一種電磁波反射方法

2023-05-25 01:51:21 3

專利名稱：一種電磁波反射方法
技術領域：
本發明涉及等離子體領域和無線電領域，特別涉及一種電磁波反射方法。
背景技術：
以前傳統的反射電波材料都是金屬體，用金屬材料製作的電磁波反射裝置，其特 點是產品一經製成，則反射特性就不可改變。反射頻率和透射頻率都被固定，因此當需要改 變反射頻率段的時候必須相應更換金屬反射體。利用等離子體對電磁波反射，以前未見報 道。

發明內容
本發明的目的在於，為了克服傳統只能利用固體形狀的金屬體做電磁波反射面， 而金屬面一經確定；反射的電磁波頻率便固定不變的缺點，從而提出一種電磁波反射方法。
為了實現上述發明目的，本發明提供一種電磁波反射方法，其特徵在於，該方法利 用等離子體技術產生等離子體片，所述的等離子體片作為電磁波的反射面，實現電磁波反 射；所述的等離子體密度通過調整外界激勵電源的電壓進行調節，滿足針對不同頻率電磁 波的反射要求；所述的等離子片形狀通過外界提供的軸向磁場調節，形成曲面或平面的等 離子體片。 我們發明了一種新的反射電磁波的方法，即用上述方法產生的等離子體片作為反 射面，一定頻率的電磁波照射到該平面上，象照射到金屬面上一樣產生反射，同時也符合 "入射角等於反射角"的規律。同時，對其它頻率的電磁波具有透射作用。用等離子體片反 射電磁波，其反射性質會隨著等離子體的密度不同而改變。即通過改變等離子體的密度，就 可以改變反射的頻率。而且等離子體片可以隨時消失(關閉)，取消對電磁波的反射作用。
本發明的優點在於，利用非固體形態的等離子體面做反射面的方法可以靈活改變 反射面的形狀以及可以選擇性地反射不同頻率的電磁波；同時等離子體片可以瞬間打開或 關閉，容易控制反射面對電磁波反射的作用時間，更加方便了對不同頻率電磁波反射調節 的靈活性，同時節約了由於需要反射不同頻率的電磁波對金屬反射面的大量需要和浪費。


圖1是等離子體面反射波的發生裝置的電路示意圖；
圖2是等離子體面反射波的發生裝置的結構示意圖。
具體實施例方式
下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細的說明。 本發明為了達到用等離子體片反射電磁波的目的，提出了一種電磁波反射裝置， 將電子束源的陰極2與陽極1分別置於真空室3內的兩端，產生等離子體的陰極2採用線 狀空心陰極，陽極1採用平板形狀，在合適的氣壓和工作氣體條件下，在電極上加上一定的高電壓而產生線狀的電子束，高電壓使陰極和陽極面之間激發氣體放電，另外在真空室外 加上磁場產生設備4，使產生軸向磁場，軸向磁場使電子迴旋產生二次電離，形成等離子體 片，即平面形狀的等離子體。 隨等離子體的密度不同，該等離子體片5對不同頻率的電磁波具有反射作用。
電磁波反射裝置方案腔體材料採用有機玻璃，電極採用黃銅，磁場線圈的電源採 用高壓直流電源，等離子體的激勵電源採用高壓脈衝激勵電源。 一個發射天線和兩個接收 天線均採用角錐喇叭天線。
工作步驟如下 1.打開激勵電源和磁場電源，打開無線電發射機； 2.將激勵電源電壓升至要求的電壓，產生等離子體片，此時利用兩個接收天線借 助示波器觀察反射波和透射波。 3.當激勵電源的電壓不變時(此時等離子體的密度不變)，調節發射頻率，可觀察 到，一定頻率的電磁波會發生反射，而其它頻率的電磁波會透射過去。 4.改變激勵電源的電壓(即改變了等離子體的密度)，重新調節發射頻率，可觀察 到，反射的電磁波頻率和透射的電磁波頻率都發生了改變。 最後所應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制。儘管參 照實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，對本發明的技術方 案進行修改或者等同替換，都不脫離本發明技術方案的精神和範圍，其均應涵蓋在本發明 的權利要求範圍當中。
權利要求
一種電磁波反射方法，其特徵在於，該方法利用等離子體技術產生等離子體片，所述的等離子體片作為電磁波的反射面，實現電磁波反射。
2. 根據權利要求1所述的電磁波反射方法，其特徵在於，所述的等離子體片的密度通 過調整外界激勵電場的電壓進行調節，滿足針對不同頻率電磁波的反射要求。
3. 根據權利要求1所述的電磁波反射方法，其特徵在於，所述的等離子片的形狀可以 通過軸向磁場調節，以形成曲面或平面。
全文摘要
本發明涉及一種電磁波反射方法，其特徵在於，該方法沒有利用傳統的固體金屬面做反射電磁波面的局限，而是利用等離子體技術產生等離子體片，所述的等離子體片作為電磁波的反射面，實現電磁波反射。所述的等離子體密度通過調整外界激勵電源的電壓進行調節，滿足針對不同頻率電磁波的反射要求；所述的等離子片形狀通過外界提供的軸向磁場調節，形成曲面或平面的等離子體片；利用非固體形態的等離子體面做反射面的方法可以靈活改變反射面的形狀以及可以選擇性地反射不同頻率的電磁波。
文檔編號H01Q19/10GK101714699SQ20091023846
公開日2010年5月26日 申請日期2009年11月20日 優先權日2009年11月20日
發明者丁亮, 侯印鳴, 吳逢時, 孫海龍, 孫簡, 徐躍民, 朱翔, 程芝峰, 端木剛, 鑑福升 申請人:中國科學院空間科學與應用研究中心