直列式二極體晶粒測分設備的製作方法

2023-04-24 10:00:41

專利名稱：直列式二極體晶粒測分設備的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種直列式二極體晶粒測分設備。
背景技術：
二極體整流產品根據二極體晶粒單向導電的特點，正嚮導通、反向截止；用來達到 整流的目的，二極體晶粒是二極體的核心器件，晶粒封裝後形成二極體產品。二極體晶粒測 分是指對二極體晶粒進行電性測試篩選，將晶粒按電性要求分成不同的等級，用相對應等 級的晶粒投產對應產品，可得到較高的封裝成品率。晶粒測分可降低封裝成本，提升產品的 競爭力。現有晶粒測分設備見圖1，一般晶粒從漏鬥1倒入圓震盤2內，晶粒通過圓震 盤2震動後移動至直震盤3的位置，由直震盤3將晶粒移動至晶粒測試位置4，通過測試電 腦5進行晶粒測分，測分完晶粒按照測試分類結果排入晶粒分級盒6內，整個過程由機臺控 制盒7進行控制。此種晶粒測分方式，因為晶粒須通過圓震盤2和直震盤3的軌道，晶粒測 試前的移動時間較長，生產效率較低；另外晶粒與圓震盤2和直震盤3的軌道金屬層摩擦， 易損傷晶粒外觀，進而影響二極體晶粒品質。
發明內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種能提升生產效率和提升晶粒測分品 質的二極體晶粒測分設備。本實用新型採用如下技術方案一種直列式二極體晶粒測分設備，包括機身、測試電腦，機身上設置有工作檯面， 工作檯面上設置有列式晶粒吸盤，工作檯面上列式晶粒吸盤的後側設置有晶粒頂針，工作 檯面上晶粒頂針的後側設置有晶粒分級盒的落料槽，晶粒分級盒設置在工作檯面的下方， 機身上工作檯面的上方兩側設置有滑動導軌，滑動導軌上設置有可與其相對滑動的移動單 元，所述移動單元的下端面上設置有晶粒吸嘴，移動單元的上方為機臺控制盒，機臺控制盒 通過連線與移動單元連接。所述機臺控制盒通過連線與移動單元下端面的晶粒吸嘴連接。所述測試電腦設置在工作檯面的下方、晶粒分級盒的前端。所述工作檯面上晶粒頂針的後側晶粒分級盒的落料槽至少設置兩列。有益效果本實用新型直列式二極體晶粒測分設備，採用晶粒吸嘴從直列式晶 粒吸盤吸取晶粒，移動至晶粒頂針處通過測試電腦進行測試，測試後晶粒按等級排入相關 晶粒分級盒；減少了晶粒的運動時間，節省了晶粒的測試時間，晶粒測分效率大幅提升，可 以從4000顆/小時提升至7500顆/小時；另外晶粒測分過程中，晶粒通過真空吸取，未與 震動軌道的金屬層摩擦，減少了晶粒外觀損傷，提升了晶粒品質。該設備結構上與圓盤形測 分設備比較，設計上採用導軌加直列式吸嘴，設計合理緊湊，並採用點對點測試晶粒，測試 準確性高，整機運行順暢，生產效率大幅度提升，是二極體晶粒測試的新一代設備。[0011]
圖1是原有圓盤形測分設備示意圖；圖2是本實用新型設備示意圖。
具體實施方式
下面參照附圖，對本實用新型的具體實施方式
加以詳細描述。一種直列式二極體晶粒測分設備，包括機身18、測試電腦15，機身18上設置有工 作臺面17，工作檯面17上設置有列式晶粒吸盤8，工作檯面17上列式晶粒吸盤8的後側 設置有晶粒頂針13，工作檯面17上晶粒頂針13的後側設置有晶粒分級盒14的落料槽19， 晶粒分級盒14設置在工作檯面17的下方，機身18上工作檯面17的上方兩側設置有滑動 導軌10，滑動導軌10上設置有可與其相對滑動的移動單元11，所述移動單元11的下端面 上設置有晶粒吸嘴9，移動單元11的上方為機臺控制盒12，機臺控制盒12通過連線16與 移動單元11連接。所述機臺控制盒12通過連線16與移動單元11下端面的晶粒吸嘴9連接。所述測試電腦15設置在工作檯面17的下方、晶粒分級盒14的前端。所述工作檯面17上晶粒頂針13的後側晶粒分級盒14的落料槽19至少設置兩列。直列式二極體晶粒測分設備作業時，將裝有晶粒的列式晶粒吸盤8放入設備相應 位置，開啟作業開關，機臺控制盒12通過連線16控制移動單元11在滑動導軌10上移動 至列式晶粒吸盤8位置，移動單元11下端面上的晶粒吸嘴9通過抽真空吸取一列晶粒(一 般50顆)，然後移動單元11沿導軌10水平向後移動到晶粒頂針13處，晶粒吸嘴9、晶粒、 晶粒頂針13呈上中下垂直位置接觸好後，測試電腦15開始進行測試，測試完成後移動單 元11再沿導軌10向後水平移動到晶粒分級盒14的落料槽19處，依次關閉真空將晶粒放 入落料槽19處，晶粒從落料槽19掉入晶粒分級盒14中，完成一列晶粒的測分作業。然後 移動單元11沿導軌10向前水平移動到列式晶粒吸盤8的下一列晶粒位置，抽真空吸取下 一列晶粒，再繼續上面之動作，如此往復，直到列式晶粒吸盤8上的晶粒全部測分完成，再 換一塊列式晶粒吸盤作業。
權利要求1.一種直列式二極體晶粒測分設備，包括機身(18)、測試電腦(15)，機身(18)上設置 有工作檯面(17)，其特徵在於所述工作檯面(17)上設置有列式晶粒吸盤(8)，工作檯面 (17)上列式晶粒吸盤(8)的後側設置有晶粒頂針(13)，工作檯面(17)上晶粒頂針(13)的後 側設置有晶粒分級盒(14)的落料槽(19)，晶粒分級盒(14)設置在工作檯面(17)的下方，機 身(18)上工作檯面(17)的上方兩側設置有滑動導軌(10)，所述滑動導軌(10)上設置有可 與其相對滑動的移動單元(11)，所述移動單元(11)的下端面上設置有晶粒吸嘴(9)，所述 移動單元(11)的上方為機臺控制盒(12)，機臺控制盒(12)通過連線(16)與移動單元(11) 連接。
2.根據權利要求1所述的直列式二極體晶粒測分設備，其特徵在於所述機臺控制盒 (12)通過連線(16)與移動單元(11)下端面的晶粒吸嘴(9)連接。
3.根據權利要求1所述的直列式二極體晶粒測分設備，其特徵在於所述測試電腦 (15)設置在工作檯面(17)的下方、晶粒分級盒(14)的前端。
4.根據權利要求1所述的直列式二極體晶粒測分設備，其特徵在於所述工作檯面 (17)上晶粒頂針(13)的後側晶粒分級盒(14)的落料槽(19)至少設置兩列。
專利摘要本實用新型公開了一種直列式二極體晶粒測分設備，包括機身、測試電腦，機身上設置有工作檯面，工作檯面上設置有列式晶粒吸盤,工作檯面上列式晶粒吸盤的後側設置有晶粒頂針，工作檯面上晶粒頂針的後側設置有晶粒分級盒的落料槽，晶粒分級盒設置在工作檯面的下方，機身上工作檯面的上方兩側設置有滑動導軌，滑動導軌上設置有可與其相對滑動的移動單元，所述移動單元的下端面上設置有晶粒吸嘴，移動單元的上方為機臺控制盒，機臺控制盒通過連線與移動單元連接。採用晶粒吸嘴從直列式晶粒吸盤吸取晶粒，移動至晶粒頂針處通過測試電腦進行測試，測試後晶粒按等級排入相關晶粒分級盒；減少了晶粒的運動時間，節省了晶粒的測試時間，晶粒測分效率大幅提升，晶粒通過真空吸取，未與震動軌道的金屬層摩擦，減少了晶粒外觀損傷，提升了晶粒品質。
文檔編號H01L21/66GK201853683SQ201020551318
公開日2011年6月1日 申請日期2010年10月5日 優先權日2010年10月5日
發明者林加斌, 許資彬 申請人:強茂電子(無錫)有限公司