一種x射線透射檢查方法

2023-09-10 09:39:40 1

專利名稱：一種x射線透射檢查方法
技術領域：
本發明涉及一種X射線透射檢查方法，屬於物品安全檢查技術領域。
背景技術：
現有的X射線透射檢查方法大多數是利用分布在檢查通道內的多個X射線發生器對待檢物品進行不同方向、不同穿透的掃描，以獲得待檢物品的具體圖像信息。這種X射線透射檢查方法雖然能獲得待檢物品的具體信息，但其缺點是:多個X射線發生器獲得的圖像數量多，數據處理繁雜，且需要X射線發生器，增加了檢查成本。

發明內容
本發明為了克服現有技術存在的不足，提供一種X射線透射檢查方法。本發明可以通過採取以下技術方案予以實現:
一種X射線透射檢查方法，包括以下步驟:
(1)檢測裝置啟動，檢查並清理檢查通道內的異物；
(2)將待檢物品放在檢測裝置的傳送帶上，開啟X射線發生器對進入檢查通道內的待檢物品進行掃描，並將所得圖像實時傳送到檢測裝置的主機上；
(3)檢測裝置的主機對上述圖像進行解析運算和圖像處理後反映出待檢物品的具體圖像息;
(4)檢測裝置的主機對待檢物品的具體圖像信息進行辨別、存儲，並對待檢物品作出處理。在上述基礎上，本發明在步驟(I)中，檢測裝置檢查到檢查通道內的異物後由檢測裝置的傳送帶將異物帶到檢查通道出口後清理掉。本發明的步驟(3)所述的圖像處理包括彩色/黑白顯示、圖像反色、邊緣增強、圖像局部增強、高穿透力加強、低穿透力加強、增亮/減暗、圖像放大和灰度掃描的一種或多種。與現有技術相比較，本發明的有益效果是:本發明利用X射線發生器對進入檢查通道的待檢物品進行掃描，獲得待檢物品的圖像後再進行不同程度的圖像處理，反映出待檢物品的具體圖像信息以便進行物品安全識別，整個過程簡單快捷，辨識率高，且無須使用多個X射線發生器，節約了檢查成本。


圖1是本發明的X射線透射檢查方法的流程框圖。
具體實施例方式以下結合附圖對本發明的最佳實施例作詳細描述。如圖1所示，本發明的X射線透射檢查方法，包括以下步驟: (1)檢測裝置啟動，檢查並清理檢查通道內的異物；
(2)將待檢物品放在檢測裝置的傳送帶上，開啟X射線發生器對進入檢查通道內的待檢物品進行掃描，並將所得圖像實時傳送到檢測裝置的主機上；
(3)檢測裝置的主機對上述圖像進行解析運算和圖像處理後反映出待檢物品的具體圖像息;
(4)檢測裝置的主機對待檢物品的具體圖像信息進行辨別、存儲，並對待檢物品作出處理。 本發明在步驟(I)中，檢測裝置檢查到檢查通道內的異物後由檢測裝置的傳送帶將異物帶到檢查通道出口後清理掉。本發明的步驟(3)所述的圖像處理包括彩色/黑白顯示、圖像反色、邊緣增強、圖像局部增強、高穿透力加強、低穿透力加強、增亮/減暗、圖像放大和灰度掃描的一種或多種。以下具體介紹上述的幾種圖像處理方式。1、彩色/黑白顯示:彩色圖像為4色圖像，隨著X射線吸收率的增加，彩色由橙色向藍色轉變，難以穿透的物體以黑色表示。黑白圖像有256級灰度，由純黑到純白的灰度級顯示。越白(灰度越大)的圖像區域表示該物體區域對X射線的吸收率較低，即更多的射線穿透。吸收率不同的物體對應於不同的灰度等級。根據需要，檢測裝置主機可進行彩色圖像和灰度圖像的顯示轉換，以獲得待檢物品的具體圖像信息。2、圖像反色:在圖像顯示中，一般對X光高吸收率的物體顯示為深黑色，低吸收率物體顯示為亮白色。在反白顯示中，則正好相反。根據需要，檢測裝置的主機可進行正負片的顯示切換這樣，較小或較細的高密度物體(如金屬絲)將變得更加清晰。3、邊緣增強:當需要對物體邊緣進行進一步判讀時，檢測裝置對圖像中的物體邊緣會突出顯示，更利於操作員區分不同的物體。4、圖像局部增強:對圖像中較暗的區域進行增亮處理，使隱藏在厚物體後面的物體清晰顯示，而正常的圖像區域不受影響。檢測裝置控制圖像自動在正常顯示和局部增強顯示之間切換。5、高穿透力加強:穿透力強的區域亮度較亮，對比度較小，將較亮的區域以一個合適的對比度顯示，清晰地顯示高穿透力區域，但同時正常區域受到影響，對比度降低。6、低穿透力加強:穿透力低的區域亮度較暗，不易觀察，將該區域增亮提高該區域的對比度，清晰地顯示該區域圖像，但同時正常區域受到影響，對比度降低。7、增亮/減暗:使屏幕亮度增加/減暗，亮度增加時原來暗的區域清晰顯示，減暗時原來亮的區域變暗，層次感增加。8、無機物突出顯示:該處理的效果時恢復圖像的本來面目，消除所有加載在該圖像上的處理效果。9、圖像放大:對整個圖像區域無級連續放大，同時在右下角有一個增幅圖像的縮圖，放大顯示的時候，將有個紅色的方框將當前全屏顯示的圖像區域標示出來。使用方向鍵可以移動顯示圖像放大區域。10、灰度掃描:圖像會自動變換灰度映射，將暗區逐漸變亮，同時亮區逐漸變暗。便於操作員尋找一個最適合當前圖像的對比度和亮度效果。惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明權利要求及發明說明書所記載的內容所作出簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明權利要求所涵蓋範圍之內。此外，摘要部分和標題僅是用來輔助專利文件搜尋之用，並非用來限制本發明之權利範圍。
權利要求
1.一種X射線透射檢查方法，其特徵在於包括以下步驟: (1)檢測裝置啟動，檢查並清理檢查通道內的異物； (2)將待檢物品放在檢測裝置的傳送帶上，開啟X射線發生器對進入檢查通道內的待檢物品進行掃描，並將所得圖像實時傳送到檢測裝置的主機上； (3)檢測裝置的主機對上述圖像進行解析運算和圖像處理後反映出待檢物品的具體圖像息; (4)檢測裝置的主機對待檢物品的具體圖像信息進行辨別、存儲，並對待檢物品作出處理。
2.根據權利要求1所述的X射線透射檢查方法，其特徵在於在步驟(I)中，檢測裝置檢查到檢查通道內的異物後由檢測裝置的傳送帶將異物帶到檢查通道出口後清理掉。
3.根據權利要求1或2所述的X射線透射檢查方法，其特徵在於步驟(3)所述的圖像處理包括彩色/黑白顯示、圖像反色、邊緣增強、圖像局部增強、高穿透力加強、低穿透力加強、增亮/減暗、圖像放大和灰度掃描的一種或多種。
全文摘要
本發明公開了一種X射線透射檢查方法，包括以下步驟(1)檢測裝置啟動，檢查並清理檢查通道內的異物；(2)將待檢物品放在檢測裝置的傳送帶上，開啟X射線發生器對進入檢查通道內的待檢物品進行掃描，並將所得圖像實時傳送到檢測裝置的主機上；(3)檢測裝置的主機對上述圖像進行解析運算和圖像處理後反映出待檢物品的具體圖像信息；(4)檢測裝置的主機對待檢物品的具體圖像信息進行辨別、存儲，並對待檢物品作出處理。本發明利用X射線發生器對進入檢查通道的待檢物品進行掃描，獲得待檢物品的圖像後再進行不同程度的圖像處理，反映出待檢物品的具體圖像信息以便進行物品安全識別，整個過程簡單快捷，辨識率高，且節約了檢查成本。
文檔編號G01V5/00GK103176218SQ20111044003
公開日2013年6月26日 申請日期2011年12月26日 優先權日2011年12月26日
發明者孟豪 申請人:廣東守門神電子科技有限公司