一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺的製作方法
2023-05-05 14:16:36
專利名稱:一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及測試儀器的樣品臺，尤其是用原子力顯微鏡掃描樣品斷面的樣品臺，屬於測試儀器設備技術領域：
。
背景技術：
目前的原子力顯微鏡自帶的樣品臺是圓形不鏽鋼薄片，只能用於薄膜表面的掃描，無法用於樣品斷面的掃描，使用範圍有限。而有時需要用原子力顯微鏡掃描薄膜或微小顆粒等其他樣品的斷面，所以需要一種特殊樣品臺。
發明內容
本實用新型的目的是為克服原子力顯微鏡自帶樣品臺的上述不足，提供一種既能掃描薄膜斷面，又能掃描微小顆粒樣品斷面的多用樣品臺。
本實用新型的採技術方案如下:
一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，包括底座、固定擋板、可動夾板、方形臺、圓形凹槽、夾子。其特徵在於:底座上面正中間為一方形臺，方形臺上面為四個圓形凹槽，方形臺短邊側為固定擋板，長邊側為可動夾板，可動夾板用一夾子夾住。
所述底座為圓形不鏽鋼薄片。
所述圓形凹槽位於方形臺上面，四個圓形凹槽的半徑和深度均不同。
所述固定 擋板固定在方形臺短邊側的底座上，高度比方形臺和可動夾板低。
所述可動夾板為長方體形狀，在兩固定擋板之間，在方形臺長邊側兩側各有一個，高度與方形臺的高度相同，豎直面與底座垂直。
優選的，所述的一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，既可掃描薄膜樣品的斷面，又可掃描微小顆粒樣品的斷面和其他不規則樣品的斷面，構造簡單、易於操作。
本實用新型的有益效果是:
本實用新型一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，可掃描薄膜樣品和微小顆粒樣品的斷面，也可用於部分不規則樣品斷面的掃描，可有效的增大原子力顯微鏡的使用範圍。
本實用新型結構簡單、易於操作、方便清潔、造價低、不易損壞、使用方便、有利於推廣。
圖1是本實用新型俯視結構示意圖，其中，1、底座，2、固定擋板，3、可動夾板，4、方形臺，5、圓形凹槽,6、夾子。
圖2是本實用新型左視結構示意圖，1、底座，2、固定擋板，3、可動夾板，4、方形臺，
5、圓形凹槽。
具體實施方式
下面結合附圖對本實用新型做進一步描述。
如圖1、2所示，一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺臺，包括1、底座，
2、固定擋板，3、可動夾板，4、方形臺，5、圓形凹槽，6、夾子。底座I上面正中間為一方形臺4，方形臺4上面為四個半徑和深度不同的圓形凹槽5，方形臺短邊側為固定擋板2，兩固定擋板2中間為可動夾板3,可動擋板3有兩個,相對於方形臺4對稱,可動夾板3用一夾子6夾住。
本實用新型使用時如果掃描薄膜樣品，先將夾子6取下，將薄膜樣品豎直放置於方形臺4和可動擋板3之間，然後推動可動擋板3將樣品夾住，最後用夾子6固定。如果固定不牢可在方形臺4或可動擋板上粘上雙面膠，將樣品固定。方形臺4兩側可同時放置兩個薄膜樣品。如果掃描微小顆粒斷面，根據顆粒大小選擇一個合適的圓形凹槽5，在圓形凹槽5裡面放入速幹膠等粘劑，然後將微小顆粒斷面朝上放入圓形凹槽5內，確定樣品粘結實後可用原子力顯微 鏡掃描。
權利要求
1.一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，包括底座、固定擋板、可動夾板、方形臺、圓形凹槽、夾子；其特徵在於:底座上面正中間為一方形臺，方形臺上面為四個圓形凹槽，方形臺短邊側為固定擋板，長邊側為可動夾板，可動夾板用一夾子夾住。
2.根據權利要求
1所述的一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，其特徵在於:底座為圓形不鏽鋼薄片。
3.根據權利要求
1所述的一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，其特徵在於:方形臺上面為四個半徑和深度不同的圓形凹槽。
4.根據權利要求
1所述的一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺，其特徵在於:所述的方形臺短邊側的底座上設置有固定擋板，固定擋板的高度比方形臺低，方形臺長邊兩側對稱的設置有可動夾板，可動夾板在兩個固定擋板之間，其高度與方形臺的高度相同，豎直面與 底座垂直。
專利摘要
本實用新型涉及測試儀器的樣品臺，尤其是用原子力顯微鏡掃描樣品斷面的樣品臺，屬於測試儀器設備技術領域：
。包括底座、固定擋板、可動夾板、方形臺、圓形凹槽、夾子。其特徵在於底座上面正中間為一方形臺，方形臺上面為四個圓形凹槽，方形臺短邊側為固定擋板，長邊側為可動夾板，可動夾板用一夾子夾住。本實用新型的一種用原子力顯微鏡掃描多種樣品斷面的樣品臺通過同時將兩個薄膜樣品固定在方形臺和可動夾板中間，將微小顆粒固定在圓形凹槽中，然後用原子力顯微鏡掃描樣品斷面，可用於薄膜樣品和微小顆粒樣品的斷面掃描，也可用於部分不規則樣品斷面的掃描，增大了原子力顯微鏡的使用範圍。本實用新型構造簡單、造價低、易於操作、使用方便。
文檔編號G01Q30/20GKCN203101425SQ201320072451
公開日2013年7月31日 申請日期2013年2月15日
發明者任曉榮 申請人:山東輕工業學院導出引文BiBTeX, EndNote, RefMan