一種led光性能測試試驗臺的製作方法

2023-09-18 10:21:20 1

一種led光性能測試試驗臺的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種LED光性能測試試驗臺，包括控制面板、顯示裝置、用以收容LED燈具的第一密閉倉、用以收容LED燈板的第二密閉倉、光譜儀，所述側板的內表面上設有用以固定LED燈板的燈板工裝、第一密閉倉內部設有用以固定LED燈具的燈具工裝；所述第一密封倉及第二密封倉的內表面為黑色塗層。本發明結構簡單，外形美觀，實施方便。
【專利說明】一種LED光性能測試試驗臺
【技術領域】
[0001]發明涉及一種LED光性能測試試驗臺。
【背景技術】
[0002]隨著國民經濟的快速發展，LED具有環保、節能、壽命長等優點，已經被廣泛應用在各個領域。
[0003]目前，成品的LED沒有專門的設備儀器去檢測LED的光性能參數，不能全面檢測LED產品的優劣。
[0004]故，需要一種新的技術方案以解決上述問題。

【發明內容】

[0005]本發明的目的是針對現有檢測技術存在的不足，提供一種LED光性能測試試驗臺，該試驗臺操作簡單，易於維護。
[0006]為實現上述發明目的，本發明LED光性能測試試驗臺可採用如下技術方案:
[0007]一種LED光性能測試試驗臺，包括控制面板、位於控制面板上的顯示裝置、用以收容LED燈具的第一密閉倉、用以收容LED燈板的第二密閉倉、裝於第一密閉倉和第二密閉倉內部的光譜儀，所述光譜儀與顯示裝置連接；所述第二密封倉上設有蓋板、第一密封倉上設有側板；蓋板及側板打開時第一密封倉的開口方向與第二密封倉的開口方向是垂直的；所述側板的內表面上設有用以固定LED燈板的燈板工裝、第一密閉倉內部設有用以固定LED燈具的燈具工裝；所述第一密封倉及第二密封倉的內表面為黑色塗層。
[0008]與【背景技術】相比，本發明LED光性能測試試驗臺為LED測試提供一個密閉、無外界光源及反光面的環境，LED成品放在測試的工裝上，通過面板的簡單控制操作，在面板上顯示出LED的光性能參數。可通過旋鈕調節，測試不同電流大小下的LED光性能參數，操作簡單，易於實現。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1是本發明LED光性能測試試驗臺的立體圖。
[0010]圖2是本發明LED光性能測試試驗臺的主視圖。
[0011]圖3為圖2中沿B-B截面的剖視圖。
【具體實施方式】
[0012]下面結合附圖和【具體實施方式】，進一步闡明本發明，應理解這些實施方式僅用於說明本發明而不用於限制本發明的範圍，在閱讀了本發明之後，本領域技術人員對本發明的各種等價形式的修改均落於本申請所附權利要求所限定的範圍。
[0013]請參閱圖1至圖3所示，本發明公開一種LED光性能測試試驗臺，包括控制面板1、位於控制面板上I的顯示裝置2、用以收容LED燈具(未圖示)的第一密閉倉3、用以收容LED燈板(未圖示)的第二密閉倉4、裝於第一密閉倉3和第二密閉倉4內部的光譜儀6，所述光譜儀6與顯示裝置2連接；所述第二密封倉4上設有蓋板7、第一密封倉3上設有側板8 ;蓋板7及側板8打開時第一密封倉4的開口方向與第二密封倉5的開口方向是垂直的，從而便於LED燈具及LED燈板各自的安裝；所述側板8的內表面上設有用以固定LED燈板的燈板工裝9、第一密閉倉3內部設有用以固定LED燈具的燈具工裝10。所述第一密封倉3及第二密封倉4的內表面為黑色塗層，以能夠使得到的LED燈具的發光效果更加純正。所述第一密封倉3與第二密封倉4並排設置在一起，所述第一密封倉3中的光譜儀6設置於第一密封倉3底部從而能夠正對著LED燈具。第二密封倉4中的光譜儀6設置於第二密封倉4面對側板8的內表面上。使用時，通過控制面板I控制對LED燈具的亮暗轉換，通過顯示裝置2連接的光譜儀6來體現LED燈具的光性能參數。本發明LED光性能測試試驗臺為LED測試提供一個密閉、無外界光源及反光面的環境，LED成品放在測試的工裝上，通過面板的簡單控制操作，在面板上顯示出LED的光性能參數。可通過旋鈕調節，測試不同電流大小下的LED光性能參數，操作簡單，易於實現。本發明適用於所有LED半成品或成品的測試。
【權利要求】
1.一種LED光性能測試試驗臺，其特徵在於:包括控制面板(I)、位於控制面板上的顯示裝置(2)、用以收容LED燈具的第一密閉倉(3)、用以收容LED燈板的第二密閉倉(4)、裝於第一密閉倉(3)和第二密閉倉(4)內部的光譜儀(6)，所述光譜儀與顯示裝置連接；所述第二密封倉上設有蓋板(7)、第一密封倉上設有側板(8);蓋板及側板打開時第一密封倉的開口方向與第二密封倉的開口方向是垂直的；所述側板(8)的內表面上設有用以固定LED燈板的燈板工裝(9)、第一密閉倉(3)內部設有用以固定LED燈具的燈具工裝(10);所述第一密封倉及第二密封倉的內表面為黑色塗層。
2.如權利要求2所述的LED光性能測試試驗臺，其特徵在於:所述第一密封倉與第二密封倉並排設置在一起，所述第一密封倉中的光譜儀設置於第一密封倉底部，第二密封倉中的光譜儀設置於第二密封倉面對側板的內表面上。
【文檔編號】G01M11/02GK103674494SQ201310680861
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月12日 優先權日:2013年12月12日
【發明者】李新立, 王建平, 王甲凱 申請人:江蘇德厚機電有限公司