一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法

2024-01-31 06:24:15 1

一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法
【專利摘要】本發明公開了一種改善場發射平板顯示器顯示亮度均勻性和實現場發射顯示器件灰度非線性校正的方法。所述的亮度均勻性校正方法能夠改善由於冷陰極電子源陣列中各電子源的電子發射特性不一致導致顯示屏各像素點I/V特性曲線存在著差異而引起的亮度顯示不均衡，該方法為靜態校正與動態校正相結合，有利於獲得較好的均勻性校正效果，並能保持圖像保持清晰。所述灰度非線性校正方法，使顯示器件的發光亮度跟隨所施加的圖像灰度信號電壓呈線性關係，以顯示還原性好的圖像。
【專利說明】 一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種圖像校正方法，特別是一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法。
【背景技術】
[0002]現有的平板顯示器種類繁多，主要有液晶顯示器(Liquid Crystal Display,簡稱IXD)、等離子體顯示板(Plasma Display Panel,簡稱F1DP)、電致發光顯示器件(Electroluminescent Display,簡稱 ELD)、場發射平板顯不器(Field Emiss1n Display,簡稱FED)等。場發射顯示器是最類似傳統CRT(陰極射線管顯示器)的新興平面顯示技術，無需電子束的掃描，可使其結構薄型化，實現低能耗、高清晰度、高穩定性大屏幕平面顯示，但場發射陰極材料在性能、製備及加工工藝上也存在許多尚需解決的問題，納米碳管的出現開啟了研究納米碳管-場發射顯示器(CNT-FED)的新熱潮。由於場發射平板顯示器具備平板化、低功耗、高對比度、高亮度、高動態清晰度、廣視角等優勢，可製作為高質量、大屏幕高清晰度顯示器，實現圖像顯示是實用化的必然途徑。
[0003]在場發射顯示器件中，顯示亮度與冷陰極電子源發射的電流呈線性關係，而冷陰極電子源發射電流與其驅動電壓或電場的關係呈非線性關係。如圖1所示為典型的冷陰極電子源場發射特性，發射的電流隨驅動冷陰極電子源的電壓程近似指數的關係增加，因此場發射顯示器件顯示亮度與驅動電壓之間呈非線性關係。由於加工工藝過程存在分散性，導致冷陰極電子源陣列中各電子源的電子發射特性不一致，螢光屏各像素的螢光粉厚度的偏差造成發光效率的不一致，或柵極電子吸收率的不一致等原因，都會導致亮度顯示不均勻。
[0004]上述表明，場發射平板顯示器存在灰度顯示非線性、亮度顯示不均勻等圖像顯示質量問題，要達到應用要求，是研究者需要面對的問題。本發明提出一種場發射平板顯示器圖像顯示校正方法，結合場發射顯示屏本身的顯示特性，通過數字圖像處理技術對灰度顯示非線性、亮度顯示不均勻進行校正，以改善圖像顯示質量，對新型平板顯示技術研究有意義。

【發明內容】

[0005]為了克服現有技術的不足，本發明提供一種改善場發射平板顯示器顯示亮度均勻性和實現場發射顯示器件灰度非線性校正的方法。
[0006]本發明解決其技術問題所採用的技術方案是:
[0007]—種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法，包括以下步驟，其特徵在於:
[0008]步驟一:
[0009]對於2"級灰度的顯示屏，使顯示屏上各像素點依次施加O到2n_l的顯示數據，獲取顯示屏各像素點對應於各級灰度值的發光亮度f(i，j)，對顯示屏上各像素點的發光亮度和灰度數據擬合曲線為:
【權利要求】
1.一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法，包括以下步驟，其特徵在於: 步驟一: 對於2"級灰度的顯示屏，使顯示屏上各像素點依次施加O到2n-l的顯示數據，獲取顯示屏各像素點對應於各級灰度值的發光亮度f(i，j)，對顯示屏上各像素點的發光亮度和灰度數據擬合曲線為:
2.根據權利要求1所述的一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法，其特徵在於:所述步驟五中對某像素點的輸入圖像信號進行校正處理時，以該像素點在顯示屏上的位置為地址，查表取得該像素點的修正參數a (i，j)和a , (i，j)，計算校正灰度數據，對輸入圖像灰度數據Gi進行修正，得到校正後的顯示數據Gtj，並且Gtj取整數。
3.根據權利要求1所述的一種改善場發射平板顯示器顯示質量的圖像校正方法，其特徵在於:所述步驟七中對某像素點的輸入圖像信號進行校正處理時，為保證校正後的灰度值不超出顯示灰度範圍，對於實現2n級的灰度顯示，修正後的灰度值G大於2n-l時，以2n-l作為該像素點的顯示驅動圖像信號。
【文檔編號】G09G3/22GK104036717SQ201410258931
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2014年6月11日 優先權日:2014年6月11日
【發明者】陳振華, 任娟平, 左紅英 申請人:中山火炬職業技術學院