滑套式刻線深度量規的製作方法

2023-09-16 20:12:30

專利名稱：滑套式刻線深度量規的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種刻線深度量規，具體地說是一種用於測量工件內孔深度的滑 套式刻線深度量規。
背景技術：
目前對於工件孔的深度的測量，普遍採用的形式之一的是用量棒形式的量規進行 檢測，見圖1。對於圖1中待測孔6的檢測，目前採用圖中的刻線深度量規檢測。檢測時，將 量棒1插入孔底，通過人眼觀察待測孔6端面相對於量棒1上的兩條深度上界限刻線3和 下界限刻線4的位置來判斷深度是否合格的。這種量規存在很多不足對於內孔，一般情況 下，它基本上都有孔口倒角或者圓角。端面的孔口尺寸都要大於內孔，其孔口邊緣就會遠離 量棒1的刻線。這樣，人眼觀察待測孔6端面相對於量棒1上的上界限刻線3和下界限刻 線4的位置時，就不便於比對。對於大型零件上的孔(特別是斜孔)，操作者有時就必須歪 著頭來瞄準觀察，既不準確，也不方便。

實用新型內容本實用新型所要解決的是孔口邊緣與量規的刻線對比不方便的問題，提供一種滑 套式刻線深度量規。本實用新型為解決上述技術問題的不足，所採用的技術方案是滑套式刻線深度 量規，包括帶有刻線的量棒，在量棒上還設有滑套。所述的滑套，其上下兩個端面為平面。所述的量棒上刻有上界限刻線和下界限刻線。所述的量棒頂端設有手柄。本實用新型的有益效果是通過增加一個標準厚度的過渡滑套，將檢測位置由孔 口轉換為滑套的上端面，滑套的上孔口邊緣專門做成無倒角或者圓角的形式，這樣，滑套上 孔口與量棒緊密貼合。人眼觀察過渡滑套上端面相對於量棒上的兩條測量刻線位置就既準 確，又方便。不受被測內孔的孔口倒角或圓角的影響。尤其是對於深孔和空間受限制不便 觀察的孔，可以通過加長滑套的引出，很方便地進行檢測。

圖1是原有刻線深度量規的結構示意圖。圖2是本實用新型的結構示意圖。圖中標記1、量棒，2、滑套，3、上界限刻線，4、下界限刻線，5、手柄，6、待測孔。
具體實施方式
如圖2所示，滑套式刻線深度量規，包括帶有刻線的量棒1，在量棒1上還設有滑套2。滑套2的上下兩個端面為平面，滑套2的上孔口邊緣與量棒貼合。將滑套2厚度設定為一個標準值，量棒1的上界限刻線3和下界限刻線4的設置位置分別調整為孔深的上下限 與滑套2厚度的和。檢測時，將量棒1插入待測孔6孔底後，再將標準厚度的滑套2的下端 面貼緊孔口端面，人眼觀察滑套2的上端面相對於量棒1上的上界限刻線3和下界限刻線 4的位置來判斷待測孔6的深度是否合格的。在所述的量棒頂端設置手柄，方便手持測量。對於深孔和空間受限制不便觀察的孔，可以加大滑套2的厚度，將觀測面引出，以 便於觀測。若將量棒上的刻線設置成標準長度刻線，也可用於測量孔的深度值。
權利要求滑套式刻線深度量規，包括帶有刻線的量棒(1)，其特徵在於在量棒(1)上還設有滑套(2)。
2.根據權利要求1所述的滑套式刻線深度量規，其特徵在於所述的滑套(2)，其上下 兩個端面為平面。
3.根據權利要求1所述的滑套式刻線深度量規，其特徵在於所述的量棒(1)上刻有 上界限刻線⑶和下界限刻線(4)。
4.根據權利要求1所述的滑套式刻線深度量規，其特徵在於所述的量棒(1)頂端設 有手柄(5)。
專利摘要滑套式刻線深度量規，用於測量工件內孔深度。包括帶有刻線的量棒，在量棒上還設有滑套。所述的滑套，其上下兩個端面為平面。所述的量棒上刻有上界限刻線和下界限刻線。所述的量棒頂端設有手柄。通過增加一個標準厚度的過渡滑套，將檢測位置由孔口轉換為滑套的上端面，滑套上孔口與量棒緊密貼合。人眼觀察過渡滑套上端面相對於量棒上的兩條測量刻線位置就既準確，又方便。不受被測內孔的孔口倒角或圓角的影響。
文檔編號G01B5/18GK201569399SQ20092029838
公開日2010年9月1日 申請日期2009年12月29日 優先權日2009年12月29日
發明者張陽 申請人:力邦測控設備(洛陽)有限公司