X射線攝像裝置的製作方法
2023-04-25 22:45:11
專利名稱：X射線攝像裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及X射線焦點位置的定位控制。
背景技術：
在X射線CT裝置等的X射線攝像裝置中，作為X射線源被使用的X射線管例如如專利文獻I記載的那樣，用高電壓將由燈絲(filament)產生的熱電子進行加速，並且收斂於焦點並與旋轉陽極靶(target)碰撞而產生X射線。由於此時產生的熱量，焦點成為高溫，支撐X射線靶的旋轉軸等的溫度上升而產生熱膨脹，從而焦點位置發生變化。之後，通過放射和冷卻器來冷卻並收縮X射線靶的旋轉軸等，從而焦點位置再次發生變化。在大多數的X射線CT裝置中，被配置成X射線管內的X射線靶的旋轉軸的方向與臺架(gantry)旋轉部的旋轉軸的方向相一致，該方向還與X射線檢測器的切片方向(slice direction)相一致。因此，若產生X射線靶旋轉軸等的伸縮，則在切片方向上X射線焦點、即X射線照射範圍發 生變化。這種X射線照射範圍的變化有時會成為在重構像中的偽像(artifact)的產生、定量性的降低等的畫質劣化的原因。因此，為了防止由上述這種焦點移動引起的X射線照射範圍的變動，例如在專利文獻2中在攝影之前與被攝體測量分別地進行焦點位置檢測用的X射線照射(預曝光，I'J曝射)來檢測焦點位置，並利用該結果來變更向X射線檢測器入射的X射線的位置。又例如，如上述的專利文獻I所記載那樣，通過利用在進行掃描之際由焦點位置檢測器測量到的焦點位置和冷卻特性數據，來推定下次X射線照射時的焦點位置，從而使X射線準直儀(collimator)移動,而使照射範圍移動。在先技術文獻專利文獻專利文獻I :日本特開2000-51209號公報專利文獻2 :日本特開平10-211199號公報
發明內容
發明要解決的技術問題然而，若利用專利文獻2所示那樣的預曝光，則在攝影開始後進行預曝光的時間成為必要，存在著不能立刻進行攝影的問題。這在如例如心臟的造影攝影那樣進行有運動的被攝體所必需的瞬時攝影之際，尤其成為問題。另外，如專利文獻I所示那樣，根據在上次的X射線照射中判明的位置而通過推定求出焦點位置並對其進行校正的情況下，若由於位置較之上次發生較大移動等使得偏離焦點的變動量特性地變動，則無法進行正確的推定，由此無法將焦點位置校正為適當位置，在斷層像上會產生偽像。另外，由於X射線管的靶通常被安裝成可沿著支撐軸搖動，因而伴隨著X射線管繞著被安裝的旋轉體的旋轉，由於重力、離心力等的影響而使得視角(view)角度在切片方向上變動。另外，該變動量也根據掃描速度發生變化。在這種情況下，為了推定下次的X射線照射的焦點位置，需要按照視角角度、X射線管的位置而預先取得掃描速度的種類的個數的變動量特性數據，故取得這樣多的事前數據變得困難。本發明是鑑於上述問題點而提出的，其目的在於提供一種能夠以簡單的控制而使X射線焦點位置移動至適當位置，由此能夠在不延遲攝影定時的情況下去除並抑制由X射線的焦點移動引起的偽像的產生、定量性的降低等的畫質劣化的X射線攝像裝置。為解決技術問題而採取的技術方案為了達成上述目的，本發明提供一種X射線攝像裝置，具備照射X射線的X射線源、以及與所述X射線源對置且將所述X射線變換成電信號的X射線檢測器，並在規定的校正定時進行所述X射線的焦點位置的校正，所述X射線攝像裝置的特徵在於具備焦點位置檢測單元，其在X射線照射中實際測量X射線的焦點位置；算出單元，其利用由所述焦點位置檢測單元在本次的校正定時以前取得到的焦點位置變動數據，來算出用於使X射線的焦點位置移動至理想焦點位置的移動量；以及移動單元，其在下次的校正定時按照由所述算 出單元算出的移動量來移動所述X射線的焦點位置。發明效果根據本發明，可以提供一種X射線攝像裝置，能夠以簡單的控制而使X射線焦點位置移動至適當位置，由此能夠在不延遲攝影定時的情況下去除並抑制由X射線的焦點移動引起的偽像的產生、定量性的降低等的畫質劣化。
圖I是X射線CT裝置I的硬體框圖。圖2是表示焦點位置檢測裝置4的一例的圖。圖3是表示來自移位檢測器40的各檢測元件42、43的輸出值的差分值與X射線焦點位置之間關係的圖。圖4是說明焦點位置校正處理的流程的流程圖。圖5是表示伴隨旋轉體的旋轉的X射線管的位置(視角角度)與焦點位置之間關係的曲線圖。圖6是說明X射線照射中的焦點位置的變動(實線510)和本發明的焦點位置的校正定時的圖。
具體實施例方式以下，參照附圖來詳細說明本發明涉及的X射線CT裝置I。首先，參照圖I來說明本發明涉及的X射線攝像裝置的一實施方式即X射線CT裝置I的構成。如圖I所示，X射線CT裝置I由X射線管(X射線源)2、準直儀3、焦點位置檢測裝置4、X射線檢測器5、旋轉體7、旋轉體驅動裝置8、驅動傳遞系統9、信號收集裝置12、控制裝置10、X射線管移動機構11、中央處理裝置20、顯示裝置21、輸入裝置22以及床臺30構成。X射線管2是X射線源，由控制裝置10進行控制而向被檢體33連續地或者斷續地照射X射線。控制裝置10根據由中央處理裝置20決定的X射線管電壓以及X射線管電流，來控制施加或供給至X射線管2的X射線管電壓以及X射線管電流。作為X射線管2，例如採用了旋轉陽極X射線管。在該旋轉陽極X射線管中，從陰極釋放出的熱電子與靶碰撞，並將該碰撞點作為X射線焦點來照射X射線。靶由旋轉軸支撐，且被設置成其旋轉軸與切片方向相一致。這樣構成的X射線管2，若靶變為高溫則在旋轉軸產生熱伸展，並且通過冷卻而進行收縮。這樣，由X射線照射產生的熱，使得X射線管焦點位置在切片方向上移動，X射線的照射範圍發生變化。準直儀3將從X射線管2放射出的X射線例如作為錐形束(圓錐形或稜錐形束)等的X射線而照射至被檢體33，開口寬度由控制裝置10控制。透射了被檢體33的X射線入射至X射線檢測器5。焦點位置檢測裝置4例如組合了焦點位置測量用的檢測器40 (以下稱為移位檢測器40)和焦點位置測量用的狹縫41而構成。這些部件例如設置在X射線管2與X射線檢 測器5之間。
另外，移位檢測器40例如圖2(a)所示那樣，具有並列設置在X射線照射面的焦點檢測用的X射線檢測元件42、43以及將這些的X射線檢測元件42、43的輸出信號輸出至中央處理裝置20的連接器44。各X射線檢測元件42、43在切片方向上排列。焦點位置測量用的狹縫(slit)41是例如由鎢、鑰、鉛、黃銅這樣的X射線吸收強的金屬構成的金屬片，例如設置在圖2(b)所示那樣的切口部。狹縫41配置在移位檢測器40與X射線管2之間。若照射X射線，則如圖2 (C)所示那樣，在移位檢測器40的各X射線檢測元件42、43上形成狹縫41的影51。影51的位置伴隨焦點位置的移動而在切片方向(圖2的箭頭110的方向)上移動。由於根據影51的位置的不同而移位檢測器40的檢測元件42、43的輸出值不同，所以中央處理裝置20例如根據來自移位檢測器40的各檢測元件42、43的輸出值的差分值能夠測量X射線焦點的移動量。在圖3中示出來自移位檢測器40的各檢測元件42、43的輸出值的差分值與X射線焦點位置之間關係的一例。在圖3的例子中，焦點位置根據差分值而如直線122那樣移動，較之差分值成為Sa的情況，在差分值成為Sb的情況下焦點位置在切片方向偏離Fb。此外，雖然焦點位置檢測裝置4在圖I所示的例子中被配置在X射線管2的附近，但是並不限於此，例如也可以設為X射線檢測器5的附近，也可以設為X射線源2與X射線檢測器5之間，也可以設為較之X射線檢測器5而遠離X射線源2的位置。又例如，也可將在X射線檢測器5的通道方向的一端或兩端所設置的一個或多個X射線檢測元件用作焦點位置檢測用的元件。這種情況下，移位檢測器40與X射線檢測器5之間的位置關係的調整變得不需要。另外，也可利用來自上述的移位檢測器40的輸出和來自在X射線檢測器5所設置的焦點位置檢測用元件的輸出這兩者，來檢測焦點位置。返回到圖I的說明。X射線檢測器5將通過閃爍體和光電二極體的組合而構成的X射線檢測元件組在通道方向(旋轉方向)例如排列1000個左右、在列方向(切片方向、體軸方向)上例如排列I 320個左右，隔著被檢體33而與X射線管2對置地配置。X射線檢測器5檢測從X射線管2放射出並透射了被檢體33的X射線，並將檢測到的透射X射線數據輸出至信號收集裝置12。信號收集裝置12與X射線檢測器5連接，收集通過X射線檢測器5的各個X射線檢測元件所檢測的透射X射線數據，並輸出至中央處理裝置20。中央處理裝置20 由 CPU (Central Processing Unit)、ROM (Read Only Memory) >RAM (Random Access Memory)等構成。中央處理裝置20對控制裝置10進行控制,並且對床臺30內的床臺控制裝置進行控制。另外，中央處理裝置20取得由信號收集裝置12收集到的透射X射線數據，通過圖像重構部來進行基於透射X射線數據的圖像重構處理，從而重構斷層像。另外，中央處理裝置20執行將X射線焦點位置移動至理想焦點位置的處理(焦點位置校正處理；參照圖4)。在以下的說明中，X射線的焦點位置作為相對於X射線檢測器5的相對位置來進行說明。另外，X射線管2、準直儀3、或X射線檢測器5可以通過移動機構分別移動X射線 CT裝置I內的位置(絕對位置)。在本實施方式中，說明為使X射線的焦點位置移動，而固定X射線檢測器5以及準直儀3的位置，由X射線管移動機構11使X射線管2的絕對位置移動的例子。然而，本發明並不限於此，也可以通過移動X射線檢測器5的位置或準直儀3的位置來移動X射線焦點位置。X射線焦點位置的移動機構即X射線管移動機構11例如由步進電動機、液壓缸等構成，由控制裝置10進行驅動控制而使X射線管2的絕對位置移動。控制裝置10按照由中央處理裝置20算出的移動量以及移動速度，對X射線管移動機構11進行驅動控制，使X射線管2的位置在切片方向上移動，由此移動X射線焦點位置。在旋轉體7搭載有X射線管2、準直儀3、焦點位置檢測裝置4、X射線檢測器5、信號收集裝置12。旋轉體7藉助從由控制裝置10控制的旋轉體驅動裝置8起經由驅動傳遞系統9傳遞的驅動力而進行旋轉。顯示裝置21由液晶面板、CRT監視器等的顯示器裝置、以及與顯示器裝置協作地用於執行顯示處理的邏輯電路構成，並與中央處理裝置20連接。顯示裝置21顯示由中央處理裝置20重構的圖像、所設定的攝影條件、或各種處理結果等。輸入裝置22例如由鍵盤、滑鼠等的指示設備、數字鍵、以及各種開關按鈕等構成，將由操作者輸入的各種指示、信息輸出至央處理裝置20。操作者使用顯示裝置21以及輸入裝置22以對話的形式操作X射線CT裝置I。床臺30由載置有被檢體33的頂板、床臺控制裝置、上下移動裝置、以及頂板驅動裝置構成，通過未圖示的床臺控制裝置的控制來控制上下移動裝置，從而使床臺30的高度達到適當高度。另外，控制頂板驅動裝置而使頂板沿著體軸方向前後移動，或者沿著與體軸垂直的方向且與頂板平行的方向(左右方向)移動。由此，能夠使被檢體33相對於X射線照射空間搬入及搬出。接著，參照圖4來說明本發明涉及的焦點位置校正處理。中央處理裝置20從未圖示的存儲裝置中讀出與該焦點位置校正處理相關的程序及數據，並基於該程序及數據來執行處理。首先，中央處理裝置20判定是否處於X射線照射中(步驟S101)。該X射線照射是用於測量(攝影)被檢體33的X射線照射，並不是為了進行焦點位置檢測而另行進行的所謂的預曝光。在當前處於X射線照射中的情況下(步驟SlOl ;是)，首先由焦點位置檢測裝置4進行焦點位置的檢測(步驟S102)。焦點位置的檢測也可以I個視角或多個視角等的規定的視角數為單位來進行，也可以I次旋轉或多個旋轉等的旋轉數為單位來進行。在各校正定時間至少一次檢測焦點位置即可。關於校正定時在後面敘述。在這裡，設按照規定的每個視角數來檢測焦點位置。在X射線照射中，由於通過X射線照射而產生的熱，使得X射線管2產生熱伸展。另外，由於重力、通過旋轉體的旋轉而產生的離心力等，使得X射線管2的靶搖動，並存在與視角角度相應的焦點的變動。在這裡，設這些焦點的變動存在於切片方向，在步驟S102中對由於這些的各種要因而產生的焦點變動進行實際測量。
中央處理裝置20將在步驟S102中檢測出的焦點位置作為焦點位置變動數據而保持在RAM中。圖5是說明與視角角度相應的焦點的變動404的圖。如圖5所示，根據X射線管2的位置(視角角度)而焦點位置在切片方向的正方向以及反方向這兩個方向上移動。在步驟S102中的焦點位置檢測之中，除了與該視角角度相應的焦點的變動404之夕卜，還能夠檢測由X射線管2的熱引起的焦點移動。接著，中央處理裝置20判定校正焦點位置的定時是否到來了(步驟S103)。校正定時也可以I個視角或多個視角等的規定的視角數為單位來進行，也可以I次旋轉或多個旋轉等的旋轉數為單位來進行。在這裡，設校正定時I次旋轉到來I次。這種情況下，圖5所示的由旋轉體7的旋轉而產生的焦點變動在I次旋轉中大致被抵消。從而，無需考慮因視角角度引起的焦點變動，可以進行高精度的焦點位置校正。在校正定時沒有到來的情況下(步驟S103 ;否)，返回到步驟S102。繼續進行基於焦點位置檢測裝置4的焦點位置的檢測。在校正定時到來了的情況下(步驟S103 ;是)，中央處理裝置20在本次的校正定時之前進行檢測，基於被保持於RAM的焦點位置變動數據，來算出用於使焦點位置移動至理想焦點位置的移動量以及移動方向(步驟S104)。在此算出的移動量被反映到下次的校正定時。理想焦點位置是指，X射線的本影的中心入射至X射線檢測器5的中心這樣的焦點位置。在步驟S104中算出移動量之際，例如中央處理裝置20算出被保持於RAM的焦點位置變動數據的、例如平均值，並將該平均值視為焦點位置，從而作為X射線管2的移動量。例如，針對每個視角角度的α度，在校正定時到來的情況下，如圖5所示那樣，根據視角角度為O度 α度的焦點位置變動數據404來算出平均值即可。在焦點位置變動數據404的平均值為Fb的情況下，X射線管2的移動量變為-Fb。此外，並不限於焦點位置變動數據404的平均值，也可以基於焦點位置變動數據404的最大值或最小值等來算出焦點的移動量。
中央處理裝置20將所算出的移動量以及移動方向送出至控制裝置10。在本次的校正定時，控制裝置10基於在上次的校正定時所算出的移動量以及移動方向，使X射線管2移動(步驟S105)。在X射線照射中，反覆進行步驟SlOl 步驟S105的處理。另一方面，在沒有照射X射線的情況下(步驟SlOl ;否)，中央處理裝置20將X射線管2移動至預先規定的基準位置(步驟S106)。作為基準位置，例如可以設為沒有X射線管2的熱伸展的狀態下的理想焦點位置、即原點，可以設為與原點相距規定距離的位置。這種情況下，X射線管2的移動量基於已經取得的焦點位置變動數據來算出，或者，為使X射線管2停止在基準位置，而在基準位置設置限幅檢測單元，中央處理裝置20判定X射線管2是否達到基準位置。另外，也可採用下述構造不進行這種基準位置的判定處理，例如在基準位置設置制動器，而只移動至基準位置。參照圖6，來說明本實施方式中的焦點變動數據的取得和焦點位置的校正定時。圖6的曲線圖的橫軸表示時間，縱軸表示焦點位置，曲線510表示從X射線的照射 開始起到停止後為止的焦點位置的變動。在圖6中，時刻Wt3U4U5為焦點位置的校正定時。在期間h h、期間& t2、期間t2 t3、期間t3 t4、期間t4 t5、期間V1 tn，中央處理裝置20取得焦點位置變動數據。將在期間V1 tn取得到的焦點位置變動數據設為Dn。例如，在校正定時t3的時點，在期間t2 t3取得了焦點位置變動數據D3。中央處理裝置20根據該焦點位置變動數據D3來算出焦點的移動量，並將該移動量反映到下次的校正定時t4。即、在下次的校正定時t4，基於在本次的校正定時t3以前得到的焦點位置變動數據D3來校正焦點位置。同樣地，在本次的校正定時t3，基於在上次的校正定時t2以前得到的焦點位置變動數據D2來校正焦點位置。因此，在本實施方式中，基於在上次的校正定時、之前得到的焦點位置變動數據Dn來算出焦點的移動量，並將其反映到本次的校正定時tn+1。在圖6中用虛線511示出了反映到本次的校正定時的焦點位置的例子。虛線511將在上次的校正定時&之前得到的焦點位置變動數據Dn的最大值即Dmmax視作本次的校正定時tn+1的焦點位置Pn+1。例如，在期間t2 t3取得的焦點位置變動數據D3的最大值即D3max被反映到校正定時t4的焦點位置P4。因此，可知與理想焦點位置偏離從上次的校正定時到本次的校正定所產生的焦點的變動量，但該偏離量與X射線量、掃描條件無關，是幾乎不影響測量的範圍(O. 03mm O. 05mm 程度)。其中，為了將偏離量限制在不影響測量的範圍內，優選將校正定時設為至少7次旋轉中有一次校正的程度。另外，為了減小偏離量，將校正定時儘可能變得精細即可。例如，若針對每一視角而校正定時到來，則在I視角間產生的焦點的變動小，所以偏離量幾乎視為零。如以上說明那樣，本實施方式的X射線CT裝置I具備在X射線照射中實際測量X射線的焦點位置的焦點位置檢測裝置4，中央處理裝置20利用由焦點位置檢測裝置4在本次的校正定時以前取得到的焦點位置變動數據，來算出用於使X射線的焦點位置移動至理想焦點位置的移動量，並按照所算出的移動量在下次的校正定時使X射線的焦點位置移動。因此，能夠以將在X射線照射中實際測量出的焦點位置反映到下次的校正定時這樣的簡易運算以及控制，將焦點位置靠近理想焦點位置。為此，無需進行用於獲得焦點位置的預曝光、下一焦點位置的推定等，能夠相對於所期望的攝影定時不延遲地校正X射線焦點位置。另外，能夠以這種簡易的控制去除並抑制因焦點移動引起的偽像的產生、定量性的降低等的畫質劣化。另外，由於無需事前預先取得焦點位置的預測用的變動量特性數據等，所以可以縮短開發、調整時間。另外，如果將校正定時設為每當X射線管2繞著被檢體周圍I次旋轉時，則由於旋轉的離心力等而產生的視角角度的焦點位置變動經由I次旋轉而被抵消，從而可以高精度地進行焦點位置的校正。另外，如果中央處理裝置20在算出用於使X射線管2移動至理想焦點位置的移動量之際，利用在本次的校正定時的緊前面的規定期間取得到的焦點位置變動數據來算出， 則能夠實現響應性良好的校正動作。另外，焦點位置檢測裝置4在本次的校正定時與上次的校正定時之間的期間內至少一次地檢測X射線的焦點位置來作為所述焦點位置變動數據即可，所以處理負擔變少，能夠應對旋轉速度的高速化。此外，在本實施方式中，為了校正焦點位置而示出了由X射線管移動機構11移動X射線管2的例子，但是並不限定於此。例如，也可在X射線管2是利用電子束來產生X射線的機構的情況下，如飛焦點(flying focus)技術那樣由電場或磁場等使焦點位置移動。又例如，也可使準直儀3、X射線檢測器5移動。在使準直儀3移動的情況下，準直儀3的移動量成為在所取得到的焦點位置X上乘以因從X射線檢測器5到X射線管2的焦點的距離T和從X射線檢測器5到準直儀3的距離S的差異而引起的放大率的差異的項(S/T)之後的距離。另外，移動方向成為與焦點位置的移動方向相同的方向。在使X射線檢測器5移動的情況下，X射線檢測器5的移動量成為在所取得到的焦點位置X上乘以從準直儀3到X射線檢測器5的距離S與從準直儀3到X射線管2的焦點位置為止的距離(T-S)之比(S/(T-S)之後的距離。另外，移動方向成為與焦點位置的移動方向相反的方向。而且，也可組合X射線管2、準直儀3以及X射線檢測器5之中的其中兩個或全部，來使焦點移動。例如，為了變更焦點位置，在使準直儀3以及X射線檢測器5雙方移動的情況下，將準直儀3以及X射線檢測器5移動為與焦點位置X相同即可，並且移動方向也相同。這樣，在與焦點的移動相對應地使準直儀3以及X射線檢測器5雙方移動的情況下，能夠防止X射線相對於X射線檢測器5以較大的角度進行入射，可以抑制在X射線相對於X射線檢測器傾斜地入射的情況下所產生的偽像的產生、定量性的降低。另外，在上述的實施方式中，雖然將在緊前面的期間內取得到的焦點位置變動數據反映到本次的校正中，但是並不限於緊前面的期間，也可以利用在直到上次為止的多個期間內取得到的焦點位置變動數據、或到上次為止的任一個期間內取得到的焦點位置變動數據，來校正本次的焦點位置。又例如，在將校正定時設為在I次旋轉中不滿足的多個視角的每個視角的情況下，上次取得到的焦點位置變動數據是與本次的視角角度不同的視角角度中的焦點變動。為此，擔心因圖5所示的離心力等引起的焦點的移動的影響。為了消除這種擔心，也可利用在與本次的校正定時的視角角度相同的視角角度下取得到的焦點位置變動數據，來校正焦點位置。以上，雖然說明了本發明涉及的X射線攝像裝置的優選實施方式，但是本發明並不限於上述的實施方式。例如，也可將本發明應用於非破壞檢查用的CT裝置、X射線錐形束CT裝置、雙能源CT裝置、X射線圖像診斷裝置、X射線攝像裝置、X射線透視裝置、乳腺X線攝影裝置、數字減影裝置、核醫學診察裝置、放射線治療裝置等。另外，如果是本領域的技術人員，很容易想到在本申請記載的技術思想範圍內的各種變更例或校正例，當然這些各種變更例或校正例也屬於本發明的技術思想範圍。符號說明I :X射線CT裝置，2 :X射線管，3 :準直儀，4 :焦點位置檢測裝置，40 :移位檢測器， 41 :焦點位置檢測用狹縫，42、43 :焦點位置檢測用的X射線檢測元件，44 :連接器，5X :射線檢測器，7 :旋轉體，8 :旋轉體驅動裝置，9 :驅動傳遞系統，10 :控制裝置，11 :X射線管移動機構，12 :信號收集裝置，20 :中央處理裝置，21 :顯示裝置，22 :操作裝置，30 :床臺，33 :被檢體。
權利要求
1.一種X射線攝像裝置，具備照射X射線的X射線源以及與所述X射線源對置且將所述X射線變換成電信號的X射線檢測器，並在規定的校正定時進行所述X射線的焦點位置的校正，所述X射線攝像裝置的特徵在於，具備 焦點位置檢測單元，其在X射線照射中實際測量X射線的焦點位置； 算出單元，其利用由所述焦點位置檢測單元在本次的校正定時以前所取得的焦點位置變動數據，來算出用於使X射線的焦點位置移動至理想焦點位置的移動量；以及 移動單元，其在下次的校正定時按照由所述算出單元算出的移動量來移動所述X射線的焦點位置。
2.根據權利要求I所述的X射線攝像裝置，其特徵在於， 在所述X射線源繞著被檢體周圍旋轉的情況下，所述校正定時在每次X射線源繞著被檢體周圍進行I次旋轉時到來。
3.根據權利要求I所述的X射線攝像裝置，其特徵在於， 所述算出單元利用在本次的校正定時緊前面的規定期間內所取得的焦點位置變動數據，來算出用於使X射線的焦點位置移動至理想焦點位置的移動量。
4.根據權利要求I所述的X射線攝像裝置，其特徵在於， 所述焦點位置檢測單元在本次的校正定時與上次的校正定時之間的期間內至少一次地檢測X射線的焦點位置，來作為所述焦點位置變動數據。
5.根據權利要求I所述的X射線攝像裝置，其特徵在於， 該X射線攝像裝置是X射線CT裝置。
全文摘要
本發明提供一種X射線攝像裝置，能夠以簡單的控制而使X射線焦點位置移動至適當位置，由此能夠在不延遲攝影定時的情況下去除並抑制由X射線的焦點移動引起的偽像的產生、定量性的降低等的畫質劣化。具備在X射線照射中實際測量X射線的焦點位置的焦點位置檢測裝置(4)，中央處理裝置(20)利用由焦點位置檢測裝置(4)在本次的校正定時以前取得的焦點位置變動數據，來算出用於使X射線的焦點位置移動至理想焦點位置的移動量，按照所算出的移動量控制為在下次的校正定時移動X射線的焦點位置。由此，能夠以將在X射線照射中實際測量出的焦點位置反映到下次的校正定時這樣的簡易運算以及控制，將焦點位置靠近理想焦點位置。
文檔編號A61B6/03GK102770077SQ20118001106
公開日2012年11月7日 申請日期2011年2月24日 優先權日2010年2月26日
發明者昆野康隆, 石川卓 申請人:株式會社日立醫療器械