一種電子基板測試治具組的製作方法

2023-10-11 15:10:14 3

專利名稱：一種電子基板測試治具組的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及儀器類，特別涉及一種電子基板測試治具組。
眾所周知，電子基板為布設電子零件後，將各電子零件以適當的電路串聯或並聯，以達成某一特定的功效，電子基板上的電子電路，常會因搬運不當或其它原因導致短路或斷路，造成電子基板無法正常運作，另外，由於電子基板上的電子零件數量往往數十或數百個，在電子零件布設於電子基板上，偶而會導致電子零件發生故障，基板上各電路形成短路或斷路的情況，而喪失電子基板應有的功效，因此，電子基板在出廠前或裝配電子零件前，均須針對電子基板上的各電路以及各零件一一測試，由於電子基板上的電路複雜以及電子零件數量太多，因此，在電子零件的測試往往需要依賴測試治具組，配合測試主機來完成電子零件的測試工作，傳統的電子基板治具組是以一基座內部依據電子基板的各電路或電子零件的接點位置配設有探針凸露於基座頂端面，探針底端以線路連結測試主機，探針與基座之間需配設有伸縮結構，以便使得該探針具有一伸縮的能力，而能在探針與電子基板與電子零件的接觸過程中，以較適當的壓力牴觸於接點上，一一的設計其相對位置，因此，一種電子基板測試治具組造價往往要需數十萬元，甚至上百萬元，組此等高昂的造價，造成電子基板在測試工作中的浪費資金。
本實用新型的目的就是針對上述傳統的電子基板治具組的造價需數十萬，甚至上百萬元，這種高昂造價是不符合產業的經濟效益，針對這一缺欠，提供一種電子基板測試治具組。
本實用新型的技術構思依據本實用新型的目的，提供一種電子基板測試治具組，其結構是由一測試針盤、萬用針座、連接端子座所構成，其中，在測試針盤上設有許多依據電子基板接點所布設的探針，在萬用針座則以極小的密度布設有伸縮針，在連接端子座上設有許多連接端子，用來與測試主機連線；該治具組組裝後，測試主機得藉由連接端子、伸縮針及探針與電子基板上的各電路或各電子零件的接點連線，以偵測各電子零件的性能是否正常，此種電子基板測試治具組，要依據各種電子基板，選用適當而且造價低的測試針盤與測試主機間接連線，達到其測試的目的，用來改善傳統電子基板測試治具組造價高昂的缺欠。
結合

本實用新型的結構及實施例圖1為本實用新型的平面分解示意圖。
圖2為本實用新型的平面組合示意圖。
圖3為本實用新型的萬用針座的密度示意圖。
(10)為測試針座、(11)為探針、(20)為萬用針座、(21)為伸縮針、(22)為彈簧、(23)為套筒、(30)為連接端子座、(31)為連接端子、(32)為針筒、(40)為電子基板、(41)為接點。
如附圖1所示，本實用新型是由一測試針盤(10)、萬用針座(20)、連接端子座(30)所構成，其中，在測試針盤(10)上設有許多依據電子基板(40)中電子零件的接點(41)所布設的探針(11)，若電子基板(40)上的兩相鄰接點(41)過於靠近，探針(11)可呈一適當的傾斜度；萬用針座(20)則以極小的密度布設有伸縮針(21)，該伸縮針(21)利用彈簧(22)配合套筒(23)產生一可伸縮的彈力；連接端子座(30)上設有許多針筒(32)與連接端子(31)用來與測試主機連線。
結合附圖2及附圖3說明本實用新型的實施例如附圖2及附圖3所示，本實用新型將測試針盤(10)、萬用針座(20)及連接端子座(30)組裝完成後，該連接端子(31)藉由萬用針座(20)上的伸縮針(21)以及測試針盤(10)上的探針(11)與電子基板(40)上各電子零件的接點(41)連結，即可進行對電子基板(40)上的各電子零件以及電路進行測試程序，一旦待測的電子基板有所更換，只需更換適用的測試針盤(10)及連接端子座(30)，即可針對另外一組不同布局的電子基板(40)進行測試工作，操作上極為簡便；由於測試針盤(10)與連接端子座(30)內部的構造簡易，而且並不需極高的精密度，因此，不論在設計或製造的成本上，均相當低廉，而萬用針座(20)其內部的構造較複雜，而且需要較高精密度，所以造價較為高昂，但由於萬用針座，不論是何種規格的電子基板均可適用，所以面對不同規格或布局的電子基板，本實用新型不需要更換萬用針座(20)，只需依據電子基板的規格及其布局選用適合的測試針盤或連接端子座即可；萬用針座(20)上的伸縮針(21)的密度，應視探針(11)的粗細與待測點的密度，而設置成最高的密度。
本實用新型結構簡單、使用方便，把電子基板測試中成本較為高昂的結構，設計成制式化，對於各種電子基板均可適用，從而大大降低製造成本、提高經濟效益。
權利要求1.一種電子基板測試治具組，它是由測試針盤(10)、萬用針座(20)、連接端子座(30)所構成，其特徵在於在測試針盤(10)上設有許多依據電子基板(40)中電子零件的接點(41)所布設的探針(11)；在萬用針座(20)上則以極小的密度布設有伸縮針(21)，伸縮針(21)可利用彈簧(22)配合套筒(23)產生一可伸縮的彈力；在連接端子座(30)上依據探針的位置設有許多針筒(32)與連接端子(31)用來與測試主機連線。
2.按照權利要求1所述的一種電子基板測試治具組，其特徵在於所說的電子基板(40)上的相鄰接點(41)過於靠近時，探針(11)可呈一適當傾斜度。
3.按照權利要求1所述的一種電子基板測試治具組，其特徵在於所說的萬用針座上的伸縮針(21)的密度，應視探針(11)的粗細與待測點的密度，而設置成最高的密度。
專利摘要本實用新型是一種電子基板測試治具組,它是由測試針盤(10)、萬用針座(20)、連接端子座(30)所構成,其中,在測試針盤(10)上設有探針(11),在萬用針座(20)設有伸縮針(21),在連接端子座(30)設有許多針筒(32)與連接端子(31),該治具組組裝後,測試主機時,藉由連接端子(31)、伸縮針(21)及探針(11)與電子基板(40)上各電路或電子零件的接點連線,以偵測各電子零件是否正常以及電路是否有短路或斷路,此種治具組成本低、使用方便迅速。
文檔編號G01R31/02GK2371564SQ99207990
公開日2000年3月29日 申請日期1999年4月19日 優先權日1999年4月19日
發明者王仙萍 申請人:王仙萍