用gtem小室測試uhfrfid標籤靈敏度和讀寫距離的方法
2024-03-02 15:55:15
專利名稱：用gtem小室測試uhf rfid標籤靈敏度和讀寫距離的方法
技術領域：
本發明涉及一種GTEM小室的應用，尤其涉及一種用GTEM小室測試UHF RFID標籤 靈敏度和讀寫距離的方法。
背景技術：
在UHF RFID系統的測試中，標籤靈敏度和讀寫距離的測試是一個重要內容。傳統 的方法需要將接收天線放置在自由空間或暗室中。這些測試環境或不可避免的受電磁幹 擾，使得測量誤差比較大，或費時費力、成本高、且佔地面積大。因此，需要一種相對簡單、廉價的測試設備，用GTEM小室進行UHF RFID標籤靈敏 度和讀寫距離的測試則是一個非常合適的選擇。與電波暗室、半暗室相比，用GTEM小室做 UHFRFID標籤靈敏度和讀寫距離測試的主要優點為能夠較好的屏蔽外界電磁幹擾，提供準 確的靈敏度和讀寫距離測量值，且設備成本低廉、佔地面積小。
發明內容
本發明的目的是提供一種操作簡單、成本低廉的用GTEM小室測試UHF RFID標籤 靈敏度和讀寫距離的方法。本發明的目的是通過以下技術方案實現的本發明的用GTEM小室測試UHF RFID標籤靈敏度和讀寫距離的方法，包括步驟A、將待測UHF RFID標籤擺放在GTEM小室中的中板到底板中間三分之一區域，標 籤的最大輻射(接收)方向對準GTEM小室埠方向，連接GTEM小室埠到UHF RFID測試 系統的讀寫器信號發射埠。B、調節UHF RFID測試系統發射功率，得到標籤能夠反射信號時傳輸進入GTEM小 室埠的最小發射功率。C、根據標籤能夠反射信號時UHF RFID測試系統傳輸進入GTEM小室埠的最小 發射功率，通過本方法所提出的公式1計算UHF RFID標籤處的電磁場強度，從而得到UHF RFID標籤的靈敏度；通過本方法所提出的公式2計算UHF RFID標籤在自由空間中的讀寫距離。由上述本發明提供的技術方案可以看出，本發明所述的用GTEM小室測試UHF RFID標籤靈敏度和讀寫距離的方法，通過調節UHF RFID測試系統發射功率，得出標籤能 夠反射信號時輸入到GTEM小室的最小發射功率，之後用本發明所提出的公式進行計算。操 作簡單、設備成本低廉。
圖1為本發明中GTEM小室中測試UHF UHF RFID標籤靈敏度及讀寫距離測試示意 2為本發明中被測標籤擺放位置三分之一區域示意圖
圖3為本發明中自由空間中標籤讀寫距離示意圖
具體實施例方式圖中1、2、3分別為GTEM小室的頂板、中板和底板，4為GTEM小室埠，5為被測 UHFRFID標籤，6為UHF RFID測試系統讀寫器，7為UHF RFID標籤擺放範圍。本發明的用GTEM小室測試UHF RFID標籤靈敏度及其讀寫距離的方法，具體實施 方式包括步驟A、將待測標籤5擺放在GTEM小室中的中板到底板中間三分之一區域，標籤5的最 大輻射(接收)方向對準GTEM小室埠方向，連接GTEM小室埠到UHF RFID測試系統 6。B、調節UHF RFID測試系統6發射功率，尋找標籤5能夠反射信號時傳輸進入GTEM 小室埠的最小發射功率。C、根據標籤5能夠反射信號時UHF RFID測試系統6傳輸進入GTEM小室埠的最 小發射功率，代入本方法所提出的公式1計算UHF RFID標籤處的電磁場強度，從而得到UHF RFID標籤5的靈敏度；通過本方法所提出的公式2計算UHF RFID標籤5在自由空間中的
讀寫距離。所述的待測天線放置在所述GTEM小室的中板2與底板3之間的1/3 2/3區域 內。所述的待測天線放置在所述GTEM小室的擺放方向應是標籤的最強輻射(接收) 方向對準GTEM小室埠方向。根據所得的測試結果，用本發明所提出的計算公式計算標籤靈敏度和讀寫距離電場形式的靈敏度計算公式
權利要求
一種用GTEM小室測試UHF RFID標籤靈敏度和讀寫距離的方法，其特徵在於，包括步驟A、將待測UHF RFID標籤擺放在GTEM小室中的特定區域的特定方向上，連接GTEM小室埠到UHF RFID測試系統的讀寫器發射埠。B、調節UHF RFID測試系統的發射功率，得到標籤能夠反射信號時傳輸進入GTEM小室埠的最小發射功率。C、根據標籤能夠反射信號時的UHF RFID測試系統傳輸進入GTEM小室埠的最小發射功率，以及本方法所提出的公式1即可計算得到UHF RFID標籤的靈敏度；通過本方法所提出的公式2計算UHF RFID標籤在自由空間中的讀寫距離。
E sen= P min Z 0 h 公式1式中，Esen是標籤靈敏度，Pmin是標籤能夠響應時系統時傳輸進入GTEM小室埠的最小發射功率，Z0是GTEM小室的輸入阻抗，h是測量點處中板到底板間的距離。
R=h* 30 * EIRP Pmin Z0 公式2式中，R是UHF RFID系統在自由空間中的讀寫距離，EIRP是讀寫器在標籤所處方向的等效全向輻射功率，Pmin是標籤能夠響應時系統傳輸進入GTEM小室埠的最小發射功率，Z0是GTEM小室的輸入阻抗，h是測量點處中板到底板間的距離。
2.如權利要求1所述的用GTEM小室測試UHFRFID標籤零度和讀寫距離的方法，其特 徵在於，需要得到待測標籤有反射信號時UHF RFID測試系統傳輸進入GTEM小室埠的最 小發射功率。
3.如權利要求1所述的用GTEM小室測試UHFRFID標籤靈敏度和讀寫距離的方法，其 特徵在於，所述的待測標籤放置在所述GTEM小室的中板與底板之間的1/3 2/3區域內。
4.如權利要求1所述的用GTEM小室測試UHFRFID標籤零度和讀寫距離的方法，其特 徵在於，需要將標籤的最大輻射(接收)方向對準GTEM小室埠方向。
全文摘要
本發明公開了一種用GTEM小室測試UHF RFID標籤靈敏度和讀寫距離的方法，首先將待測標籤擺放在GTEM小室中的特定區域的特定方向上，在GTEM小室的埠處加一UHF RFID測試系統(具有UHF RFID讀寫器功能和標籤信號分析功能)，測出標籤有反射信號時系統的最小發送功率，通過對使用GTEM小室相關公式計算標籤周圍的電磁場強度，得到標籤能夠反射信號的靈敏度(最小電磁場強度)，繼而通過本發明提出的公式計算自由空間UHF RFID標籤的讀寫距離。通過本方法提出的公式計算出的標籤靈敏度和讀寫距離，操作簡單、成本低廉、測量準確。
文檔編號G06K17/00GK101980254SQ20101052076
公開日2011年2月23日 申請日期2010年10月27日 優先權日2010年10月27日
發明者劉曉陽, 左中梁, 李書芳, 洪衛軍, 陳志雨 申請人:北京郵電大學