雷射測距機綜合性能檢測設備的製作方法

2023-09-21 03:25:35 1

專利名稱：雷射測距機綜合性能檢測設備的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種綜合性能檢測設備，具體涉及一種雷射測距機綜合性能檢測設備。
背景技術：
雷射測距機，是利用雷射對目標的距離進行準確測定的儀器。雷射測距機在工作時向目標射出一束很細的雷射，由光電元件接收目標反射的雷射束，計時器測定雷射束從發射到接收的時間，計算出從觀測者到目標的距離。雷射測距機重量輕、體積小、操作簡單速度快而準確，其誤差僅為其它光學測距儀的五分之一到數百分之一。雷射測距機的綜合性能包括測距精度、測距能力、測距邏輯和單脈衝能量等，傳統的雷射測距機的綜合性能檢測必須到室外對目標靶進行檢測，並且受到天氣條件的限制，使得技術普查和日常維護受到很大的制約。

實用新型內容發明目的為了克服現有技術中存在的不足，本實用新型提供一種便於對不同型號的雷射測距機的綜合性能進行數位化檢測，並且可以大大提高檢測效率和測試精度的雷射測距機綜合性能檢測設備。技術方案為實現上述目的，本實用新型的雷射測距機綜合性能檢測設備，包括主控裝置、發射接收裝置、被測雷射測距機、三維調節裝置，所述主控裝置與發射接收裝置連接，發射接收裝置與被測雷射測距機連接，三維調節裝置與發射接收裝置連接。所述三維調節裝置包括用於採集數據的內設標靶和用於記錄、處理數據的微處理器，所述微處理器與內設標靶連接。有益效果本實用新型的雷射測距機綜合性能檢測設備，能對不同型號的雷射測距機完成測距精度、測距能力、測距邏輯、單脈衝能量等的數位化檢測，大大提高檢測效率和測試精度。

圖1為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型作更進一步的說明。如圖1所示，本實用新型的雷射測距機綜合性能檢測設備，包括主控裝置1、發射接收裝置2、被測雷射測距機3和三維調節裝置4，主控裝置I與發射接收裝置2連接，發射接收裝置2與被測雷射測距機3連接，三維調節裝置4與發射接收裝置2連接。本實施例中，三維調節裝置4包括用於採集數據的內設標靶和用於記錄、處理數據的微處理器，微處理器與內設標靶連接。內設標靶構成三維調節裝置4內的控制點，微處理器對處理採樣的數據進行評測、平差、校對。發射接收裝置2的數據通過這個三維調節裝置4直接對數據進行採樣評估，平差，調節，不需要外設標靶等，再將數據反饋到主控裝置I內。本實用新型的雷射測距機綜合性能檢測設備在使用時，打開主控裝置1，通過發射接受裝置2獲取的數據(測距精度、測距能力、測距邏輯、單脈衝能量)，轉至三維調節裝置4進行評測、評差、調節，並對被測雷射測距機3進行調控，這樣使得一則檢修效率大幅度提高，二則通過三維調節裝置4和主控裝置I的調節後，檢測精度也會大大提高。本本實用新型的雷射測距機綜合性能檢測設備，能對不同型號的雷射測距機完成測距精度、測距能力、測距邏輯、單脈衝能量等的數位化檢測，大大提高檢測效率和測試精度。以上所述僅是本實用新型的優選實施方式，應當指出對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本實用新型的保護範圍。
權利要求1.一種雷射測距機綜合性能檢測設備，其特徵在於包括主控裝置(I)、發射接收裝置(2)、被測雷射測距機(3)、三維調節裝置(4)，所述主控裝置⑴與發射接收裝置(2)連接， 發射接收裝置(2)與被測雷射測距機(3)連接，三維調節裝置(4)與發射接收裝置(2)連接。
2.根據權利要求1所述的雷射測距機綜合性能檢測設備，其特徵在於所述三維調節裝置(4)包括用於採集數據的內設標靶和用於記錄、處理數據的微處理器，所述微處理器與內設標靶連接。
專利摘要本實用新型公開了一種雷射測距機綜合性能檢測設備，包括主控裝置、發射接收裝置、被測雷射測距機和三維調節裝置，所述主控裝置、被測雷射測距機連接和三維調節裝置均與發射接收裝置連接。本實用新型的雷射測距機綜合性能檢測設備，能對不同型號的雷射測距機完成測距精度、測距能力、測距邏輯、單脈衝能量等的數位化檢測，大大提高檢測效率和測試精度。
文檔編號G01S11/12GK202854333SQ20122054172
公開日2013年4月3日 申請日期2012年10月22日 優先權日2012年10月22日
發明者許淼, 包騰飛, 宋鵬, 黃文彬 申請人:河海大學