一種新型音叉晶體的動態測試電路的製作方法

2023-10-04 04:20:04 2

一種新型音叉晶體的動態測試電路的製作方法
【專利摘要】本發明涉及到測試電路領域，是一種新型音叉晶體的動態測試電路。其特徵是分壓調節電路A、分壓調節電路B分壓調節電路C和分壓調節電路D分別與選通網絡一端連接，選通網絡的另一端與加法電路連接，加法電路的另一端通過與信號輸入端與自動增益控制反相控制電路連接，加法電路的另一端通過小信號整流電路與自動增益控制反相控制電路和同相比例運算放大電路的連接線相連，測試音叉晶體的另一端與自動增益控制反相控制電路連接。由於採用了本技術方案，在石英音叉晶體的振蕩迴路中，增加四個分壓調節電路，在選通網絡的控制下，使發振迴路的振幅控制電壓發生變化，使加在石英音叉晶體兩端的激勵電壓改變，從而實現對石英音叉晶體的動態測量。
【專利說明】—種新型音叉晶體的動態測試電路【技術領域】
[0001]本發明涉及到測試電路領域，是一種新型音叉晶體的動態測試電路。具體是石英音叉晶體在分析其穩定度時使用激勵電壓動態變化檢測其頻率、阻抗等參數的一種測試方法。
【背景技術】
[0002]在石英晶體生產領域，需要對成品的電氣性能進行測試，現有的一般性測試都是在電壓處於穩態時進行的測試，由於石英音叉晶體應用在不同領域，在不同的發振電路中發振激勵電壓是各不相同的，導致有些晶體由於穩定度性能達不到要求，頻率會發生很大變化，與出廠時的標稱頻率發生了差異。為了避免這種差錯，需要對晶體進行動態測試。

【發明內容】

[0003]本發明的目的是要提供一種用於音叉晶體的動態測試電路。
[0004]本發明的技術方案是:一種新型音叉晶體的動態測試電路，其特徵是分壓調節電路A、分壓調節電路B分壓調節電路C和分壓調節電路D分別與選通網絡一端連接，選通網絡的另一端與加法電路連接，加法電路的另一端通過與信號輸入端與自動增益控制反相控制電路連接，加法電路的另一端通過小信號整流電路與自動增益控制反相控制電路和同相比例運算放大電路的連接線相連，同相比例運算放大電路的另一端與測試音叉晶體的一端連接，測試音叉晶體的另一端與自動增益控制反相控制電路連接。
[0005]由於採用了上述技術方案，在石英音叉晶體的振蕩迴路中，增加四個分壓調節電路，選通網絡，加法電路，在選通網絡的控制下，使發振迴路的振幅控制電壓發生變化，使加在石英音叉晶體兩端的激勵電壓改變，從而實現對石英音叉晶體的動態測量。 【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1是本發明的結構示意圖。
[0007]在圖中:1、分壓調節電路A ;2、分壓調節電路B ;3、分壓調節電路C ;4、分壓調節電路D ;5、選通網絡；6、加法電路；7、小信號整流電路；8、同相比例運算放大電路；9、自動增益控制反相控制電路；10、測試音叉晶體；11、信號輸入端。
【具體實施方式】
[0008]下面結合實施例對本發明作進一步的說明。
[0009]在圖1中，分壓調節電路Al、分壓調節電路B2分壓調節電路C3和分壓調節電路D4分別與選通網絡5 —端連接，選通網絡5的另一端與加法電路6連接，加法電路6的另一端通過與信號輸入端11與自動增益控制反相控制電路9連接，加法電路6的另一端通過小信號整流電路7與自動增益控制反相控制電路9和同相比例運算放大電路8的連接線相連，同相比例運算放大電路8的另一端與測試音叉晶體10的一端連接，測試音叉晶體10的另一端與自動增益控制反相控制電路9連接。
[0010]實施例，測試音叉晶體10，在同相比例運算放大電路8，和反相比例運算放大電路9構成的主迴路作用下，開始振蕩，主迴路中振蕩產生的頻率由測試音叉晶體10決定。由於測試音叉晶體在振蕩時有特性阻抗，不同的晶體特性阻抗有差異，在迴路中表現為主迴路電流幅度不同，主迴路中的電流經過小信號整流電路7，把交變電流轉換為穩恆直流電壓，輸入到自動增益控制反相控制電路9的信號輸入端11端中，該反饋信號為電壓幅度控制負反饋，有了反饋信號電路的自動調節使不同晶體兩端激勵電壓保持穩定，改變反饋信號，晶體兩端激勵電壓會改變，在這個基本電路中，通過加法電路6，加入一個直流電壓信號，根據疊加原理，附加的電壓信號疊加在原有主迴路反饋信號上，使晶體兩端激勵電壓固定增大或減小。為了判別晶體的穩定性需要在不同的激勵電壓下測試，分壓調節電路A 1、分壓調節電路B 2、分壓調節電路C 3、分壓調節電路D 4分別為分壓電路，得到不同的電壓，在選通網絡5的控制下，這4個大小不同的電壓分時通過加法電路6，得到動態的輸入信號，輸入信號動態變化，被測音叉晶體的激勵功率也動態變化，這樣實現了對音叉晶體的動態測量。
【權利要求】
1.ー種新型音叉晶體的動態測試電路，其特徵是分壓調節電路A(I)、分壓調節電路B⑵分壓調節電路C(3)和分壓調節電路D(4)分別與選通網絡(5) —端連接，選通網絡(5)的另一端與加法電路(6)連接，加法電路(6)的另一端通過與信號輸入端(11)與自動增益控制反相控制電路(9)連接，加法電路(6)的另一端通過小信號整流電路(7)與自動增益控制反相控制電路(9)和同相比例運算 放大電路⑶的連接線相連，同相比例運算放大電路(8)的另一端與測試音叉晶體(10)的一端連接，測試音叉晶體(10)的另一端與自動增益控制反相控制電路(9)連接。
【文檔編號】G01R31/00GK103529326SQ201310504769
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年10月23日 優先權日:2013年10月23日
【發明者】王斌, 李向東, 劉坤 申請人:湖北泰晶電子科技股份有限公司