一種化學晶片分析裝置的製作方法

2023-05-19 09:39:06 1

專利名稱：一種化學晶片分析裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種對無機物和有機物進行定性、定量的成分分析裝置，尤其涉 及一種化學晶片分析裝置。
背景技術：
目前，對無機物金屬陽離子的分析多採用原子吸收光譜分析法和發射光譜分析 法，而對無機物(金屬陽離子、陰離子)、有機物(醇、酚、醚、醛、酮、羧酸、糖、胺基酸、蛋白質 等成分)的分析也多是採用普通化學和儀器分析的方法。分析成本高和缺乏高通量，受操 作技術水平影響因素也很大。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種結構簡單、成本低的化學晶片分析裝置。為解決上述問題，本實用新型所述的一種化學晶片分析裝置，包括化學晶片檢測 儀，其特徵在於該裝置還包括置於所述化學晶片檢測儀中、呈長方形的化學晶片片基；所 述化學晶片片基的正面設有陣列孔窩反應點/處，該陣列孔窩反應點/處內均添加有反應 底物；與所述陣列孔窩反應點/處相對應的所述化學晶片片基的背面設有螢光物質點/處， 該螢光物質點/處設有螢光物質。所述化學晶片檢測儀設有波長範圍為300 500nm、光源直徑1 5mm的雷射光源。本實用新型與現有技術相比具有以下優點1、由於本實用新型中設有陣列孔窩反應點/處，該陣列孔窩反應點/處可添加不 同梯度的反應底物，同時相應的螢光物質點/處添加有螢光物質，因此，可使被檢樣品產生 多成分、高通量、大規模、標準化的檢測效果。2、本實用新型結構簡單、成本低廉，可適用於對無機物(金屬陽離子、陰離子)、有 機物(醇、酚、醚、醛、酮、羧酸、糖、胺基酸、蛋白質等成分)高通量的定性、定量檢測。
以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進一步詳細的說明。

圖1為本實用新型中的化學晶片片基側視圖。圖2為本實用新型中的化學晶片片基主視圖。圖中1-化學晶片片基2-陣列孔窩反應點/處3-螢光物質點/處
具體實施方式如圖1、圖2所示，一種化學晶片分析裝置，包括化學晶片檢測儀和置於化學晶片 檢測儀中、呈長方形的化學晶片片基1。[0014]化學晶片片基1的正面設有陣列孔窩反應點/處2，該陣列孔窩反應點/處2內均 添加有反應底物；與陣列孔窩反應點/處2相對應的化學晶片片基1的背面設有螢光物質 點/處3，該螢光物質點/處3設有螢光物質。其中化學晶片檢測儀設有波長範圍為300 500nm、光源直徑1 5mm的雷射光源。如圖2所示，可化學晶片片基1的正面採用陣列為13X5，在陣列橫向位置由A M的13個字母表示，其縱向位置由a e的5個字母表示。
權利要求1.一種化學晶片分析裝置，包括化學晶片檢測儀，其特徵在於該裝置還包括置於所 述化學晶片檢測儀中、呈長方形的化學晶片片基(1)；所述化學晶片片基(1)的正面設有陣 列孔窩反應點/處O)，該陣列孔窩反應點/處O)內均添加有反應底物；與所述陣列孔窩 反應點/處( 相對應的所述化學晶片片基(1)的背面設有螢光物質點/處(3)，該螢光物 質點/處C3)設有螢光物質。
2.如權利要求1所述的一種化學晶片分析裝置，其特徵在於所述化學晶片檢測儀設 有波長範圍為300 500nm、光源直徑1 5mm的雷射光源。
專利摘要本實用新型涉及一種化學晶片分析裝置，包括化學晶片檢測儀，其特徵在於該裝置還包括置於所述化學晶片檢測儀中、呈長方形的化學晶片片基；所述化學晶片片基的正面設有陣列孔窩反應點/處，該陣列孔窩反應點/處內均添加有反應底物；與所述陣列孔窩反應點/處相對應的所述化學晶片片基的背面設有螢光物質點/處，該螢光物質點/處設有螢光物質。本實用新型結構簡單、成本低廉，可使被檢樣品產生多成分、高通量、大規模、標準化的檢測效果。
文檔編號G01N21/64GK201867371SQ20102061577
公開日2011年6月15日 申請日期2010年11月16日 優先權日2010年11月16日
發明者曹越, 索有瑞 申請人:中國科學院西北高原生物研究所