一種板級電路測試性指標計算方法
2023-05-08 22:22:56
一種板級電路測試性指標計算方法
【專利摘要】本發明公開了一種板級電路測試性指標計算方法，根據測試信息資料庫，結合電路中的器件信息，構建與信號流和位置無關的依賴矩陣Du，根據依賴矩陣Du計算得到最高故障檢測率，再對依賴矩陣Du進行重構得到重構矩陣，實現對同類器件中不同位置器件的隔離，根據重構矩陣計算得到最高故障隔離率，根據測試選擇的布爾向量計算當前測試選擇的故障隔離率。可見，本發明通過與信號流無關的依賴矩陣Du的構建和重構，實現了板級電路中各項測試性指標的計算。
【專利說明】一種板級電路測試性指標計算方法
【技術領域】
[0001] 本發明屬於板級電路故障測試【技術領域】，更為具體地講，涉及一種板級電路測試 性指標計算方法。
【背景技術】
[0002] 板級電路的系統級測試性指標包括是板級電路測試中的常用數據，包括最高故障 檢測率（FDR)、最高故障隔離率（FIR)、當前選中測試的故障隔離率等。目前常用的系統級 測試性指標計算方法大都是基於依賴矩陣（D矩陣）的。D矩陣由被測系統多信號流圖獲 得，它反映了信號流關係、測試與故障模式、故障模式之間、測試之間的高階依賴關係。獲取 D矩陣的一般過程為：手動建立多信號流圖，生成失效模式之間、測試之間、失效模式與測 試之間的高階依賴關係，根據D矩陣進而開展測試優選與排序（序貫測試）。表1是D矩陣 的表格形式。
[0003]
【權利要求】
1. 一種板級電路測試性指標計算方法，其特徵在於，包括以下步驟： 51 :根據測試信息資料庫，結合電路中的器件信息，構建與信號流和位置無關的mXn 的依賴矩陣Du，具體方法為： 以|S|表示器件種類的數量，sx表示第X種器件，X的取值範圍為
1；￡表 示第X種器件的故障概率；I Fx |表示第X種器件中的故障模式的數量；表示第X種故 障器件的第yx種故障模式，yx的取值範圍為
表示第X種器件的第yx種 故障模式的概率；表示第X種器件的第yx種故障模式被第j個測試h的覆蓋率，j的 取值範圍為
表示測試的數量，h表示第j個測試的開銷；
i的取值範圍為
；根 據模塊故障概率Px和各模塊的故障模式概率進行換算得到依賴矩陣Du中第i種故障 模式的概率
52 :根據步驟S1得到的依賴矩陣Du和換算得到的概率Pi即可計算最高故障檢測率，計 算公式為：
53 :對依賴矩陣Du進行重構，得到重構矩陣E，重構方法為：根據電路中的器件信 息得到電路中器件數量最多的器件種類，記其數量為N，初始化m' Xn'的重構矩陣 D'的每個元素值為0,其中
對於第X種器件中位於 第&號位置的器件，其中gx的取值範圍為
為第X種器件的數量， 令
重構矩陣IV中的元素
的取值範圍為
，j的取值範圍為
；根據模塊故 障概率Px和各模塊的故障模式概率乂.,,.1進行換算得到重構矩陣D'中第i'種故障模式的 概率
S4:根據重構矩陣D'和換算得到概率pi;即可計算得到最高故障隔離率，計算公式 為：
S5 :根據需要選擇測試，得到布爾向量
表示第j"種測試 被選中，tv = 0表示第y種測試未被選中，計算當前選中測試能達到的故障隔離率：
2. 根據權利要求1所述的板級電路測試性指標計算方法，其特徵在於，所述步驟S5中 測試選擇的方法為：根據需要設置測試性指標要求，測試性指標要求為最低故障檢測率或 最低故障隔離率，設置粒子群規模Μ和最大迭代次數T max，採用自適應離散粒子算法得到最 優的布爾向量，其中每個粒子代表一種測試選擇方案，每個粒子的適應度函數值為對應測 試選擇方案的系統測試代價。
3. 根據權利要求2所述的板板級電路測試性指標計算方法，其特徵在於，所述自適 應離散粒子算法中，記第r個粒子的位置向量為
，r的取值範圍為
，Q表示粒子向量的維數，速度向量為
，其中第q個元素 v^j 的取值範圍為
，初始位置向量<和速度向量 粒子的速度更新公式為：
其中，<第τ次迭代之後第r個粒子的位置，<、V廣分別是第τ次、第τ+l次迭 代之後粒子的速度，α ρ α 2是加速常數，/?「、是[〇, 1]區間內的隨機數；(為第 τ次迭代之後第r個粒子曾經達到過的最優位置；GbestT為第τ次迭代之後所有粒子達 到過的最優位置；^7為慣性係數，計算公式為：
其中，
，Κ是最優位置距離< 的自適應係數； 粒子的位置更新公式為：
其中，^+1表示第τ+1次迭代之後第r個粒子位置向量的第q個元素，l^1表示表示第 τ+l次迭代之後第r個粒子速度向量的第q個元素，rand表示一個隨機產生的[0，1]區間 內的隨機數，sig為非線性作用函數，exp表示以常數e為底的指數函數。
4.根據權利要求3所述的板板級電路測試性指標計算方法，其特徵在於，所述自適應 係數K = 2。
【文檔編號】G06F19/00GK104063593SQ201410273011
【公開日】2014年9月24日 申請日期:2014年6月18日 優先權日:2014年6月18日
【發明者】楊成林, 田書林, 劉震, 龍兵 申請人:電子科技大學