具有控制輻射源的部件的用於安全和醫療掃描器的掃描系統的製作方法

2023-05-23 20:01:36

專利名稱：具有控制輻射源的部件的用於安全和醫療掃描器的掃描系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及掃描系統。它在用於貨物的掃描系統中有具體的應用，但也可以在用 於諸如安全和醫療掃描器之類的其他應用的掃描器中使用。
背景技術：
傳統貨物檢查系統包括利用X射線或伽瑪射線通過受檢查的物體輻射到傳感器 陣列的輻射源，所述傳感器陣列可以為弧形或被配置為「L」行陣列。對於技術人員來說，其 他形式的傳感器陣列將是明顯的。這樣的系統經常使用線性加速器來產生X射線、或使用諸如137Cs或6tlCo之類的輻 射源來產生伽瑪射線。典型地利用2MV至9MV的波束能量來操作線性加速器，其中2MV波束是通過如下 方法生成的波束向靶發射2MeV電子束，產生高至最大值2MeV、但具有典型的峰值能量的 1/3的寬譜的X射線能量。該高能X射線波束可以穿透諸如滿載的貨櫃或完整的卡車之 類的大型物體。在具有較低輻射穿透需求的低成本設施中經常使用放射源。例如，它們可用於審 查小轎車或較小的空運貨物類的貨櫃。137Cs提供處於662keV的能量(大約等效於2MV 線性加速器源)的伽瑪射線，而6°Co產生處於大約1. 2MeV的能量(大約等效於4MV線性加 速器源)的伽瑪射線。先前，經常使用低頻S波段微波能量源來製造線性加速器。在線性加速器中所使 用的波導限定完成的輻射源的整體尺寸。因此，這樣的源典型地龐大而且沉重，這是因為必 須在整個加速結構周圍安裝厚的輻射屏蔽。

發明內容
本發明提供一種掃描系統，包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體；檢測部 件，其被布置為檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射，並且改 變輻射的能量、或輻射的脈衝的頻率、或輻射的脈衝的持續時間。所述輻射源可以包括加速器，其被布置為向靶加速粒子以生成輻射。所述控制部 件可以被布置為通過改變加速粒子的能量來改變輻射的能量(例如平均能量或能量分布 (profile))。所述控制部件可以被布置為以預定樣式(pattern)改變輻射的能量。例如所述控 制部件可以被布置為處理來自所述檢測部件的、由處於不同能量的輻射生成的信號，並且 分析由不同的輻射能量產生的信號之間的關係，從而分析所述物體。所述控制部件可以被布置為定義檢驗條件、處理來自所述檢測部件的信號以確定 它們是否滿足所述檢驗條件、並且取決於所述信號是否滿足所述檢驗條件來改變輻射的能 量。
本發明進一步提供一種掃描系統，其包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體； 檢測部件，其被布置為檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射的 脈衝、定義檢驗條件、處理來自所述檢測部件的信號以確定它們是否滿足所述檢驗條件、以 及取決於所述信號是否滿足所述檢驗條件來改變所述脈衝。所述控制部件可以被布置為改變脈衝的頻率或能量。 所述處理部件可以被布置為產生處於第一能量和/或第一頻率的輻射脈衝以分 析由每個脈衝產生的信號，並且如果不滿足所述檢驗條件則產生具有第二更高的能量和/ 或頻率的至少一個脈衝。所述檢驗條件可以被布置為僅在充足的輻射到達所述檢測部件的情況下被滿足， 所述充足的輻射例如為至少預定量的輻射。所述控制部件可以被布置為使用所述檢驗條件來從來自一組脈衝的信號預測後 繼脈衝的所需能量和/或頻率，並且相應地選擇後繼的一個或多個脈衝的能量和/或頻率。本發明進一步提供一種掃描系統，其包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體； 檢測部件，其被布置為檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射的 脈衝，並且改變所述脈衝的頻率。該系統可進一步包括感測部件，其被布置為感測所述物體的移動，並且所述控制 部件可以被布置為響應於所述物體的速度的變化而改變所述脈衝的頻率。所述控制部件可 以被布置為與物體的速度成正比地改變所述脈衝的頻率。然後，如果每個脈衝被布置為對 物體的層進行成像或掃描，所述層將沿物體均勻隔開。所述檢測部件可以包括傳感器，其被布置為響應於對輻射的檢測而產生傳感器 信號；以及獲取部件，其被布置為從所述傳感器信號產生數據信號，其中所述獲取部件具有 可調節的靈敏度，所述靈敏度可以被調節以適應由不同能量的脈衝生成的信號。所述獲取部件可以連結到所述輻射源，並且被布置為響應於來自所述源的輻射脈 衝的能量的改變而調節其靈敏度。所述獲取部件可以包括積分器，其具有可以被改變以改 變所述靈敏度的電容。本發明進一步提供一種掃描系統，其包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體； 檢測部件，其被布置為檢測輻射，其中所述檢測部件包括被布置為響應於對輻射的檢測而 產生檢測器信號的檢測器、和包括積分器並且被布置為從所述檢測器信號產生數據信號的 獲取部件；控制部件，其被布置為控制所述源和所述獲取部件以改變所述積分器在其上對 所述檢測器信號進行積分的脈衝數目，以由此改變系統的靈敏度。所述控制部件可以被布置為通過改變所述脈衝的頻率、或通過改變所述積分器在 其上對所述檢測器信號進行積分的時間來改變所述脈衝數目。本發明部分針對用於對從小貨櫃到大型卡車的貨物物品進行成像的小型成像 源的使用。放射源自然地是小型的，因此，如果輻射屏蔽(shield)必須位於輻射源的周 圍，則放射源具有最小的可能的重量。但是，不能打開和關閉輻射源，故需要手動擋板 (shutter)以用於這一目的。這樣的擋板可能被卡住，從而造成潛在的安全危險。此外，這 樣的源的運輸可能是有問題的，尤其是跨國境的運輸。線性加速器是便利但複雜的輻射源，這是因為可以簡單地使用電子部件來打開和關閉它們。在電源斷開時，根本不能發射輻射。運輸變得更簡單，並且它們在本質上操作更安全。在本發明的一些實施例中，在以高頻率操作的線性加速器周圍建造小型成像源。 高頻率導致低波長，從而結果是更小型的線性加速器設計。有利地，可以使用X波段線性加 速器，或者可替換地可以使用具有類似地高操作頻率的線性加速器。為了提供最佳的成像能力，小型輻射源可以能夠在數個模式中操作。


現在將參考附圖僅作為示例來描述本發明的實施例，所述附圖中圖1示意地示出了根據本發明的實施例的掃描系統設置；圖2示意地示出了根據本發明的另一實施例的掃描系統；圖3為示出根據本發明的實施例的掃描物體的方法的流程圖；圖4為示出根據本發明的另一實施例的掃描物體的方法的流程圖；圖5示意地示出了兩種典型的掃描系統幾何結構(geometry)；圖6用圖形表示了本發明的實施例中的來自輻射源的輻射的脈衝的定時；圖7用圖形表示了本發明的實施例中的脈衝頻率隨物體速度的變化；圖8用圖形表示了根據本發明的實施例的可變能量脈衝輻射；圖9用圖形表示了根據本發明的另一實施例的不同的可變能量脈衝輻射；圖10示意地示出了根據本發明的實施例的用於處理檢測器信號的開關增益積分 器(switching gain integrator)電路。圖11用圖形表示了在若干輻射脈衝上的檢測器數據的收集和積分。圖12示意地示出了根據另一實施例的掃描系統的部分；圖13示意地示出了根據本發明的另一實施例掃描系統的部分；以及圖14用圖形表示了在本發明的實施例內的閾值檢驗水平(level)的操作。
具體實施例方式參考圖1，掃描系統10包括輻射源12，其被布置為將輻射指向將被掃描的物體14。 系統10還包括檢測部件16，其被布置為檢測輻射。在該實施例中，輻射源包括前述類型的 線性加速器。在其他實施例中，輻射源可以是任何其他合適的源(例如，不同類型的前述輻 射源)。在該實施例中，檢測部件16包括L形傳感器陣列，所述L形傳感器陣列可以包括多 列(bank)檢測器——對於技術人員來說將顯而易見的是，其他實施例可以利用不同類型的 檢測器。在該實施例中，被掃描的物體14是運貨車(lorry)。系統10還包括控制器18，其 被布置為控制輻射源12使得源12產生脈衝形式的輻射。控制器18還被布置為定義檢驗 條件，並且處理來自檢測部件16的信號以確定它們是否滿足檢驗條件。控制器18取決於 來自檢測部件的信號是否滿足檢驗條件來改變輻射源12的脈衝。在一些實施例中，如果不滿足檢驗條件，則控制部件18被布置為改變來自輻射源 12的脈衝的頻率。在一些實施例中，控制部件被布置為產生處於第一頻率的輻射脈衝，然後 分析由脈衝產生的信號，並且如果不滿足檢驗條件，它可以產生處於第二更高頻率的脈衝。在其他實施例中，控制部件18被布置為改變脈衝的能量分布(profile)。在一些這樣的實施例中，控制部件18控制輻射源12以產生具有第一能量分布的輻射脈衝，分析由 該脈衝產生的信號，並且如果不滿足檢驗條件則控制輻射源12產生具有第二更高能量分 布的至少一個脈衝在其他實施例中，控制部件18被布置為改變脈衝的持續時間。在一些這樣的實施 例中，控制部件18控制輻射源12以產生具有第一持續時間的輻射脈衝，分析由每個脈衝產 生的信號，並且如果不滿足檢驗條件則控制源12產生具有第二更高持續時間的至少一個 脈衝。在一些實施例中，所述檢驗條件被布置為僅在足夠的輻射到達了檢測器陣列時被滿 足，即，如果還未有足夠的輻射到達檢測器陣列16，則不滿足檢驗條件，並且控制部件18改 變至少一些後繼脈衝。「足夠的輻射」可以是至少預定量的輻射、或允許可靠測量的充足輻 射、或用於使從它產生的圖像具有使其適於分析的一個或更多特徵的充足輻射。可以在單 個脈衝或預定數目的脈衝上、或在預定時間上測量輻射量。如上所述，在一些實施例中，在 不滿足檢驗條件時，更頻繁地、以更高強度(更高能量)或在更長時間(更長脈衝持續時 間)內使輻射形成脈衝。在一些實施例中，可以使用這些技術的組合來改變脈衝。如果在 改變所述脈衝之後仍然不滿足檢驗條件，則可以進一步改變所述脈衝，直至滿足檢驗條件。 如果通過在一個方面(即，通過改變脈衝的一個參數(例如通過改變脈衝頻率))改變脈衝 不滿足檢驗條件，則控制部件18可以被布置為在另一方面(即，通過改變脈衝的另一參數 (例如通過改變脈衝持續時間、或脈衝能量分布、或這兩者的組合))來改變脈衝。在另一實施例中，控制部件18被布置為使用檢驗條件來預測後繼脈衝的所需屬 性。所需屬性可以是後繼的一組脈衝的所需能量分布、所需頻率或後繼脈衝的所需持續時 間或者這些的任何組合。控制部件18使用來自較早的一組脈衝的檢測信號來確定後繼脈 衝的所需屬性。然後控制部件18通過相應地控制輻射源12來生成後繼脈衝。例如，控制 部件18可以預測必要的脈衝屬性以便提供可靠的測量。例如，可能確定來自第一組脈衝的信號在檢測器處產生不充足的信號(例如在信 號幅度方面)，並且因此控制部件18被布置為預測必須怎樣改變輻射源以便產生足以產生 足夠輻射的脈衝輻射，以產生用於可靠測量的充分強的檢測信號，例如以確保充足的輻射 到達檢測器。然後控制部件18改變源12以產生這樣的後繼脈衝。在另一實施例中，提供與圖1中所示的系統設置相同的系統設置。但是，在該實施 例中，控制部件18被布置為控制所述源使得它產生輻射的脈衝並且改變脈衝的頻率。在 該實施例的該例子中不存在檢驗條件(儘管可以將它與之前的實施例的檢驗條件組合使 用)。在一些這樣的實施例中，還提供感測部件，其被布置為感測物體的移動，使得控制部件 18被布置為響應於物體的速度的變化而改變脈衝的頻率。例如，控制部件18被布置為隨著 物體14通過檢測區域(源12和檢測器陣列16在其中操作)的速度增加，控制源12產生 更高頻率的輻射脈衝。以此方式，無論物體14在相對塊還是相對慢地移動，都可以獲得物 體14的充足的採樣(sampling)。在一些實施例中，提供物體的基本恆定的採樣可以是本發 明的目的，並且相應地可以由控制部件18控制脈衝輻射的頻率和物體速度之間的關係。在 一些實施例中，控制部件18被布置為與物體14的速度成正比地改變脈衝的頻率。參考圖2，根據本發明的另一實施例的掃描系統20包括輻射源22，其被布置為將 輻射指向物體24。系統20還包括採用檢測器形式的檢測部件26，其以與圖1的實施例相 似的方式響應於輻射的檢測而產生檢測器信號。該實施例的系統20還包括獲取部件30，其包括積分器，所述積分器被布置為根據從檢測器接收的信號(檢測器信號)生成數據信 號。系統20還包括控制部件28，其與源22和獲取部件30通信。控制部件28被布置為控 制源22和獲取部件30，以改變積分器在其上對檢測器信號積分的脈衝數目——從而允許 系統20的靈敏度的變化。有利地，如果控制器28認為有必要，則積分器可以被用於生成包 括與多於一個的輻射脈衝相關的檢測器信號的數據信號。這在未從單個脈衝檢測到足夠的 輻射的情形中可能尤其有用。在一些實施例中，控制部件28 控制源22以改變脈衝的頻率，以便改變積分器在其 中對檢測器信號積分的脈衝數目。在其他實施例中，通過改變積分器在其上對檢測器信號 積分的時間，來改變積分器在其上對檢測器信號積分的脈衝數目。在一些實施例中，控制部件18被布置為從來自檢測部件的一些信號生成定義物 體14的圖像的圖像數據。根據另一實施例的掃描系統包括與圖1中所示的系統設置相同的系統設置，除了 控制部件18被布置為控制源12使得它產生輻射脈衝，並且改變不同的輻射脈衝的能量。在 一些這樣的實施例中，控制部件18被布置為以預定樣式改變脈衝的能量。分析對應於不同 的脈衝輻射能量的來自檢測器16的信號，以提供關於物體14的信息。以此方式分析物體 14是可能的，這是因為物體的響應特性取決於用來掃描它們的輻射的能量。參考圖3，根據本發明的實施例，掃描物體的方法31包括將輻射指向32物體、檢 測34輻射並且控制產生輻射脈衝的輻射源、定義36檢驗條件、通過處理來自檢測器的信號 來確定38該信號是否滿足檢驗條件、以及取決於該信號是否滿足檢驗條件來改變40脈衝。 在一些實施例中，可以在初始步驟定義檢驗條件。不一定以圖3中所示的順序來執行這些 方法步驟。參考圖4，根據本發明的另一實施例，掃描物體的方法41包括將輻射指向42物 體、使用輻射檢測部件檢測44輻射、響應於輻射的檢測而產生46檢測器信號、從檢測器信 號生成48數據信號、以及控制50輻射源和獲取部件以改變積分器在其上對檢測器信號積 分的脈衝數目，以便改變該系統的靈敏度。圖5中示出了兩個典型的成像結構。圖5(a)示出了被配置有「L」形傳感器陣列 52的系統51，其中小型(compact)輻射源53位於左邊，而圖5 (b)示出了弧形傳感器陣列 54，其中小型源53位於左邊。小型線性加速器源將典型地利用圖6中所示的脈衝配置來運行。這裡，每個脈衝 將典型地具有幾微秒(1-10 μ S是典型的)的脈衝寬度和常常在50至200Hz範圍內的脈衝
重複頻率。在本發明的一些實施例中，小型輻射源能夠進行脈衝頻率調製，使得對來自線性 加速器的每個脈衝的定時進行計時，以便在受檢查的物體經過片狀輻射波束時匹配它的速 度。圖7中示出了合適的脈衝頻率調製例子。圖7(a)表示物體速度，而圖(7b)示出脈衝 定時。隨著物體速度增大，脈衝頻率增大。在一些實施例中，成像系統的目標是識別受檢查的物體內的有威脅的材料。這可 以使用操作者(諸如人類操作者)在該圖像中查找物體來實現。但是，還可能通過使用可 變能量輻射波束來提供一些材料鑑別。如圖8中所示，在一些實施例中，可能使線性加速器 源的能量形成脈衝為交替的能量，例如6MV的高能量和2MV的低能量。在該情況中，對於高能量脈衝和低能量脈衝來說，物體透射的輻射能量將是不同的(這是因為波束中的每種材 料具有隨特性和能量變化的輻射吸收率)。將這樣的脈衝能量的變化與脈衝頻率調製結合， 以提供對受檢查的物體的高質量的掃描。 在一些實施例中，小型貨物檢查系統的目標是最小化輻射源的尺寸和重量。輻射 源的操作能量越高，源變得越大和越重。因此以最低的可能的能量來操作輻射源可以是有 利的。但是，在一些情形中，輻射源的能量太低而不能提供透過受檢查的物體的有效穿透。 在該情況中，可以將貨物物品視作未被恰當地檢查。因此，為了處理該問題，採用了圖9中 所示的脈衝序列。這裡，大多數脈衝是以低能量(例如2MV)發射的。記錄和檢驗檢測器信 號以判斷是否測量到了充足的物體穿透。如果否，則指示輻射源發射處於例如6MV的高能 量脈衝(在圖9中標記為(a))以提供具有所需穿透的一組數據。現在，可以解決大部分的 暗警報(dark alarm)(暗警報被定義為在通過低能量脈衝記錄了不充足的穿透的情況下發 生)而不在單元的外表面處提供過多的劑量。在一些情形中(在圖中標記為(b))，可能有 必要提供若干連續的高能量脈衝以得到用於透射測量的充足信號。典型地，高能量脈衝將包含比低能量脈衝更多的X射線光子。這可以對前端讀出 電子裝置的動態範圍和噪聲提出嚴格的要求。如圖10中所示，在一些實施例中，提供開關 增益前端積分器電路，其操作關聯到線性加速器的脈衝生成器。在利用來自輻射源的低能 量脈衝的正常操作中，增益開關斷開並且Cl的值單獨確定增益。例如，如果Cl = 3pF，則對 於來自前端光電二極體的3pC輸入電荷，積分器的輸出將是IV。在高能量模式中，增益開 關閉合，並且現在總電容等於C1+C2。例如，如果C2 = 9pF，則對於來自前端光電二極體的 3pC輸入電荷，積分器的輸出將是0. 25V。在本發明的另一實施例中，圖11示出了可以怎樣將積分器在若干輻射脈衝上保 持在積分模式中。現在，可以獲取包含多個輻射脈衝的突發串(burst)，使得現在可以利 用可測量信號解決先前存在暗警報的區域。理想地，將在正常波束關閉時間內(例如以 400Hz的脈衝重複頻率)發射附加脈衝的情況下，維持成像系統的基本脈衝頻率(處於例如 50Hz)。以此方式，正常成像質量不被附加測量損害。圖11示出了在額外的脈衝測量時段 期間增益開關被轉換至低增益模式，儘管它也可以為了額外的靈敏度而在標準高增益模式 中操作。圖12示出了可以在不同的檢測器列或組(或在其他實施例中在相同的檢測器上 提供的不同的檢測器部分)上不同地操作增益開關以優化X射線檢測器系統的動態範圍。 在該情況中，示出了標記為1-6的六個檢測器列。圖13示出了提供用於通過對圖像數據自身的分析來生成最優脈衝序列和增益選 擇的系統的實施例。這裡，可編程增益積分放大器130與每個檢測器列連接。來自這些檢 測器的數據傳遞至數據獲取單元131，所述數據獲取單元131向圖像處理單元132輸出數 據信號，所述圖像處理單元132向該圖像數據附加新的數據以在監視器133上顯示為圖像。 決定處理單元檢查該新的圖像並且確定該新的數據是否在積分放大器的動態範圍之外。如 果是，決定處理單元134將使放大器繼續積分，並且將指示輻射源發射更多脈衝，直至已經 達到了測量所需的動態範圍。決定處理單元可以使用一系列算法，但典型地，諸如圖14中所示的算法的簡單 的閾值算法足夠了。如果接收到閾值140以下的信號，決定處理器將指示源提供進一步的脈衝。更複雜的算法將使用諸如圖像分段和連通部分標記(connected component labelling)之類的方法來從一個或更多的2D圖像掃描(scan)中識別被投影至一個或更多 的後繼2D檢測圖像中的體(volume)的大小(extent)，並且自動預測何時將需要多個脈衝 流、或更高能量的脈衝、或更長持續時間的脈衝。作為克服對於形成合適的圖像來說不足的輻射達到檢測器的暗警報的另一方法， 可以響應於對所檢測的圖像的分析來改變脈衝的持續時間而非它們的能量。在一些情況 中，一起改變能量、頻率和持續時間、或這些參數中的任何兩個是有利的。將理解，全部這 些選項是改變或增大輻射功率的、例如在包括多於一個脈衝的組的時間段上的平均值的方 式。
注意，可以圍繞低能量脈衝需求來設計輻射屏蔽，這是因為對於非常大的一部分 時間所生成的是這種輻射波束。對於需要高能量波束的小部分時間，瞬時劑量將稍高。但 是，以時間平均的方式計算劑量，因此如果決定處理器在其可以發射的高能量脈衝的數目 上受到限制(例如不超過5%的時間)，則可以利用非常適度的輻射屏蔽需求來將輻射劑量 保持為可接受的水平。可以對本發明進行多種修改，而不背離其範圍。技術人員將理解，在本發明從輻射 脈衝的頻率、持續時間或能量分布的方面提到輻射脈衝的改變的情況下，在實現相同目標 (例如提供更高的檢測信號)的嘗試中，將有可能改變這些屬性中的兩個、或可能改變全部三個。
權利要求
一種掃描系統，包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體；檢測部件，其被布置為檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射的脈衝、定義檢驗條件、處理來自所述檢測部件的信號以確定它們是否滿足所述檢驗條件、以及取決於所述信號是否滿足所述檢驗條件來改變所述脈衝。
2.根據權利要求1所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為改變所述脈衝的頻率。
3.根據權利要求2所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為產生處於第一頻率的 輻射脈衝、分析由所述脈衝產生的信號、並且如果不滿足所述檢驗條件則產生處於第二更 高頻率的一組脈衝。
4.根據前述權利要求中的任一項所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為改變所 述脈衝的能量分布。
5.根據權利要求4所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為產生具有第一能量分 布的輻射脈衝、分析由每個脈衝產生的信號、並且如果不滿足所述檢驗條件則產生具有第 二更高能量分布的至少一個脈衝。
6.根據前述權利要求中的任一項所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為改變所 述脈衝的持續時間。
7.根據權利要求6所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為產生第一持續時間的 輻射脈衝、分析由每個脈衝產生的信號、並且如果不滿足所述檢驗條件則產生第二更高持 續時間的至少一個脈衝。
8.根據前述權利要求中的任一項所述的掃描系統，其中所述檢驗條件被布置為僅在充 足的輻射到達了所述檢測器陣列的情況下被滿足。
9.根據前述權利要求中的任一項所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為使用所 述檢驗條件來從來自一組脈衝的信號預測後繼脈衝的所需能量分布，並且相應地生成後繼 脈衝。
10.根據前述權利要求中的任一項所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為使用 所述檢驗條件來從來自一組脈衝的信號預測後繼的一組脈衝的所需頻率，並且相應地選擇 後繼脈衝的頻率。
11.根據前述權利要求中的任一項所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為使用 所述檢驗條件來從來自一組脈衝的信號預測後繼脈衝的所需持續時間，並且相應地生成後 繼脈衝。
12.一種掃描系統，包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體；檢測部件，其被布置為 檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射的脈衝，並且改變所述脈 衝的頻率。
13.根據權利要求12所述的掃描系統，還包括感測部件，其被布置為感測所述物體的 移動，其中所述控制部件被布置為響應於所述物體的速度的變化而改變所述脈衝的頻率。
14.根據權利要求13所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為與物體的速度成正 比地改變所述脈衝的頻率。
15.一種掃描系統，包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體；檢測部件，其被布置為 檢測輻射，其中所述檢測部件包括被布置為響應於對輻射的檢測而產生檢測器信號的檢測器、和包括積分器並且被布置為從所述檢測器信號生成數據信號的獲取部件；控制部件，其 被布置為控制所述源和所述獲取部件以改變所述積分器在其上對所述檢測器信號進行積 分的脈衝數目，以由此改變系統的靈敏度。
16.根據權利要求15所述的系統，其中所述控制部件被布置為通過改變所述脈衝的頻 率來改變所述脈衝數目。
17.根據權利要求15所述的系統，其中所述控制部件被布置為通過改變所述積分器在 其上對所述檢測器信號進行積分的時間來改變所述脈衝數目。
18.根據前述權利要求中的任一項所述的系統，其中所述輻射源包括加速器，其被布置 為向靶加速粒子以生成輻射。
19.根據前述權利要求中的任一項所述的系統，其中所述控制部件被布置為從由所述 檢測部件生成的信號生成定義物體的圖像的圖像數據。
20.一種掃描系統，包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體；檢測部件，其被布置為 檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射的脈衝，並且改變所述脈 衝的能量。
21.根據權利要求20所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為以預定樣式改變所 述脈衝的能量。
22.根據權利要求21所述的掃描系統，其中所述控制部件被布置為處理來自所述檢測 部件的、由所述脈衝生成的信號，並且分析由不同能量的脈衝產生的信號之間的關係，以由 此分析所述物體。
23.一種掃描物體的方法，包括將來自輻射源的輻射指向物體；使用檢測部件檢測輻 射；以及控制所述源以使它產生輻射的脈衝，定義檢驗條件，處理來自所述檢測部件的信號 以確定它們是否滿足所述檢驗條件，以及取決於所述信號是否滿足所述檢驗條件來改變所 述脈衝。
24.一種掃描物體的方法，包括將來自輻射源的輻射指向物體，使用輻射檢測部件檢 測輻射，響應於對輻射的檢測而產生檢測器信號，以及從所述檢測器信號生成數據信號，控 制所述源和獲取部件以改變積分器在其上對所述檢測器信號進行積分的脈衝數目，以由此 改變系統的靈敏度。
全文摘要
一種掃描系統，包括輻射源，其被布置為將輻射指向物體；檢測部件，其被布置為檢測輻射；以及控制部件，其被布置為控制所述源以使它產生輻射的脈衝，定義檢驗條件，處理來自所述檢測部件的信號以確定它們是否滿足所述檢驗條件，以及取決於所述信號是否滿足所述檢驗條件來改變所述脈衝。
文檔編號G01V5/00GK101971055SQ200880114130
公開日2011年2月9日 申請日期2008年8月29日 優先權日2007年8月31日
發明者愛德華·J·莫頓 申請人:拉皮斯坎系統股份有限公司