雷射長光程分光光度計的製作方法

2023-04-23 07:31:06 3

專利名稱：雷射長光程分光光度計的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種化學分析儀器分光光度計。
比色分析法是一種歷史悠久的分析方法，後來發展為分光光度法以後，大大提高了測定準確度和靈敏度。方法應用於微量或痕量成分的分析測定。為了進一步提高測定的精密度、靈敏度以及擴大儀器的使用範圍，分析化學家主要在擴大儀器工作濃度範圍、提高測定波長的單色性和波長精度等方面作很多改進。如國產72型分光光度計，工作波長範圍420nm～700nm，波長精度約10nm，後來研製的國產751型分光光度計，其工作波長範圍200～1000nm，波長精度約1～5nm，但這二種儀器的測量靈敏度是幾乎相同的。自80年代以來，把電腦引入光度計中，使光度計具有自動波長掃描，自動內存繪製測量工作曲線，計算未知物測試結果等許多功能如日本島律產UV240，260等。但是儀器的測試靈敏度也幾乎沒什麼改進。這主要原因是以上所述儀器在可見光區測定時採用鎢絲白熾燈泡而在近紫外光區採用氘燈，它們的發光強度不夠大，單色性也不夠好。
本實用新型的目的在於提供一種新的能進一步提高儀器分析靈敏度的分光光度計。
本實用新型通過如下方案實現的，它採用具有發光強度大、單色性好的雷射為光源和長光程的比色皿替代一般分光光度計中的單色光源和薄比色皿。因為根據光的吸收定律朗伯-比爾定律，當入射光波長一定時，定量關係表達如下A＝kbc式中A—儀器測得的消光度值；k為吸光係數； b為光程長度通常1cm左右；c為被測物質濃度。改寫一下可得c=Akb]]>當本儀器採用發光強度大、單色性又好的雷射為光源可進一步採用長光程的比色皿，從而使上式b從一般1cm增加到100cm以上，因此可使測量的物質濃度降低到100倍以下(以消光度值相同計)，這樣本儀器的測定靈敏度可提高到100倍以上。


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圖1.雷射長光程分光光度計工作原理圖。
以下結合附圖對本實用新型的實施例作進一步描述本實用新型的雷射長光程分光光度計包含雷射發生器(1)、長光程(光程長100cm)的比色皿(2)、散射透鏡(3)、光量調節器(4)、光電轉換器(5)和光電檢流計(B)。它採用雷射發生器(1)發出的光強度大、單色性好的雷射替代一般分光光度計的單色光源，雷射能夠透過長光程(光程長100cm)比色皿(2)中的測試樣品，透過的雷射再通過散射透鏡(3)，經光量調節器(4)調節後，進入光電轉換器(5)中，把光信號轉換為電信號，電信號再經光電檢流計(6)檢測出來，完成了分光光度計的測試過程。為了覆蓋一般分光光度計的工作波長範圍，可採用若干臺(一般為三臺)不同波長的可調雷射發生器來完成。
本實用新型的雷射長光程分光光度計具有結構簡單、超高靈敏度(可提高近百倍)特點，可使用目前廣泛使用的各種顯色體系來測量微量及痕量成分的含量，更可用來測量現在光度計無法測量的超低含量的成分測定。
權利要求1.一種分光光度計，包含光源、比色皿、散射透鏡、光量調節器、光電轉換器和光電檢流計。其特徵在於a.採用的光源為雷射光源(1)；b.採用的比色皿為長光程的比色皿(2)。
專利摘要本實用新型為一種分光光度計，採用發光強度大、單色性好的雷射為光源和長光程的比色皿，具有結構簡單和超高靈敏度的特點，可使用目前廣泛使用的各種顯色體系來測量微量和痕量成分的含量，更可用來測量現在光度計無法測量的超低含量的成分測定。
文檔編號G01N21/25GK2224418SQ9421741
公開日1996年4月10日 申請日期1994年7月21日 優先權日1994年7月21日
發明者樓嶽年 申請人:寧波師範學院