印刷電路板測試治具改良結構的製作方法
2023-04-23 07:13:11 1
專利名稱：印刷電路板測試治具改良結構的製作方法
技術領域：
本實用新型隸屬印刷電路板測試技術領域，特別指印刷電路板測試治具改 良結構。
背景技術：
目前，印刷電路板測試治具通常由數片測試板構成，各片測試板則視實際 需要以數組固定杆組結合成一體，以實現測針斜率，請參閱圖l所示，該治具
1包括有數片測試板10,各片測試板10中具有依據待測電路板3的待測接點 30設置的測試針U,各測試針11兩端凸伸出治具1，其在待測電路板端X， 為與待測電路板3的待測接點30接觸的接觸端，而在針床端Y,則為與針床2 的彈簧針20接觸的接觸端，各測試針11並依據待測電路板3的待測接點30具 有適當的斜率(Deflection),使依據待測接點30原密度布設的待測電路板端X 測試針ll，經適當斜率調整，而能在針床端Y放大測試針11的間距；此處斜 率指測試針11傾斜後增加的距離，斜率的作用在增加測試針11間的距離，因 為待測電路板3中的電路可能非常密集，利用針盤斜率來放大針與針間的距離， 避免測試針11因過近而電氣接觸，造成誤判。但是由於同一治具使用的測試針 ll長度均相同，在經過斜率調整後，由於各支測試針11具有不同的傾斜角度， 造成各支測試針11的出針長度有長有短並不一致，在測試時不穩定而造成誤 判。這是現行公用技術存在的最大缺點，這個缺點是業界亟待克服的難題。
實用新型內容
有鑑於此，本實用新型的主要目的在提供一種測試穩定的印刷電路板測試 治具改良結構。
為達到上述目的，本實用新型提供一種印刷電路板測試治具改良結構，其
3主要由數片測試板所構成，各測試板並設有穿孔以容置依據待測電路板的待測 接點設置的測試針，各測試針兩端凸伸出治具，各測試針在待測電路板端，為 與待測電路板的待測接點接觸的接觸端，而在針床端，則為與針床的彈簧針接 觸的接觸端，各測試針並依據待測電路板的待測接點具有適當的斜率，該各測 試針具有定位部，該針床端的測試板穿孔外緣具有容設測試針定位部的定位孔， 且該定位孔深度依據所容置測試針的斜率大小而定，使待測電路板端的測試針 具有相同出針長度，具有提高測試治具的穩定性，避免誤判的效果。
圖1為公知印刷電路板測試裝置組裝截面圖2為本實用新型印刷電路板測試治具改良結構的組裝截面圖。
附圖標記說明
1治具
10測試板 11測試針
12穿孔 13定位部
14定位孔
2針床
20彈簧針
3待測電路板
30待測接點
X待測電路板端
Y針床端
具體實施方式
為達到本實用新型上述目的的技術手段，列舉一個實施例，並配合附圖說 明如後，可詳細了解本實用新型的結構、特徵及所達到的功效。
請參閱圖2所示，本實用新型治具1主要由數片測試板10所構成，各測試板IO並設有穿孔12以容置依據待測電路板3的待測接點30設置的測試針11, 各測試針11兩端凸伸出治具1,各測試針11在待測電路板端X,為與待測電
路板3的待測接點30接觸的接觸端，而在針床端Y，則為與針床2的彈簧針 20接觸的接觸端，其中，待測電路板端X是治具1靠近待測電路板3的端側， 針床端Y是治具1靠近針床2的端側；各測試針11並依據待測接點30具有適 當的斜率，使依據待測接點30原密度布設的待測電路板端X測試針11,經適 當斜率調整，而能在針床端Y放大測試針11的間距。本實用新型改良在於 該測試針11具有定位部13，針床端Y的測試板穿孔12外緣具有容設測試針定 位部13的定位孔14，且該定位孔14深度依據所容置測試針11的斜率大小而 定，即斜率越大定位孔14深度越大，因為斜率越大，測試針ll越傾斜，故需 要較深的定位孔14來使得測試針11出針長度一致，使待測電路板端X的測試 針11具有相同出針長度，借相同出針長度的測試針11來提高測試治具的穩定 性，以避免誤判。
以上所述，僅為本實用新型的較佳實施例而已，並非用於限定本實用新型 的範圍，只要熟悉此項技藝的人，運用本實用新型說明書及權利要求書所作的 等效結構變化，理應包括於本實用新型的專利範圍內。
權利要求1、一種印刷電路板測試治具改良結構，其包括數片測試板，該各測試板並設有穿孔，該穿孔容置依據待測電路板的待測接點設置的測試針，該各測試針兩端凸伸出該治具，該各測試針在待測電路板端，為與該待測電路板的待測接點接觸的接觸端，而在針床端，則為與該針床的彈簧針接觸的接觸端，該各測試針並依據該待測接點具有適當的斜率，其特徵在於，該各測試針具有定位部，該針床端的測試板穿孔外緣具有容設該測試針定位部的定位孔，且該定位孔深度依據所容置測試針的斜率大小而定，且在該待測電路板端的該測試針具有相同出針長度。
專利摘要本實用新型有關一種印刷電路板測試治具改良結構，其主要由數片測試板所構成，各測試板並設有穿孔以容置依據待測電路板待測接點設置的測試針，各測試針兩端凸伸出治具，其在待測電路板端，為與待測電路板的待測接點接觸的接觸端，而在針床端，則為與針床的彈簧針接觸的接觸端，各測試針並依據待測接點具有適當的斜率，該針床端的測試板穿孔外緣具有容設測試針定位部的定位孔，且該定位孔深度依據所容置測試針的斜率大小而定，使待測電路板端的測試針具有相同出針長度，具有提高測試治具的穩定性，避免誤判的效果。
文檔編號G01R31/28GK201251619SQ200820125598
公開日2009年6月3日 申請日期2008年8月18日 優先權日2008年8月18日
發明者張信榮 申請人:自然興電通科技股份有限公司