一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置製造方法
2023-05-08 07:51:01
一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，包括固定支架，固定支架的一端設有安裝塊，安裝塊上設有兩個相互垂直形成直角坐標系的分測量裝置，分測量裝置包括導軌，設置在導軌上的滑塊，安裝在滑塊上的雷射頭，以及刻度尺。本實用新型的有益效果是：用雷射點定位截面上的一點，避免了直接接觸；雷射頭和滑塊一體，方便讀數；兩套分測量裝置互相垂直，便於定位坐標；兩套分測量裝置可以繞定軸轉動，能實現立體定位。
【專利說明】一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及測量裝置【技術領域】，尤其涉及一種雷射非接觸測量長度尺寸的裝置。
【背景技術】
[0002]現有技術中，在冷彎型鋼生產過程中存在無法實現在線精確測量斷面尺寸的問題，測量時需要直接接觸測量，極大的增加了工作人員的工作難度。
實用新型內容
[0003]為了克服上述現有技術的不足，本實用新型提供一種雷射非接觸測量長度尺寸的
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[0004]本實用新型所採用的技術方案是:一種雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，包括固定支架，固定支架的一端設有安裝塊，安裝塊上設有兩個相互垂直形成直角坐標系的分測量裝置，分測量裝置包括導軌，設置在導軌上的滑塊，安裝在滑塊上的雷射頭，以及刻度尺。
[0005]作為本方案的優選實施例，所述的安裝塊通過旋轉軸安裝在固定支架上。
[0006]作為本方案的優選實施例，所述的導軌為兩個平行設置在安裝塊上的圓杆，兩個圓杆之間設有刻度尺，滑塊套設置導軌上且安裝有雷射頭。
[0007]作為本方案的優選實施例，所述的滑塊為兩個套設在導軌上的圓筒塊且圓筒塊一端通過安裝片連接成一體，安裝片上設有雷射頭，安裝片垂直正對刻度尺。
[0008]與現有技術相比，本實用新型的有益效果是:用雷射點定位截面上的一點，避免了直接接觸；雷射頭和滑塊一體，方便讀數；兩套分測量裝置互相垂直，便於定位坐標；兩套分測量裝置可以繞定軸轉動，能實現立體定位。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]為了更清楚地說明本實用新型的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0010]圖1為本實用新型的整體結構圖。
[0011]圖中:1、固定支架，2、安裝塊，3、導軌，4、滑塊，5、雷射頭，6、刻度尺，7、旋轉軸，8、
安裝片。
【具體實施方式】
[0012]為了能更清楚地理解本實用新型的技術方案，下面結合附圖對本實用新型進一步說明。
[0013]如圖1所示的一種雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，包括固定支架1，固定支架I的一端設有安裝塊2，安裝塊2通過旋轉軸7安裝在固定支架I上，使得安裝塊2可以相對固定支架I轉動，安裝塊2上設有兩個相互垂直形成直角坐標系的分測量裝置，分測量裝置包括導軌3，設置在導軌3上的滑塊4，安裝在滑塊4上的雷射頭5，以及刻度尺6，導軌3為兩個平行設置在安裝塊2上的圓杆，兩個圓杆之間設有刻度尺6，滑塊4套設置導軌3上且安裝有雷射頭5，具體的，滑塊4為兩個套設在導軌3上的圓筒塊且圓筒塊一端通過安裝片8連接成一體，安裝片8上設有雷射頭5，安裝片8垂直正對刻度尺6，測量時用雷射點定位截面上的一點，避免了直接接觸，滑塊4和雷射頭5做成一體，可在導軌3上滑動並讀取位置數據，雷射頭5發出的雷射垂直於導軌3，雷射照射到冷彎產品上會形成一個光點，滑動滑塊4，光點會隨之移動，並能通過刻度尺6讀取移動數據，將兩個雷射頭的光點集中到一起，一個固定用於定位，另一個移動到需要測量的部位，移動的距離就是需要測量的尺寸，安裝塊2可360度旋轉，可實現平面內的任一點的定位。
[0014]以上所述，僅是本實用新型的較佳實施例而已，並非對本實用新型作任何形式上的限制，雖然本實用新型已以較佳實施例揭露如上，然而並非用以限定本實用新型，任何熟悉本專業的技術人員，在不脫離本實用新型技術方案範圍內，當可利用上述揭示的技術內容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本實用新型技術方案的內容，依據本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬於本實用新型技術方案的範圍內。
【權利要求】
1.一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，其特徵在於:包括固定支架，固定支架的一端設有安裝塊，安裝塊上設有兩個相互垂直形成直角坐標系的分測量裝置，分測量裝置包括導軌，設置在導軌上的滑塊，安裝在滑塊上的雷射頭，以及刻度尺。
2.根據權利要求1所述的一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，其特徵在於:所述的安裝塊通過旋轉軸安裝在固定支架上。
3.根據權利要求1所述的一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，其特徵在於:所述的導軌為兩個平行設置在安裝塊上的圓杆，兩個圓杆之間設有刻度尺，滑塊套設置導軌上且安裝有雷射頭。
4.根據權利要求3所述的一種高精度雷射非接觸測量長度尺寸的裝置，其特徵在於:所述的滑塊為兩個套設在導軌上的圓筒塊且圓筒塊一端通過安裝片連接成一體，安裝片上設有雷射頭，安裝片垂直正對刻度尺。
【文檔編號】G01B11/02GK204064247SQ201420429547
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年8月1日 優先權日:2014年8月1日
【發明者】吳雪飛, 靳連文, 葛雲傑, 王寧, 楊八一, 趙新虎 申請人:山東舜世高科實業有限公司