一種連續測量時雷射器的溫度控制裝置的製作方法

2023-10-10 14:41:59

本發明涉及一種連續測量時雷射器的溫度控制裝置，尤其涉及一種實時監測溫度的連續測量時雷射器的溫度控制裝置。

背景技術：

光頻域反射技術是一種基於麥可幹涉的測量技術，頻率線性掃描的相干光信號經過麥可遜光纖幹涉儀後分為參考光和信號光，因為光程的差異，參考光和回波信號光存在頻率差，經光電檢測器相干混頻後，可通過頻域分析來獲得被測光纖的傳遞特性，進而測得其性能和故障情況。

光頻域反射儀在連續工作時，雷射器會產生大量的熱量，而雷射器溫度過高，則會導致雷射器的損壞。傳統的光頻域反射儀在溫度控制一塊無法實現實時監控，從而導致雷射器的損壞。

技術實現要素：

為解決上述問題，本發明公開了一種連續測量時雷射器的溫度控制裝置。

為了達到以上目的，本發明提供如下技術方案：

一種連續測量時雷射器的溫度控制裝置，包括雷射器本體、半導體致冷器、PID控制器，所述半導體致冷器設置在所述雷射器本體內，所述雷射器本體內還設有溫度檢測電路和電源開關控制電路，所述溫度檢測電路通過放大電路與所述PID控制器的輸入端連接，所述溫度檢測電路包括至少一個熱敏電阻，所述PID控制器的輸出端通過溫度控制電路與所述半導體致冷器相連，所述溫度控制電路包括至少一個半導體三極體，所述半導體三極體的基極連接PID控制器的輸出端，所述半導體三極體的發射級連接半導體致冷器，所述PID控制器還與所述電源開關控制電路連接。

作為優選，所述熱敏電阻為負溫度係數的電阻。

作為優選，所述PID控制器還連接有接地電路。

作為優選，所述PID控制器還連接監聽器，所述監聽器連接電壓表。

作為優選，所述監聽器為兩個，兩個監聽器並聯設置。

本發明取得的有益效果為：

本發明通過溫度檢測電路實時監測雷射器的溫度，通過PID控制器來控制半導體致冷器加熱或製冷，使雷射器的溫度保持在一定範圍內。同時PID控制器還與雷射器的電源開關控制電路相連，當溫度過高時，可以及時切斷雷射器的電源，實現雷射器的過熱保護，防止雷射器損壞，延長雷射器的使用壽命。

附圖說明

圖1、本發明的結構示意圖。

附圖標記列表：

1-雷射器本體；2-半導體製冷器；3-溫度檢測電路；4-放大電路；5-PID控制器；6-溫度控制電路，7-電源開關控制電路；8-接地電路；9-監聽器；10-電壓表。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式，進一步闡明本發明，應理解下述具體實施方式僅用於說明本發明而不用於限制本發明的範圍。

一種連續測量時雷射器的溫度控制裝置，包括雷射器本體1、半導體致冷器2、PID控制器5，半導體致冷器2設置在雷射器本體1內，雷射器本體1內還設有溫度檢測電路3和電源開關控制電路7，溫度檢測電路3通過放大電路4與PID控制器5的輸入端連接，溫度檢測電路3包括至少一個熱敏電阻，PID控制器5的輸出端通過溫度控制電路6與半導體致冷器2相連，溫度控制電路6包括至少一個半導體三極體，半導體三極體的基極連接PID控制器5的輸出端，半導體三極體的發射級連接半導體致冷器2，PID控制器5還與電源開關控制電路7連接。

本實施例中的熱敏電阻為負溫度係數的電阻。PID控制器5還連接有接地電路8和監聽器9，監聽器9連接電壓表10。監聽器9為兩個，兩個監聽器9並聯設置。

本發明的工作過程為，通過溫度檢測電路3中的熱敏電阻，將檢測到的溫度信息通過放大電路4傳遞給PID控制器5，PID控制器5根據溫度信息來控制半導體致冷器2加熱或者製冷。當溫度檢測電路3檢測到雷射器的溫度高於安全值時，PID控制器5控制電源開關控制電路7切斷雷射器的電源，實現雷射器的過熱保護，防止雷射器損壞。

本發明方案所公開的技術手段不僅限於上述實施方式所公開的技術手段，還包括由以上技術特徵任意組合所組成的技術方案。應當指出，對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也視為本發明的保護範圍。