半導體元件測試站的製作方法

2023-05-02 11:48:41 1

半導體元件測試站的製作方法
【專利摘要】半導體元件測試站，涉及半導體元件生產領域。包括底座、調節豎板、直板、測試橫板、測試座調節臺和測試座，直板通過固定座固定在底座上，調節豎板安裝在直板上，測試橫板設置在調節豎板上方，測試座調節臺固定在測試橫板上，測試座安裝在測試座調節臺上，調節豎板上安裝有氣缸，氣缸的輸出端固定有連接板。本實用新型的調節豎板上安裝有氣缸，氣缸的輸出端通過連接板連接測試橫板，測試時，先要調整好氣缸的氣壓，氣缸上頂測試橫板，帶動測試橫板上的測試座上行，若吸嘴下壓測試座的壓力大於氣缸上頂作用力時，氣缸自動縮回，避免了半導體元件的損壞。
【專利說明】半導體元件測試站

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及半導體元件生產領域，具體為一種半導體元件測試站。

【背景技術】
[0002]現有技術中的半導體元件測試站包括底座，底座上固定有豎板，豎板上固定有測試橫板，測試橫板上固定有測試座調節臺，測試座調節臺上固定有測試座；工作時，旋轉盤上的吸嘴吸住半導體元件下行碰到測試座開始測試，但現有測試座的高度一定，而吸嘴的下行距離不定，導致吸嘴下行過程中撞擊測試座，導致半導體元件的損壞。
實用新型內容
[0003]本實用新型的目的是提供一種測試座高度能夠根據吸嘴下行壓力的變化而變化的半導體元件測試站。
[0004]實現上述目的的技術方案是:半導體元件測試站，包括底座、調節豎板、直板、測試橫板、測試座調節臺和測試座，所述直板通過固定座固定在底座上，調節豎板安裝在直板上，測試橫板設置在調節豎板上方，測試座調節臺固定在測試橫板上，測試座安裝在測試座調節臺上，其特徵在於:所述調節豎板上安裝有氣缸，氣缸的輸出端固定有連接板，所述連接板與測試橫板固定，通過氣缸輸出端的連接板帶動測試橫板上下位移。
[0005]本實用新型的調節豎板上安裝有氣缸，氣缸的輸出端通過連接板連接測試橫板，測試時，先要調整好氣缸的氣壓，氣缸上頂測試橫板，帶動測試橫板上的測試座上行，同時旋轉盤上的吸嘴將吸住半導體元件下行到測試座上開始測試，若吸嘴下壓測試座的壓力大於氣缸上頂作用力時，氣缸自動縮回，避免了半導體元件的損壞，提高了經濟效益。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1為本實用新型的結構示意圖。

【具體實施方式】
[0007]如圖1所示，本實用新型包括底座1、調節豎板4、直板3、測試橫板5、測試座調節臺6和測試座7。
[0008]直板3通過固定座2固定在底座1上，調節豎板4安裝在直板3上，測試橫板5設置在調節豎板4上方，測試座調節臺6固定在測試橫板5上，測試座7安裝在測試座調節臺6上，調節豎板4上安裝有氣缸9，氣缸9的輸出端固定有連接板8，連接板8與測試橫板5固定，通過氣缸9輸出端的連接板8帶動測試橫板5上下位移。
【權利要求】
1.半導體元件測試站，包括底座、調節豎板、直板、測試橫板、測試座調節臺和測試座，所述直板通過固定座固定在底座上，調節豎板安裝在直板上，測試橫板設置在調節豎板上方，測試座調節臺固定在測試橫板上，測試座安裝在測試座調節臺上，其特徵在於:所述調節豎板上安裝有氣缸，氣缸的輸出端固定有連接板，所述連接板與測試橫板固定，通過氣缸輸出端的連接板帶動測試橫板上下位移。
【文檔編號】G01R31/26GK204228753SQ201420643378
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年10月31日 優先權日:2014年10月31日
【發明者】蔣豔麗, 李永備, 張磊 申請人:揚州澤旭電子科技有限責任公司