一種檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑檢具的製作方法
2023-05-10 19:31:56
一種檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑檢具的製作方法
【專利摘要】一種檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑檢具，涉及檢測【技術領域】。檢具一包括檢具上部圓弧面一、檢具上部圓弧面二、檢具端面一、檢具下部圓弧面一，檢具上部圓弧面一與檢具上部圓弧面二之間形成槽一，檢具上部圓弧面一、二作為迴轉半徑一的上、下極限值，之間形成通止規；檢具二包括檢具上部圓弧面三、檢具上部圓弧面四、檢具端面二、檢具下部圓弧面二，檢具上部圓弧面三與檢具上部圓弧面四之間形成槽二，檢具上部圓弧面三、四作為迴轉半徑二的上、下極限值，之間形成通止規；檢具下部圓弧面二與曲軸主軸頸外圓貼合，檢具端面二與曲軸平衡塊端面貼合。本實用新型可實現快速檢測低點迴轉半徑，結構及操作簡單，可有效提高檢測效率，減輕勞動強度。
【專利說明】-種檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑檢具
【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及汽車零部件製造【技術領域】，具體是一種檢測曲軸平衡塊傾斜面低 點迴轉半徑檢具。
【背景技術】
[0002] 曲軸作為發動機內高速旋轉的主要零部件，考慮到發動機缸體內部結構，為保證 曲軸在缸體內正常運轉，如圖8、圖9所示，曲軸10的平衡塊9相應地增加了兩個傾斜面， 以避免與缸體結構幹涉。在曲軸加工中，若平衡塊結構不能滿足要求，則存在很大的安全隱 患：①、曲軸平衡塊與缸體幹涉，造成發動機無法正常運轉；②、影響曲軸動平衡，造成發動 機軸瓦異常磨損、振動大。
[0003] 在曲軸實際加工過程中，除了保證平衡塊兩斜面的角度外，還需要保證兩斜面的 低點迴轉半徑一 6與迴轉半徑二7滿足技術要求，傳統的檢測方法為：在平臺上，支撐曲軸 主軸頸，根據平衡塊傾斜面迴轉半徑要求，用高度尺在曲軸上劃線，觀察劃線位置與實際加 工出來位置是否一致以判斷合格與否。這種檢測方法不足之處在於：
[0004] ①、曲軸工序加工完成後，需把曲軸轉運到平臺位置，將曲軸吊裝到平臺上，曲軸 檢測完成後再返回本工序，該過程費時費力，生產效率低。
[0005] ②、平臺檢驗需用可調V型塊支撐曲軸兩主軸頸，用帶表高度尺檢測兩端主軸頸 高度，調整V型塊確保曲軸水平，測量主軸頸中心線高度；根據主軸頸直徑及平衡塊斜面低 點要求，調整高度尺，劃出理論斜面低點位置並與實際加工位置對比，依次檢測所有平衡塊 斜面尺寸。如若該檢測結果不合格，工具機調整加工後，再重複檢查上述工作，檢測一件曲軸 用時約15分鐘，檢測效率低下，費時費力。
【發明內容】
[0006] 為克服現有技術的不足，本實用新型的發明目的在於提供一種檢測曲軸平衡塊傾 斜面低點迴轉半徑檢具，以實現在本工序快速檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑的目 的。
[0007] 為實現上述發明目的，本實用新型包括檢具一、檢具二，所述檢具一包括檢具上部 圓弧面一、檢具上部圓弧面二、檢具端面一與檢具下部圓弧面一，檢具上部圓弧面一與檢具 上部圓弧面二之間形成槽一，檢具上部圓弧面一與檢具上部圓弧面二作為曲軸平衡塊斜面 低點迴轉半徑一的上、下極限值，之間形成通止規；
[0008] 所述檢具二包括檢具上部圓弧面三、檢具上部圓弧面四、檢具端面二、檢具下部圓 弧面二，檢具上部圓弧面三與檢具上部圓弧面四之間形成槽二，檢具上部圓弧面三與檢具 上部圓弧面四作為曲軸平衡塊斜面低點迴轉半徑二的上、下極限值，之間形成通止規。
[0009] 所述檢具一與檢具二的檢具下部圓弧面一、檢具下部圓弧面二與軸主軸頸外圓貼 合，檢具端面一、檢具端面二與曲軸平衡塊端面貼合。
[0010] 本實用新型充分利用曲軸主軸頸外圓與曲軸平衡塊端面定位，槽的底部與頂部作 為平衡塊斜面低點迴轉半徑的上、下偏差值，形成通止規，檢測時迴轉半徑一與迴轉半徑二 只要在檢具槽內即為合格。
[0011] 本實用新型與傳統檢測方法相比，可實現在本工序快速檢測曲軸平衡塊傾斜面低 點迴轉半徑。結構及操作簡單，檢測一件曲軸僅需30秒，可有效提高檢測效率，減輕操作人 員勞動強度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012] 圖1是本實用新型檢具一的結構簡圖。
[0013] 圖2是圖1的剖視圖。
[0014] 圖3是本實用新型檢具一使用示意圖。
[0015] 圖4是圖3的左視圖。
[0016] 圖5是本實用新型檢具二的結構簡圖。
[0017] 圖6是圖7的剖視圖。
[0018] 圖7是本實用新型檢具二使用示意圖。
[0019] 圖8是本實用新型曲軸平衡塊示意圖。
[0020] 圖9是圖5的局部放大圖。
【具體實施方式】
[0021] 如圖1、圖2、圖3、圖4所示，本實用新型包括檢具一、檢具二，所述檢具一包括檢具 上部圓弧面一 1、檢具上部圓弧面二2、檢具端面一 3與檢具下部圓弧面一 5,檢具上部圓弧 面一 1與檢具上部圓弧面二2之間形成槽一 11，檢具上部圓弧面一 1與檢具上部圓弧面二 2作為曲軸平衡塊斜面低點迴轉半徑一 6的上、下極限值，之間形成通止規。使用時，檢具一 的檢具下部圓弧面一 5與軸主軸頸外圓4貼合，檢具端面一 3與曲軸平衡塊端面8貼合。
[0022] 如圖5、圖6、圖7所示，所述檢具二包括檢具上部圓弧面三13、檢具上部圓弧面四 14、檢具端面二16、檢具下部圓弧面二15,檢具上部圓弧面三13與檢具上部圓弧面四14之 間形成槽二12,檢具上部圓弧面三13與檢具上部圓弧面四14作為曲軸平衡塊斜面低點回 轉半徑二7的上、下極限值，之間形成通止規。使用時，檢具二的檢具下部圓弧面二15與軸 主軸頸外圓4貼合，檢具端面二16與曲軸平衡塊端面貼合。
[0023] 使用時，將檢具一的檢具下部圓弧面一 5與曲軸主軸頸外圓4貼合，檢具一的檢具 端面一 3與曲軸平衡塊端面8貼合，保持檢具一不動，觀察曲軸平衡塊斜面低點迴轉半徑一 6是否處於檢具上部圓弧面一 1與檢具上部圓弧面二2之間形成的槽一 11內，假如迴轉半 徑一 6處於槽一 11內內即為合格，否則為不合格。曲軸平衡塊斜面低點迴轉半徑二7的檢 測與迴轉半徑一 6的檢測一樣，將檢具二的檢具下部圓弧面二15與曲軸主軸頸外圓4貼 合，檢具二的檢具端面二16與曲軸平衡塊端面8貼合，保持檢具二不動，觀察曲軸平衡塊斜 面低點迴轉半徑二7是否處於檢具上部圓弧面三13與檢具上部圓弧面四14之間形成的槽 二12內，假如迴轉半徑二7處於槽二12內內即為合格，否則為不合格。
【權利要求】
1. 一種檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑檢具，其特徵在於：包括檢具一、檢具二， 所述檢具一包括檢具上部圓弧面一（1)、檢具上部圓弧面二（2)、檢具端面一（3)與檢具下 部圓弧面一（5)，檢具上部圓弧面一（1)與檢具上部圓弧面二（2)之間形成槽一（11)，檢具 上部圓弧面一（1)與檢具上部圓弧面二（2)作為曲軸平衡塊斜面低點迴轉半徑一（6)的上、 下極限值，之間形成通止規； 所述檢具二包括檢具上部圓弧面三（13)、檢具上部圓弧面四（14)、檢具端面二（16)、 檢具下部圓弧面二（15)，檢具上部圓弧面三（13)與檢具上部圓弧面四（14)之間形成槽二 (12)，檢具上部圓弧面三（13)與檢具上部圓弧面四（14)作為曲軸平衡塊斜面低點迴轉半 徑二（7)的上、下極限值，之間形成通止規。
2. 根據權利要求1所述的一種檢測曲軸平衡塊傾斜面低點迴轉半徑檢具，其特徵在 於：所述檢具一與檢具二的檢具下部圓弧面一（5)、檢具下部圓弧面二（15)與軸主軸頸外 圓（4)貼合，檢具端面一（3)、檢具端面二（16)與曲軸平衡塊端面（8)貼合。
【文檔編號】G01B5/08GK203869631SQ201420236262
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2014年5月9日 優先權日:2014年5月9日
【發明者】楊軍 申請人:襄陽福達東康曲軸有限公司