一種e型磁芯氣隙深度測量儀的製作方法

2023-09-12 06:45:35

專利名稱：一種e型磁芯氣隙深度測量儀的製作方法
技術領域：
本實用新型屬於電子產品生產技術領域，特別是涉及E型磁芯產品生產過 程中對研磨氣隙深度測量的量具。
背景技術：
E型磁芯作為電子產品的零部件，為滿足設計的要求，往往需要研磨氣隙。 E型磁芯有三個腳，兩邊的腳一般高，中間的腳比兩邊的腳略低一些，當將兩個 E型磁芯合起來形成閉路時，中腳相對處就會形成一條縫隙，稱之為氣隙。氣隙 的深淺是E型^茲芯生產中的重要控制點。傳統的測量氣隙深度的方法是用卡 尺分別量出邊腳的高度和中腳的高度，取其差值即為氣隙深度。這種測量方法 的不足是顯而易見的，它需要兩次測量，再取其差值，操作起來較麻煩，且容 易產生誤差。

實用新型內容
本實用新型針對上述現有技術存在的不足，提出了一種E型磁芯氣隙深度 測量儀，其設計合理，結構簡單，利用該測量儀測量E型磁芯氣隙深度，操作 簡便，讀數直觀，測量精度高。
本實用新型解決技術問題所採取的技術方案是 一種E型磁芯氣隙深度測 量儀，由百分表或千分表、測量平臺和基座組成，所述測量平臺固定在基座上， 所述測量平臺臺面平整，中部設有小孔，所述百分表或千分表固定在所述測量 平臺的一側，所述百分表或千分表的測量頭通過所述小孔伸至測量平臺另一側 並能自由伸縮。
選用百分表或者千分表，主要依據對測量精度的要求。
所述測量平臺可以水平設置，也可以垂直設置。所述測量平臺水平i殳置時， 所述的百分表或者千分表呈垂直狀態固定在所述測量平臺的下側，其測量頭向 上，通過所述測量平臺中間的小孔且高出測量平臺臺面；所述測量平臺垂直設 置時，所述的百分表或者千分表呈水平狀態固定在所述測量平臺的左側，其測 量頭向右，通過所述測量平臺中間的小孔且超出測量平臺臺面。
為確保測量的精度，本實用新型中所述的測量平臺的臺面必須平整，要求 其平面度為0.02mm。實際應用中，操作者取坐姿或站姿，正一見量具；測量前， 先用一未研磨過氣隙的磁芯，將百分表或千分表的測量頭推進，使其與測量平臺平齊，將百分表或千分表歸零。測量時，將E型磁芯的中腳對準測量頭，兩 邊腳壓緊在測量平臺的檯面上，然後根據百分表或千分表示值即可讀出被測E 型》茲芯氣隙的深度。
本實用新型的運用，大大方便了對E型磁芯氣隙深度的測量，而且測量精 度比較高，可達到有效控制E型磁芯氣隙深度的目的，從而解決了因測量誤差 而導致的磁芯不良問題。


圖1為本實用新型一種實施方式結構示意圖。 圖2為本實用新型另一種實施方式結構示意'圖。
具體實施方式
實施例1
如圖l所示，它由百分表l、測量平臺2和基座3組成，基座3則由底座和 支撐柱構成。測量平臺2固定在基座3的支撐柱上，測量平臺2臺面平整、水 平，中部設有小孔4，百分表1垂直固定在測量平臺2的下側，百分表1的測量 頭5通過小孔4伸至測量平臺2的上側並能自由伸縮。
實施例2
如圖2所示，它由百分表l、測量平臺2和基座3組成。測量平臺2固定在 基座3上，測量平臺2臺面平整、垂直，中部設有小孔4，百分表l水平固定在 測量平臺2的左側，百分表1的測量頭5通過小孔4伸至測量平臺2的右側並 能自由伸縮。
權利要求1.一種E型磁芯氣隙深度測量儀，其特徵在於由百分表或千分表、測量平臺和基座組成，所述測量平臺固定在基座上，所述測量平臺表面平整，中部設有小孔，所述百分表或千分表固定在所述測量平臺的一側，所述百分表或千分表的測量頭通過所述小孔伸至測量平臺另一側並能自由伸縮。
專利摘要本實用新型涉及一種E型磁芯氣隙深度測量儀。E型磁芯氣隙深度傳統測量的方法是用卡尺分別量出邊腳高度和中腳高度，然後取其差值。操作麻煩，且容易產生誤差。本實用新型由百分表或千分表、測量平臺和基座組成，測量平臺固定在基座上，測量平臺臺面平整，中部設有小孔，百分表或千分表固定在測量平臺的一側，其測量頭通過小孔伸至測量平臺另一側並能自由伸縮。它大大方便了對E型磁芯氣隙深度的測量，而且測量精度較高。
文檔編號G01B5/18GK201429400SQ20092018990
公開日2010年3月24日 申請日期2009年7月28日 優先權日2009年7月28日
發明者周繼軍, 張建興, 杜立明 申請人:浙江通達磁業有限公司