用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標的製作方法
2023-04-22 19:13:36 2
專利名稱:用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標的製作方法
技術領域:
本發明涉及一種光纖公共點靶標。
背景技術:
由兩臺電子經緯儀構成的空間角度前方交會測量系統是在大尺寸測量領域應用 最早和最多的系統之一,它一般由電子經緯儀、基準尺、通訊接口和聯機電纜及計算機等組 成。當被測工件尺寸很大,測量儀器在一個位置上無法測量到所有被測元素,或者被測工件 為迴轉體,儀器的「視線」會被工件自身遮擋,無法測量工件背面的元素,在這兩種情況下都 需要對電子經緯儀進行移站。由於測量過程都基於電子經緯儀自身坐標系即儀器坐標系進行,所以某個被測元 素的信息就因移站而由兩個或多個坐標系中的數據共同構成,要構造被測元素就必須將各 坐標系中的測點坐標數據轉換到同一坐標系中。要實現坐標系間的測點坐標轉換,就必須 建立各坐標系間的相互聯繫。設置公共點是一種常用方法。在測量過程中首先在測量空間 配置N個公共點,保證這些公共點要位於儀器各站位的「可視範圍」內。電子經緯儀移站前 後分別測量這些公共點,就會得到公共點在不同儀器坐標系下的坐標。再利用這些公共點 坐標數據的關係找到電子經緯儀移站前後各個坐標系的傳遞關係,最終把電子經緯儀移站 前後測量的數據點坐標都換算到公共點坐標系下,完成全部測量任務。目前,在實際工程中一般用圖1所示的物件作為公共點靶標。主要缺點在於移站 後需要人工旋轉半球,測量誤差大。另外,由於其本身不具備發光裝置,電子經緯儀需要瞄 準中間的十字刻線位置,帶來一定的操作難度。
發明內容
本發明是為了解決現有的公共點靶標在電子經緯儀移站後需要人工旋轉半球導 致測量誤差大,以及其不能發光導致電子經緯儀瞄準難度大的問題,從而提供一種用於電 子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標。用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,它包括發光模塊,它還包括 一端為球體的光纖,所述一端為球體的光纖的末端與發光模塊的光輸出端接觸。本發明的光纖的一端為球狀結構,電子經緯儀移站後無需人工旋轉靶標,測量誤 差小;同時,本發明可以實現靶標發光,電子經緯儀可以在各個方向上瞄準靶標,瞄準難度 得以大大降低。
圖1是背景技術所述現有靶標的結構示意圖;圖2是本發明的結構示意圖;圖3是 本發明具體實施方式
二的電路連接示意圖;圖4是本發明具體實施方式
三的結構示意圖。
具體實施例方式具體實施方式
一、結合圖2說明本具體實施方式
,用於電子經緯儀移站測試過程 中的光纖公共點靶標,它包括發光模塊8,其特徵是它還包括一端為球體的光纖1,所述一 端為球體的光纖1的末端與發光模塊8的光輸出端接觸。本實施方式的一端為球體的光纖1上的球體作為光纖公共靶的測試點;當發光模 塊8發光時,一端為球體的光纖1上的球體同時發光,電子經緯儀可以在各個方向瞄準光纖 公共靶的球狀發光端。
具體實施方式
二、結合圖3說明本具體實施方式
,本具體實施方式
與具體實施方 式一所述的用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,發光模塊8包括發光二極 光2、電阻3、開關4和電源5,所述電源5的正極與開關4的靜端連接,所述開關4的動端與 電阻3的一端連接,所述電阻3的另一端與發光二極體2的一端連接,所述發光二極體2的 另一端與電源負極連接。
具體實施方式
三、結合圖4說明本具體實施方式
,本具體實施方式
與具體實施方 式二所述的用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標的區別在於,它還包括底座 6和保護殼體7,保護殼體7設置在底座上;所述電源5和開關的靜端設置在底座中;所述發 光二極光2、電阻3、開關4的動端、一端為球體的光纖1的末端設置在保護殼體7中;所述 保護殼體7的頂端為錐狀,一端為球體的光纖1的球體固定在保護殼體7的頂端。
具體實施方式
四、本具體實施方式
與具體實施方式
一、二或三所述的用於電子經 緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標的區別在於,一端為球體的光纖1上的球體的直徑 為 0. 05mnT0· 5mm。本實施方式的一端為球體的光纖1上的球體直徑小,可以使電子經緯儀測量提高 精度。所述一端為球體的光纖1上的球體的直徑可以依據測量精度要求和所使用的電子經 緯儀型號加工確定。本實施方式中,一端為球體的光纖1上的球體由這根光纖的一端燒制剪磨而成。 其加工工藝過程首先將光纖一端緩慢接近火源,待光纖一端發生微小形變時快速撤離火 源。然後將燒製成的球狀光纖進一步剪磨,以使其達到漫反射的效果,保證電子經緯儀在各 個方向上都可以瞄準發光端。
權利要求
用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,它包括發光模塊(8),其特徵是它還包括一端為球體的光纖(1),所述一端為球體的光纖(1)的末端與發光模塊(8)的光輸出端接觸。
2.根據權利要求1所述的用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,其特徵 在於發光模塊⑶包括發光二極光(2)、電阻(3)、開關(4)和電源(5),所述電源(5)的正 極與開關⑷的靜端連接,所述開關⑷的動端與電阻⑶的一端連接,所述電阻⑶的另 一端與發光二極體(2)的一端連接,所述發光二極體(2)的另一端與電源負極連接。
3.根據權利要求2所述的用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,其特徵 在於它還包括底座(6)和保護殼體(7),保護殼體(7)設置在底座上;所述電源(5)和開關 的靜端設置在底座中;所述發光二極光(2)、電阻(3)、開關(4)的動端、一端為球體的光纖 (1)的末端設置在保護殼體(7)中;所述保護殼體(7)的頂端為錐狀,一端為球體的光纖 (1)的球體固定在保護殼體(7)的頂端。
4.根據權利要求1、2或3所述的用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標, 其特徵在於一端為球體的光纖(1)上的球體的直徑為0. 05mm 0. 5mm。
全文摘要
用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,它涉及一種光纖公共點靶標。它解決了現有的公共點靶標在電子經緯儀移站後需要人工旋轉半球導致測量誤差大,以及其不能發光導致電子經緯儀瞄準難度大的問題。用於電子經緯儀移站測試過程中的光纖公共點靶標,它的發光端為球狀光纖,一端為球體的光纖的末端與發光模塊的光輸出端接觸。本發明適用於電子經緯儀移站測試過程中。
文檔編號G01B11/00GK101929842SQ20101030058
公開日2010年12月29日 申請日期2010年1月22日 優先權日2010年1月22日
發明者唐文彥, 張曉琳, 王軍, 馬強 申請人:哈爾濱工業大學