一種電壓模式的thz單元測試電路的製作方法

2023-10-06 15:33:14

一種電壓模式的thz單元測試電路的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種電壓模式的THZ單元測試電路，屬於THZ單元測試電路【技術領域】，包括：第一級放大電路和後級的電壓跟隨電路，以及第二級運放電路。通過該電路將數據放大之後，便於測試。第二級起隔離作用，防止第一級和第二級調節電壓時的相互幹擾。
【專利說明】—種電壓模式的THZ單元測試電路

【技術領域】
[0001]本發明主要用於THZ單元測試電路，能夠將THZ單元電壓放大，便於提取放大。

【背景技術】
[0002]在很多場合人們往往需要了解THZ源輻射強弱，以及便於調節THZ功率源的大小。這種電路基於熱釋電的原理將THZ光源轉換成便於測量的皮安級的電流經過多級運放轉換成便於測量的電壓，原理圖如圖1所示。


【發明內容】

[0003]本發明的目的在於提供一種電壓模式的THZ單元測試電路，以解決上述問題。
[0004]為實現本發明目的，採用的技術方案為:一種電壓模式的THZ單元測試電路，包括:第一級放大電路和後級的電壓跟隨電路，以及第二級運放電路。
[0005]進一步地，在第一級放大電路中加參考電壓。
[0006]進一步地，在第二級運放電路前設置數字濾波器。
[0007]本發明的有益效果是，通過該電路將數據放大之後，便於測試。第二級起隔離作用，防止第一級和第二級調節電壓時的相互幹擾。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是現有技術中的原理圖；
圖2是本發明提供的電壓模式的THZ單元測試電路的原理圖。

【具體實施方式】
[0009]下面通過具體的實施例子並結合附圖對本發明做進一步的詳細描述。
[0010]圖1、圖2示出了本發明提供的電壓模式的THZ單元測試電路，包括:第一級放大電路和後級的電壓跟隨電路，以及第二級運放電路。
[0011]可優選在第一級放大電路中加參考電壓。在第二級運放電路前設置數字濾波器。
[0012]OUTA為第一級放大電路，0UTA-0UTAI為電壓跟隨電路，OUTA1-OUTB為第二級運放電路。所有的放大電路可以根據晶片說明選擇是否加參考電壓。第二級起隔離作用，防止第一級和第二級調節電壓時的相互幹擾。
[0013]晶片選擇後，選擇電路的電容電阻時要根據f=l/(RC)並串聯構造通頻帶。防止50HZ的幹擾時可以在第二級級加上數字濾波器。
[0014]經過THZ標準源校正後能夠準確的測定THZ源的大小。
[0015]以上所述僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種電壓模式的THZ單元測試電路，其特徵在於，包括:第一級放大電路和後級的電壓跟隨電路，以及第二級運放電路。
2.根據權利要求1所述的電壓模式的THZ單元測試電路，其特徵在於，在第一級放大電路中加參考電壓。
3.根據權利要求1所述的電壓模式的THZ單元測試電路，其特徵在於，在第二級運放電路前設置數字濾波器。
【文檔編號】G01J1/44GK104296865SQ201410482068
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年9月19日 優先權日:2014年9月19日
【發明者】黎威志, 李寧亮, 楊光金, 樊霖 申請人:電子科技大學