一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法及其自修複方法與流程
2023-09-23 09:39:30
本發明涉及一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法及其自修複方法。
背景技術：
電容式指紋傳感器相較於光學指紋傳感器，具有採圖效果優、乾濕手指識別好、防指紋殘留等優點，被廣泛應用於手機、指紋鎖、指紋門禁等領域。
電容式指紋傳感器的採集面板為一塊集成有成千上萬半導體器件的「平板」，手指貼在其上與其構成了電容的另一面，由於手指平面凸凹不平，凸點處和凹點處接觸平板的實際距離大小就不一樣，形成的電容值也就不一樣，設備根據這個原理將採集到的不同的數值匯總，就完成了指紋的採集。但是在目前工藝製備條件下，無法保證這成千上萬半導體器件「平板」的一致性，同時，在模組製備、生產、使用等過程中也會出現採集面部分損壞的情況，使得電容式指紋模塊出現壞線情況，這些壞線區域無法正常採集圖像，總是呈現出某一特定灰度的值。
技術實現要素：
本發明的目的在於提供一種自動標定並自動修復由於工藝不良或工藝約束條件造成的壞線，不需要手動標定壞線位置，算法量小、運行速度快、適用性高的電容式指紋採集系統壞線的標定方法及其自修複方法。
本發明的技術方案是，一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法，具體包括如下步驟：
1)計算採集到整個指紋圖像的平均灰度以及每一行的平均灰度；
2)如果整個指紋圖像的平均灰度大於閾值a或者小於閾值b，判定模塊的整體圖像效果達不到量產標準，判定為不良品，不需要進行後續的壞線檢測和修復步驟，否則進行步驟(3)；
3)如果圖像的行平均灰度大於閾值c或者小於閾值d，則該行的平均灰度不計入行塊的平均灰度，否則該行的平均灰度計入行塊的平均灰度；
4)計算由n行組成的行塊的平均灰度，即ki為第i行的平均灰度；
5)如果行平均灰度與行塊平均灰度差值的絕對值大於e，記錄該行所在行號i，即壞行，檢測完所有行後進行步驟(6)；
6)計算每一列的平均灰度；
7)如果圖像的列平均灰度大於閾值f，或者小於閾值g，則該列的平均灰度不計入列塊的平均灰度，否則該列的平均灰度計入列塊的平均灰度；
8)計算由m列組成的列塊的平均灰度，即kj為第j列的平均灰度；
9)如果列平均灰度與列塊平均灰度差值的絕對值大於h，記錄該列所在列號j，即壞列，檢測完所有列後結束。
在本發明一個較佳實施例中，所述電容式指紋採集系統包括半導體成像模塊和控制模塊。
在本發明一個較佳實施例中，所述半導體成像模塊包括採集傳感器和數據通信接口。
在本發明一個較佳實施例中，所述控制模塊包括相互電性連接的處理器單元、穩壓電路單元和數據通信接口。
在本發明一個較佳實施例中，所述半導體成像模塊和控制模塊通過數據通信接口連接通信。
在本發明一個較佳實施例中，所述閾值a-h在樣本量>5000測試得到。
一種電容式指紋採集系統壞線的自修複方法，具體包括如下步驟：
1)讀取檢測到的壞線位置；
2)在壞線相鄰位置(列：分別左右，行：分別上下)找到兩條非壞線，對灰度取平均之後填充到壞線處。
本發明所述為一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法及其自修複方法，本發明自動標定並自動修復由於工藝不良或工藝約束條件造成的壞線，不需要手動標定壞線位置，算法量小、運行速度快、適用性高。
附圖說明
圖1是本發明一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法及其自修複方法一較佳實施例中的標定方法的流程圖。
具體實施方式
下面對本發明的較佳實施例進行詳細闡述，以使本發明的優點和特徵能更易於被本領域技術人員理解，從而對本發明的保護範圍做出更為清楚明確的界定。
本發明所述為一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法，如圖1所示，具體包括如下步驟：
1)計算採集到整個指紋圖像的平均灰度以及每一行的平均灰度；
2)如果整個指紋圖像的平均灰度大於閾值a或者小於閾值b，判定模塊的整體圖像效果達不到量產標準，判定為不良品，不需要進行後續的壞線檢測和修復步驟，否則進行步驟(3)；
3)如果圖像的行平均灰度大於閾值c或者小於閾值d，則該行的平均灰度不計入行塊的平均灰度，否則該行的平均灰度計入行塊的平均灰度；
4)計算由n行組成的行塊的平均灰度，即ki為第i行的平均灰度；
5)如果行平均灰度與行塊平均灰度差值的絕對值大於e，記錄該行所在行號i，即壞行，檢測完所有行後進行步驟(6)；
6)計算每一列的平均灰度；
7)如果圖像的列平均灰度大於閾值f，或者小於閾值g，則該列的平均灰度不計入列塊的平均灰度，否則該列的平均灰度計入列塊的平均灰度；
8)計算由m列組成的列塊的平均灰度，即kj為第j列的平均灰度；
9)如果列平均灰度與列塊平均灰度差值的絕對值大於h，記錄該列所在列號j，即壞列，檢測完所有列後結束；
所述電容式指紋採集系統包括半導體成像模塊和控制模塊。
所述半導體成像模塊包括採集傳感器和數據通信接口。
所述控制模塊包括相互電性連接的處理器單元、穩壓電路單元和數據通信接口。
所述半導體成像模塊和控制模塊通過數據通信接口連接通信。
所述閾值a-h在樣本量>5000測試得到。
一種電容式指紋採集系統壞線的自修複方法，具體包括如下步驟：
1)讀取檢測到的壞線位置；
2)在壞線相鄰位置(列：分別左右，行：分別上下)找到兩條非壞線，對灰度取平均之後填充到壞線處。
本發明所述為一種電容式指紋採集系統壞線的標定方法及其自修複方法，本發明自動標定並自動修復由於工藝不良或工藝約束條件造成的壞線，不需要手動標定壞線位置，算法量小、運行速度快、適用性高。
以上所述僅為本發明的具體實施方式，但本發明的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本領域的技術人員在本發明所揭露的技術範圍內，可不經過創造性勞動想到的變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。因此，本發明的保護範圍應該以權利要求書所限定的保護範圍為準。