一種可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器的製作方法

2023-04-24 11:26:16 1

專利名稱：一種可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及的是一種對石英晶體振蕩器進行優化設計、可測石英晶體電氣性
能的石英晶體振蕩器，應用於電子元器件晶體製造領域中的石英晶體振蕩器的加工，屬於石英電子元器件製作的技術領域。
背景技術：
隨著電子信息技術的飛速發展，對於頻率元件的要求越來越多。作為頻率元件的一種，石英晶體振蕩器也面臨更高的可靠性要求、更小的外形尺寸等。為了達到石英晶體振蕩器小型化的要求，現有的5A7mm SMD石英晶體振蕩器的加工工藝是將石英晶體與IC封裝在同一基座裡面以節省空間。傳統石英晶體振蕩器基座底部只有四個功能電極(l-E/D、2-VSS、3-Q、4-VDD)，沒有將石英晶體的兩個工作電極a、 b引出到基座的外表面，因此在石英晶體振蕩器封裝後無法對石英晶體的阻抗、DLD等電氣參數進行測試和改良。如果石英晶體的阻抗大或者DLD不良，會直接影響石英晶體振蕩器的工作可靠性。傳統石英晶體振蕩器基座的缺點A.不能對封裝後的石英晶體的阻抗、DLD等電氣性能進行測試；B，不能對石英晶體振蕩器停振、溫度特性不良等不良現象進行有效分析。

發明內容本發明的目的在於設計出一種可以測試石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器，它可在石英晶體振蕩器的加工過程中通過電清洗改善石英晶體的電氣性能，又能在封裝以後有效測試石英晶體的電氣性能。可在石英晶體振蕩器生產加工中，改善石英晶體的電氣性能問題和IC匹配問題，又能有效剔除不良品。 本發明的技術解決方案其特徵是在傳統晶體振蕩器的基座側面設計兩個電極，分別與基座內石英晶體的兩個工作電極相連，基座側面增加的兩個電極的間距為1 4mm。[0005] 本發明的優點彌補了普通晶體振蕩器的不足，達到了以下兩點一、通過新設計石英晶體振蕩器的側面電極，可以檢測內部石英晶體的電氣性能，剔除不良品；二、在石英晶體振蕩器加工過程中，通過基座側面的兩個電極，對石英晶體進行電清洗，改善石英晶體的電氣性能，提高石英晶體振蕩器的可靠性。

附圖1為傳統晶體振蕩器正視圖，圖2是圖1的背面圖，圖3是圖1的側視圖。[0007] 附圖4為可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器的正視圖，圖5是圖4的背面圖，圖6是圖4的側視圖。 附圖7為可測適應晶體電氣性能的石英晶體振蕩器的實例剖面的正視圖，圖8是圖7的背面圖。圖9是水晶振子兩電極的示意圖。 圖中的1(E/D)、2(VSS)、3(Q)、4(VDD)分別是石英晶體振蕩器的基座正面上的四個功能電極，5、6為石英晶體振蕩器基座側面上的電極。A、 B、 C、 D、 E、 F、 G、 H是基座內的電極，a、b是水晶振子的兩電極。
具體實施方式
對照附圖4-圖9，其結構是石英晶體的工作電極a、b分別固定相接在基座A、B電 極，新設計的石英晶體振蕩器基座側面上的電極5、6分別與基座的A、B電極相連接，從而將 石英晶體的工作電極a、b引出到振蕩器基座外表面。 這樣就可以將這兩個電極引入到S&A250B等測試系統中，對石英晶體的阻抗、DLD 等電氣參數進行測量分析。同樣通過這兩個電極可以對石英晶體進行電清洗，改善石英晶 體振蕩器的性能。
權利要求一種可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器，其特徵是在晶體振蕩器的基座側面設計兩個電極，該兩電極分別與基座內石英晶體的兩個電極相連，基座側面設計兩個電極的間距為1～4mm。
專利摘要本實用新型涉及的是一種對石英晶體振蕩器進行優化設計、可測石英晶體電氣性能的石英晶體振蕩器，其特徵是在傳統石英晶體振蕩器的基座側面設計兩個電極，該兩電極分別與基座內石英晶體的兩個電極相連，基座側面設計兩個電極的間距為1～4mm。本實用新型的優點彌補了傳統晶體振蕩器的不足，可以達到以下兩點A、通過新基座的側面電極，可以檢測出石英晶體的性能；B、在石英晶體振蕩器加工過程中，通過這兩個側面電極，可以對石英晶體進行電清洗，從而改善石英晶體的電氣性能，使之與IC能夠更好地匹配，得到性能穩定的石英晶體振蕩器。
文檔編號H03H9/02GK201450492SQ20092004328
公開日2010年5月5日 申請日期2009年7月6日 優先權日2009年7月6日
發明者高志祥, 魯治國 申請人:南京華聯興電子有限公司