Vcm馬達性能測試系統及測試方法
2023-10-11 14:23:54 2
專利名稱：Vcm馬達性能測試系統及測試方法
技術領域：
本發明涉及一種測試系統及測試方法，具體是涉及一種VCM馬達性能測試系統及測試方法。
背景技術：
VCM馬達是Vioce Coil Motor首位英文字母的縮寫，俗稱音圈馬達或音圈電機，VCM馬達因佔用電路板面積小，可靠性高，能支持大功率等特點，而廣泛應用於手機變焦和硬碟的磁臂驅動中，VCM馬達是攝像頭模組中的重要組成部分，它不僅決定了攝像頭模組的自動對焦(AF)能力，同時也是判斷一個攝像頭模組性能優異的關鍵部件，但是，在攝像頭模組量產的過程中，經常出現大量VCM作動不良的現象，導致攝像頭模組無法正常進行自動對焦，且解析力、近焦、遠焦等測試均受影響，其主要原因是VCM馬達個體特性不良，因此，需要預先對VCM馬達的性能進行測試，以排除不良VCM單品流入產品量產過程中，確保攝像頭模組的產品質量，但是，目前還沒有專門用於VCM馬達性能測試的測試裝置和有效的測試方法，簡單、方便、準確的對VCM的性能進行檢測。
發明內容
為了解決上述技術問題，本發明提出一種VCM馬達性能測試系統及測試方法，能夠簡單、方便、準備的對VCM馬達的啟動電流及線性回落特性進行測試評價，進而評價該VCM馬達是否符合要求。本發明的技術方案是這樣實現的一種VCM馬達性能測試系統，包括VCM馬達測試夾具、VCM驅動模塊、測試專用PC機、雷射控制器、雷射位置測試儀和電源模塊，所述電源模塊分別與所述雷射控制器和待測VCM馬達相連接，所述雷射控制器與所述雷射位置測試儀相連接，所述雷射位置控制儀通過所述VCM馬達測試夾具與待測VCM馬達相連接，所述VCM驅動模塊分別與待測VCM馬達和測試專用PC機相連接，所述VCM驅動模塊能夠驅動並控制待測VCM馬達的電流，並能夠與所述測試專用PC機通信，所述測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與所述VCM驅動模塊通信，所述雷射位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達不同驅動電流下的位移數據，並將該位移數據傳輸給所述雷射控制器，所述雷射控制器能夠處理該位移數據，並傳輸給所述測試專用PC機，所述電源模塊能夠為所述雷射控制器和待測VCM馬達提供電源。作為本發明的進一步改進，所述VCM驅動模塊與所述測試專用PC機通過USB通信接口相連接。作為本發明的進一步改進，所述雷射控制器與所述測試專用PC機通過串行通信接口相連接。一種VCM馬達性能測試系統的測試方法，包括如下步驟a、通過VCM驅動模塊量化控制待測VCM馬達的驅動電流，並將驅動電流數據傳輸給測試專用PC機；
b、通過雷射位置測試儀檢測待測VCM馬達在不同驅動電流下的位移數據，並通過雷射控制器處理後將該位移數據傳輸給測試專用PC機；C、再通過測試專用PC機對不同驅動電流下待測VCM馬達的位移數據進行分析計算，得到待測VCM馬達的啟動電流和線性回歸特性。本發明的有益效果是本發明提供一種VCM馬達性能測試系統及測試方法，通過VCM驅動模塊驅動並控制待測VCM馬達的電流，並將驅動電流數據傳輸給測試專用PC機，然後，通過雷射位置測試儀檢測VCM馬達在不同驅動電流下的位移，並通過雷射控制器處理後將該位移數據傳輸給測試專用PC機，再通過測試專用PC機對不同驅動電流下待測VCM馬達的位移數據進行分析計算，能夠得到待測VCM馬達的啟動電流和線性回歸特性，從而實現評價該VCM馬達是否符合要求，特別的，VCM驅動模塊與測試專用PC機通過USB通信接口相連接，雷射控制器與測試專用PC機通過串行通信接口相連接。
圖1為本發明結構原理示意圖。
具體實施例方式如圖1所示，一種VCM馬達性能測試系統，包括VCM馬達測試夾具、VCM驅動模塊、測試專用PC機、雷射控制器、雷射位置測試儀和電源模塊，所述電源模塊分別與所述雷射控制器和待測VCM馬達相連接，所述雷射控制器與所述雷射位置測試儀相連接，所述雷射位置控制儀通過所述VCM馬達測試夾具與待測VCM馬達相連接，所述VCM驅動模塊分別與待測VCM馬達和測試專用PC機相連接，所述VCM驅動模塊能夠驅動並控制待測VCM馬達的電流，並能夠與所述測試專用PC機通信，所述測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與所述VCM驅動模塊通信，所述雷射位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達不同驅動電流下的位移數據，並將該位移數據傳輸給所述雷射控制器，所述雷射控制器能夠處理該位移數據，並傳輸給所述測試專用PC機，所述電源模塊能夠為所述雷射控制器和待測VCM馬達提供電源，這樣，首先，通過VCM驅動模塊驅動並控制待測VCM馬達的電流，並將驅動電流數據傳輸給測試專用PC機，然後，通過雷射位置測試儀檢測VCM馬達在不同驅動電流下的位移，並通過雷射控制器處理後將該位移數據傳輸給測試專用PC機，再通過測試專用PC機對不同驅動電流下待測VCM馬達的位移數據進行分析計算，能夠得到待測VCM馬達的啟動電流和線性回歸特性，從而實現評價該VCM馬達是否符合要求。優選的，所述VCM驅動模塊與所述測試專用PC機通過USB通信接口相連接。優選的，所述雷射控制器與所述測試專用PC機通過串行通信接口相連接。一種VCM馬達性能測試系統的測試方法，包括如下步驟a、通過VCM驅動模塊量化控制待測VCM馬達的驅動電流，並將驅動電流數據傳輸給測試專用PC機；b、通過雷射位置測試儀檢測待測VCM馬達在不同驅動電流下的位移數據，並通過雷射控制器處理後將該位移數據傳輸給測試專用PC機；C、再通過測試專用PC機對不同驅動電流下待測VCM馬達的位移數據進行分析計算，得到待測VCM馬達的啟動電流和線性回歸特性。
以上實施例是參照附圖，對本發明的優選實施例進行詳細說明，本領域的技術人員通過對上述實施例進行各種形式上的修改或變更，但不背離本發明的實質的情況下，都落在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1.一種VCM馬達性能測試系統，其特徵在於:包括VCM馬達測試夾具、VCM驅動模塊、測試專用PC機、雷射控制器、雷射位置測試儀和電源模塊，所述電源模塊分別與所述雷射控制器和待測VCM馬達相連接，所述雷射控制器與所述雷射位置測試儀相連接，所述雷射位置控制儀通過所述VCM馬達測試夾具與待測VCM馬達相連接，所述VCM驅動模塊分別與待測VCM馬達和測試專用PC機相連接，所述VCM驅動模塊能夠驅動並控制待測VCM馬達的電流，並能夠與所述測試專用PC機通信，所述測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與所述VCM驅動模塊通信，所述雷射位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達不同驅動電流下的位移數據，並將該位移數據傳輸給所述雷射控制器，所述雷射控制器能夠處理該位移數據，並傳輸給所述測試專用PC機，所述電源模塊能夠為所述雷射控制器和待測VCM馬達提供電源。
2.根據權利要求1所述的VCM馬達性能測試系統，其特徵在於:所述VCM驅動模塊與所述測試專用PC機通過USB通信接口相連接。
3.根據權利要求1所述的VCM馬達性能測試系統，其特徵在於:所述雷射控制器與所述測試專用PC機通過串行通信接口相連接。
4.一種如權利要求1-3任一項所述的VCM馬達性能測試系統的測試方法，其特徵在於:包括如下步驟: a、通過VCM驅動模塊量化控制待測VCM馬達的驅動電流，並將驅動電流數據傳輸給測試專用PC機； b、通過雷射位置測試儀檢測待測VCM馬達在不同驅動電流下的位移數據，並通過雷射控制器處理後將該位移數據 傳輸給測試專用PC機； C、再通過測試專用PC機對不同驅動電流下待測VCM馬達的位移數據進行分析計算，得到待測VCM馬達的啟動電流和線性回歸特性。
全文摘要
本發明公開了一種VCM馬達性能測試系統及測試方法，該測試系統包括VCM馬達測試夾具、VCM驅動模塊、測試專用PC機、雷射控制器、雷射位置測試儀和電源模塊，VCM驅動模塊能夠驅動並控制待測VCM馬達的電流，並能夠與測試專用PC機通信，測試專用PC機具有可視化界面，且能夠與VCM驅動模塊通信，雷射位置測試儀能夠檢測待測VCM馬達不同驅動電流下的位移數據，並將該位移數據傳輸給雷射控制器，雷射控制器能夠處理該位移數據，並傳輸給測試專用PC機，電源模塊能夠為雷射控制器和待測VCM馬達提供電源，本發明能夠簡單、方便、準備的對VCM馬達的啟動電流及線性回落特性進行測試評價，進而評價該VCM馬達是否符合要求。
文檔編號G01R31/34GK103076567SQ201210585948
公開日2013年5月1日 申請日期2012年12月28日 優先權日2012年12月28日
發明者鍾嶽良, 葉偉建, 陳丙青 申請人:崑山丘鈦微電子科技有限公司