一種面型檢定儀的製作方法

2023-05-17 14:13:36

專利名稱：一種面型檢定儀的製作方法
技術領域：
一種面型檢定儀
技術領域：
本實用新型涉及測量技術領域，特別涉及一種面型檢定儀。背景技術：
現行的加工技術中關於加工面面形的檢測沒有一個比較好的辦法，在實際的加工 過程中存在著一定的弊端測量成本高、測量難度大、不利於現場加工和生產。

實用新型內容本實用新型的目的是提供一種面型檢定儀，以解決上述技術問題。為了實現上述目的，本實用新型採用如下技術方案一種面型檢定儀，包括測量基板、指示類傳感器或指示表、測量頭、螺釘和3個柱 銷；所述3個柱銷固定於所述測量基板上，所述指示類傳感器或指示表通過螺釘固定於所 述測量基板中心處，所述測量頭連接所述指示類傳感器或指示表。3個柱銷底部共面。所述指示表為千分表。與現有技術相比，本實用新型具有以下優點本實用新型一種面型檢定儀通過設 置一測量基板，基板上固定有3個底部共面的柱銷，基板中心處固定有一個指示類傳感器， 通過連接指示類傳感器的測量頭與3個柱銷底面所在平面之間的差異，可以快速判斷出測 量平面與基準平面之間的差距；本實用新型可以簡單、快速、準確的檢測不同口徑加工面的 面形情況，本實用新型可以通過更改3個柱銷的位置、測量基板的大小來調整測量面的大 小；更換精度更高的指示類傳感器來提高測量的精度值；更換不同的標準件可以分別對球 面、平面面形進行相應的測量。

圖1為本實用新型一種面型檢定儀的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型做進一步詳細描述。請參閱圖1所示，本實用新型一種面型檢定儀包括測量基板1、指示表或指示類傳 感器2、測量頭21、螺釘3和柱銷4。本實施例使用千分表作為指示表2，在測量時使用一個標準平板作為標準件進行 對比測量。使用時首先將3個柱銷4安裝到測量基板1上，將千分表安裝到測量基板1的 中心位置，用螺釘3進行固定；其次將面型檢定儀放到標準平板上，調節千分尺的測量頭21 的位置使千分尺對零，3個柱銷4和測量頭21的底部共面；最後將對零好的面型檢定儀放 到待檢測件的表面上，根據千分表中的讀數可以判斷出測量平面與標準平板之間的差距。在實際測量中可以更改3個柱銷的位置、測量基板1的大小來調整測量面的大小；更換精度更高的指示類傳感器2來提高測量的精度值；更換不同的標準件可以分別對球 面、平面面形進行相應的測量。
權利要求1.一種面型檢定儀，其特徵在於包括測量基板(1)、指示類傳感器或指示表(2)、測量 頭(21)、螺釘(3)和3個柱銷(4)；所述3個柱銷(4)固定於所述測量基板⑴上，所述指 示類傳感器或指示表(2)通過螺釘(3)固定於所述測量基板(1)中心處，所述測量頭(21) 連接所述指示類傳感器或指示表(2)。
2.如權利要求1所述一種面型檢定儀，其特徵在於3個柱銷(4)底部共面。
3.如權利要求1或2所述一種面型檢定儀，其特徵在於所述指示表(2)為千分表。
專利摘要本實用新型提供一種面型檢定儀，包括測量基板、指示類傳感器、測量頭、螺釘和3個柱銷；所述3個柱銷固定於所述測量基板上，所述指示類傳感器通過螺釘固定於所述測量基板中心處，所述測量頭連接所述指示類傳感器。本實用新型通過連接指示類傳感器的測量頭與3個柱銷底面所在平面之間的差異，可以快速判斷出測量平面與基準平面之間的差距；本實用新型可以簡單、快速、準確的檢測不同口徑加工面的面形情況，本實用新型可以通過更改3個柱銷的位置、測量基板的大小來調整測量面的大小；更換精度更高的指示類傳感器來提高測量的精度值；更換不同的標準件可以分別對球面、平面面形進行相應的測量。
文檔編號G01B5/20GK201885666SQ20102058469
公開日2011年6月29日 申請日期2010年10月29日 優先權日2010年10月29日
發明者崔傑 申請人:西安北方捷瑞光電科技有限公司