厚度檢測裝置及方法與流程

2023-11-30 16:24:41

本發明涉及機電領域，具體而言，涉及一種厚度檢測裝置及方法。

背景技術：

薄片狀物品，如紙張、票據、塑料薄膜、紡織物品等的在線連續厚度測量，在其產品的生產、檢測、處理、回收等過程中處于越來越重要的地位。近年來，通過電極間的靜電感應進行薄膜厚度的檢測技術在不斷研究探索之中，例如公開號CN210302446Y的專利公開的了一種電容式紙厚傳感器，其主要是將電容器的容量變化轉化成振蕩頻率的變化，再通過頻壓轉換模塊將頻率的變化轉換成電壓的變化。公開號為CN103363887A的專利也公開了一種材料厚度的檢測方法，利用平板電容的極板作為厚度檢測的敏感器件，實測對象的厚度變化引起的電容活動極板產生位移，導致平板電容器的容量發生變化。

但是無論哪種檢測方式，當原稿中的檢測信息比較多時，如檢測驗鈔時，紙鈔上有水印、膠帶、安全線、摺痕、紙幣邊緣等信息時，厚度檢測不能很好地將其區分出來，形成的圖像包含各種信息的圖像，相關圖像信息摻雜在一起，會引起誤判。

針對相關技術中厚度檢測的準確性低的問題，目前還沒有有效地解決方案。

技術實現要素：

本發明實施例提供了一種厚度檢測裝置及方法，以至少解決相關技術中厚度檢測的準確性低的問題。

根據本發明的一個實施例，提供了一種厚度檢測裝置，包括：公共電極、檢測電極和控制部；所述控制部，與所述公共電極連接，用於根據待測膜的檢測信息控制加載在所述公共電極的電壓的電壓信息，並產生所述電壓信息對應的電壓，其中，所述檢測信息用於指示所述待測膜的特徵，所述電壓信息用於指示加載在所述公共電極上的電壓的特徵；所述公共電極，用於加載所述電壓信息對應的電壓；所述檢測電極，與所述公共電極對應且相互間隔的設置，所述檢測電極與所述公共電極之間形成檢測通道，所述檢測電極用於根據所述公共電極上加載的電壓檢測所述待測膜的厚度。

可選地，所述控制部包括：電壓時序控制部和電壓產生部，其中，所述電壓時序控制部，用於根據所述待測膜的所述檢測信息控制所述電壓信息，其中，所述電壓信息包括以下至少之一：電壓值、電壓時序；所述電壓產生部，與所述電壓時序控制部連接，用於產生所述電壓信息對應的電壓。

可選地，所述電壓時序控制部包括：檢測信息獲取部和電壓控制部，其中，所述檢測信息獲取部，用於獲取所述檢測信息，其中，所述檢測信息包括以下至少之一：所述待測膜的材質信息、所述待測膜的電容量；所述電壓控制部，與所述檢測信息獲取部連接，用於確定所述檢測信息對應的所述電壓信息。

可選地，所述檢測電極包括：信號處理部，其中，所述信號處理部，用於根據所述公共電極上加載的電壓獲取有效信號，根據所述有效信號確定所述待測膜的厚度。

可選地，所述信號處理部包括：有效信號電壓轉送時序電路、復位電壓產生電路、復位電壓時序控制電路、復位電壓轉送時序電路、移位時序控制電路和差分放大電路，其中，所述有效信號電壓轉送時序電路，用於轉送所述檢測電極上產生的有效信號；所述復位電壓產生電路，用於產生復位電壓對所述檢測電極進行復位；所述復位電壓時序控制電路，與所述復位電壓產生電路連接，用於對所述復位電壓產生電路的時序進行控制；所述復位電壓轉送時序電路，用於轉送所述復位電壓產生電路對所述檢測電極進行復位後的所述檢測電極上的電壓；所述移位時序控制電路，與所述有效信號電壓轉送時序電路和所述復位電壓轉送時序電路連接，所述移位時序控制電路用於將所述有效信號和所述復位電壓傳輸至所述差分放大電路；所述差分放大電路，與所述移位時序控制電路連接，用於將接收到的所述有效信號和所述復位電壓差分放大後進行輸出得到差分信號，根據所述差分信號確定所述待測膜的厚度。

可選地，所述厚度檢測裝置還包括：公共電極基板和檢測電極基板，其中，所述公共電極設置在所述公共電極基板的第一表面；所述檢測電極設置在所述檢測電極基板的第二表面；所述第一表面和所述第二表面與所述待測膜的移動方向垂直。

可選地，所述厚度檢測裝置還包括：公共電極框體與檢測電極框體，其中，所述公共電極基板設置在所述公共電極框體上，所述檢測電極基板設置在所述檢測電極框體上；所述檢測電極框體與所述公共電極框體在所述待測膜的所述移動方向上間隔設置。

可選地，所述厚度檢測裝置還包括：公共電極保護層與檢測電極保護層，其中，所述公共電極保護層設置在所述公共電極的表面上；所述檢測電極保護層設置在所述檢測電極的表面上。

可選地，所述厚度檢測裝置還包括：公共電極導電薄膜與檢測電極導電薄膜，其中，所述公共電極導電薄膜設置在所述公共電極與所述公共電極保護層之間；所述檢測電極導電薄膜設置在所有檢測電極與所述檢測電極保護層之間。

可選地，所述公共電極包括：一個或者多個第一電極；所述檢測電極包括：多個第二電極；所述一個或者多個第一電極與所述多個第二電極形成預設數量的厚度檢測對；所述控制部用於控制每個所述厚度檢測對對應的加載在公共電極上的電壓。

根據本發明的另一個實施例，提供了一種厚度檢測方法，包括：根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極的電壓的電壓信息，其中，所述檢測信息用於指示所述待測膜的特徵，所述電壓信息用於指示加載在所述公共電極上的電壓的特徵；將所述電壓信息對應的電壓加載在所述公共電極上；根據所述加載在所述公共電極上的電壓檢測所述待測膜的厚度。

可選地，根據所述待測膜的所述檢測信息控制所述加載在所述公共電極的電壓的所述電壓信息包括：根據所述檢測信息控制所述電壓信息；生成所述電壓信息對應的電壓。

可選地，根據所述檢測信息控制所述電壓信息包括：獲取所述檢測信息，其中，所述檢測信息包括以下至少之一：所述待測膜的材質信息、所述待測膜的電容量，所述材質信息用於攜帶指示所述待測膜材質特性的信息；確定所述檢測信息對應的所述電壓信息，其中，所述電壓信息包括以下至少之一：電壓值、電壓時序。

可選地，獲取所述檢測信息包括以下至少之一：檢測所述待測膜的材質，並獲取所述待測膜的材質對應的所述材質信息；測量所述待測膜的電容量。

通過本發明，控制部300，與公共電極100連接，用於根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極100的電壓的電壓信息，並產生電壓信息對應的電壓，其中，檢測信息用於指示待測膜的特徵，電壓信息用於指示加載在公共電極100上的電壓的特徵；公共電極100，用於加載電壓信息對應的電壓；檢測電極200，與公共電極100對應且相互間隔的設置，檢測電極200與公共電極100之間形成檢測通道，檢測電極200用於根據公共電極100上加載的電壓檢測待測膜的厚度，由此可見，採用上述方案，控制部300根據待測膜的檢測信息對加載在公共電極100上的電壓的電壓信息進行控制，從而控制公共電極100上加載的電壓，使得檢測電極200可以對檢測信息不同的待測膜進行準確的厚度檢測，因此，提高了厚度檢測的準確性，從而解決了相關技術中厚度檢測的準確性低的問題。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本發明，並不構成對本發明的不當限定。在附圖中：

圖1是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖一；

圖2是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖二；

圖3是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖三；

圖4是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖四；

圖5是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖五；

圖6是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖六；

圖7是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖七；

圖8是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖八；

圖9是根據本發明實施例的一種厚度檢測方法的流程圖；

圖10是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖一；

圖11是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖二；

圖12是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號處理流程圖；

圖13是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號原理圖；

圖14是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號的時序圖一；

圖15是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號的時序圖二；

圖16是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號的時序圖三；

圖17是根據本發明可選實施例的另一種厚度檢測裝置的結構框圖。

具體實施方式

下文中將參考附圖並結合實施例來詳細說明本發明。需要說明的是，在不衝突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特徵可以相互組合。

需要說明的是，本發明的說明書和權利要求書及上述附圖中的術語「第一」、「第二」等是用於區別類似的對象，而不必用於描述特定的順序或先後次序。

實施例1

在本實施例中還提供了一種厚度檢測裝置，該裝置用於實現上述實施例及優選實施方式，已經進行過說明的不再贅述。如以下所使用的，術語「模塊」可以實現預定功能的軟體和/或硬體的組合。儘管以下實施例所描述的裝置較佳地以軟體來實現，但是硬體，或者軟體和硬體的組合的實現也是可能並被構想的。

圖1是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖一，如圖1所示，該裝置包括：

公共電極100、檢測電極200和控制部300；

控制部300，與公共電極100連接，用於根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極100的電壓的電壓信息，並產生電壓信息對應的電壓，其中，檢測信息用於指示待測膜的特徵，電壓信息用於指示加載在公共電極100上的電壓的特徵；

公共電極100，用於加載電壓信息對應的電壓；

檢測電極200，與公共電極100對應且相互間隔的設置，檢測電極200與公共電極100之間形成檢測通道，檢測電極200用於根據公共電極100上加載的電壓檢測待測膜的厚度。

可選地，上述厚度檢測裝置可以但不限於應用於厚度及材料檢測的場景中。例如：薄片狀物品，如紙張、票據、塑料薄膜、紡織物品等的在線連續厚度測量。

通過上述裝置，控制部300，與公共電極100連接，用於根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極100的電壓的電壓信息，並產生電壓信息對應的電壓，其中，檢測信息用於指示待測膜的特徵，電壓信息用於指示加載在公共電極100上的電壓的特徵；公共電極100，用於加載電壓信息對應的電壓；檢測電極200，與公共電極100對應且相互間隔的設置，檢測電極200與公共電極100之間形成檢測通道，檢測電極200用於根據公共電極100上加載的電壓檢測待測膜的厚度，由此可見，採用上述方案，控制部300根據待測膜的檢測信息對加載在公共電極100上的電壓的電壓信息進行控制，從而控制公共電極100上加載的電壓，使得檢測電極200可以對檢測信息不同的待測膜進行準確的厚度檢測，因此，提高了厚度檢測的準確性，從而解決了相關技術中厚度檢測的準確性低的問題。

在本實施例中，在需要檢測各種檢測信息(各種檢測信息的電容容量不同，檢測電極聚集的電荷數量和速度也不相同)時，通過改變公共電極的電壓大小和脈衝寬度，以實現對各種對象信息的掃描，並在一定程度上區分掃描對象的材質。

圖2是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖二，如圖2所示，可選地，控制部300包括：電壓時序控制部302和電壓產生部304，其中，

電壓時序控制部302，用於根據待測膜的檢測信息控制電壓信息，其中，電壓信息包括以下至少之一：電壓值、電壓時序；

電壓產生部304，與電壓時序控制部302連接，用於產生電壓信息對應的電壓。

通過上述裝置，根據不同的電壓信息產生對應的電壓加載到公共電極上，使得檢測電極可以對不同材質不同電荷容量的待測膜進行準確的厚度檢測，從而提高了厚度檢測的準確性。

例如：擁有不同材質的待測膜，紙張和金屬，對於紙張厚度的檢測電壓時序控制部可以控制第一電壓信息的電壓值為V1，電壓時序的脈衝寬度為D1，電壓產生部根據上述第一電壓信息產生對應的第一電壓加載在公共電極上。對於金屬厚度的檢測電壓時序控制部可以控制第二電壓信息的電壓值為V2，電壓時序的脈衝寬度為D2，電壓產生部根據上述第二電壓信息產生對應的第二電壓加載在公共電極上。其中，可以但不限於V1大於或者等於V2，D1大於或者等於D2。

圖3是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖三，如圖3所示，可選地，電壓時序控制部304包括：檢測信息獲取部3042和電壓控制部3044，其中，

檢測信息獲取部3042，用於獲取檢測信息，其中，檢測信息包括以下至少之一：待測膜的材質信息、待測膜的電容量；

電壓控制部3044，與檢測信息獲取部3042連接，用於確定檢測信息對應的電壓信息。

通過上述裝置，根據獲取的不同的檢測信息確定電壓信息，使得加載在公共電極上的電壓的電壓信息適應於待測膜的檢測信息，從而可以對不同的待測膜進行適應於待測膜特性的檢測，提高了厚度檢測的準確性。

圖4是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖四，如圖4所示，可選地，檢測電極200包括：信號處理部202，其中，

信號處理部202，用於根據公共電極100上加載的電壓獲取有效信號，根據有效信號確定待測膜的厚度。

在一個示例中，該裝置包括：公共電極和檢測電極，公共電極包括公共電極電壓產生電路、公共電極電壓時序控制電路，檢測電極包括檢測電極信號處理電路。其中，檢測電極與上述公共電極在第一方向上相對且間隔設置，且上述公共電極的公共表面與各上述檢測電極的檢測表面相對，上述公共表面與各上述檢測表面之間形成待測膜的檢測通道。

可選地，在本示例中，上述檢測裝置中的檢測電極可以但不限於是由多個檢測電極組成的，且多個上述檢測電極沿第二方向間隔設置，如設置成5DPI、10DPI、50DPI、100DPI等，檢測電極也可以使用專門的電極晶片。上述第二方向與上述待測膜的移動方向垂直，且與上述第一方向垂直。通過上述的公共電極電壓產生電路、公共電極電壓時序控制電路對公共電極上的電壓時序和電壓大小進行控制，以實現檢測裝置對各種檢測對象的準確掃描。

可選地，信號處理部202包括：有效信號電壓轉送時序電路2021、復位電壓產生電路2022、復位電壓時序控制電路2023、復位電壓轉送時序電路2024、移位時序控制電路2025和差分放大電路2026，其中，

有效信號電壓轉送時序電路2021，用於轉送檢測電極200上產生的有效信號；

復位電壓產生電路2022，用於產生復位電壓對檢測電極200進行復位；

復位電壓時序控制電路2023，與復位電壓產生電路2022連接，用於對復位電壓產生電路2022的時序進行控制；

復位電壓轉送時序電路2024，用於轉送復位電壓產生電路2022對檢測電極200進行復位後的檢測電極200上的電壓；

移位時序控制電路2025，與有效信號電壓轉送時序電路2021和復位電壓轉送時序電路2024連接，移位時序控制電路2025用於將有效信號和復位電壓傳輸至差分放大電路2026；

差分放大電路2026，與移位時序控制電路2025連接，用於將接收到的有效信號和復位電壓差分放大後進行輸出得到差分信號，根據差分信號確定待測膜的厚度。

通過上述裝置，檢測電極根據公共電極上不同的電壓信息對待測膜的厚度進行檢測，使得檢測電壓適應於待測膜的材質特性或者電容特性，從而提高了厚度檢測的準確性。

在一個示例中，上述厚度檢測裝置中的檢測電極信號處理電路由檢測電極有效信號電壓轉送時序電路、復位電壓電路、復位電壓時序控制電路、檢測電極復位電壓轉送時序電路、移位時序控制電路和差分放大電路組成。通過差分放大電路對每個電極上的有效信號電壓和復位電壓成對依次差分放大後進行輸出，輸出電壓可以將每個電極的原始偏差消除掉，實現每個電極的精確掃描。

圖5是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖五，如圖5所示，可選地，上述厚度檢測裝置還包括：公共電極基板10和檢測電極基板20，其中，

公共電極100設置在公共電極基板10的第一表面；

檢測電極200設置在檢測電極基板20的第二表面；

第一表面和第二表面與待測膜的移動方向垂直。

在一個示例中，上述檢測裝置包括：公共電極基板與檢測電極基板，其中，上述公共電極設置在公共電極基板的一個表面上，公共電極基板的表面與上述第一方向垂直，公共電極電壓產生電路、公共電極電壓時序控制電路可以設置在公共電極基板的另一個表面，或者設置在公共電極基板之外，通過信號連接器件與公共電極相連；檢測電極基板與上述公共電極基板在上述第一方向上間隔設置，上述檢測電極基板的一個表面朝向上述公共電極基板的一個表面，並且與上述公共電極基板的一個表面平行，檢測電極或者檢測電極晶片設置在上述檢測電極基板的一個表面上，檢測電極信號處理電路可以設置在檢測電極基板的另一個表面上。

圖6是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖六，如圖6所示，可選地，上述厚度檢測裝置還包括：公共電極框體11與檢測電極框體21，其中，

公共電極基板10設置在公共電極框體11上，檢測電極基板20設置在檢測電極框體21上；

檢測電極框體11與公共電極框體21在待測膜的移動方向上間隔設置。

通過上述裝置，利用公共電極框體11與檢測電極框體21對公共電極100和檢測電極200起到固定與保護的作用。

圖7是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖七，如圖7所示，可選地，上述厚度檢測裝置還包括：公共電極保護層13與檢測電極保護層23，其中，

公共電極保護層13設置在公共電極100的表面上；檢測電極保護層23設置在檢測電極200的表面上。

在本實施例中，利用公共電極保護層13與檢測電極保護層23對公共電極100和檢測電極200的表面進行保護。

圖8是根據本發明實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖八，如圖8所示，可選地，厚度檢測裝置還包括：公共電極導電薄膜14與檢測電極導電薄膜24，其中，

公共電極導電薄膜14設置在公共電極100與公共電極保護層13之間；

檢測電極導電薄膜24設置在所有檢測電極200與檢測電極保護層23之間。

可選地，公共電極100包括：一個或者多個第一電極100-2；檢測電極200包括：多個第二電極200-2；一個或者多個第一電極100-2與多個第二電極200-2形成預設數量的厚度檢測對；控制部300用於控制每個厚度檢測對對應的加載在公共電極上的電壓。

可選地，在本實施例中，公共電極可以是一個很大的電極，由於公共電極不涉及到解析度，因此可以不需要由很多電極組成。

在本實施例中，上述厚度檢測裝置中可以根據公共電極電壓產生電路和公共電極電壓時序控制電路所控制產生的不同幅度和不同脈衝寬度的公共電極電壓，設置多個公共電極和檢測電極對形成的檢測通道，每個檢測通道設置特定的公共電極電壓，檢測特定的原稿厚度，實現一個厚度檢測裝置對多種原稿的同時精確厚度掃描。

需要說明的是，上述各個模塊是可以通過軟體或硬體來實現的，對於後者，可以通過以下方式實現，但不限於此：上述模塊均位於同一處理器中；或者，上述模塊分別位於多個處理器中。

實施例2

在本實施例中提供了一種厚度檢測方法，圖9是根據本發明實施例的一種厚度檢測方法的流程圖，如圖9所示，該流程包括如下步驟：

步驟S902，根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極的電壓的電壓信息，其中，檢測信息用於指示待測膜的特徵，電壓信息用於指示加載在公共電極上的電壓的特徵；

步驟S904，將電壓信息對應的電壓加載在公共電極上；

步驟S906，根據加載在公共電極上的電壓檢測待測膜的厚度。

可選地，上述厚度檢測方法可以但不限於應用於厚度及材料檢測的場景中。例如：薄片狀物品，如紙張、票據、塑料薄膜、紡織物品等的在線連續厚度測量。

可選地，上述厚度檢測方法可以但不限於應用於上述厚度檢測裝置。

通過上述步驟，根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極的電壓的電壓信息，其中，檢測信息用於指示待測膜的特徵，電壓信息用於指示加載在公共電極上的電壓的特徵；將電壓信息對應的電壓加載在公共電極上；根據加載在公共電極上的電壓檢測待測膜的厚度，由此可見，採用上述方案，根據待測膜的特性控制加載在公共電極上的電壓的特性，從而使檢測電極利用不同的公共電極電壓檢測不同的待測膜，使得檢測的結果更加適應於待測膜，因此，提高了厚度檢測的準確性，從而解決了相關技術中厚度檢測的準確性低的問題。

可選地，在上述步驟S902中，可以不限於通過檢測信息控制公共電極上的電壓信息，從而生成公共電極的電壓。例如：根據檢測信息控制電壓信息再生成電壓信息對應的電壓。

可選地，可以但不限於根據待測膜的材質以及待測膜的電容量控制電壓信息。例如：獲取檢測信息，其中，檢測信息可以但不限於包括以下至少之一：待測膜的材質信息、待測膜的電容量，材質信息用於攜帶指示待測膜材質特性的信息，並確定檢測信息對應的電壓信息，其中，電壓信息可以但不限於包括以下至少之一：電壓值、電壓時序。

可選地，獲取檢測信息的方式可以但不限於包括以下至少之一：

方式一，檢測待測膜的材質，並獲取待測膜的材質對應的材質信息。

方式二，測量待測膜的電容量。

下面結合本發明優選實施例進行詳細說明。

本發明優選實施例提供了一種厚度檢測裝置和方法，採用相對的公共電極和檢測電極形成檢測通道，當待測對象經過檢測通道時，改變了公共電極和檢測電極間的介質的介電常數，檢測電極上感應的電荷數量隨之發生變化，檢測電極上的輸出電壓大小也發生變化，同時檢測電極上電荷數量的積累速度也不相同，不同容量的物質不同的積累時間，檢測電極上的電壓也不相同，而這個積累時間是通過施加的公共電極上的電壓脈衝寬度實現的。通過檢測對象的厚度不同，公共電極和檢出電極間的介電常數也不相同，進而檢測電極上感應的電荷數量也不相同，檢測電極上的輸出電壓大小也不同。因此通過對檢測電極電壓信號的大小並進行分析處理，可以計算出檢測對象的厚度。

圖10是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖一，如圖10所示，該厚度檢測裝置包括公共電極13和檢測電極23，公共電極電壓產生電路17、公共電極電壓時序控制電路18和檢測電極信號處理電路27。公共電極13設置在公共電極基板12的一側，公共電極電壓產生電路17、公共電極電壓時序控制電路18設置在公共電極基板12上另一側。檢測電極23設置在檢測電極基板22的一側，檢測電極信號處理電路27設置在檢測電極基板22的另一側。檢測電極信號處理電路27是由檢測電極有效信號電壓轉送時序、復位電壓、復位電壓時序控制電路、檢測電極復位電壓轉送時序、移位時序控制電路和差分放大電路組成。公共電極基板12和檢測電極基板22又分別設置在公共電極框體11和檢測電極框體21上。

圖11是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的結構框圖二，如圖11所示，為了增加檢測電極23的電荷感應強度，在公共電極13和檢測電極23上分別設置導電薄膜14和24，導電薄膜為高導電性材料形成的薄膜，可以為金或銀等導電薄膜，本領域技術人員可以根據實際情況選擇合適的導電薄膜；為了保證公共電極和檢測電極具有很高的耐磨性和防腐蝕性，需要在公共電極和其導電薄膜的表面塗覆保護層15、檢測電極和其導電薄膜的表面塗覆保護層25，保護層的材料最好具有顯著的導電性能、耐磨性和防腐蝕性，保證電極在塗覆保護層後，公共電極與檢測電極的感度依然很高，本領域技術人員可以根據實際情況選擇合適的保護層材料。

圖12是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號處理流程圖，圖13是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號原理圖。如圖12、13所示，厚度檢測裝置工作時，經每一行的掃描啟動信號SI後，公共電極電壓時序控制電路18的控制信號COM控制公共電極電壓產生電路17，使其加到公共電極上的脈衝電壓幅度和寬度適合特定信號的檢測。檢測電極上感應有效的原稿厚度電荷信號，經過檢測電極信號處理電路27中的檢測電極有效信號電壓轉送時序COM_T轉送檢測電極上的有效信號VE_1com…VE_ncom，然後復位電壓時序控制電路RESET控制復位電壓，使每個電極進行復位。然後檢測電極復位電壓轉送時序RESET_T轉送檢測電極上的復位電壓信號VE_1RESET…VE_nRESET。然後移位時序控制電路SEL控制每個電極的有效信號電壓Vcom和復位電壓VRESET成對依次傳輸到差分放大器的兩個輸入端。差分放大器AMP將每個電極上的的有效信號電壓和復位電壓成對依次差分放大後進行輸出，信號為SIG，得到的SIG信號已將每個檢測電極上的原始偏差信號消除掉。

圖14是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號的時序圖一，如圖14所示，厚度檢測裝置工作時，經每一行的掃描啟動信號SI(第1個時鐘)後，公共電極電壓時序控制電路的控制信號COM(第h個時鐘的下降沿開始直到COM_T的高電平結束之後)控制共通電極電壓產生電路，使其加到公共電極上的脈衝電壓幅度和寬度適合特定信號的檢測。檢測電極上感應有效的原稿厚度電荷信號，經過檢測電極信號處理電路中的檢測電極有效信號電壓轉送時序COM_T(第h個時鐘的下降沿開始到第h+1個時鐘的下降沿)轉送檢測電極上的有效信號VE_1com…VE_ncom，然後復位電壓時序控制電路RESET(第i個時鐘開始，充分的RESET時間，以使檢測電極上的感應電壓可以充分復位)控制復位電壓，使每個電極進行復位。然後檢測電極復位電壓轉送時序RESET_T(第j個時鐘)轉送檢測電極上的復位電壓信號VE_1RESET…VE_nRESET。然後移位時序控制電路SEL(第k1、k2…k+n-1、k+n個時鐘)控制每個電極的有效信號電壓Vcom和復位電壓VRESET成對依次傳輸到差分放大器的兩個輸入端。差分放大器AMP將每個電極上的的有效信號電壓和復位電壓成對依次差分放大後進行輸出，信號為SIG(VE1、VE2…VEn-1、VEn)，得到的SIG信號已將每個檢測電極上的原始偏差信號消除掉。

圖15是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號的時序圖二，如圖15所示，該厚度檢測裝置工作時，經每一行的掃描啟動信號SI(第1個時鐘)後，公共電極電壓時序控制電路的控制信號COM(第h個時鐘之前開始直到COM_T的高電平結束之後，如圖所示，假設共有t1、t2、t3三個有效公共電極電壓脈衝寬度)控制公共電極電壓產生電路，使其加到公共電極上的脈衝電壓寬度適合特定信號的檢測。因為檢測原稿上的各種信號電容容量不同，對應不同脈衝寬度的公共電極電壓，檢測電極上感應的電荷數量聚集時間不同，容量大的信號使用t1大寬度的脈衝公共電極電壓檢測，容量小一些的信號使用t2小寬度的脈衝公共電極電壓檢測，容量最小的信號使用t3最小寬度的脈衝公共電極電壓檢測，檢測電極上感應有效的原稿厚度電荷信號，經過檢測電極信號處理電路中的檢測電極有效信號電壓轉送時序COM_T(第h個時鐘的下降沿開始到第h+1個時鐘的下降沿)轉送檢測電極上的有效信號VE_1comt1…VE_ncomt1、VE_1comt2…VE_ncomt2，VE_1comt3…VE_ncomt3，然後復位電壓時序控制電路RESET(第i個時鐘開始，充分的RESET時間，以使檢測電極上的感應電壓可以充分復位)控制復位電壓，使每個電極進行復位。然後檢測電極復位電壓轉送時序RESET_T(第j個時鐘)轉送檢測電極上的復位電壓信號VE_1RESET…VE_nRESET。然後移位時序控制電路SEL(第k1、k2…k+n-1、k+n個時鐘)控制每個電極的有效信號電壓Vcom和復位電壓VRESET成對依次傳輸到差分放大器的兩個輸入端。差分放大器AMP將每個電極上的的有效信號電壓和復位電壓成對依次差分放大後進行輸出，信號為SIG(VE1t1…VEnt1、VE1t2…VEnt2、VE1t3…VEnt3)，原稿上不同電容容量的信號可以被精確地檢測出來。

圖16是根據本發明可選實施例的一種厚度檢測裝置的信號的時序圖三，如圖16所示，該厚度檢測裝置工作時，經每一行的掃描啟動信號SI(第1個時鐘)後，公共電極電壓時序控制電路的控制信號COM((第h個時鐘的下降沿開始直到COM_T的高電平結束之後)控制公共電極電壓產生電路(公共電極的電壓大小可進行調節，如圖所示，提供3種電壓大小，Va、Vb、Vc)，使其加到公共電極上的脈衝電壓大小適合特定信號的檢測。因為檢測原稿上的各種信號電容容量不同，對應不同大小的公共電極電壓，檢測電極上感應的電荷數量不同，容量大的信號使用Va小電壓的脈衝公共電極電壓檢測，容量小一些的信號使用Vb中電壓的脈衝公共電極電壓檢測，容量最小的信號使用Vc大電壓的脈衝公共電極電壓檢測，檢測電極上感應有效的原稿厚度電荷信號，經過檢測電極信號處理電路中的檢測電極有效信號電壓轉送時序COM_T(第h個時鐘的下降沿開始到第h+1個時鐘的下降沿)轉送檢測電極上的有效信號VE_1comVa…VE_ncom Va、VE_1com Vb…VE_ncom Vb，VE_1com Vc…VE_ncom Vc，然後復位電壓時序控制電路RESET(第i個時鐘開始，充分的RESET時間，以使檢測電極上的感應電壓可以充分復位)控制復位電壓，使每個電極進行復位。然後檢測電極復位電壓轉送時序RESET_T(第j個時鐘)轉送檢測電極上的復位電壓信號VE_1RESET…VE_nRESET。然後移位時序控制電路SEL(第k1、k2…k+n-1、k+n個時鐘)控制每個電極的有效信號電壓Vcom和復位電壓VRESET成對依次傳輸到差分放大器的兩個輸入端。差分放大器AMP將每個電極上的的有效信號電壓和復位電壓成對依次差分放大後進行輸出，信號為SIG(VE1Va…VEnVa、VE1Vb…VEnVb、VE1Vc…VEnVc)，原稿上不同電容容量的信號可以被精確地檢測出來。

圖17是根據本發明可選實施例的另一種厚度檢測裝置的結構框圖，如圖17所示，該厚度檢測裝置包括一對公共電極13和檢測電極23、另一對公共電極113和檢測電極223，一對公共電極電壓產生電路17、公共電極電壓時序控制電路18和檢測電極信號處理電路27、另一1對公共電極電壓產生電路117、公共電極電壓時序控制電路118和檢測電極信號處理電路227。公共電極13和113設置在公共電極基板12的一側，公共電極電壓產生電路17和117、公共電極電壓時序控制電路18和118設置在公共電極基板12上另一側。檢測電極23和223設置在檢測電極基板22的一側，檢測電極信號處理電路27和227設置在檢測電極基板22的另一側。檢測電極信號處理電路27和227是由檢測電極有效信號電壓轉送時序、復位電壓、復位電壓時序控制電路、檢測電極復位電壓轉送時序、移位時序控制電路和差分放大電路組成。公共電極基板12和檢測電極基板22又分別設置在公共電極框體11和檢測電極框體21上。使用本厚度檢測裝置時，可以通過2對公共電極和檢測電極通道，每對通道的公共電極時序和電壓大小是不同的，每對檢測通道檢測原稿上的不同電容容量的信號，通過這樣一個厚度檢測裝置同時檢測多種原稿的厚度，及再通過不同電壓信號識別不同電容容量的物質。

需要說明的是，本發明提供的厚度檢測裝置的檢測電極，不局限於一排檢測電極，二排及多排檢測電極也同樣適用。

以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非對其進行限制，本領域的普通技術人員可以對本發明的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發明的精神和範圍，本發明的保護範圍應以權利要求所述為準。

實施例3

通過以上的實施方式的描述，本領域的技術人員可以清楚地了解到根據上述實施例的方法可藉助軟體加必需的通用硬體平臺的方式來實現，當然也可以通過硬體，但很多情況下前者是更佳的實施方式。基於這樣的理解，本發明的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟體產品的形式體現出來，該計算機軟體產品存儲在一個存儲介質(如ROM/RAM、磁碟、光碟)中，包括若干指令用以使得一臺終端設備(可以是手機，計算機，伺服器，或者網絡設備等)執行本發明各個實施例所述的方法。

本發明的實施例還提供了一種存儲介質。可選地，在本實施例中，上述存儲介質可以被設置為存儲用於執行以下步驟的程序代碼：

S1，根據待測膜的檢測信息控制加載在公共電極的電壓的電壓信息，其中，檢測信息用於指示待測膜的特徵，電壓信息用於指示加載在公共電極上的電壓的特徵；

S2，將電壓信息對應的電壓加載在公共電極上；

S3，根據加載在公共電極上的電壓檢測待測膜的厚度。

可選地，在本實施例中，上述存儲介質可以包括但不限於：U盤、只讀存儲器(ROM，Read-Only Memory)、隨機存取存儲器(RAM，Random Access Memory)、移動硬碟、磁碟或者光碟等各種可以存儲程序代碼的介質。

可選地，在本實施例中，處理器根據存儲介質中已存儲的程序代碼執行上述實施例記載的方法步驟。

可選地，本實施例中的具體示例可以參考上述實施例及可選實施方式中所描述的示例，本實施例在此不再贅述。

顯然，本領域的技術人員應該明白，上述的本發明的各模塊或各步驟可以用通用的計算裝置來實現，它們可以集中在單個的計算裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成的網絡上，可選地，它們可以用計算裝置可執行的程序代碼來實現，從而，可以將它們存儲在存儲裝置中由計算裝置來執行，並且在某些情況下，可以以不同於此處的順序執行所示出或描述的步驟，或者將它們分別製作成各個集成電路模塊，或者將它們中的多個模塊或步驟製作成單個集成電路模塊來實現。這樣，本發明不限制於任何特定的硬體和軟體結合。

以上所述僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。