一種顯示面板和電子設備的製作方法

2023-10-17 05:39:09

本發明實施例涉及顯示技術，尤其涉及一種顯示面板和電子設備。

背景技術：

現有顯示面板的發展趨勢是將觸摸面板部件與液晶面板實現一體化，由此實現顯示面板的薄型化和輕量化。一體化電容式觸摸顯示面板包括自電容式和互電容式。

在自電容式觸摸顯示面板中，通常將公共電極層分割為呈陣列排布的多個公共電極塊，公共電極塊在觸控階段復用為觸控電極。如圖1a所示，每個觸控電極10通過對應的觸控走線11與驅動晶片ic電連接。而對於靠近ic端的觸控電極10，與其產生交疊的觸控走線11數量多，使得越靠近ic端的觸控電極10受到其他觸控走線11的信號幹擾越大，導致觸控檢測精度差。

在互電容式觸摸顯示面板中，需要設置多條觸控驅動電極和多條觸控感測電極。如圖1b所示，觸控驅動電極20和觸控感測電極21交叉設置，每個觸控驅動電極20通過對應的驅動走線22與驅動晶片ic電連接，每個觸控感測電極21通過對應的感測走線23與ic電連接，其中驅動走線22在邊框區域24延伸布線以與ic電連接，導致顯示面板寬邊框。

技術實現要素：

本發明實施例提供一種顯示面板和電子設備，以提高觸控檢測精度同時實現窄邊框。

第一方面，本發明實施例提供了一種顯示面板，該顯示面板包括：

公共電極層，所述公共電極層分割為沿第一方向延伸、第二方向排布的多條第一電極，所述第一電極中設置有沿所述第一方向排列的多個開口，每個所述開口內設置有和所述第一電極同層設置的第二電極，該多個第二電極呈陣列排布，所述第一電極和設置在該第一電極開口中的任一所述第二電極之間形成有環狀封閉形刻縫，所述第一方向和所述第二方向垂直交叉；

多條第一觸控走線，至少一條所述第一觸控走線對應電連接一條所述第一電極，所述第一觸控走線沿所述第二方向延伸且所述第一觸控走線在垂直於所述顯示面板的方向上與所述環狀封閉形刻縫產生交疊；

多條第二觸控走線，至少一條所述第二觸控走線對應電連接一列所述第二電極。

第二方面，本發明實施例還提供了一種電子設備，該電子設備包括如上所述的顯示面板。

本發明實施例中，公共電極層分割為多條第一電極和呈陣列排布的多個第二電極，第二電極設置在第一電極的開口中，第一電極和設置在該第一電極開口中的任一第二電極之間形成有環狀封閉形刻縫，與第一電極電連接的第一觸控走線在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫產生交疊，至少一條第二觸控走線對應電連接一列第二電極。本發明實施例提供的顯示面板，第一觸控走線和第二觸控走線均不佔用顯示面板的邊框區域的面積，實現了窄邊框；採用互容觸控方式實現觸控檢測，與現有自容觸控方式相比，提高了觸控檢測精度高；以及，第一觸控走線在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫產生交疊，有效降低了第一電極和與其交疊的第一觸控走線之間的寄生電容，從而大大減小了ic近端的第一電極和ic遠端的第一電極受到的第一觸控走線信號幹擾差異，進一步提高了觸控檢測精度。本發明實施例還適用於中大尺寸顯示面板的觸控檢測，實現窄邊框並保證觸控檢測精度高。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖做一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1a～圖1b為現有技術提供的兩種顯示面板的示意圖；

圖2是本發明實施例提供的一種顯示面板的示意圖；

圖3a～圖3f是本發明實施例提供的顯示面板中開口形狀的示意圖；

圖4是本發明實施例提供的一種顯示面板的示意圖；

圖5a～圖5c是本發明實施例提供的多種顯示面板的示意圖；

圖6a～圖6c是本發明實施例提供的多種顯示面板的示意圖；

圖7是本發明實施例提供的一種顯示面板的示意圖；

圖8～圖10是本發明實施例提供的多種顯示面板的示意圖；

圖11是本發明實施例提供的電子設備的示意圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，以下將參照本發明實施例中的附圖，通過實施方式清楚、完整地描述本發明的技術方案，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

參考圖2所示，為本發明實施例提供的一種顯示面板的示意圖。該顯示面板包括：公共電極層，公共電極層分割為沿第一方向(x)延伸、第二方向(y)排布的多條第一電極110，第一電極110中設置有沿第一方向x排列的多個開口111，每個開口111內設置有和第一電極110同層設置的第二電極120，該多個第二電極120呈陣列排布，第一電極110和設置在該第一電極110開口111中的任一第二電極120之間形成有環狀封閉形刻縫112，第一方向x和第二方向y垂直交叉；多條第一觸控走線130，至少一條第一觸控走線130對應電連接一條第一電極110，第一觸控走線130沿第二方向y延伸且第一觸控走線130在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫112產生交疊；多條第二觸控走線140，至少一條第二觸控走線140對應電連接一列第二電極120。可選第一方向x與陣列行方向平行，第二方向y與陣列列方向平行。可選第一觸控走線130在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫112至少部分交疊。需要說明的是，本發明實施例下文中提及的觸控走線和電極的交疊均指觸控走線在垂直於顯示面板的方向上與電極的交疊，下文中不再重複說明交疊方向。

本發明實施例中第一電極110和第二電極120在顯示階段復用為公共電極，第一電極110和第二電極120在觸控階段復用為觸控驅動電極和觸控感測電極。顯示階段，通過多條第一觸控走線130給多條第一電極110施加公共電壓信號，同時，通過多條第二觸控走線140給多個第二電極120施加公共電壓信號。若第一電極110復用為觸控驅動電極以及第二電極120復用為觸控感測電極，則觸控階段，通過多條第一觸控走線130給多條第一電極110施加觸控驅動信號。若第一電極110復用為觸控感測電極以及第二電極120復用為觸控驅動電極，則觸控階段，通過多條第二觸控走線140給多個第二電極120施加觸控驅動信號。

本發明實施例中與第一電極110對應電連接的第一觸控走線130沿第二方向y延伸，與一列第二電極120對應電連接的第二觸控走線140與陣列列方向平行，則第一觸控走線130和第二觸控走線140平行設置並延伸。因此本發明實施例提供的顯示面板的第一觸控走線130和第二觸控走線140均無需延伸至公共電極層外圍的邊框區域進行布線，即觸控走線不佔用顯示面板的邊框區域的面積，實現了窄邊框。

本發明實施例中公共電極層分割為多條第一電極110和呈陣列排布的多個第二電極120，每條第一電極110作為觸控驅動電極應用以及每列第二電極120作為觸控感測電極應用，或者，每條第一電極110作為觸控感測電極應用以及每列第二電極120作為觸控驅動電極應用。因此本發明實施例提供的顯示面板採用互容觸控方式實現觸控檢測，互容觸控檢測精度高。

本發明實施例中至少一條第二觸控走線140對應電連接一列第二電極120中各第二電極120，則該列第二電極120中各第二電極120接收的信號相同，即該列第二電極120中首位第二電極120和末尾第二電極120接收的信號基本沒有差異；另一方面，多個第二電極120呈陣列排布，顯然任意兩列第二電極120所對應的第二觸控走線140平行設置，一條第二觸控走線140僅會和與其對應的一列第二電極120產生交疊而不會和其他列第二電極120產生交疊。因此本發明實施例提供的顯示面板的任意一列第二電極120不會受到其他第二觸控走線140的信號幹擾。

本發明實施例中第一電極110和設置在該第一電極110開口111中的任一第二電極120之間形成有環狀封閉形刻縫112，任一第一觸控走線130在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫112產生交疊，則在合理走線設置下第一觸控走線130與第二電極120不存在交疊，因此任一第二電極120不會受到第一觸控走線130的信號幹擾。

本發明實施例中第一電極110和第二電極120同層設置，第二電極120設置在第一電極110的開口111內，多個第二電極120呈陣列排布且第二觸控走線140對應電連接一列第二電極120中各第二電極120，則任意一條第二觸控走線140與每條第一電極110產生交疊。對於任意兩條第一電極110，與其中一條第一電極110產生交疊的第二觸控走線140的數量等於與另一條第一電極110產生交疊的第二觸控走線140相等，因此任意兩條第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾基本相等。

本發明實施例中至少一條第一觸控走線130對應電連接一條第一電極110，第一觸控走線130沿第二方向y延伸，則靠近ic端的第一電極110交疊的第一觸控走線130數量超過遠離ic端的第一電極110交疊的第一觸控走線130數量，即ic近端的第一電極110和與其交疊的第一觸控走線130產生的寄生電容大於ic遠端的第一電極110和與其交疊的第一觸控走線130產生的寄生電容，ic近端的第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾和ic遠端的第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾存在差異。然而，與現有自電容式觸控面板相比，本發明實施例採用的互容觸控走線方式，已經進一步降低了ic遠端第一電極110和ic近端第一電極110受到的信號幹擾差異，提高了觸控檢測精度。

另一方面，由於第一電極110和設置在該第一電極110開口111中的任一第二電極120之間形成有環狀封閉形刻縫112，任一第一觸控走線130在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫112產生交疊，進一步有效降低了第一電極110和與其交疊的第一觸控走線130之間的寄生電容，進而有效降低了第一電極110受到的與其交疊的第一觸控走線130的信號幹擾，從而大大減小了ic近端的第一電極110和ic遠端的第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾差異，進一步提高了觸控檢測精度。

本發明實施例提供的顯示面板，公共電極層分割為多條第一電極和呈陣列排布的多個第二電極，第二電極設置在第一電極的開口中，第一電極和設置在該第一電極開口中的任一第二電極之間形成有環狀封閉形刻縫，與第一電極電連接的第一觸控走線在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫產生交疊，至少一條第二觸控走線對應電連接一列第二電極。本發明實施例提供的顯示面板，第一觸控走線和第二觸控走線均不佔用顯示面板的邊框區域的面積，實現了窄邊框；採用互容觸控方式實現觸控檢測，與現有自容觸控方式相比，提高了觸控檢測精度高；以及，第一觸控走線在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫產生交疊，有效降低了第一電極和與其交疊的第一觸控走線之間的寄生電容，從而大大減小了ic近端的第一電極和ic遠端的第一電極受到的第一觸控走線信號幹擾差異，進一步提高了觸控檢測精度。本發明實施例還適用於中大尺寸顯示面板的觸控檢測，實現窄邊框並保證觸控檢測精度高。

可選的，參考圖2所示，本發明實施例提供的顯示面板中，第一電極110的開口111圍成的形狀的至少一條邊與第一觸控走線130的延伸方向平行。由此可增加第一觸控走線130與環狀封閉形刻縫112的交疊面積，進一步降低第一電極110和與其交疊的第一觸控走線130之間的寄生電容，進而有效降低第一電極110受到的與其交疊的第一觸控走線130的信號幹擾，減小ic近端的第一電極110和ic遠端的第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾差異，進一步提高觸控檢測精度。

可選的，參考圖3a～圖3f所示，本發明實施例提供的顯示面板中，開口111圍成的形狀為三角形、正方形、長方形、十字形、凸形或凹形。如圖3a所示開口111圍成的形狀為三角形；如圖3b所示開口111圍成的形狀為正方形；如圖3c所示開口111圍成的形狀為長方形；如圖3d所示開口111圍成的形狀為十字形；如圖3e所示開口111圍成的形狀為凸形；如圖3f所示開口111圍成的形狀為或凹形。本領域技術人員可以理解，第一電極的開口圍成的形狀包括但不限於上述形狀，在本發明中不進行具體限制。

可選的，參考圖2所示，本發明實施例提供的顯示面板中，在第一方向x上，任意相鄰的兩個第二電極120的中心點之間的距離j1大於或等於2mm且小於或等於10mm。手指作為觸摸主體觸摸顯示面板時，手指觸摸寬度約為4～5mm。若任意相鄰的兩個第二電極120的中心點之間的距離j1大於或等於10mm，則可能第二電極120的面積過大使得手指觸摸寬度僅覆蓋一個第二電極120，或者，也可能任意相鄰的兩個第二電極120的間距過大使得手指觸摸寬度僅覆蓋部分第一電極110，導致觸控檢測精度低。本發明實施例中任意相鄰的兩個第二電極120的中心點之間的距離小於或等於10mm，則手指觸摸寬度可能覆蓋至少兩個第二電極120，由此可提高觸控檢測精度。另一方面，若任意相鄰的兩個第二電極120的中心點之間的距離j1小於或等於2mm，顯然，第二電極120的面積非常小，則手指觸摸時第二電極120和第一電極110之間產生的電容量非常小，而現有ic的檢測能力無法檢測到非常小的電容量，由此導致觸控檢測精度差。

本領域技術人員可以理解，本發明中設置的任意相鄰兩個第二電極中心點之間的距離是基於現有ic能力和需求設定的，當ic能力和需求有所突破時，則任意相鄰的兩個第二電極的中心點之間的距離不限定為本發明中的2mm～10mm，即本領域技術人員可根據面板中ic能力和需求自行設置任意相鄰的兩個第二電極的中心點之間的距離。

可選的，參考圖2所示，本發明實施例提供的顯示面板中，第一電極110的面積和設置在該第一電極110中的第二電極120的總面積的比值為1:3～2:1。可選第一電極110作為觸控驅動電極以及第二電極120作為觸控感測電極。觸控階段，第一電極110和第二電極120之間形成電容器，當手指觸摸顯示面板時，會影響觸摸點附近電容器的電容量。若顯示面板中第一電極110或第二電極120的面積過小，則觸摸點附近電容器的電容量變化值非常小，ic無法檢測出過小的電容量變化值，由此導致觸控檢測精度差。

可選的，參考圖4所示，本發明實施例提供的顯示面板中，與上述任一顯示面板的區別在於，環狀封閉形刻縫112在垂直於顯示面板方向上的投影覆蓋第一觸控走線130在垂直於顯示面板方向上的投影。則第一電極110在環狀封閉形刻縫112處不會與第一觸控走線130產生寄生電容，以及，第二電極120不會與第一觸控走線130產生寄生電容，因此能夠有效降低第一電極110和與其交疊的第一觸控走線130之間的寄生電容，進而有效降低第一電極110受到的與其交疊的第一觸控走線130的信號幹擾，從而大大減小了ic近端的第一電極110和ic遠端的第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾差異以及避免了第一觸控走線130對第二電極120產生信號幹擾，進一步提高了觸控檢測精度。

可選的，參考圖5a所示，本發明實施例提供的顯示面板中，與上述任一顯示面板的區別在於，公共電極層在第二方向y上具有相對的第一側v1和第二側v2，第一觸控走線130延伸並與公共電極層的第一側v1和第二側v2交疊。其中可選公共電極層的第一側v1遠離ic端，公共電極層的第二側v2靠近ic端。每條第一觸控走線130沿第二方向y延伸並與公共電極層的第一側v1和第二側v2交疊，則對於任意兩條第一電極110，與其中一條第一電極110產生交疊的第一觸控走線130的數量等於與另一條第一電極110產生交疊的第一觸控走線130的數量，由此可降低不同第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾差異，解決了不同第一電極110受到的第一觸控走線130的信號幹擾不均勻的問題。另一方面，第一觸控走線130與第二電極120未交疊，因此第二電極120不會受到第一觸控走線130的信號幹擾。進一步提高了觸控檢測精度。

可選的，參考圖5b所示，本發明實施例提供的顯示面板中，與上述任一顯示面板的區別在於，公共電極層在第二方向y上具有相對的第一側v1和第二側v2，第二觸控走線140延伸並與公共電極層的第一側v1和第二側v2交疊。其中可選公共電極層的第一側v1遠離ic端，公共電極層的第二側v2靠近ic端。每條第二觸控走線140沿第二方向y延伸並與公共電極層的第一側v1和第二側v2交疊，則對於任意兩條第一電極110，與其中一條第一電極110產生交疊的第二觸控走線140的數量等於與另一條第一電極110產生交疊的第二觸控走線140的數量，由此可使每條第一電極110受到的第二觸控走線140信號幹擾基本相同，解決了ic最遠端第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾與其他第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾不相等的問題，即解決了不同第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾不均勻的問題，進一步提高了觸控檢測精度。

可選的，參考圖5c所示，本發明實施例提供的顯示面板中，與上述任一顯示面板的區別在於，公共電極層在第二方向y上具有相對的第一側v1和第二側v2，第一觸控走線130延伸並與公共電極層的第一側v1和第二側v2交疊，以及，第二觸控走線140延伸並與公共電極層的第一側v1和第二側v2交疊。由此可降低不同第一電極110受到的第一觸控走線130信號幹擾差異，解決了不同第一電極110受到的第一觸控走線130的信號幹擾不均勻的問題；可使每條第一電極110受到的第二觸控走線140信號幹擾基本相同，解決了ic最遠端第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾與其他第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾不相等的問題，即解決了不同第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾不均勻的問題；以及，第一觸控走線130與第二電極120未交疊，第二電極120不會受到第一觸控走線130的信號幹擾。進一步提高觸控檢測精度。

可選的在圖5a～圖5c的基礎上，參考圖6a所示，本發明實施例提供的顯示面板中，第一觸控走線130包括信號端和浮空端，對應電連接一條第一電極110的多條第一觸控走線130的浮空端相互電連接。其中，第一觸控走線130的信號端是指第一觸控走線130與ic電連接的一端，第一觸控走線130的浮空端是指第一觸控走線130的遠離ic的一端。對應電連接一條第一電極110的多條第一觸控走線130的浮空端相互電連接，則每條第一電極110所對應電連接的多條第一觸控走線130實現電連接，等效為每條第一電極110電連接一條第一觸控走線130，由此可有效減少第一觸控走線130的數量，進一步降低了不同第一電極110受到的第一觸控走線130的信號幹擾差異。提高觸控檢測精度。

可選的在圖5a～圖5c的基礎上，參考圖6b所示，本發明實施例提供的顯示面板中，第二觸控走線140包括信號端和浮空端，對應電連接一列第二電極120的多條第二觸控走線140的浮空端相互電連接。其中，第二觸控走線140的信號端是指第二觸控走線140與ic電連接的一端，第二觸控走線140的浮空端是指第二觸控走線140的遠離ic的一端。對應電連接一列第二電極120的多條第二觸控走線140的浮空端相互電連接，則每列第二電極120所對應電連接的多條第二觸控走線140實現電連接，等效為每列第二電極120電連接一條第二觸控走線140，由此可有效減少第二觸控走線140的數量，降低了ic遠端第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾與其他第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾差異。提高觸控檢測精度。

可選的在圖5a～圖5c的基礎上，參考圖6c所示，本發明實施例提供的顯示面板中，第一觸控走線130包括信號端和浮空端，對應電連接一條第一電極110的多條第一觸控走線130的浮空端相互電連接，以及，第二觸控走線140包括信號端和浮空端，對應電連接一列第二電極120的多條第二觸控走線140的浮空端相互電連接。對應電連接一條第一電極110的多條第一觸控走線130的浮空端相互電連接，則每條第一電極110所對應電連接的多條第一觸控走線130實現電連接，等效為每條第一電極110電連接一條第一觸控走線130，由此可有效減少第一觸控走線130的數量，進一步降低了不同第一電極110受到的第一觸控走線130的信號幹擾差異。以及，對應電連接一列第二電極120的多條第二觸控走線140的浮空端相互電連接，則每列第二電極120所對應電連接的多條第二觸控走線140實現電連接，等效為每列第二電極120電連接一條第二觸控走線140，由此可有效減少第二觸控走線140的數量，降低了ic遠端第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾與其他第一電極110受到的第二觸控走線140的信號幹擾差異。提高觸控檢測精度。

可選的在圖5a～圖5c的基礎上，參考圖7所示，本發明實施例提供的顯示面板中，還包括：與多條第一電極110分別對應設置的多個第一控制開關161，以及與多列第二電極120分別對應設置的多個第二控制開關162；每個第一控制開關161的輸入端與公共電位總線150電連接，每個第一控制開關161的控制端用於在顯示階段控制第一控制開關161導通和在觸控階段控制第一控制開關161截止，以及，電連接一條第一電極110的每條第一觸控走線130的浮空端電連接與該第一電極110對應的第一控制開關161的輸出端；每個第二控制開關162的輸入端與公共電位總線150電連接，每個第二控制開關162的控制端用於在顯示階段控制第二控制開關162導通和在觸控階段控制第二控制開關162截止，以及，電連接一列第二電極120的每條第二觸控走線140的浮空端電連接與該列第二電極120對應的第二控制開關162的輸出端。

本發明實施例中可選ic與第一控制開關161的控制端電連接(未示出)，用於在顯示階段控制第一控制開關161導通以及在觸控階段控制第一控制開關161截止；以及，ic與第二控制開關162的控制端電連接(未示出)，用於在顯示階段控制第二控制開關162導通以及在觸控階段控制第二控制開關162截止。其中，可選第一控制開關161和第二控制開關162均為nmos電晶體，或者，可選第一控制開關161和第二控制開關162均為pmos電晶體。顯示階段，在ic遠端可將公共電位總線150輸出的公共電壓信號傳輸至第一電極110和第二電極120，在ic近端通過第一觸控走線130和第二觸控走線140給第一電極110和第二電極120傳輸公共電壓信號，以提高公共電壓信號供給均一性；觸控階段，ic控制公共電位總線150與第一電極110和第二電極120斷開連接，多條第一電極110各自獨立，以及多列第二電極120各自獨立，第一電極110和第二電極120復用為觸控驅動電極和觸控感測電極，實現觸控功能。

可選的，參考圖8所示，本發明實施例提供的顯示面板中，與上述任一顯示面板的區別在於，還包括：沿第二方向y延伸的多條補償走線171，多條第一電極110在垂直於顯示面板方向上的投影覆蓋多條補償走線171。其中，可選對於任意兩條第一電極110，在垂直於顯示面板的方向上，與其中一條第一電極110產生交疊的走線數量等於與另一條第一電極110產生交疊的走線數量。本發明實施例中不同第一電極110交疊的走線數量不同，會導致不同第一電極110和走線之間的寄生電容不同，進而使得不同第一電極110之間存在信號幹擾差異。設置補償走線171並使不同第一電極110交疊的走線數量相等，能夠降低不同第一電極110和走線之間的寄生電容差異，降低不同第一電極110之間的信號幹擾差異。進一步提高觸控檢測精度。另一方面，不同第一電極110交疊的走線數量不同，會導致相同刻蝕條件下走線數量多的區域和走線數量少的區域的刻蝕速度不一致，顯然設置補償走線171並使不同第一電極110交疊的走線數量，能夠提升走線刻蝕製程的均一性。

本領域技術人員可以理解，還可以在第二電極的覆蓋區域設置多條補償走線，可選對於任意兩個第二電極，在垂直於顯示面板的方向上，與其中一個第二電極產生交疊的走線數量等於與另一條第二電極產生交疊的走線數量。

可選的在圖8的基礎上，參考圖9所示，本發明實施例提供的顯示面板中，在垂直於顯示面板的方向上，第一電極110電連接其覆蓋的至少一條補償走線171。其中，可選對於任意兩條第一電極110，與其中一條第一電極110電連接的走線連接點172數量等於與另一條第一電極110電連接的走線連接點172數量。走線連接點172具體是指第一電極110和第一觸控走線130電連接的過孔以及第一電極110和補償走線171電連接的過孔。不同第一電極110的走線連接點172數量不同，會導致相同刻蝕條件下走線連接點172數量多的區域和走線連接點172數量少的區域的刻蝕速度不一致，顯然使不同第一電極110電連接的走線連接點172的數量相等，能夠提升走線刻蝕製程的均一性。

本領域技術人員可以理解，還可以在第二電極的覆蓋區域設置多條補償走線，第二電極電連接其覆蓋的至少一條補償走線，可選對於任意兩個第二電極，與其中一個第二電極電連接的走線連接點數量等於與另一個第二電極電連接的走線連接點數量。

可選的，參考圖10所示，為本發明實施例提供的一種顯示面板的示意圖。與上述任一顯示面板的區別在於，圖10所示顯示面板中，公共電極層分割為沿第一方向(x)排布、第二方向(y)延伸的多條第一電極110，第一電極110中設置有沿第二方向y排列的多個開口111，每個開口111內設置有和第一電極110同層設置的第二電極120，該多個第二電極120呈陣列排布，第一電極110和設置在該第一電極110開口111中的任一第二電極120之間形成有環狀封閉形刻縫112，第一方向x和第二方向y垂直交叉；多條第一觸控走線130，至少一條第一觸控走線130對應電連接一條第一電極110，第一觸控走線130沿第二方向y延伸；多條第二觸控走線140，至少一條第二觸控走線140對應電連接一行第二電極120。可選第一方向x與陣列行方向平行，第二方向y與陣列列方向平行。可選第二觸控走線140在垂直於顯示面板的方向上與環狀封閉形刻縫112至少部分交疊。本發明實施例提供的顯示面板的觸控電極排布及其布線方式，能夠實現窄邊框並提高觸控檢測精度，還適用於大尺寸顯示面板的觸控檢測。

需要說明的是，上述實施例中，僅示出了顯示面板中公共電極的相關結構。本領域技術人員可以理解的是，上述實施例中，顯示面板均包括相對設置的陣列基板和彩膜基板，陣列基板和彩膜基板通過封框膠對位貼合，在陣列基板、彩膜基板和封框膠圍繞形成的密閉空間內，設置有液晶層。

陣列基板上設置有驅動液晶層中液晶分子選擇的各驅動元件，具體地，陣列基板上可以設置多條掃描線和多條數據線，相鄰的兩條掃描和兩條數據線交叉圍成一個像素單元，每個像素單元內設置有一個薄膜電晶體和像素電極。薄膜電晶體的柵極對應和一條掃描線電連接，薄膜電晶體的源極對應和一條數據線電連接，薄膜電晶體的漏極連接到像素電極。像素電極和公共電極(即第一電極和第二電極)之間形成驅動液晶分子旋轉的電場。

上述實施例中，各第一觸控走線或第二觸控走線平行於數據線或掃描線線設置。並且，各第一觸控走線或第二觸控走線靠近數據線或掃描線設置，採用該結構可以將相鄰的觸控走線和數據線/掃描線用同一條黑矩陣遮蓋，將對開口率的影響降至最低。並且，第一電極和第二電極之間的環狀封閉刻縫可以對應像素單元之間的數據線或掃描線設置，即該環狀封閉刻縫在陣列基板上的投影與部分掃描線或數據線在陣列基板上的投影重合。採用該結構可以將環狀封閉刻縫和數據線/掃描線用同一條黑矩陣遮蓋，將對開口率的影響降至最低。

彩膜基板上設置有網格狀的黑矩陣和色阻。該網格狀的黑矩陣與掃描線和數據線對應設置，並且與陣列基板上的環狀封閉刻縫和觸控走線對應設置，可以對這些非發光區域進行遮蓋，提高顯示效果。

本發明實施例還提供一種電子設備，該電子設備包括如上任意所述的顯示面板。該電子設備集成有顯示功能和觸控功能，具有窄邊框和觸控檢測精度高的優勢。該電子設備可選是智慧型手機、平板電腦等任意尺寸的電子設備。參考圖11所示可選電子設備為智慧型手機。

注意，上述僅為本發明的較佳實施例及所運用技術原理。本領域技術人員會理解，本發明不限於這裡所述的特定實施例，對本領域技術人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調整、相互結合和替代而不會脫離本發明的保護範圍。因此，雖然通過以上實施例對本發明進行了較為詳細的說明，但是本發明不僅僅限於以上實施例，在不脫離本發明構思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本發明的範圍由所附的權利要求範圍決定。