一種汞分析裝置製造方法
2024-02-24 14:53:15
一種汞分析裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種汞分析裝置，所述汞分析裝置包括：汞燈，所述汞燈發出的測量光對應於汞的吸收波長；檢測器，所述檢測器用於接收與待測汞相互作用後的測量光並轉換為電流信號，並傳送到轉換器；轉換器，所述轉換器用於將接收到的電流信號轉換為電壓信號，並傳送到處理器；處理器，所述處理器用於濾去接收到的電壓信號中的頻率為[10Hz，90Hz]的成分，並傳送到分析單元；分析單元，所述分析單元用於分析接收到的電壓信號，從而獲知汞的含量。本實用新型具有分析精度高、經濟效益好等優點。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及金屬元素分析，特別涉及汞分析裝置。 一種採分析裝置
【背景技術】
[0002] 測汞分析儀常用於水體中Hg的含量。目前有比色法、陽極溶出法，冷原子吸收法。 採用比色法的測汞分析儀目前極其稀少；陽極溶出法主要應用於可攜式設備；冷原子吸收 法用於在位式居多。
[0003] 而基於冷原子吸收法的在位式測汞分析儀，根據光源類型可以細分為光譜儀方式 與汞燈方式。光譜儀方式應用較多，因為光源可調製，故採集數據較穩定，但是日常維護費 用高；而汞燈光源方式成本低、應用面廣，缺點為汞燈光源交流電供電，無法直接對其進行 調製，且傳感器端普遍不陷波，直接進入ADC採樣。這樣的信號對於50Hz的工頻幹擾抑制 幾乎沒有或則效果很差，使得採集數據時波動普遍較大，精度偏低。 實用新型內容
[0004] 為了解決上述現有技術方案中的不足，
[0005] 本實用新型的目的是通過以下技術方案實現的：
[0006] -種汞分析裝置，所述汞分析裝置包括：
[0007] 萊燈，所述萊燈發出的測量光對應於萊的吸收波長；
[0008] 檢測器，所述檢測器用於接收與待測汞相互作用後的測量光並轉換為電流信號， 並傳送到轉換器；
[0009] 轉換器，所述轉換器用於將接收到的電流信號轉換為電壓信號，並傳送到處理 器；
[0010] 處理器，所述處理器用於濾去接收到的電壓信號中的頻率為[l0Hz，90Hz]的成 分，並傳送到分析單元；
[0011] 分析單元，所述分析單元用於分析接收到的電壓信號，從而獲知汞的含量。
[0012] 根據上述的汞分析裝置，優選地，所述處理器採用二階有源陷波電路。
[0013] 與現有技術相比，本實用新型具有的有益效果為：
[0014] 加入了 2階有源陷波電路，能夠有效地抑制其他幹擾信號，尤其是50Hz工頻，大大 提升了分析裝置的採集精度，進而提高了汞分析精度，避免了一些由於幹擾造成的數據波 動。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015] 參照附圖，本實用新型的公開內容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的 是：這些附圖僅僅用於舉例說明本實用新型的技術方案，而並非意在對本實用新型的保護 範圍構成限制。圖中：
[0016] 圖1為本實用新型的汞分析裝置的結構簡圖；
[0017] 圖2為本實用新型的處理器的結構簡圖。
【具體實施方式】
[0018] 圖1-2和以下說明描述了本實用新型的可選實施方式以教導本領域技術人員如 何實施和再現本實用新型。為了教導本實用新型技術方案，已簡化或省略了一些常規方面。 本領域技術人員應該理解源自這些實施方式的變型或替換將在本實用新型的範圍內。本領 域技術人員應該理解下述特徵能夠以各種方式組合以形成本實用新型的多個變型。由此， 本實用新型並不局限於下述可選實施方式，而僅由權利要求和它們的等同物限定。
[0019] 實施例：
[0020] 圖1示意性地給出了本實用新型實施例的汞分析裝置的結構簡圖，如圖1所示，所 述汞分析裝置包括：
[0021] 汞燈，所述汞燈發出的測量光對應於汞的吸收波長；
[0022] 檢測器，所述檢測器用於接收與待測汞相互作用後的測量光並轉換為電流信號， 並傳送到轉換器；
[0023] 轉換器，所述轉換器用於將接收到的電流信號轉換為電壓信號，並傳送到處理 器；
[0024] 處理器，所述處理器用於濾去接收到的電壓信號中的頻率為[10Hz，90Hz]的成 分，特別是50Hz的工頻信號，並傳送到分析單元；
[0025] 分析單元，所述分析單元用於分析接收到的電壓信號，從而獲知汞的含量。分析單 元是本領域的現有技術，在此不再贅述。
[0026] 圖2示意性地給出了本實用新型實施例的處理器的結構簡圖，如圖2所示，所述處 理器採用二階有源陷波電路，主要由兩級二階多路反饋陷波電路組成 ：
[0027] 第一級電路增益由R355、R353決定；而第一級的陷波參數則由合適的R355、R354、 R353、C353、C355 決定。
[0028] 同樣地，第二級的電路增益由R351、R350決定；而第二級的陷波參數則由合適的 R351、R352、R350、C352、C350 決定。
[0029] 最終得到一組參數，實現了對於10Hz以上頻率信號的濾除，尤其是隨處存在的 50Hz工頻信號的幹擾。
【權利要求】
1. 一種汞分析裝置，所述汞分析裝置包括： 汞燈，所述汞燈發出的測量光對應於汞的吸收波長； 檢測器，所述檢測器用於接收與待測汞相互作用後的測量光並轉換為電流信號，並傳 送到轉換器； 轉換器，所述轉換器用於將接收到的電流信號轉換為電壓信號，並傳送到處理器； 處理器，所述處理器用於濾去接收到的電壓信號中的頻率為[l〇Hz，90Hz]的成分，並 傳送到分析單元； 分析單元，所述分析單元用於分析接收到的電壓信號，從而獲知汞的含量。
2. 根據權利要求1所述的汞分析裝置，其特徵在於：所述處理器採用二階有源陷波電 路。
【文檔編號】G01N21/31GK203894157SQ201420316528
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年6月10日 優先權日:2014年6月10日
【發明者】王大偉, 唐懷武, 付聰 申請人:杭州澤天科技有限公司