一種判別測角儀器的誤差源的方法
2023-04-30 04:16:36 4
專利名稱：一種判別測角儀器的誤差源的方法
技術領域：
本發明主要應用於光電測量領域，屬於精密儀器測量技術領域，涉及一種判別測 角儀器的誤差源的方法。
背景技術：
隨著測角儀器在國防、軍工、航空和航天等領域的發展和應用，對測角儀器的測量 精度要求越來越高。為了保證測角儀器的測量精度，在裝調和使用過程中，當測量精度超差 時，準確判斷誤差來源已成為非常重要的環節。在亞納米級高精度點衍射幹涉儀做絕對標 定時，需準確旋轉被測光學元件進行幹涉圖採集，判別誤差源的方法複雜。經緯儀等測角儀 器的單一部件裝調檢測後，再裝配在一 起進行精度測量。當各部件裝調檢測合格後，或測角 儀器使用一段時間後，儀器的測量精度可能達不到測量要求，由於影響精度的部件和因素 較多，有時判斷哪個部件精度不滿足要求相對比較困難。因此，如何能夠快速準確地判別測 角儀器的誤差源，是急待解決的問題。
發明內容
本發明的目的是提供一種判別測角儀器的誤差源的方法，該方法能夠快速準確地 判別測角儀器的誤差源，省時省力。為了達到上述目的，本發明的技術方案如下一種判別測角儀器的誤差源的方法，包括如下步驟步驟一用兩個0.2〃自準光管互相對瞄，建立基準線，基準線誤差小於1"；步驟二 在測角儀器的轉臺上固定一平面反射鏡；步驟三轉動測角儀器的轉臺，利用平面反射鏡分別對兩個光管進行自準，記下測 角儀器編碼器的讀數；步驟四觀察兩次對準的編碼器角度差值偏離180°的情況，若測得的偏離值根 據測角儀器總體精度分配要求在允許偏差內，則表明軸系誤差、編碼器誤差滿足要求，影響 測量精度的誤差源是光學瞄準系統；若測得的偏離值根據測角儀器總體精度分配要求不在 允許偏差內，則表明影響測量精度的誤差源是軸或編碼器；從而完成判別測角儀器的誤差 源的方法。本發明的有益效果是該方法可以準確、有效的判斷影響測角儀器測量精度的因 素是軸系、編碼器，還是光學瞄準系統；本發明的方法也可以作為經緯儀等測角儀器部件過 程檢驗的方法。
具體實施例方式下面結合具體實施例對本發明作進一步詳細說明。本發明判別測角儀器的誤差源的方法已在多種測角類儀器中成功試用，比如，點 衍射幹涉儀、經緯儀等測角儀器。
下面以經緯儀為例來說明本發明判別誤差源的方法。具體方法是用兩個0.2〃自準光管互相對瞄，建立基準線，基準線誤差小於1"； 在經緯儀四通上或水平軸軸頭上固定一平面反射鏡；轉動經緯儀的垂直軸或水平軸，利用 平面反射鏡分別對兩個光管進行自準，記下俯仰編碼器和方位編碼器的讀數；觀察兩次對 準的編碼器角度差值偏離180度的情況；若編碼器測得的偏離值為180° 3"，而實際根據 經緯儀總體精度分配要求的允許偏差為5"，則表明經緯儀的軸系誤差、編碼器誤差滿足要 求，影響測量精度的誤差源是光學瞄準系統。若編碼器測得的偏離值為180° 3"，而實際 根據經緯儀總體精度分配要求的允許偏差為1"，則表明經緯儀的軸系誤差和編碼器誤差 其中之一沒有達到設計要求或在使用中發生變化，影響測量精度的誤差源是經緯儀的軸系 或編碼器。此外，在某型號彈道相機總檢時，發現精度指標超差，很難判斷哪個分系統出了問 題，每個分系統都再檢查一遍費時費力，通過本發明的方法很快就排出了軸系和編碼器，最 終發現是光學瞄準系統的故障。
權利要求
一種判別測角儀器的誤差源的方法，其特徵在於，該方法包括如下步驟步驟一用兩個0.2″自準光管互相對瞄，建立基準線，基準線誤差小於1″；步驟二在測角儀器的轉臺上固定一平面反射鏡；步驟三轉動測角儀器的轉臺，利用平面反射鏡分別對兩個光管進行自準，記下測角儀器編碼器的讀數；步驟四觀察兩次對準的編碼器角度差值偏離180°的情況，若測得的偏離值根據測角儀器總體精度分配要求在允許偏差內，則表明軸系誤差、編碼器誤差滿足要求，影響測量精度的誤差源是光學瞄準系統；若測得的偏離值根據測角儀器總體精度分配要求不在允許偏差內，則表明影響測量精度的誤差源是軸或編碼器；從而完成判別測角儀器的誤差源的方法。
2.根據權利要求1所述的判別測角儀器的誤差源的方法，其特徵在於，所述測角儀器 為點衍射幹涉儀或經緯儀或彈道相機。
3.根據權利要求1所述的判別測角儀器的誤差源的方法，其特徵在於，所述測角儀器 為經緯儀時，步驟二所述的平面反射鏡的固定位置為經緯儀四通上或水平軸軸頭上，步驟 三所述的轉動測角儀器的轉臺為轉動經緯儀的垂直軸或水平軸。
全文摘要
本發明判別測角儀器的誤差源的方法屬於精密儀器測量技術領域，該方法是用兩個0.2″自準光管互相對瞄，建立基準線，基準線誤差小於1″；在測角儀器的轉臺上固定一平面反射鏡；轉動測角儀器的轉臺，利用平面反射鏡分別對兩個光管進行自準，記下測角儀器編碼器的讀數；觀察兩次對準的編碼器角度差值偏離180°的情況，若測得的偏離值根據測角儀器總體精度分配要求在允許偏差內，則影響測量精度的誤差源是光學瞄準系統；若測得的偏離值根據測角儀器總體精度分配要求不在允許偏差內，則影響測量精度的誤差源是軸或編碼器。本發明方法可以準確、有效的判斷影響測量精度的誤差源，也可作為經緯儀等測角儀器部件過程檢驗的方法。
文檔編號G01C25/00GK101865698SQ20101018962
公開日2010年10月20日 申請日期2010年6月2日 優先權日2010年6月2日
發明者孟慶華 申請人:中國科學院長春光學精密機械與物理研究所