產生對應的偏移量，如圖19所示，其橫軸為全白畫面的比例，縱軸為偏移量(ym)，處理單元30』透過圖19中的曲線，即可得知多少為全白畫面的檢測影像Image(N)的數量會造成多少偏移量，其偏移量為多個檢測影像Image(N)為全白畫面的比例乘上擷取影像的間隔距離。於步驟S245產生偏移量後，會執行步驟S25。步驟S25,輸出單兀40』輸出偏移量，以根據偏移量判斷待測薄膜200的均勻度。特別說明的是，本第二實施例的薄膜檢測方法相較於第一實施例，不同的是，本實施例的薄膜檢測方法是先於待測薄膜200上擷取一張影像當作參考影像，並將其儲存於儲存單元10』中，接著再從待測薄膜200對應顯示面板的像素排列方向上擷取多張檢測影像Image(N)，並以參考影像為基準，與所有檢測影像Image(N)相比對，其對應產生的偏移量同樣能反應待測薄膜200的均勻度。此外，參閱圖12、圖13及圖15，本實施例的參考影像Image (ref)也可以事先儲存於儲存單元10』中，且於步驟S21中，處理單元30』可從儲存單元10』中讀取參考影像Image (ref)而與檢測影像Image (N)進行比較,並不以本實施例為限。
綜上所述，本發明薄膜檢測方法，藉由將多張檢測影像50中的校準位置與參考位置相比較，以產生多個可反應待測薄膜200的均勻度的偏移值，或是將多張檢測影像Image (N)與參考影像Image (ref)相比較，以產生可反應待測薄膜200的均勻度的偏移量，如此差值檢測方法，可圖形化待測薄膜200貼於顯示面板上的表現，更精準地檢測待測薄膜200，故確實能達成本發明的目的。
本發明已由上述相關實施例加以描述，然而上述實施例僅為實施本發明的範例。必需指出的是，已揭露的實施例並未限制本發明的範圍。相反地，在不脫離本發明的精神和範圍內所作的更動與潤飾，均屬本發明的專利保護範圍。
權利要求
1.一種薄膜檢測方法，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，其特徵在於，該薄膜檢測方法包含以下步驟 (A)讀取該待測薄膜的參考位置； (B)於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像； (C)計算該多張檢測影像中對應該參考位置的校準位置與該參考位置的距離差，並對應產生多個偏移值；及 (D)輸出該多個偏移值。
2.如權利要求I所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，該步驟(D)是將處理單元所產生的所有偏移值以圖形化的方式輸出。
3.如權利要求I所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，該待測薄膜包括複數個相互平行且間隔排列的第一相位顯示區域及第二相位顯示區域，該參考位置的起始點位於其中一第一相位顯示區域及其鄰近的第二相位顯示區域的交界位置。
4.如權利要求3所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，該參考位置位於各該檢測影像的中心位置。
5.如權利要求4所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，該校準位置為位於各該檢測影像中間區域的第一相位顯示區域與第二相位顯示區域的交界位置。
6.一種薄膜檢測方法，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，其特徵在於，該薄膜檢測方法包含以下步驟 (A)讀取該待測薄膜的參考影像； (B)於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像； (C)將該多張檢測影像分別與該參考影像相減，以產生多個差值影像； (D)根據該多個差值影像，產生對應該待測薄膜的均勻度的偏移量'及 (E)輸出該偏移量。
7.如權利要求6所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，該步驟(A)是於該待測薄膜上擷取該參考影像。
8.如權利要求6所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，若該差值影像的灰階值高於該預設值，則視該差值影像為全白畫面，若該差值影像的灰階值低於該預設值，則視該差值影像為全黑畫面。
9.如權利要求6所述的薄膜檢測方法，其特徵在於，該步驟(D)包括以下子步驟 (D-I)計算該多個差值影像的灰階值高於預設值的數量； (D-2)將所計算的灰階值高於預設值的差值影像的數量與該多個檢測影像的解析度相除，以求得該多個檢測影像中灰階值高於該預設值的比例；及 (D-3)根據該多個檢測影像中灰階值高於該預設值的比例，產生對應該比例的偏移量。
10.一種檢測裝置，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，其特徵在於，該檢測裝置包含 儲存單元，儲存該待測薄膜的參考位置； 攝像單元，用以於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像； 處理單元,稱接於該儲存單元及該攝像單元,該處理單元從該儲存單元中讀取該參考位置，並計算該多個檢測影像中對應該參考位置的校準位置與該參考位置的距離差而對應產生多個偏移值 '及 輸出單元，耦接於該處理單元，用以輸出該多個偏移值。
11.如權利要求10所述的檢測裝置，其特徵在於，該輸出單元將該處理單元所產生的所有偏移值以圖形化的方式輸出。
12.如權利要求10所述的檢測裝置，其特徵在於，該輸出單元輸出該多個偏移值至檢測電路，該檢測電路將該多個偏移值分別與標準差值進行比較，以檢測該待測薄膜。
13.如權利要求10所述的檢測裝置，其特徵在於，該待測薄膜包括複數個相互平行且間隔排列的第一相位顯示區域及第二相位顯示區域，該參考位置的起始點位於其中一第一相位顯示區域及其鄰近的第二相位顯示區域的交界位置。
14.如權利要求13所述的檢測裝置，其特徵在於，該參考位置位於各該檢測影像的中心位置。
15.如權利要求14所述的檢測裝置，其特徵在於，該校準位置為位於各該檢測影像中間區域的第一相位顯示區域與第二相位顯示區域的交界位置。
16.一種檢測裝置，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，其特徵在於，該檢測裝置包含 攝像單元，用以於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像； 儲存單元，儲存該攝像單元所擷取的參考影像； 處理單元，耦接於該儲存單元及該攝像單元，該處理單元讀取該待測薄膜的參考影像，且將該多個檢測影像分別與該參考影像相減，以產生多個差值影像，並根據該多個差值影像，產生對應該待測薄膜均勻度的偏移量 '及 輸出單元，耦接於該處理單元，用以輸出該偏移量。
17.如權利要求16所述的檢測裝置，其特徵在於，還包含耦接於該處理單元的計數單元，當該處理單元判斷該多個差值影像的灰階值高於預設值時，控制該計數單元計數，該處理單元並將該計數單元所計數的差值影像中全白畫面的數量與該多個檢測影像的解析度相除，以求得該多個檢測影像中灰階值高於該預設值的比例，再將根據該比例產生該偏移量。
18.如權利要求16所述的檢測裝置，其特徵在於，該參考影像由該攝像單元於該待測薄膜上擷取，並儲存於該儲存單元，該處理單元再從該儲存單元中讀取該參考影像；或者，該參考影像預先儲存於該儲存單元，該處理單元於該儲存單元中讀取該參考影像。
全文摘要
本發明揭露了一種薄膜檢測方法及檢測裝置，用於檢測貼附於顯示面板的待測薄膜，該薄膜檢測方法包含以下步驟(A)讀取待測薄膜的參考位置；(B)於該待測薄膜對應該顯示面板的像素排列方向上以固定的間隔距離擷取多張檢測影像；(C)計算該多張檢測影像中對應該參考位置的校準位置與該參考位置的距離差，並對應產生多個偏移值；及(D)輸出該多個偏移值。本發明可圖形化待測薄膜貼於顯示面板上的表現，更精準地檢測待測薄膜，並可應用於自動化檢測待測薄膜，減少檢測的人力耗費，提高檢測效率。
文檔編號G01N21/84GK102680472SQ20121013319
公開日2012年9月19日 申請日期2012年5月2日 優先權日2012年5月2日
發明者洪群泰, 黃獻頤 申請人:明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司