一種晶片加工篩選裝置的製作方法

2023-12-12 19:00:02

本發明涉及晶片篩選技術領域，具體為一種晶片加工篩選裝置。

背景技術：

晶片篩選裝置對於生產過程中晶片篩選是必不可少的設備，而現存的晶片篩選裝置一般通過電流檢測，而日常設備的電流檢測往往對晶片的篩選過程過於廣泛，不能準確的進行篩選。所以現設計一款可以改變電路的電阻，從而對晶片進行多種電流的篩選，以提高篩選的準確性。

技術實現要素：

本發明的目的在於提供一種晶片加工篩選裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種晶片加工篩選裝置，包括步進電機，所述步進電機的上方通過轉軸轉動連接有傳送帶，所述傳送帶的上方設置有檢測通道和分離裝置，所述分離裝置設置在檢測通道的一側，所述分離裝置的上方設置有支架板，所述支架板的內腔上壁設置有移動滑軌，所述移動滑軌的內部通過滑輪與滑軌滑動連接有移動柄，所述移動柄固定連接在分離裝置的上方，所述檢測通道的內腔上壁設置有主控制單元，所述主控制單元的下方電性連接有檢測模塊,所述檢測模塊的下方電性連接有脈衝電路板，所述脈衝電路板的下方電性連接有滑動變阻器，所述滑動變阻器的下方電性連接有第一電流測試針、第二電流測試針和第三電流測試針，所述第一電流測試針、第二電流測試針和第三電流測試針的下方設置有數據接收器，所述數據接收器的下方電性連接有ad轉換器，所述ad轉換器電性連接有控制裝置，所述控制裝置電性連接有分離裝置。

優選的，所述傳送帶的上表面均勻間隔設置有晶片座，所述晶片座設置有若干個。

優選的，所述分離裝置的兩側設置有廢料箱和可用晶片箱。

優選的，所述滑動變阻器的電阻控制在10歐至15歐姆之間。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：該晶片篩選裝置能夠對晶片進行不同程度的電流測試，從而提高篩選的準確性，降低了篩選過程中的錯誤率。

附圖說明

圖1為本發明結構示意圖；

圖2為本發明廢料箱和可用晶片箱結構示意圖；

圖3為本發明移動滑軌結構示意圖；

圖4為本發明檢測通道結構示意圖；

圖5為本發明工作原理結構示意圖。

圖中：1移動柄、2分離裝置、3檢測通道、4晶片座、5傳送帶、6步進電機、7支架板、8廢料箱、9可用晶片箱、10移動滑軌、11主控制單元、12第一電流測試針、13第二電流測試針、14第三電流測試針、15數據接收器、16檢測模塊、17脈衝電路板、18滑動變阻器、19ad轉換器、20控制裝置。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

本發明的描述中，需要說明的是，術語「豎直」、「上」、「下」、「水平」等指示的方位或者位置關係為基於附圖所示的方位或者位置關係，僅是為了便於描述本實用和簡化描述，而不是指示或者暗示所指的裝置或者元件必須具有特定的方位，以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。此外，「第一」、「第二」、「第三」、「第四」僅用於描述目的，而不能理解為指示或者暗示相對重要性。

本發明的描述中，還需要說明的是，除非另有明確的規定和限制，術語「設置」、「安裝」、「相連」、「連接」應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接，可以是機械連接，也可以是電連接，可以是直接連接，也可以是通過中間媒介相連，可以是兩個元件內部的連通。對於本領域的普通技術人員而言，可以根據具體情況理解上述術語在本發明中的具體含義。

請參閱圖1-5，本發明提供一種技術方案：一種晶片加工篩選裝置，包括步進電機6，所述步進電機6的上方通過轉軸轉動連接有傳送帶5，所述傳送帶5的上表面均勻間隔設置有晶片座4，所述晶片座4設置有若干個，所述傳送帶5的上方設置有檢測通道3和分離裝置2，所述分離裝置2設置在檢測通道3的一側，所述分離裝置2的兩側設置有廢料箱8和可用晶片箱9，所述分離裝置2的上方設置有支架板7，所述支架板7的內腔上壁設置有移動滑軌10，所述移動滑軌10的內部通過滑輪與滑軌滑動連接有移動柄1，所述移動柄1固定連接在分離裝置2的上方，所述檢測通道3的內腔上壁設置有主控制單元11，所述主控制單元11的下方電性連接有檢測模塊16,所述檢測模塊16的下方電性連接有脈衝電路板17，所述脈衝電路板17的下方電性連接有滑動變阻器18，可以改變電路的電阻，從而改變測試電流的大小，所述滑動變阻器18的電阻控制在10歐至15歐姆之間，所述滑動變阻器18的下方電性連接有第一電流測試針12、第二電流測試針13和第三電流測試針14，所述第一電流測試針12、第二電流測試針13和第三電流測試針14的下方設置有數據接收器15，所述數據接收器15的下方電性連接有ad轉換器19，所述ad轉換器19電性連接有控制裝置20，所述控制裝置20電性連接有分離裝置2。

工作原理：晶片放置在晶片座4上，通過步進電機6帶動傳送帶5，將晶片移動到檢測通道3的內部，檢測通道3內部的主控制單元11控制檢測模塊16檢測到晶片移動到指定位置後，脈衝電路板17通過第一電流測試針12、第二電流測試針13和第三電流測試針14依次輸出第一測試電流、第二測試電流和第三測試電流，第三測試電流結束後，滑動變阻器18調節電阻通過脈衝電路板17釋放不同的電流，從而對晶片進行多輪檢測，晶片檢測後，數據接收器15將數據傳輸到ad轉換器19，若檢測合格，ad轉換器19將數據傳送至控制裝置20，控制裝置20指定移動柄1帶動分離裝置2將晶片移到可用晶片箱9；若檢測不合格，控制裝置20將指定移動柄1帶動分離裝置2將晶片移到廢料箱8。

儘管已經示出和描述了本發明的實施例，對於本領域的普通技術人員而言，可以理解在不脫離本發明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型，本發明的範圍由所附權利要求及其等同物限定。