基帶epcn系統中下行通道的衰減檢測方法和設備的製作方法
2023-05-08 23:13:11
專利名稱：基帶epcn系統中下行通道的衰減檢測方法和設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及通信技術領域，尤其涉及一種基帶EPCN系統中下行通道的 衰減;險測方法和i殳備。
背景技術：
基帶EPCN (Ethernet Over Coax Network)系統是指在同軸網絡中運行的 乙太網，其使用點到多點的同軸分配網絡作為物理層傳輸介質，同軸分配網 絡可以是星型，樹型等任意拓樸結構。基帶EPCN系統的結構示意圖如圖1所示。 一個典型的基帶EPCN系統 由CLT ( Coax Line Terminal,同軸電纜線路終端)、CNU ( Coax Network Unit, 同軸網絡單元)、同軸分配網等部分組成。CLT位於樓道或者小區光節點位置， CNU位於用戶所在地充當家庭CPE ( Customer Premises Equipment,用戶駐地 設備)設備接入用戶終端，或者與樓道交換機等產品集成在一起，充當樓道 交換機的上行接口 。同軸分配網絡就是從CATV光節點位置到用戶家裡的網 絡，除了同軸線纜以外，還包括有源放大器，分支/分配器等設備。目前的基帶EPCN系統中， 一個CLT可以下掛若干(比如24 )個CNU, 從CLT到每個CNU的下行物理線路的衰減情況可能不同，這樣造成每個CNU 的信噪比不同，數據信號的誤碼率不同。而運營商希望基帶EPCN系統能夠 自動顯示從運營商側設備CLT到用戶側設備CNU的線路衰減，這樣當用戶 設備出現誤碼的時候，能夠快速判斷是由於線路連接問題，還是由於其它問 題產生的通信誤碼。現有技術中無法實現CLT到用戶側i殳備CNU的線路衰 減的自動測量。發明內容本發明提供一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法和設備，用於檢測基帶EPCN系統中CLT到用戶側設備CNU的線路衰減。為達到上述目的，本發明提供一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減4企測方法，包^\-CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量；所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行通道 的衰減。其中，所述CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量具體包括 所述CLT生成控制消息，並在所述控制消息中攜帶要求所述CNU進行接收信號的測量的指示；所述CLT在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。其中，所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行通道的衰減具體包括所述CLT接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；所述CLT獲取向所述CNU發送信號的信號質量；所述CLT比較所述CNU發送的測量結果以及所述發送信號的信號質量， 獲取到所述CNU的下行通道的衰減。其中，所述CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量後，還包括所述CNU的MAC層晶片接收所述CLT在下行時段發送的控制消息，獲 取所述控制消息中攜帶的要求所述CNU進行接收^f言號的測量的指示；所述CNU的PHY晶片根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT 接收的接收信號進行測量，並將所述測量結果提供給所述MAC層晶片。所述CNU的MAC層晶片將所述測量結果添加在控制消息中，並在上行 時段向所述CLT發送。本發明還提供一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，包括 CNU接收CLT在下行時段發送的指示；所述CNU根據所述指示對從所述CLT接收的接收信號進行測量並獲得測量結果；所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送。其中，所述CNU接收CLT在下行時段發送的指示具體包括所述CNU的MAC層晶片獲取所述控制消息中攜帶的要求所述CNU進 行接收信號的測量的指示。其中，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送具體包括所述CNU的PHY晶片根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT 接收的接收信號進行測量；所述CNU的PHY晶片存儲測量結果，並將所述測量結果提供給所述 MAC層晶片。其中，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送具體包括 所述CNU的MAC層晶片獲取所述PHY晶片存儲的測量結果； 所述CNU的MAC層晶片將所述測量結果添加在控制消息中，並在上行時段向所述CLT發送。其中，所述CNU接收CLT在下行時段發送的指示前，還包括所述CLT生成控制消息，並在所述控制消息中攜帶要求所述CNU進行接收信號的測量的指示；所述CLT在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。其中，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送後，包括所述CLT接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；所述CLT獲取向所述CNU發送信號的信號質量；所述CLT比較所述CNU發送的測量結果以及所述發送信號的信號質量， 獲取到所述CNU的下行通道的衰減。本發明還提供一種CLT設備，其特徵在於，包括 指示發送單元，用於在下行時段指示CNU進4亍接收信號的測量;衰減獲取單元，用於根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU 的下行通道的衰減。其中，所述指示發送單元具體包括控制消息生成子單元，用於生成控制消息，並在所述控制消息中攜帶要 求所述CNU進行接收信號的測量的指示；控制消息發送子單元，用於在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。 其中，所述衰減獲取單元具體包括測量結果獲取子單元，用於接收所述CNU在上行時段發送的控制消息， 獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；發送信號質量獲取子單元，用於獲取向所述CNU發送信號的信號質量；比較子單元，用於比較所述測量結果獲取子單元獲取的測量結果、以及 所述發送信號質量獲取子單元獲取的發送信號的信號質量，獲取到所述CNU 的下行通道的衰減。本發明還提供一種CNU設備，其特徵在於，包括MAC層晶片，用寸接收CLT在下行時段發送的指示時，指示PHY晶片 進行接收信號的測量；並將PHY晶片獲取的測量結果向所述CLT發送；PHY晶片，用於根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT接收 的接收信號進行測量並獲得測量結果。其中，所述MAC層晶片具體包括接收單元，用於接收所述CLT在下行時段發送的控制消息；指示獲取單元，用於獲取所述接收單元接收的控制消息中攜帶的要求所 述CNU進行接收信號的測量的指示；指示發送單元，用於根據所述指示獲取單元獲取的指示，指示PHY晶片 進行接收信號的測量;測量結果發送單元，用於將所述PHY晶片獲取的測量結果添加在控制消 息中，並在上行時段向所述CLT發送。其中，所述PHY晶片具體包括測量單元，用於根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT接收的接收信號進行測量；測量結果存儲單元，用於存儲所述測量單元獲得的測量結果，並將所述 測量結果提供給所述MAC層晶片。與現有技術相比，本發明具有以下優點通過使用本發明，能夠獲得基帶EPCN系統中從CLT到任意指定CNU 的下行信道物理衰減，便於工程維護人員定位問題和解決網上故障。
圖1是現有技術中的基帶EPCN系統的結構示意圖； 圖2是本發明中的基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法的流程圖； 圖3是本發明中的基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法的另一流 程圖；圖4是本發明中CLT設備的結構示意圖； 圖5是本發明中CNU設備的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例，對本發明的具體實施方式
作進一步詳細描述。 基帶EPCN系統中，下行信號和上行信號共享同一個物理信道。即下行 時CLT向CNU發送的信號、以及上行時CNU向OLT發送的信號，是對同一 個信道的分時使用。目前的EPCN系統中，所有CNU的接收窗口在自身設備 不發送數據時一直打開。對於CNU來說，通過4妻收窗口除了可以接收到來自 CLT的信號以外，還可以接收到來自其它CNU的信號。因此CNU無法確定 當前接收到的信號是來自CLT還是來自其它CNU,從而無法確定信號的採樣 點。基帶EPCN系統中，下行發送時間片和所有CNU的上行發送時間片都是 由CLT進行分配的，因此CLT可以確定CNU對接收信號進行採樣的時間點。基於上述分析，本發明提供一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測 方法和設備，其核心思想在於由CLT確定對接收信號進行採樣的時間點，並指示CNU進行4姿收信號的測量。CNU對接收信號進行測量後將測量結果 發送到CLT, CLT根據該測量結果獲取到該CNU的下行通道的衰減。具體的，本發明提供的基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法如圖2 所示，包括步驟s101、 CLT在下行時段指示CNU進行4妄收信號的測量。 步驟sl02、 CNU根據該指示，測量接收信號並獲得測量結果。 步驟sl03、 CNU將測量結果向CLT發送。步驟sl04、 CLT根據CNU發送的測量結果，獲取到該CNU的下行通道在本發明的一個具體應用場景中，提供一種基帶EPCN系統中下行通道 的衰減4企測方法，如圖3所示，包括步驟s201、在CLT的下4於時段，CLT通過控制消息通知CNU對接收信 號的電平參數進行測量。具體的，CLT必須在下行時段通知CNU測量接收信號的電平。這時因為 如果在上行時段CNU可能接收到來自其它CNU的信號，如果在上行時段通 知CNU測量接收信號的電平參數，該CNU測量的可能是來自其它CNU的信 號。即測量的是從某個CNU到該CNU的物理信道衰減，而不是從CLT到該 CNU的物理信道衰減。步驟s202、 CNU的MAC層晶片解析該控制消息後，通知CNU的PHY 晶片進行接收信號電平參數的測量。具體的，CNU的MAC晶片接收到來自CLT的測量控制消息後，馬上通 知CNU的MAC晶片進行測量。步驟s203、 CNU的PHY晶片進行接收信號電平參數的測量，並保存接 收信號電平參數的測量結果。具體的，CNU的PHY晶片在下行時段結束之前完成接收信號的測量，並 將測量結果保存在相應的測量寄存器。步驟s204、 CNU的MAC層晶片讀取接收信號電平參數的測量結果，在的衰減。該CNU的上行發送時隙中，將接收信號電平參數的測量結果上報給CLT。 步驟s205、 CLT獲取CLT到該CNU的下行信道衰減。 具體的，CLT在發送信號時，預先存儲發送信號的電平參數，而CNU測量了該CLT的發送信號經過從CLT到該CNU的下行物理信道衰減後，接收到的信號的電平參數。CLT根據這兩個參數，可以獲取到從CLT到該CNU的下行倌道物理衰減。本發明還提供一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測系統，包括CLT 和CNU。其中，CLT用於在下行時段指示CNU進行接收信號的測量；並根 據CNU發送的測量結果，獲取到CNU的下行通道的衰減。CNU用於接收 CLT在下行時段發送的指示時，對從CLT接收的接收信號進行測量並獲得測 量結果；並將測量結果向CLT發送。具體的，如圖4所示，CLT設備中具體包括指示發送單元10，用於在下行時段指示CNU進行接收信號的測量； 衰減獲取單元20,用於根據CNU發送的測量結果，獲取到CNU的下行 通道的衰減。上述指示發送單元10具體包括控制消息生成子單元11，用於生成控制消息，並在控制消息中攜帶要求 CNU進行接收信號的測量的指示；控制消息發送子單元12，用於在下行時段向CNU發送控制消息生成子單 元ll生成的控制消息。上述衰減獲取單元20具體包括測量結果獲取子單元21，用於接收CNU在上行時4更發送的控制消息，獲取控制消息中攜帶的測量結果；發送信號質量獲取子單元22,用於獲取向CNU發送信號的信號質量； 比較子單元23，用於比較測量結果獲取子單元21獲取的測量結果、以及發送信號質量獲取子單元22獲取的發送信號的信號質量，獲取到CNU的下行通道的衰減。具體的，如圖5所示，CNU設備中具體包括MAC層晶片30,用於接收CLT在下行時段發送的指示時，指示PHY芯 片40進行接收信號的測量；並將PHY晶片40獲取的測量結果向CLT發送；PHY晶片40,用於根據MAC層晶片30接收的指示，對從CLT接收的 接收信號進行測量並獲得測量結果。上述MAC層晶片30具體包括接收單元31,用於接收CLT在下行時段發送的控制消息；指示獲取單元32,用於獲取接收單元31接收的控制消息中攜帶的要求所 述CNU進行接收信號的測量的指示；指示發送單元33,用於根據指示獲取單元32獲取的指示，指示PHY芯 片40進行接收信號的測量；測量結果發送單元34,用於將PHY晶片40獲取的測量結果添加在控制 消息中，並在上行時段向CLT發送。上述PHY晶片40具體包括測量單元41，用於根據MAC層晶片接收的指示，對從CLT接收的接收 信號進行測量。測量結果存儲單元42,用於存儲測量單元41獲得的測量結果，並將測量 結果提供給MAC層晶片30的測量結果發送單元34。通過使用本發明提供的方法和設備，能夠獲得基帶EPCN系統中從CLT 到任意指定CNU的下行信道物理衰減，便於工程維護人員定位問題和解決網 上故障。通過以上的實施方式的描述，本領域的技術人員可以清楚地了解到本發 明可藉助軟體加必需的通用硬體平臺的方式來實現，當然也可以通過硬體， 但很多情況下前者是更佳的實施方式。基於這樣的理解，本發明的技術方案 本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟體產品的形式體現出來， 該計算機軟體產品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺網絡 設備執行本發明各個實施例所述的方法。公開的僅為本發明的幾個具體實施例，但是，本發明並非局限於此， 任何本領域的技術人員能思之的變化都應落入本發明的保護範圍。
權利要求
1. 一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特徵在於，包括CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量；所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行通道的衰減。
2、 如權利要求1所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特 徵在於，所述CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量具體包括所述CLT生成控制消息，並在所述控制消息中攜帶要求所述CNU進行 接收信號的測量的指示；所述CLT在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。
3、 如權利要求1所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特 徵在於，所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行 通道的衰減具體包括所述CLT接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消 息中攜帶的測量結果；所述CLT獲取向所述CNU發送信號的信號質量；所述CLT比較所述CNU發送的測量結果以及所述發送信號的信號質量， 獲取到所述CNU的下行通道的衰減。
4、 如權利要求1或2所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法， 其特徵在於，所述CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量後，還包 括所述CNU的MAC層晶片接收所述CLT在下行時段發送的控制消息，獲 取所述控制消息中攜帶的要求所述CNU進行接收信號的測量的指示；所述CNU的PHY晶片根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT 接收的接收信號進行測量，並將所述測量結果提供給所述MAC層晶片。所述CNU的MAC層晶片將所述測量結果添加在控制消息中，並在上行 時段向所述CLT發送。
5、 一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特徵在於，包括 CNU接收CLT在下行時段發送的指示；所述CNU根據所述指示對從所述CLT接收的接收信號進行測量並獲得 測量結果；所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送。
6、 如權利要求5所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特 徵在於，所述CNU接收CLT在下行時段發送的指示具體包括所述CNU的MAC層晶片獲取所述控制消息中攜帶的要求所述CNU進 行接收信號的測量的指示。
7、 如權利要求5或6所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法， 其特徵在於，所述CNU根據所述指示對從所述CLT接收的接收信號進行測 量並獲得測量結果具體包括所述CNU的PHY晶片根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT 接收的接收信號進行測量；所述CNU的PHY晶片存儲測量結果，並將所述測量結果提供給所述 MAC層晶片。
8、 如權利要求7所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特 徵在於，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送具體包括所述CNU的MAC層晶片獲取所述PHY晶片存儲的測量結果； 所述CNU的MAC層晶片將所述測量結果添加在控制消息中，並在上行 時段向所述CLT發送。
9、 如權利要求5所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特 徵在於，所述CNU接收CLT在下行時段發送的指示前，還包括所述CLT生成控制消息，並在所述控制消息中攜帶要求所述CNU進行 接收信號的測量的指示；所述CLT在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。
10、 如權利要求5所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其 特徵在於，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送後，包括所述CLT接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；所述CLT獲取向所述CNU發送信號的信號質量；所述CLT比較所述CNU發送的測量結果以及所述發送信號的信號質量， 獲取到所述CNU的下行通道的衰減。
11、 一種CLT設備，其特徵在於，包括指示發送單元，用於在下行時段指示CNU進行接收信號的測量； 衰減獲取單元，用於根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU 的下^f於通道的衰;鹹。
12、 如權利要求11所述CLT設備，其特徵在於，所述指示發送單元具體 包括控制消息生成子單元，用於生成控制消息，並在所述控制消息中攜帶要 求所述CNU進行接收信號的測量的指示；控制消息發送子單元，用於在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。
13、 如權利要求11所述CLT設備，其特徵在於，所述衰減獲取單元具體 包括測量結果獲取子單元，用於接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；發送信號質量獲取子單元，用於獲取向所述CNU發送信號的信號質量； 比較子單元，用於比較所述測量結果獲取子單元獲取的測量結果、以及所述發送信號質量獲取子單元獲取的發送信號的信號質量，獲取到所述CNU的下4於通道的衰減。
14、 一種CNU設備，其特徵在於，包括MAC層晶片，用於接收CLT在下行時段發送的指示時，指示PHY晶片 進行接收信號的測量；並將PHY晶片獲取的測量結果向所述CLT發送；PHY晶片，用於根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT接收 的接收信號進行測量棄獲得測量結果。
15、 如權利要求14所述CNU設備，其特徵在於，所述MAC層晶片具體包括接收單元，用於接收所述CLT在下行時段發送的控制消息；指示獲取單元，用於獲取所述接收單元接收的控制消息中攜帶的要求所 述CNU進行接收信號的測量的指示；指示發送單元，用於根據所述指示獲取單元獲取的指示，指示PHY晶片 進行接收信號的測量；測量結果發送單元，用於將所述PHY晶片獲取的測量結果添加在控制消 息中，並在上行時段向所述CLT發送。
16、如權利要求14所述CNU設備，其特徵在於，所述PHY晶片具體包括測量單元，用於根據所述MAC層晶片接收的指示，對從所述CLT接收 的接收信號進行測量；測量結果存儲單元，用於存儲所述測量單元獲得的測量結果，並將所述 測量結果提供給所述MAC層晶片。
全文摘要
本發明公開了一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法和設備。該方法包括CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量；所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行通道的衰減。通過使用本發明，能夠獲得基帶EPCN系統中從CLT到任意指定CNU的下行信道物理衰減，便於工程維護人員定位問題和解決網上故障。
文檔編號H04B3/48GK101277129SQ200810097438
公開日2008年10月1日 申請日期2008年5月26日 優先權日2008年5月26日
發明者洋 於 申請人:杭州華三通信技術有限公司